JPS62132292A - Address transition detecting circuit - Google Patents

Address transition detecting circuit

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JPS62132292A
JPS62132292A JP60271032A JP27103285A JPS62132292A JP S62132292 A JPS62132292 A JP S62132292A JP 60271032 A JP60271032 A JP 60271032A JP 27103285 A JP27103285 A JP 27103285A JP S62132292 A JPS62132292 A JP S62132292A
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signal
output
address
latch circuit
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JP60271032A
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Masami Hashimoto
正美 橋本
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Abstract

PURPOSE:To obtain the detecting pulse to secure a constant time from the change of a last address signal to the rear end of a pulse and to prevent an erroneous action by providing the fall and rise exclusive-use detecting circuit of an address signal composed of a latch circuit and a delaying circuit and synthesizing the output of respective detecting circuits. CONSTITUTION:The combination of a latch circuit 104 and a delaying circuit 105 is the same as the combination of a latch circuit 101 and a delaying circuit 102, and the signal of an address signal input terminal 108 is supplied through an inverter circuit 126 to a NAND circuit 117 of the latch circuit 104. By the combination of the latch circuit 104 and the delaying circuit 105, the rise of the signal of the address signal input terminal 108 is detected, and the pulse output is obtained from the output of a NAND circuit 118. Since a NAND circuit 124 in an output signal synthesizing circuit 107 inputs a signal line 130 to generate a fall detecting pulse and a signal line 135 to generate the transition detecting circuit, the pulse of a constant width corresponding to the fall and rise of an address signal is outputted.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はアドレス信号の変化に応じて動作を開始するm
子回路、殊に半4本メモリ集積回路のアドレス信号の変
化を検出する回路いわゆるアドレス遷移検出回路に関す
る。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention starts operation in response to a change in an address signal.
The present invention relates to a circuit for detecting a change in an address signal of a child circuit, particularly a half-quadruple memory integrated circuit, a so-called address transition detection circuit.

〔発明O概要〕[Summary of invention O]

本発明はラッチ回路と遅延回路からなるアドレス信号の
立ち下がり専用の検出回路と、別のラッチ回路と遅延回
路からなるアドレス信号0立ち上がり専用の検出回路を
設け、それぞれの検出回路の出力全合成してアドレス遷
移検出回路の出力とするとともに、アドレス信号の立ち
下がりヲ検出したら立ち上がり専用の演出回路をリセッ
トして初期状態にし、逆に立ち丘がりを演出したら立ち
下がり専用V)演出回路をリセットすることにより常に
次のアドレス信号の変化を充分に間隔?おいた場合のア
ドレス信号変化と同様の条件で促えられるようKなり、
最後のアドレス信号の変化からパルスの後縁筐で〇一定
の時間を確保した検出パルスを得る、つまり誤動作■な
いアドレス遷移演出回路を実現するものである。
The present invention provides a detection circuit dedicated to the fall of the address signal consisting of a latch circuit and a delay circuit, and a detection circuit dedicated to the rise of the address signal 0 consisting of another latch circuit and delay circuit, and performs full synthesis of the outputs of each detection circuit. In addition, when a falling edge of the address signal is detected, the production circuit dedicated to rising is reset to the initial state, and conversely, when a falling of the address signal is produced, the V) production circuit dedicated to falling is reset. Is it possible to always space the next address signal change sufficiently apart? K so that it can be prompted under the same conditions as the address signal change when the
This is to obtain a detection pulse that secures a constant time at the trailing edge of the pulse from the last change in the address signal, that is, to realize an address transition production circuit that does not malfunction.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のアドレス遷移演出回路は若干の回路の差はあるも
のの基本的には帆8図■様にインバータによる遅延回路
と、EXOR回路O組合せで、アドレス信号の変化した
とき遅延回路の遅延時間分だけの検出パルスを得る構成
になっている。
Although there are some circuit differences, conventional address transition production circuits are basically a combination of an inverter-based delay circuit and an EXOR circuit O, as shown in Fig. It is configured to obtain a detection pulse of .

〔発明が解決しようとする問題点及び目的〕しかし前述
した従来の回路では@9図(α)のタイミングチャート
に示す様にアドレス信号の変化が充分にml ltおい
て^れば設計IM通りのパルス幅を持った出力を得るが
、眞9図(b)及び窮9図(c)に示す様に遅延回路の
遅延時間より短い時間内にアドレスが2度板hi化する
とアドレス遷移検出回路のパルス幅は設計直よりも狭く
なってよい、かつ最終のアドレス信号変化点と検出パル
スρ後縁の時間的関係が狂ってしまい、以後この演出パ
ルスを利用して動く回路の誤動作の原因となる。
[Problems and objects to be solved by the invention] However, in the conventional circuit described above, as shown in the timing chart in Figure 9 (α), if the change in the address signal is sufficiently delayed, the design IM can be achieved. Although an output with a pulse width is obtained, as shown in Figure 9 (b) and Figure 9 (c), if the address goes high twice within a time shorter than the delay time of the delay circuit, the address transition detection circuit The pulse width may be narrower than the original design, and the temporal relationship between the final address signal change point and the trailing edge of the detection pulse ρ will be out of order, which may cause malfunctions of circuits that operate using this production pulse from now on. .

