JPS6214029A - Thermometer probe - Google Patents
Thermometer probeInfo
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- JPS6214029A JPS6214029A JP15251385A JP15251385A JPS6214029A JP S6214029 A JPS6214029 A JP S6214029A JP 15251385 A JP15251385 A JP 15251385A JP 15251385 A JP15251385 A JP 15251385A JP S6214029 A JPS6214029 A JP S6214029A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、測定器本体に着脱自在に取り４＝１けられる
温度計プローブに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a thermometer probe that can be detachably attached to a measuring instrument body.
（発明の概要）
本発明による温度計プローブは、測定器本体に１１１１
２自在に取り付けられるプローブ本体の接続部にセンサ
接続用電極とランク認識用電極とを設けるとともに、こ
れらセンサ接続用電場とランク認識用電極との間にラン
ク認識用の抵抗を設番ノ、前記測定器本体側に前記セン
サ接続用電極とランク認識用電極との間の抵抗値を測定
させることにより前記センサ接続用電極に接続されてい
る温度センサのランクを前記測定器本体側に検知させる
ようにしたものである。(Summary of the Invention) The thermometer probe according to the present invention has a 1111
2. A sensor connection electrode and a rank recognition electrode are provided at the connection part of the probe body which can be attached freely, and a rank recognition resistor is provided between the sensor connection electric field and the rank recognition electrode. The measurement device body side is configured to detect the rank of the temperature sensor connected to the sensor connection electrode by causing the measurement device body side to measure a resistance value between the sensor connection electrode and the rank recognition electrode. This is what I did.
（従来の技術）
人の体温等を測定する電子温度計の１つとして、現在、
温度センサ部分と、この温度センサの出力を表丞する測
定器本体とが分離し青るように構成されたものが知られ
ている。(Prior technology) Currently, as one of the electronic thermometers that measure human body temperature, etc.
A device is known in which the temperature sensor portion and the main body of the measuring device that displays the output of the temperature sensor are separated and blue.
第５図はこの種の電子温度計の一例を示す斜視図である
。この図に示す電子温度計１はコネクタ部２と、測定表
示部３と、これらコネクタ部２と測定表示部３とを接続
するケーブル４と、これら］ネクタ部２．測定表示部３
．ケーブル４からなる測定器本体５の前記」ネクタ部２
に着脱自在に装着される帽１１ブＤ−プロとを備えて構
成されるものであり、前記温度計プローブ６を測温対象
に当接させたり、挟持させたりすれば、前記温度計プロ
ーブ６の先端内に設けられたサーミスタ等の温度センサ
７が前記測温対象の温度に対応して電気信号（温度信号
）を発生し、これを前記測定器本体５側に供給して前記
測定表示部３の表示器８にこの温度を表示させる。FIG. 5 is a perspective view showing an example of this type of electronic thermometer. The electronic thermometer 1 shown in this figure includes a connector part 2, a measurement display part 3, a cable 4 connecting these connector parts 2 and the measurement display part 3, and a connector part 2. Measurement display section 3
．． The connector part 2 of the measuring instrument main body 5 consisting of the cable 4
The thermometer probe 6 is configured to include a cap 11 which is detachably attached to the thermometer probe 6, and when the thermometer probe 6 is brought into contact with or held between the temperature measuring object, the thermometer probe 6 A temperature sensor 7 such as a thermistor provided in the tip of the device generates an electric signal (temperature signal) corresponding to the temperature of the object to be measured, and supplies this to the measuring device main body 5 side to display the measurement display section. This temperature is displayed on the display 8 of No. 3.
（発明が解決しようとする問題点）
ところで、このような電子温度計１で用いられる温度計
プローブ６は、その温度センサ７の特性が個々に異なる
ため、従来、人手によって測定器本体５側に設けられた
ＤＩＰスイッチ（ディップスイッチ）をセットしなおし
て前記温度センサ７の特性を補償しなければ、正確な測
定結果を得ることができなかった。(Problems to be Solved by the Invention) By the way, the temperature sensor 7 of the thermometer probe 6 used in such an electronic thermometer 1 has different characteristics. Accurate measurement results could not be obtained unless the provided DIP switch was reset to compensate for the characteristics of the temperature sensor 7.
そこで、このような欠点を除くために、温度計プローブ
６側に前記温度センサ７の特性を示すランク情報をセッ
トし、この温度計プローブ６を前記コネクタ部２に装着
したとき、このランク情報が測定器本体５側に入力され
るようにすることが考えられる。Therefore, in order to eliminate such drawbacks, rank information indicating the characteristics of the temperature sensor 7 is set on the thermometer probe 6 side, and when the thermometer probe 6 is attached to the connector section 2, this rank information is set on the thermometer probe 6 side. It is conceivable to input the information to the measuring instrument main body 5 side.