そこで本発明はこOような間聰点を解決するも■で、そ
の目的とするところはアドレス信号がど7)lap K
変化してもすぐに検出出方が得られるのみならず必ず最
後のアドレス変化点から検出パルスυ後縁までの時間が
一定の間隔を保つようなアドレス遷移演出回路を提供す
ることにある。
Therefore, the present invention solves this problem, and its purpose is to change the address signal to 7) lap K.
To provide an address transition producing circuit which not only provides a detection pattern immediately even if there is a change, but also always maintains a constant time interval from the last address change point to the trailing edge of a detection pulse υ.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明のアドレス遷移検出回路は a)アドレス信号をセット端子に入方する第1のラッチ
回路と b)前記第1のラッチ回路の出方信号を入方し、その遅
延信号を出力として前記第1のラッチ回路■リセット端
子に供給する巣1の遅延回路と、C)アドレス信号、も
しくは第1のランチ回路の出力信号あるいは内部信号、
もしくは第1■遅延回路の出力信号あるいは内部信号の
組合せによって論理がtN改される@ 1 OI)セッ
トfK号発生回路と、 d)アドレス1g号?セット端子に入方するa2のラッ
チ回路と e)Mi前記酊2のラッチ回路の出カ龜°号を入方し、
その遅延信号を出力として前記第2V)ラッチ回路のリ
セット端子に供給する姻2の遅延回路と。
The address transition detection circuit of the present invention includes a) a first latch circuit that inputs an address signal into a set terminal; 1 latch circuit ■Delay circuit 1 that supplies the reset terminal; C) address signal or output signal or internal signal of the first launch circuit;
Or the logic is modified by tN by the combination of the output signal or internal signal of the 1st ■ delay circuit @ 1 OI) set fK generation circuit and d) address 1g? Input the latch circuit of a2 which enters the set terminal and the output pin of the latch circuit of e) Mi mentioned above,
A second delay circuit supplies the delayed signal as an output to the reset terminal of the second V) latch circuit.

f)アドレス信号、もしくは第2のラッチ回路0出力信
号あるいは内部信号、もしくは第2の遅延回路の出力信
号あるlAは内部信号0組合せによって論理が構成され
る第2のリセット信号発生回路と、 g)前記第1のラッチ回路からの出方信号、もしくは前
記第1のリセット信号発生回路からの出方信号l■大入
力し、前記第2のラッチ回路からの出力信号、もしくは
前記第2のリセット信号発生回路からの出力信号を第2
入力とし、出方が本発明のアドレス遷移検出回路として
の出方となっている出力信号合成回路からなり、 ん)前記第1のリセット信号発生回路■出カ信号は前記
第2のラッチ回路及び嬉2の遅延回路の両方、もしくは
少くとも一方に供給され、前記第2のリセット信号発生
回路の出力信号は前記第1V)ラッチ回路、及び姻10
遅延回路の両方、もしくは少くとも一方に供給されてい
ることを特数とする。
f) an address signal, or a second latch circuit 0 output signal, an internal signal, or a second delay circuit output signal lA is a second reset signal generation circuit whose logic is configured by a combination of internal signals 0; ) The output signal from the first latch circuit or the output signal from the first reset signal generation circuit l■ is input, and the output signal from the second latch circuit or the second reset signal is input. The output signal from the signal generation circuit is
an output signal synthesis circuit whose input is the output signal of the address transition detection circuit of the present invention, h) the first reset signal generation circuit; The output signal of the second reset signal generating circuit is supplied to both or at least one of the delay circuits of the first V) latch circuit, and the first V) latch circuit.
The special feature is that it is supplied to both or at least one of the delay circuits.

〔作用〕[Effect]

本発明の上記の構成によれば第1のう゛ノチ回路と嬉1
0遅延回路の組合せによりアドレス信号O立ち下がり(
立ち上がり)を検出し、かつ一定のパルス幅を作り、第
2のラッチ回路と第20遅延回路O組み合せによりアド
レス信号の立ち上がり(立ち下がり)を険出し、から一
定の・くルス幅を作るというようにアドレス信号の立ち
下がりと立ち上がり0検出を別々の回路に祉目を分け、
更に嬶1のラッチ回路と第10遅延回路によってアドレ
ス【信号の立ち下がり(立ち上がり)を検出したら、第
1のリセット信号発生回路によって第2のラッチ回路と
嶋27)遅延回路からなるアドレス信号の立ち上がり(
立ち下がり)検出回路を初期状態に戻してすぐにアドレ
ス信号の立ち上がり(立ち下がり)を検出できるように
し、逆に第2のラッチ回路と第2の遅延回路によってア
ドレス信号の立ち上がり(立ち下がり)を検出したなら
ば、第2のリセット信号発生回路によって第1のう°ノ
チ回路と第1の遅延回路からなるアドレス信号の立ち下
がり(立ち上がり)検出回路を初期状態に戻し、すぐに
アドレス信号の立ち下がり(立ち上がり)vc−検出で
きるように用意させ、かつ立ち下がりを検出し、たパル
スと立ち上がりを検出したパルスを出力信号@r改回路
で合成しているので、本発明のアドレス遷移検出回路は
アドレス信号変化に対してすぐに反応してパルスを出し
、かつアドレス信号のどのような変化に対しても、一定
の輻を般低限保証したパルスを出力し、かつどのような
アドレス信号O変化を経由しても出力パルスの後縁と最
後のアドレス変化との間隔を一定に保つものである。
According to the above configuration of the present invention, the first countercircuit and the
The fall of the address signal O (
It detects the rise (rise) and creates a constant pulse width, and uses the combination of the second latch circuit and the 20th delay circuit O to make the rise (fall) of the address signal abrupt, and then creates a constant pulse width. The fall and rise 0 detection of the address signal is divided into separate circuits.
Furthermore, when the fall (rise) of the address signal is detected by the first latch circuit and the tenth delay circuit, the first reset signal generation circuit generates the second latch circuit and the second delay circuit. (
The falling edge) detection circuit is returned to its initial state so that it can immediately detect the rising edge (falling edge) of the address signal, and conversely, the second latch circuit and second delay circuit detect the rising edge (falling edge) of the address signal. Once detected, the second reset signal generation circuit returns the address signal falling (rising) detection circuit consisting of the first counter circuit and the first delay circuit to the initial state, and the address signal is immediately reset to the initial state. The address transition detection circuit of the present invention is prepared so that it can detect falling (rising) vc-, and the falling pulse and the rising pulse are synthesized by the output signal@r circuit. It outputs a pulse in immediate response to a change in the address signal, and it outputs a pulse that guarantees a constant intensity within the general range in response to any change in the address signal, and This is to keep the interval between the trailing edge of the output pulse and the last address change constant even if the output pulse passes through.

〔実t@列〕[Actual t@column]

第1図は本発明り第10実施VAJを示す回路図である
。第1図において破線101で囲まれた回路は第117
)ラッチ回路、破線102で囲まれた回路は第1の遅延
回路、破線103で囲まれた回路は第1のリセット信号
発生回路、破線104で囲まれた回路は第2のラッチ回
路、破線105で囲まれた回路は第2の遅延回路、破線
106で囲まれた回路は第2のリセット信号発生回路、
破線107で囲まれた回路が出力信号@r成回路である
。また端子108はアドレス信号入力端子であり、端子
109は本発明のアドレス遷移検出回路としての出力端
子である。ラッチ(ロ)路101ijNAND回路11
0とNARD回路111によって構成され、NAND回
路110の第1ゲートはアドレス信号入力端子108に
接続され、第2ゲートはNAND回路111の出力が接
続され、NAND回路111の第1ゲートはNAN D
回路101の出力が接続されている。遅延回路102は
NAND回路112とNOR回路113とNAND回路
114によって構成されている。NAND回路112の
第1ゲートとBIAND回路114の第1ゲートには前
記ラッチ回路1010中Q N A N D回路110
の出力が接続されている。NOR回路113の弛1ゲー
トはNAND回路112の出力に接続され、NAND回
路114の第2ゲートはN。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a tenth embodiment of VAJ according to the present invention. In FIG. 1, the circuit surrounded by a broken line 101 is the 117th circuit.
) Latch circuit, the circuit surrounded by broken line 102 is the first delay circuit, the circuit surrounded by broken line 103 is the first reset signal generation circuit, the circuit surrounded by broken line 104 is the second latch circuit, broken line 105 The circuit surrounded by 106 is a second delay circuit, the circuit surrounded by a broken line 106 is a second reset signal generation circuit,
The circuit surrounded by a broken line 107 is an output signal @r forming circuit. Further, the terminal 108 is an address signal input terminal, and the terminal 109 is an output terminal as an address transition detection circuit of the present invention. Latch (b) path 101ij NAND circuit 11
The first gate of the NAND circuit 110 is connected to the address signal input terminal 108, the second gate is connected to the output of the NAND circuit 111, and the first gate of the NAND circuit 111 is connected to the NAND circuit 111.
The output of circuit 101 is connected. The delay circuit 102 includes a NAND circuit 112, a NOR circuit 113, and a NAND circuit 114. The QNAND circuit 110 in the latch circuit 1010 is connected to the first gate of the NAND circuit 112 and the first gate of the BIAND circuit 114.
output is connected. The 1st gate of the NOR circuit 113 is connected to the output of the NAND circuit 112, and the 2nd gate of the NAND circuit 114 is connected to the 1st gate of the NAND circuit 112.