第６図はこのようなランク情報の自動入力を行なうこと
ができる温度計プローブの一考案例を示す平面図である
。この図に示す温度計プローブロー１は前記コネクタ部
２にｉ続される方の端部（接続部）９−１の表面１０−
１にセンサ接続用電極１ｌ−１ａ、１ｌ−１ｂを設ける
とともに、第７図に示すごとく前記接続部９−１の裏面
１２−１に、リード線１３−１によって前記センサ接続
用電極１ｌ−１ａ、１ｌ−１ｂと接続されている温度セ
ンサ７−１のランクを示すバーコード（または磁気スト
ライブ）１４を設置」たものであり、第８図および第９
図に示す如くこの温度計プローブ６−１の接続部９−１
をコネクタ部２−１に差し込めば、この」ネクタ部２−
１に設けられたバネ性の接触電極１５ａ、１５ｂが前記
センサ接続用電極１ｌ−１ａ、１ｌ−１ｂに各々接触し
て、これら接触電極１５ａ、１５ｂが前記温度センサ７
−１の出力する温度信号を受け、これを測定表示部３−
１（第１０図参照）へ送出する。また、前記接続部９−
１がコネクタ部２−１に差し込まれる際、このコネクタ
部２−１に設けられたバーコードリーダ（または磁気ヘ
ッド）１６が前記バーコード１４を読み出し、これによ
って得られたランク情報を測定表示部３−１へ供給する
。これによって第１０図のブロック図に示す如く測定表
示部３−１に設けられた中央処理装置ｔ （ＣＰＵ）１
７−１が前記ランク情報に基づいて前記温度信号を補正
し、これによって得られた温度を表示器８−１に表示さ
せる。FIG. 6 is a plan view showing an example of a thermometer probe capable of automatically inputting such rank information. The thermometer probe row 1 shown in this figure has a surface 10-1 of an end (connection part) 9-1 connected to the connector part 2.
1 is provided with sensor connection electrodes 1l-1a and 1l-1b, and as shown in FIG. , 1l-1b and a bar code (or magnetic stripe) 14 indicating the rank of the temperature sensor 7-1 connected to the temperature sensor 7-1, as shown in FIGS. 8 and 9.
As shown in the figure, the connection part 9-1 of this thermometer probe 6-1
If you insert it into the connector part 2-1, this "connector part 2-1"
Spring contact electrodes 15a and 15b provided in the temperature sensor 7 are in contact with the sensor connection electrodes 1l-1a and 1l-1b, respectively, and these contact electrodes 15a and 15b are connected to the temperature sensor 7.
-1 receives the temperature signal output from the measurement display section 3-1.
1 (see Figure 10). Further, the connection portion 9-
1 is inserted into the connector section 2-1, the barcode reader (or magnetic head) 16 provided in the connector section 2-1 reads the barcode 14, and the rank information obtained thereby is displayed on the measurement display section. Supply to 3-1. As a result, as shown in the block diagram of FIG. 10, the central processing unit t (CPU) 1 provided in the measurement display section 3-1
7-1 corrects the temperature signal based on the rank information, and displays the temperature obtained thereby on the display 8-1.
またこのようなｆＡ痕計プローブ６−１と異なるものも
考えられる。Further, a probe different from the fA trace meter probe 6-1 is also considered.
第１１図は上述した温度Ｈ１ブＯ−ブロー１の他に考え
られる温度計プローブの一考案例を示す平面図である。FIG. 11 is a plan view showing an example of a thermometer probe that can be considered in addition to the temperature H1 blow O-blow 1 described above.
この図に示す温度計プローブ６−２は、その接続部９−
２の表面１０−２の両縁部にセンサ接続用電極１ｌ−２
ａ、１ｌ−２ｂを設けるとともに、前記接続部９−２の
中央部に温度センサ７−２のランクを示すパンチ穴部１
９を設けたものであり、第１２図に示す如くこの温度計
ブローブロー２をコネクタ部２−２に差し込めば、バネ
性の接触電極２０ａ、２０ｂが前記センサ接続用電極１
ｌ−２ａ、１ｌ−２ｂに各々接触して前記温度センサ７
−２の出力（温度信号）を受け、これを測定表示部３−
２（第１３図参照）へ送出する。またこの状態で、前記
コネクタ部２−２に設けられたノブ２１を上から押せば
、バネ２２の力に逆らってこのノブ２１が下に移動し、
これに伴って、バネ２４により前記ノブ２１の下部板２
３に取り付けられた複数の探索子２５が下に移動する。The thermometer probe 6-2 shown in this figure has its connection part 9-
Sensor connection electrodes 1l-2 are provided on both edges of the surface 10-2 of 2.
a, 1l-2b are provided, and a punched hole portion 1 indicating the rank of the temperature sensor 7-2 is provided in the center of the connecting portion 9-2.