R回路113の出力に接続されている。NAND回路1
14の出力は遅延回路出力信号129として前記ラッチ
回路101の中DHAND回路1110鼾2ゲートに接
続されている。リセット信号発生回路103はNOR回
路115とインバータ回路116によりてvI成されて
いる。NOR回路115の第1ゲートは前記ラッチ回路
101!7)NAND回路111の出力に接続され、第
2ゲートはアドレス信号入力端子108に接続されてい
る。
It is connected to the output of the R circuit 113. NAND circuit 1
The output of 14 is connected as a delay circuit output signal 129 to the DHAND circuit 1110 in the latch circuit 101. The reset signal generation circuit 103 is configured with a NOR circuit 115 and an inverter circuit 116. The first gate of the NOR circuit 115 is connected to the output of the latch circuit 101!7) NAND circuit 111, and the second gate is connected to the address signal input terminal 108.

インバータ回路116のゲートはNOR回路115の出
力に接続されている。インバータ回路116のゲートけ
NOR回路115の出力に接続されている。インバータ
回路126のゲートはアドレス信号入力端子108に接
続され、アドレスの反転信号を作っている。ラッチ回路
104はMAND回路117とNAND回% 1181
Cヨツ”C構5M。
The gate of the inverter circuit 116 is connected to the output of the NOR circuit 115. It is connected to the output of the gated NOR circuit 115 of the inverter circuit 116. The gate of the inverter circuit 126 is connected to the address signal input terminal 108 to generate an inverted address signal. The latch circuit 104 and the MAND circuit 117 perform NAND times % 1181
C Yotsu” C structure 5M.

され、NANDU:!J昭117の第1ゲートは前記イ
ンバータ回路126の出力に接続され、姻2ゲートはN
AND回路118の出力に接続され、NAND回路11
80第1ゲートセNAND回路117の出力に接続され
ている。遅延回路105はNAND回路119とNOR
回路120とNAND画路121によって構成されてい
る。NAND回路119の第1ゲートとNAND回路1
21!7)第1ゲートは前記ラッチ回路1040中のN
AjlD回路117の出力に接続されている。NOR回
路12(1)@1ゲートは1JAlliD回路119の
出力に接続されてiる。NARD回路121の第2ゲー
トはNOR回路1200出力に接続されている。
And NANDU:! The first gate of JSho 117 is connected to the output of the inverter circuit 126, and the second gate is connected to N
connected to the output of the AND circuit 118, and connected to the output of the NAND circuit 11
80 first gate is connected to the output of the NAND circuit 117. The delay circuit 105 is a NAND circuit 119 and a NOR
It is composed of a circuit 120 and a NAND circuit 121. The first gate of NAND circuit 119 and NAND circuit 1
21!7) The first gate is N in the latch circuit 1040.
It is connected to the output of the AjID circuit 117. The NOR circuit 12(1)@1 gate is connected to the output of the 1JAlliD circuit 119. The second gate of NARD circuit 121 is connected to the NOR circuit 1200 output.

NAND[gl回路21の出力は遅延回路出力信号13
4として前記ランチ回路104の中■NANIJ回路1
18の醜2ゲートに接続されている。リセット信号発生
回路106はNOR回路122とインバータ回路123
から構成されている。へ〇R回路122の第1ゲートは
前記ラッチ回路104の中のNARD回路118v)出
力に接続され、窮2ゲートは前記インバータ回路126
の出力に接続されている。インバータ回路1230入力
μNOR回路122v)ゲートに接続されている。
NAND[gl circuit 21 output is delay circuit output signal 13
4, NANIJ circuit 1 in the launch circuit 104
Connected to 18 ugly 2 gates. The reset signal generation circuit 106 includes a NOR circuit 122 and an inverter circuit 123.
It consists of The first gate of the R circuit 122 is connected to the NARD circuit 118v) output in the latch circuit 104, and the second gate is connected to the inverter circuit 126.
connected to the output of The inverter circuit 1230 input μNOR circuit 122v) is connected to the gate.

出力信号合成回路107はシAND回路124とインバ
ータ回路125によって構成されている。
The output signal synthesis circuit 107 is composed of an AND circuit 124 and an inverter circuit 125.