9, when this thermometer blow blow 2 is inserted into the connector part 2-2 as shown in FIG.
1-2a and 1l-2b, respectively, and the temperature sensor 7
-2 output (temperature signal) and displays it on the measurement display section 3-
2 (see Figure 13). In this state, if the knob 21 provided on the connector section 2-2 is pushed from above, the knob 21 moves downward against the force of the spring 22.
Along with this, the lower plate 2 of the knob 21 is moved by the spring 24.
A plurality of probes 25 attached to the probe 3 move downward.
これによって、こら探索子２５が前記パンチ穴部１９の
穴の有無を検出してこの穴の有無によって示されるラン
ク情報を読み出し、これを第１３図に示す測定表示部３
−２へ送出する。測定表示部３−２は中央処理￥Ｒ胃（
ＣＰｔＪ）１７−２と、表示器８−２とを有するもので
あり、前記ランク情報と温度信号とを供給されれば、Ｃ
ＰｔＪ１７−２がこのランク情報に阜づいて前記ｉ度信
号を補正して温度を求め、これを表示き８−２に表示さ
せる。As a result, the searcher 25 detects the presence or absence of a hole in the punch hole section 19, reads out the rank information indicated by the presence or absence of this hole, and displays this on the measurement display section 3 shown in FIG.
-2. The measurement display section 3-2 displays the central processing ¥R stomach (
CPtJ) 17-2 and a display 8-2, and when the rank information and temperature signal are supplied, the C
The PtJ 17-2 corrects the i degree signal based on this rank information to obtain the temperature, and displays this on the display 8-2.
またこのような温度計プローブ６−２および上述した温
度計プローブ６−１と異なるものも考えられる。Further, a thermometer probe 6-2 different from the above-mentioned thermometer probe 6-1 is also conceivable.
第１４図は上述した各温度計プローブ６−１ 。FIG. 14 shows the above-mentioned thermometer probes 6-1.
６−２の他に考えられる温度計プローブの一考案例を示
す平面図である。この図に示す温度計プローブ６−３は
、その接続部９−３の表面１０−３の一方の縁にセンサ
接続用電極１ｌ−３ａ。FIG. 6 is a plan view showing an example of a thermometer probe other than 6-2. The thermometer probe 6-3 shown in this figure has a sensor connection electrode 1l-3a on one edge of the surface 10-3 of its connection portion 9-3.
１ｌ−３ｂを設けるとともに、他方の縁にランク検出用
電極２６を複数設け、これらランク検出用電極２６を接
続する導電パターン２７の一部を穴加工等によりカット
して温度センサ７−３のランクを示すようにしたもので
あり、第１５図に示す如く前記センリ接続用′、ｉｉ極
１ｌ−３ａ、１ｌ−３ｂ、ランク検出用電極２６に対応
したバネ性の接触型１４２８ａ、２８ｂ、２９を右する
丁】ネクタ部２−３にこの温度計プローブ６−３を差し
込んで、第１６図に示す如く、バネ３１によって常開、
上方に付勢されているノブ３０を下に押せば、このノブ
３０の下部板３２に取り付けられている前記接触電極２
８ａ、２８ｂ、２９がセン）す接続用を極１１−３ａ、
１１−３ｂ、ランク検出用電極２６に各々接触して前記
温度センサ７−３の出力する温度信号と、前記導電パタ
ーン２７の穴位置に対応したランク情報とを受け、これ
らを第１７図に示す測定表示部３−３へ供給する。測定
表示部３−３は、中央処理ＶＲ置（ＣＰＵ）１７−３と
、表示器８−３とを有するものであり、前記ランク情報
と温度信号とを供給されれば、ＣＰＵ１７−３がこのラ
ンク情報に基づいて前記温度信号を補正して温度を求め
、これを表示器８−３に表示させる。1l-3b, a plurality of rank detection electrodes 26 are provided on the other edge, and a part of the conductive pattern 27 that connects these rank detection electrodes 26 is cut by drilling etc. to determine the rank of the temperature sensor 7-3. As shown in FIG. 15, spring contact types 1428a, 28b, 29 corresponding to the sensor connection terminal, the ii poles 1l-3a, 1l-3b, and the rank detection electrode 26 are provided. Insert this thermometer probe 6-3 into the connector part 2-3, and as shown in FIG.
When the upwardly biased knob 30 is pushed downward, the contact electrode 2 attached to the lower plate 32 of this knob 30
8a, 28b, 29 are connected to pole 11-3a,
11-3b, contacting the rank detection electrodes 26 to receive the temperature signal output from the temperature sensor 7-3 and the rank information corresponding to the hole position of the conductive pattern 27, which are shown in FIG. It is supplied to the measurement display section 3-3. The measurement display unit 3-3 has a central processing VR unit (CPU) 17-3 and a display 8-3, and when the rank information and temperature signal are supplied, the CPU 17-3 The temperature signal is corrected based on the rank information to obtain the temperature, and this is displayed on the display 8-3.