NAND回路1240第1ゲートは前記ランチ回路10
1D中θNAND回路111の出力が接続され、@2グ
ートハ前記ラッチ回路1047)中DNAND回路11
8の出力が接続されている。インバータ回路125のゲ
ートはNAND回路124の出力に接続され、出力は本
発明のアドレス遷移噴出回路の出力端子109に接続さ
れている。
The first gate of the NAND circuit 1240 is connected to the launch circuit 10.
The output of the θNAND circuit 111 in 1D is connected, and the DNAAND circuit 11 in the latch circuit 1047) is connected to the
8 outputs are connected. The gate of the inverter circuit 125 is connected to the output of the NAND circuit 124, and the output is connected to the output terminal 109 of the address transition injection circuit of the present invention.

リセット信号発生回路103の窮1のリセット信号13
1であるNOR回路1157)出力は遅延回路105の
中’I)NOR回路120■第2ゲートに接続され、窮
2のリセット信号132であるインバータ回路116の
出力は遅延回路105の中のNARD回路119の第2
ゲートとラッチ回路104の中θNAND回路118■
第3ゲートに接接されている。リセット信号発生回路1
06の第10リセ7ト慣号136’eあるIJOR回m
122の出力は遅延回路102の中θNOR回路113
0第2ゲートVC接続され、嬶20リセットは号137
″C:あるインバータ回路1230出力μ遅延回路10
2ρ中IQIJAND回路112の第2ゲートとラッチ
回路1olO中DHAND回路111の麻3ゲートに接
続されて^る。また遅延回路102.105C1中17
)NARD回路112,114゜119.121は高レ
ベルのゲート入力信号に対しては遅く応答し、低レベル
0ゲート入力信号に対しては速く応答するように、飼え
ばCMO日0場合PチャネルMO8FETとNチャネル
MO8FEiTのコンダクタンス定数Ilt設定しであ
る。
The most important reset signal 13 of the reset signal generation circuit 103
The output of the NOR circuit 1157) is connected to the second gate of the delay circuit 105, and the output of the inverter circuit 116, which is the reset signal 132, is connected to the second gate of the delay circuit 105. 119 second
θNAND circuit 118 in the gate and latch circuit 104
It is connected to the third gate. Reset signal generation circuit 1
06's 10th reset 7th convention 136'e certain IJOR times m
The output of 122 is the θNOR circuit 113 in the delay circuit 102.
0 second gate VC connected, 20 reset is No. 137
``C: An inverter circuit 1230 output μ delay circuit 10
It is connected to the second gate of the IQIJAND circuit 112 in 2ρ and to the hemp 3 gate of the DHAND circuit 111 in the latch circuit 1olO. Also delay circuit 102.17 in 105C1
) NARD circuits 112, 114゜119, 121 respond slowly to a high level gate input signal and quickly respond to a low level 0 gate input signal. and the conductance constant Ilt of the N-channel MO8FEiT.

また同じく遅延回路102.10!MD中QNOR回路
113,120は低レベル0ゲート入力信号に対しては
遅く応答し、高レベルDゲート入力信号に対しては速く
応答するように設定しである。
Also, delay circuit 102.10! The MD QNOR circuits 113 and 120 are set to respond slowly to a low-level 0 gate input signal and quickly to a high-level D gate input signal.