またこのような温度ごＩプローブ６−３および上述した
温度＝１プローブ６−１．６−２と異なるものもにえら
れる。In addition, a probe different from the temperature I probe 6-3 and the temperature=1 probe 6-1, 6-2 described above is also available.
第１８図は上述した各ｆＡ度ｚ１プロ〜ブロー、１へ。FIG. 18 shows each fA degree z1 pro to blow to 1 described above.
６−３の他ににえられる温度計プローブの一考案例を示
す平面図である。この図に示す温度計プローブ６−４は
、その接続部９−４の表面１０−４の一方の縁にセンサ
接続用電極１ｌ−４ａ。FIG. 6 is a plan view showing an example of a thermometer probe that can be obtained in addition to 6-3. The thermometer probe 6-4 shown in this figure has a sensor connection electrode 1l-4a on one edge of the surface 10-4 of its connection portion 9-4.
１ｌ−４ｂを設けるとともに、他方の縁に温度センｇ７
−４のランクを示すランク検知用切込み部３５を設けた
ものであり、第１９図に示す如くこの温度計１１〕−ブ
ロー３を」ネクタ部２−４に差し込めば、バネ性の接触
主権３６ａ、３６ｔｌ（館記セン＋′ｊ接続用電極１ｌ
−４ａ、１ｌ−４ｂに各々接触して前記温度センサ７−
４の出力（温度信号）を受けて、これを測定表示部３〜
４（第２０図参照）へ送出する。またこのときバネ３３
を介して前記コネクタ部２−４に取り付けられている復
数の探索子３７が前記ランク検知用切込み部３５の各切
込みの位首を検出してランク情報を読み出し、これを第
２０図に示す測定表示部３−４へ送出する。測定表示部
３−４は中央処理装置（ＣＰＵ）１７．−４と、表示器
８−４とを有するものであり、前記ランク情報と温Ｉ！
ｊ信号とを供給されれば、ＣＰＩＪｌ ７−４がこのラ
ンク情報に基づいて前記温度信号を補正して温度を求め
、これを表示器８−４に表示させる。1l-4b and a temperature sensor g7 on the other edge.
It is provided with a notch 35 for detecting a rank indicating a rank of 4, and as shown in FIG. , 36tl (kankisen+'j connection electrode 1l
-4a, 1l-4b, respectively, and the temperature sensor 7-
Upon receiving the output (temperature signal) of 4, this is displayed on the measurement display section 3~
4 (see Figure 20). Also at this time, the spring 33
A plurality of search elements 37 attached to the connector part 2-4 detect the position of each notch in the rank detection notch part 35 and read rank information, which is shown in FIG. It is sent to the measurement display section 3-4. The measurement display section 3-4 is a central processing unit (CPU) 17. -4 and a display 8-4, the rank information and the temperature I!
j signal, the CPIJl 7-4 corrects the temperature signal based on this rank information to obtain the temperature and displays it on the display 8-4.
しかしながらこのような温度計プローブ６−１〜６−４
はランク情報を測定表示部３−１〜３−４へ伝えるとい
う機能を達成することができるが、コネクタ部２−１〜
２−４等の構造が７８２雄になってしまうという不都合
がある。However, such thermometer probes 6-1 to 6-4
can achieve the function of transmitting rank information to measurement display sections 3-1 to 3-4, but connector sections 2-1 to 3-4 can achieve the function of transmitting rank information to measurement display sections 3-1 to 3-4.
There is a problem that the structure of 2-4 etc. becomes 782 male.
本発明は上記の事情に鑑み、温度計プローブの接続部お
よびこの接続部が差し込まれるコネクタ部の構造を閤単
にして温度計プローブから測定表示部ランク情報を伝え
ることができる１■ｌプローブを提供することを目的と
している。In view of the above-mentioned circumstances, the present invention has created a 1.1 probe that can transmit rank information from the thermometer probe to the measurement display section by simplifying the structure of the connection part of the thermometer probe and the connector part into which this connection part is inserted. is intended to provide.
（問題点を解決するための手段）
上記目的を達成するため、本発明による温度計プローブ
は、測定器本体側に着脱自在に取り付けられるブロー７
本体と、このプローブ本体の測定端側に設けられる温度
センサと、前記プローブ本体の接続端側に設けられるセ
ンサ接続用電極と、このセンサ接続用電極と前記温度セ
ンサとを電気的に接続するリード線と、前記センサ接続
用電極の近傍に設けられるランク認識用電極と、このラ
ンク認識用電極と前記センサ接続用１！極との間に設け
られるランク認識用の抵抗とを賜えたことを特徴として
いる。(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the thermometer probe according to the present invention has a blow 7 that is detachably attached to the main body of the measuring instrument.
a main body, a temperature sensor provided on the measurement end side of the probe main body, a sensor connection electrode provided on the connection end side of the probe main body, and a lead that electrically connects the sensor connection electrode and the temperature sensor. line, a rank recognition electrode provided near the sensor connection electrode, and the rank recognition electrode and the sensor connection 1! It is characterized by having a resistance for rank recognition installed between the pole and the pole.