さて以上の回路においてラッチ回路101と遅延回路1
020組合せによってアドレス信号0立ち下がりを検出
する。つ“まりアドレス1言号入力端子108が初め高
レベルであう友とするとNAND回路110の出力信号
128μ低レベル、MAND回路111の出力は号13
0■篩レベル、NムND回路112の出力は高レベル、
NOR回路1130出力な低L/ ヘル、 N A 1
1 D 回i% l l 417)出力は高レベルとな
っている9次にアドレスD号入力端子108が1氏レベ
ルに変るとNAND回路110の出力信号128は高レ
ベルになるが、NAND回路112.MAID回路11
4はともに高レベルのゲート入力信号I/c対して遅く
応答するように、またNOR回路113は低レベル0ゲ
ート入力信号に対して遅く応答するように設計されてい
るのでHAND回路114’)出力信号129は遅延時
間分だけ高レベルft保った後、低レベルに変る。した
がってNAND回路110V)出力信号128が高レベ
ルKfりた丘陵にNAND回路111!7)出力信号1
30は低レベルに変り、その後HAND回路1140出
力信号129が一定の遅延時間後、低レベルVC変った
時、高レベルVC変る。したがってNARD回路111
の出力信号130にはアドレス信号り立ち下がり時に遅
延回路102T:設定した遅延時間分に相当する幅■パ
ルス出力が得られる。ラッチ回路104と遅延回路10
50組み合せはラッチ回路101と遅延回路1020組
会せと同じでおり、ただアドレス信号入力端子108の
信号がインバータ回路126を通ってラッチ回路104
C1HAND回路117に供給されている■でラッチ回
路104と遅延回路105の組合ぜによりてアドレス店
号入力端子1080は号0立ち上がりを検出しMAID
回路118′7)出力からパルス出力が得られる。出力
信号合成回路1070中7)NARD回路124は立ち
下がり演出パルスを出″r信号線130と立ち上がり噴
出パルスを出す信号線135ft入力しているOでアド
レス遷移演出回路の出力端子109にはアドレス信号0
立ち下がりと立ち上がりに対応した一定の幅Oパルスが
出力される9以上がアドレス信号の変化から次O変化ま
での時間が遅延回路102.105の遅延時間より充分
に長^場会、つまり基本的な場合の動作であり、第2図
はこ0基本的な場合の各信号り波形を示したタイミング
チャート図である。なお嘉2図において各波形の左に示
した番号と第1図の回路υ中に示した番号は対応してお
り、それぞれの場所における信号波形を示すもOである
。またTATriアドレスD変比カラ重比カラ出力パル
スでの時間を示し、’noはパルス幅を示している1次
に従来のアドレス遷移検出回路では誤動作するような場
合のアドレス信号変化に対して本発明のアドレス遷移検
出回路O動作を第3図、@4図のタイミングチャート図
とともに説明する。なお第3図、@4図においても各波
形の左に示した番号と第1図の回路の中の番号は対応し
ており、それぞれの場所における信号波形を示して^る
。第3図はアドレス信号入力端子108において遅延回
路の遅延時間より短い間に一度変化したアドレスが元に
戻ってしまう場合のgIhP11″を示したものである
。さてこのようなアドレス信号の短時間り変化に対して
も第1図の回路はアドレス信号の立ち上がり変化と立ち
下がり変化を別々の回路で演出しているので、第3図の
アドレスD最後の変化である立ち下がりにおいてNAN
D回路111の出力である出力信号130には第3図の
タイミングチャートに見られるように前の状態に影響を
受けることなく一定の出カッくルスが得られるのでアド
レス遷移検出回路の出力端子109にはアドレス0最初
の変化をとらえfc信号1350パルスと後の変化をと
らえた信号1300合成されたTWOより広いノ(ルス
幅D ’rw、の/(ルスが得られている。ここでTW
l ■〕くシス0前縁はアドレスD最初O変化に対応し
ており、 TV、のパルスDI縁は最後のアドレスO変
化からTAの時間を経たところに対応じている。
Now, in the above circuit, the latch circuit 101 and the delay circuit 1
The fall of the address signal 0 is detected by the 020 combination. In other words, if the address 1 word input terminal 108 is initially at a high level, the output signal of the NAND circuit 110 is 128μ low level, and the output of the MAND circuit 111 is No. 13.
0 ■ Sieve level, Nmu ND circuit 112 output is high level,
NOR circuit 1130 output low L/HELL, NA 1
1 D times i% l l 417) The output is at a high level 9th When the address D input terminal 108 changes to the 1 degree level, the output signal 128 of the NAND circuit 110 becomes a high level, but the NAND circuit 112 .. MAID circuit 11
4 are designed to respond slowly to a high level gate input signal I/c, and the NOR circuit 113 is designed to respond slowly to a low level 0 gate input signal, so the HAND circuit 114') output The signal 129 remains at a high level ft for a delay time, and then changes to a low level. Therefore, the NAND circuit 111! 7) Output signal 1
30 changes to low level, and then, after a certain delay time, when the HAND circuit 1140 output signal 129 changes to low level VC, it changes to high level VC. Therefore, NARD circuit 111
The output signal 130 of the delay circuit 102T: When the address signal falls, a pulse output with a width corresponding to the set delay time is obtained. Latch circuit 104 and delay circuit 10
50 combination is the same as the latch circuit 101 and delay circuit 1020 combination, except that the signal at the address signal input terminal 108 passes through the inverter circuit 126 to the latch circuit 104.
With the combination of the latch circuit 104 and the delay circuit 105, the address store name input terminal 1080 detects the rising edge of the number 0 and MAID is supplied to the C1HAND circuit 117.
A pulse output is obtained from the circuit 118'7) output. 7) In the output signal synthesis circuit 1070, the NARD circuit 124 outputs a falling effect pulse and the output terminal 109 of the address transition effect circuit receives an address signal at the input O signal line 130 and the signal line 135ft that generates a rising ejection pulse. 0
9 or more, in which constant width O pulses corresponding to falling and rising edges are output, the time from the address signal change to the next O change is sufficiently longer than the delay time of delay circuits 102 and 105, that is, the basic FIG. 2 is a timing chart showing the waveforms of each signal in this basic case. Note that the numbers shown on the left of each waveform in FIG. 2 correspond to the numbers shown in the circuit υ of FIG. 1, and O indicates the signal waveform at each location. In addition, TATri indicates the time in the address D conversion ratio color weight ratio color output pulse, and 'no' indicates the pulse width. The operation of the address transition detection circuit O of the invention will be explained with reference to timing charts shown in FIGS. 3 and 4. Also in Figures 3 and @4, the numbers shown to the left of each waveform correspond to the numbers in the circuit of Figure 1, indicating the signal waveforms at each location. Figure 3 shows gIhP11'' when an address that once changed at the address signal input terminal 108 returns to its original state in a time shorter than the delay time of the delay circuit. Regarding changes, the circuit in Figure 1 uses separate circuits to produce the rising and falling changes of the address signal, so at the last change in the address D in Figure 3, the falling edge, the NAN
As shown in the timing chart of FIG. 3, the output signal 130, which is the output of the D circuit 111, has a constant output current without being affected by the previous state. The fc signal 1350 pulse that captures the first change in address 0 and the signal 1300 that captures the later change are combined to obtain a width D'rw, which is wider than TWO.Here, TW
l ■] The leading edge of cis0 corresponds to the first O change of address D, and the edge of pulse DI of TV corresponds to a time TA after the last change of address O.

嘉4図はアドレス信号入力端子108において遅延回路
の遅延時間より短い間に一度変化したアドレスが元に戻
ってしまい、更に再び変化した場合0動作を示したも■
である。さて最初OアドレスO立ち上がり■変化IC対
し、立ち1がりD演出回路であるラッチ回路104と遅
延回路1050組は反応して出力パルスを信号135よ
り出すが、次0アドレスD立ち下がりDi比によってう
゛ノチ回路101と遅延回路102D組によって立ち下
がりθ噴出パルスを信号130より出力するとリセット
信号発生回路103はリセット信号131.1321に
発生して、立ち上がりの検出回路であるラッチ回路10
4と遅延回路105を初期状態に戻してしまう、つまり
すぐに次の立ち上がりを検出できる状態にする。したが
って@4図に示す最後のアドレスの立ち上がりの変化に
対し、前のアドレス信号変化から時間が短かくとも正常
に反応することが出来る。したがってアドレス遷移検出
回路の出力端子1091Cは嘉4図のT−のIくルス幅
の出力が得られる。なおパルスTV、の前縁はアドレス
信号の最初の変化に対応し、vk縁は最後0アドレス信
号の最初0変化に対応し、vk縁は最後のアドレス信号
の変化からTAの時間を経たところVC対応している。
Figure 4 shows that if the address that once changed at the address signal input terminal 108 returns to its original state within a time shorter than the delay time of the delay circuit, and then changes again, 0 operation is shown.
It is. Now, the latch circuit 104 and the delay circuit 1050 set, which are the rising 1 rising D production circuit, react to the first O address O rising ■ change IC and output an output pulse from the signal 135, but depending on the next 0 address D falling Di ratio, When the notch circuit 101 and the delay circuit 102D set output a falling θ ejection pulse from the signal 130, the reset signal generation circuit 103 generates a reset signal 131.1321 and outputs the latch circuit 10, which is a rising detection circuit.
4 and the delay circuit 105 is returned to its initial state, that is, it is brought into a state where it can immediately detect the next rising edge. Therefore, it is possible to respond normally to the change in the rising edge of the last address shown in Figure @4 even if the time from the previous address signal change is short. Therefore, the output terminal 1091C of the address transition detection circuit obtains an output having the width of the I curve of T- in FIG. Note that the leading edge of the pulse TV corresponds to the first change of the address signal, the vk edge corresponds to the first 0 change of the last 0 address signal, and the vk edge corresponds to the VC after a time TA has passed since the last change of the address signal. Compatible.

なお嘉1図の回路においてリセット信号発生回路106
はアドレスの立ち上がり演出回路であるラッチ回路10
4と遅延回路105が立ち上がりを検出し、信号135
からノくルスを出力したとき、立ち下がり検出回路であ
るラッチ回路101と遅延回路102t−初期状態に設
定するものである。
Note that in the circuit shown in Figure 1, the reset signal generation circuit 106
is a latch circuit 10 which is an address rise producing circuit.
4 and the delay circuit 105 detect the rising edge, and the signal 135
When a signal is output from the latch circuit 101 and the delay circuit 102t, which are falling detection circuits, are set to the initial state.

以上の様にアドレスの立ち下がり検出用としてラッチ回
路101と遅延回路1020組と、アドレス■立ち上が
り検出用としてラッチ回路104と遅延回路105の組
と匹うようにそれぞれ専用の回路を設け、立ち下がりを
検出したらリセット信号発生回路103によってラッチ
回路104.!:遅延回路105をリセットし、立ち上
がりを検出した:ら1〃セット虞号発生回路106によ
ってラッチ回路101と遅延回路102をリセットして
いるので短時間のアドレスの変化にも必ず対応でき。
As described above, dedicated circuits are provided to match the latch circuit 101 and delay circuit 1020 pairs for detecting the falling edge of the address, and the pair of latch circuit 104 and delay circuit 105 for detecting the rising edge of the address. When the reset signal generation circuit 103 detects the latch circuit 104. ! : The delay circuit 105 was reset and a rising edge was detected. :Ra1 Since the latch circuit 101 and the delay circuit 102 are reset by the set fear generating circuit 106, it is possible to respond to short-time address changes without fail.