（実施例） 第１図（ａ）は本発明の一実施例を示す平面図である。(Example) FIG. 1(a) is a plan view showing one embodiment of the present invention.
この図に示す温度計プローブ４０は、温度セン勺４１の
ランクを抵抗値によって示すようにしたものであり、具
体的には測温部４２と、接続部４３とを備えて構成され
ている。The thermometer probe 40 shown in this figure has the rank of the temperature sensor 41 indicated by the resistance value, and specifically includes a temperature measuring section 42 and a connecting section 43.
測湿部４２は硬質の温度測定管４４と、この温度測定管
４４の先端（この第１図（ｂ）において左端）内に設け
られるサーミスタなどの温度セン＋ｊ４１と、前記温度
測定管４４内に配置されるリード線４５．４６とを備え
て構成されており、前記リード線４５．４６の各一端は
前記温度センサ４１に接続されるとともに、これらリー
ド＄１ｉＩ４５゜４６の各他端は接続部４３の各センサ
接続用電極４８ａ、４８ｂ （センサ接続用電極４８ｂ
については第１図（ｂ）参照）の一端にハンダ付けなど
で接続されている。The humidity measuring section 42 includes a hard temperature measuring tube 44, a temperature sensor 41 such as a thermistor provided in the tip of the temperature measuring tube 44 (the left end in FIG. 1(b)), and a One end of each lead wire 45, 46 is connected to the temperature sensor 41, and the other end of each lead wire 45, 46 is connected to a connecting portion. 43 sensor connection electrodes 48a, 48b (sensor connection electrode 48b
For details, see FIG. 1(b)), it is connected to one end by soldering or the like.
接続部４３は前記温度測定管４４に接続される長板状の
接続基台４９と、この接続基台４９の一面（表面）４７
上の先端側に形成される矩形状のセンサ接続用電極４８
ａ、と、前記表面４７上の後端ＩＩ（この第１図（ａ）
において右側）に形成される矩形状のランク認識用電極
５０ａと、前記表面４７上のほぼ中央に設けられるチッ
プ部品。The connecting portion 43 includes a long plate-shaped connecting base 49 that is connected to the temperature measurement tube 44, and one side (surface) 47 of this connecting base 49.
A rectangular sensor connection electrode 48 formed on the top end side
a, and the rear end II on the surface 47 (FIG. 1(a)
a rectangular rank recognition electrode 50a formed on the right side) and a chip component provided approximately at the center of the surface 47;
印刷抵抗などからなるランク認識用の抵抗５１ａと、こ
れらセンサ接続用電極４８ａ、ランクｉｉ！１用電極５
０ａ、抵抗５１ａを接続する接続線５２ａ、５３ａと、
第１図（ｂ）に示１［１＜ｉ１２接続接合基７の他面（
１１面）５４上に、前記センサ接続用電極４８ａ、ラン
クｉ！！識用電極５０ａ。A resistor 51a for rank recognition consisting of a printed resistor, etc., and an electrode 48a for connecting these sensors, rank ii! 1 electrode 5
0a, connection wires 52a and 53a connecting the resistor 51a,
As shown in FIG. 1(b), 1
11) On the 54, the sensor connection electrode 48a, rank i! ! Identification electrode 50a.
抵抗５１ａ、接続線５２ａ、５３ａと同様に設けられる
センサ接続用電極４８ｂ、ランク認識用電極５０ｂ、抵
抗５１ｂ、接続ｌ１１５２ｂ、５３ｂとを有して構成さ
れている。この場合、前記抵抗５１ａ、５１ｂは第２図
の表に示す如く前記温度センサ４１の抵抗値の変化内（
検温範囲内）に設定されており、抵抗５１ａによって前
記温度センサ４１のランクを示す２桁の数値の” １０
”位の数字を表し、また抵抗５１ｂによってその“１
″の位の数字を表している。例えば、抵抗５１ａの抵抗
値がＲ３３，５で、かつ抵抗５１ｂの抵抗値がＲ４０，
５であれば、前記温度センサ４１のランクはランク１Ｉ
Ｑ３７となる。It includes a resistor 51a, a sensor connection electrode 48b, a rank recognition electrode 50b, a resistor 51b, and connections 1152b and 53b, which are provided in the same way as the connection lines 52a and 53a. In this case, the resistors 51a and 51b are set within the change in resistance value of the temperature sensor 41 as shown in the table of FIG.
(within the temperature measurement range), and the two-digit numerical value "10" indicating the rank of the temperature sensor 41 is set by the resistor 51a.
”, and the “1” digit is displayed by the resistor 51b.
For example, the resistance value of the resistor 51a is R33.5, and the resistance value of the resistor 51b is R40.
5, the rank of the temperature sensor 41 is rank 1I.
It will be Q37.
第３図はこの温度計プローブ４０が差し込まれるコネク
タ部５５の一例を示す斜視図である。この図に示すコネ
クタ部５５は、このコネクタ部５５に差し込まれた前記
温度計プローブ４０の接続部４３の前記センサ接続用型
ｔ４４８ａ、４８ｂと対向するような位置に上下動自在
に設けられるセンサ電極５６ａ、５６ｂと、前記接続部
４３の前記ランク認識用電極５０ａ、５０ｂと対向する
ような位置に上下動自在に設けられるランク電極５７ａ
、５７ｂと、第４図に示す如くこれらセンサ電極５６ａ
、５６ｂ、ランク１ｆｆ１５７ａ。FIG. 3 is a perspective view showing an example of the connector section 55 into which the thermometer probe 40 is inserted. The connector part 55 shown in this figure is a sensor electrode provided vertically movably at a position facing the sensor connection molds t448a, 48b of the connection part 43 of the thermometer probe 40 inserted into the connector part 55. 56a, 56b, and a rank electrode 57a provided in a position facing the rank recognition electrodes 50a, 50b of the connection portion 43 so as to be movable up and down.
, 57b, and these sensor electrodes 56a as shown in FIG.
, 56b, rank 1ff157a.
５７ｂと各々接続される第１〜第４のスイッチ５８〜６
１とを有して構成されるものであり、前記温度計プロー
ブ４０の接続部４３が差し込まれれば、自動または手動
によって前記センサ電極５６ａ、ランク電極５７ａが下
方へスライドして前記センサ接続用電極４８ａ、ランク
認識用１極５０ａに各々接するとともに、前記センサ電
極５６ｂ、ランク電極５７ｂが上方へスライドして前記
センサ接続用電極４８ｂ、ランクＩ識用電極５０ｂに各
々接する。そしてここで測定表示部６２の中央処理装置
ｆ （ＣＰＵ）６３が第１抵抗選択信号Ｓ１を出力して
いれば、これに対応して第１、第２のスイッチ５８．５
９が閉じているから、これら第１．第２のスイッチ５８
．５９を介して抵抗５１ａの両端が前記ＣＰＵ６３の入
力端子６３ａ、６３ｂに各々接続され、この抵抗５１ａ
によって示される前記温度センサ４１のランク順を示す
２桁の数字のうちの’ １０ ” （Ｄ桁の数字がこの
ＣＰＬＩ６３によって検知される。また、ＣＰｔＪ６３
が第２抵抗選択信号Ｓ２を出力していればこれに対応し
て第３．第４のスイッチ６０．６１が閉じ、これら第３
．第４のスイッチ６０．６１を介して抵抗５１ｂの両端
が前記ＣＰｔＪ６３の入力端？６３ａ、６３ｂに、各々
接続されるから、この抵抗５１ｂによって示される前記
ｆＡ度センサ４１のランク順を示す２桁の数字のうらの
“１パ位相の数字がこのＣＰＵ６３によって検知される
。57b and the first to fourth switches 58 to 6 respectively connected to
1, and when the connection part 43 of the thermometer probe 40 is inserted, the sensor electrode 56a and the rank electrode 57a slide downward automatically or manually to connect to the sensor connection electrode. 48a and rank I recognition electrode 50a, respectively, and the sensor electrode 56b and rank electrode 57b slide upward to contact the sensor connection electrode 48b and rank I recognition electrode 50b, respectively. If the central processing unit f (CPU) 63 of the measurement display section 62 outputs the first resistance selection signal S1, the first and second switches 58.5
9 is closed, so these 1st. second switch 58
．． Both ends of the resistor 51a are connected to the input terminals 63a and 63b of the CPU 63 via the resistor 59, respectively.
Of the two-digit number indicating the rank order of the temperature sensor 41 indicated by ``10'' (D-digit number is detected by this CPLI63.
If the second resistor selection signal S2 is outputted, the third resistor selection signal S2 is output. The fourth switch 60,61 closes and these third
．． Both ends of the resistor 51b are connected to the input terminals of the CPtJ63 via the fourth switches 60 and 61. 63a and 63b, respectively, so that the CPU 63 detects the ``1P phase'' number on the other side of the two-digit number indicating the rank order of the fA degree sensor 41 indicated by the resistor 51b.
また、ＣＰＵ６３が測定指令信号Ｓ３を出力していれば
、これに対応して第１．第４のスイッチ５８．６１が閉
じ、これら第１．第４のスイッチ５８．６１を介して温
度センサ４１が前記ＣＰＵ６３の入力端子５３ａ、６３
ｂに接続される。これによって、この温度センυ４１に
よって得られた温度信号が前記ＣＰＵ６３に供給される
。Further, if the CPU 63 outputs the measurement command signal S3, the first . The fourth switch 58,61 closes and these first . The temperature sensor 41 is connected to the input terminals 53a, 63 of the CPU 63 via the fourth switch 58.61.
connected to b. Thereby, the temperature signal obtained by this temperature sensor υ41 is supplied to the CPU 63.
ＣＰＬＪ６３はマイクロプロセッサ、ＲＡＭ （ランダ
ム・アクセス・メモリ）、ＲＯＭ（リード・オン・メ１
す）およびＡ／Ｄ変換器（アナログ・デジタルコンバー
タ）等を有して構成されるものであり、前記第１．第２
抵抗選択信号３１．８２を出力したときに得られた前記
抵抗５１ａ、５１ｂの値から前記温度センサ４１のラン
ク恥を検知し、この検知結宋に応じて測定指令信号Ｓ３
を出力したときに得られた前記温度センサ４１の出力（
温度信号）を補正して正しい温度を求め、これを表示器
６４へ供給して表示させる。CPLJ63 is a microprocessor, RAM (random access memory), ROM (read-on-memory)
) and an A/D converter (analog/digital converter), etc. Second
The rank of the temperature sensor 41 is detected from the values of the resistors 51a and 51b obtained when the resistance selection signal 31.82 is output, and the measurement command signal S3 is output in accordance with this detection result.
The output of the temperature sensor 41 obtained when outputting (
temperature signal) to find the correct temperature, which is then supplied to the display 64 for display.
このようにこの実施例においては、抵抗５１ａ。Thus, in this embodiment, the resistor 51a.
５１ｂの値によって温度センサ４１のランクを表わすよ
うにしたので、接続部４３部分の構造を簡単にすること
ができるとともに、］コネクタ部５の構造を簡単にする
ことができる。Since the rank of the temperature sensor 41 is expressed by the value of 51b, the structure of the connecting portion 43 can be simplified, and the structure of the connector portion 5 can also be simplified.
また上述した実施例においては、マイクロプロセッサを
用いた場合を例にとってこの発明を説明したが、これを
ワイヤード・ロジック回路によって実施するようにして
も良い。また、コネクタ部５５と測定表示部６２とを一
体にするようにしても良い。Further, in the embodiments described above, the present invention has been explained using a microprocessor as an example, but the present invention may also be implemented using a wired logic circuit. Further, the connector section 55 and the measurement display section 62 may be integrated.
（発明の効果）
以上説明したように本発明によれば、温度計プローブの
接続部およびこの接続部が差し込まれるコネクタ部の構
造を筒中にして温度計プローブから測定表示部にランク
情報を伝達することができる。(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, the structure of the connection part of the thermometer probe and the connector part into which this connection part is inserted is made into a cylinder, and rank information is transmitted from the thermometer probe to the measurement display part. be able to.
第１図（ａ）は本発明の一実施例を示す平面図第１図（
ｂ）は同実施例の裏面側を示す平面図、第２図は同実施
例における抵抗値とランク船とを説明するための表、第
３図は同実施例の接続例を示す斜視図、第４図は同実施
例の回路構成例を示す１０ツク図、第５図は電子体温こ
１の一例を示す斜視図、第６図は従来の問題点を解決す
るために考えられる温度苫１ブ［１−ブの第１傍目を示
す平面図、第７図は第６図に示す温度計プローブの裏面
側を示す平面図、第８図は第６図に示す温度３１１０−
ブの接続例を示す斜視図、第９図は第８図に示す接続例
の断面図、第１０図は第６図に示す温度計プローブを用
いた電子体温計の回路構成例を示すブロック図、第１１
図は従来の問題点を解決するために考えられる温度計プ
ローブの第２傍目を示す平面図、第１２図は第１１図に
示す４度二１プローブの接続例を示す断面図、第１３図
は第１１図に示す温度３１プローブを用いた電子体温計
１の回路構成例を示すブロック図、第１４図は従来の問
題点を解決するために考えられる温度計プローブの第３
傍目を示す平面図、第１５図は第１４図に示を温度こ１
プ０−ブの接続例を示す斜視図、第１６図は第１５図に
示す接続例の側面図、第１７図は第１４図に示す温度計
７０−ブを用いた電子体温計の回路構成例を示すブロッ
ク図、第１８図は従来の問題点を解決するために考えら
れる温度計ブロー７の第４開目を示す平面図、第１９図
は第１８図に示す温度旨１プローブの接続例を示す平面
図、第２０図は第１８図に示す温度計プローブを用いた
電子体温３１の回路構成例を示すブロック図である。
４０・・・温度計プローブ、４１・・・温度センサ、４
２・・・プローブ本体（３１１温部）、４３・・・＠峡
部、４５．４６・・・リード線、４８ａ、４８ｂ・・・
センサ接続用電極、５０ａ、５０ｂ・・・ランク認識用
電極、５１ａ、５１ｂ・・・ランク認識用の抵抗。
特許出願人 立石電機株式会社
代理人 弁理士 岩＠哲二（他１名）
第１０図
第１２図
第１５図FIG. 1(a) is a plan view showing one embodiment of the present invention.
b) is a plan view showing the back side of the same embodiment; FIG. 2 is a table for explaining the resistance value and rank ship in the same embodiment; FIG. 3 is a perspective view showing a connection example of the same embodiment; Fig. 4 is a ten-dimensional diagram showing an example of the circuit configuration of the same embodiment, Fig. 5 is a perspective view showing an example of the electronic body temperature 1, and Fig. 6 is a temperature diagram 1 considered to solve the conventional problems. 7 is a plan view showing the back side of the thermometer probe shown in FIG. 6, and FIG.
9 is a sectional view of the connection example shown in FIG. 8, and FIG. 10 is a block diagram showing an example of the circuit configuration of an electronic thermometer using the thermometer probe shown in FIG. 6. 11th
The figure is a plan view showing the second side of the thermometer probe considered to solve the conventional problems, Fig. 12 is a cross-sectional view showing an example of connection of the 4° 21 probe shown in Fig. 11, and Fig. 13. is a block diagram showing an example of the circuit configuration of the electronic thermometer 1 using the temperature 31 probe shown in FIG. 11, and FIG.
A plan view showing the side eyes, Fig. 15 is the same as Fig. 14.
16 is a side view of the connection example shown in FIG. 15, and FIG. 17 is an example of the circuit configuration of an electronic thermometer using the thermometer 70 shown in FIG. 14. FIG. 18 is a plan view showing the fourth opening of the thermometer blow 7, which is considered to solve the conventional problems, and FIG. 19 is a connection example of the temperature gauge 1 probe shown in FIG. 18. FIG. 20 is a block diagram showing an example of the circuit configuration of the electronic body temperature 31 using the thermometer probe shown in FIG. 18. 40... Thermometer probe, 41... Temperature sensor, 4
2...Probe body (311 warm part), 43...@isthmus part, 45.46...Lead wire, 48a, 48b...
Electrodes for sensor connection, 50a, 50b... Electrodes for rank recognition, 51a, 51b... Resistance for rank recognition. Patent Applicant Tateishi Electric Co., Ltd. Agent Patent Attorney Iwa @ Tetsuji (and 1 other person) Figure 10 Figure 12 Figure 15
Claims (2)
ブ本体と、このプローブ本体の測定端側に設けられる温
度センサと、前記プローブ本体の接続端側に設けられる
センサ接続用電極と、このセンサ接続用電極と前記温度
センサとを電気的に接続するリード線と、前記センサ接
続用電極の近傍に設けられるランク認識用電極と、この
ランク認識用電極と前記センサ接続用電極との間に設け
られるランク認識用の抵抗とを備えたことを特徴とする
温度計プローブ。(1) A probe body that is detachably attached to the measuring instrument body side, a temperature sensor provided on the measurement end side of this probe body, a sensor connection electrode provided on the connection end side of the probe body, and this sensor connection A lead wire that electrically connects the temperature sensor and the temperature sensor, a rank recognition electrode provided near the sensor connection electrode, and a rank recognition electrode provided between the rank recognition electrode and the sensor connection electrode. A thermometer probe characterized by being equipped with a resistance for rank recognition.
ンサの検温範囲内に設定され、前記センサ接続用電極と
ランク認識用電極との間の抵抗値によつて前記温度セン
サのランクを前記測定器本体側に伝達する特許請求の範
囲第１項記載の温度計プローブ。(2) The value of the rank recognition resistor is set within the temperature measurement range of the temperature sensor, and the rank of the temperature sensor is determined by the resistance value between the sensor connection electrode and the rank recognition electrode. The thermometer probe according to claim 1, which transmits to the measuring device main body side.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15251385A JPS6214029A (en) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | Thermometer probe |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15251385A JPS6214029A (en) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | Thermometer probe |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6214029A true JPS6214029A (en) | 1987-01-22 |
Family
ID=15542090
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15251385A Pending JPS6214029A (en) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | Thermometer probe |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6214029A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01186401A (en) * | 1988-01-22 | 1989-07-25 | Mitsubishi Alum Co Ltd | Wheel made of aluminum alloy |
-
1985
- 1985-07-12 JP JP15251385A patent/JPS6214029A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01186401A (en) * | 1988-01-22 | 1989-07-25 | Mitsubishi Alum Co Ltd | Wheel made of aluminum alloy |
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