かつ出力パルスの後縁と最後のアドレス信号変化との間
隔を常にTムに保つことが可能となっている。
Moreover, it is possible to always maintain the interval between the trailing edge of the output pulse and the last address signal change to Tm.

范5図は本発明の窮2の実施列を示す回路図である。嬉
5図は基本的11図■回路と同じ構成であり、異なる点
は嘉1図り回路のインバータ回路126の役目を第5図
の回路ではインバータ回路526とインバータ回路52
7に置き換えたことであり、アドレス信号上用iるか、
アドレス信号り反転信号?用いるかは本質的な問題では
ないことを示す為ρ実施例である。
Figure 5 is a circuit diagram showing the second embodiment of the present invention. The circuit in Figure 5 has the same basic configuration as the circuit in Figure 11.
7, and for use on the address signal,
Address signal or inverted signal? The ρ example is given to show that it is not an essential problem whether it is used or not.

第6図は本発明0嬶3の実施例を示す回路図である。帆
6図は基本的VCCl2O回路と同じr11Fi5tで
あり、異なる点は出力信号合成回路D2(固■人カゲー
トO接続を変えたのみであって、嘉6図0回路ではリセ
ット信号発生回路1037)中■インバータ回路116
GO出力とリセット信号発生回路106の中のインバー
タ回路1230出力を出力信号@r成回路6070入力
信号として利用している。第6図の実施列の回路は出力
信号合成回路0入力として立ち下がり検出パルスと立ち
上がり検出パルスO情報を持つている信号でさえあるな
らば、特定V)信号にこだわらなくとも良いことを示し
ている。
FIG. 6 is a circuit diagram showing an embodiment of part 3 of the present invention. Figure 6 is r11Fi5t, which is the same as the basic VCCl2O circuit, and the difference is that the output signal synthesis circuit D2 (only the connection of the fixed gate O is changed; in the circuit shown in Figure 6, the reset signal generation circuit 1037) is different. ■Inverter circuit 116
The GO output and the output of the inverter circuit 1230 in the reset signal generation circuit 106 are used as input signals to the output signal @r formation circuit 6070. The circuit in the implementation column of FIG. 6 shows that it is not necessary to be particular about a specific V) signal as long as the signal has falling detection pulse and rising detection pulse O information as input to the output signal synthesis circuit 0. There is.

飢7図は本発明の襄4の実施列を示す回路図である。嘉
7図は基本的に第1図O回路と同じ溝数であり、異なる
点は第1図Oラッチ回路101’)中v)N A N 
D回路1110リセット入力は遅延回路102の出力信
号129とリセット信号発生回路106の出力信号13
702本を利用していたが、第7図0回路ではラッチ回
路701の中■NAND回路711のリセット入力は遅
延回路702の出力信号のみとしている。そ■ため遅延
回路702ではNARD回路730とインバータ回路7
31を設けWAND回路730■嬉1ゲートにはNAN
D回路114■出力を接続し、第2ゲートにはリセット
信号発生回路106の中Dインバータ回路123の出力
を接続して^る。また同様の理由で遅延回路705の中
にHAND回路732とインバータ回路733を設けて
いる。この第7図の!j!施的の回路はラッチ回路と遅
延回路■リセットの仕方は様々にあることを示してhる
Fig. 7 is a circuit diagram showing an implementation row of the casing 4 of the present invention. Figure 7 basically has the same number of grooves as the O circuit in Figure 1, and the difference is in the O latch circuit 101') in Figure 1.
The reset input of the D circuit 1110 is the output signal 129 of the delay circuit 102 and the output signal 13 of the reset signal generation circuit 106.
However, in the circuit shown in FIG. 7, the reset input of the NAND circuit 711 in the latch circuit 701 is only the output signal of the delay circuit 702. Therefore, in the delay circuit 702, the NARD circuit 730 and the inverter circuit 7
31 is installed and the WAND circuit 730 ■ NAN is connected to the 1st gate.
The output of the D circuit 114 is connected, and the output of the middle D inverter circuit 123 of the reset signal generation circuit 106 is connected to the second gate. Furthermore, for the same reason, a HAND circuit 732 and an inverter circuit 733 are provided in the delay circuit 705. This figure 7! j! The circuit shown here consists of a latch circuit and a delay circuit.■It shows that there are various ways of resetting.

また回路図としては示さなかったが、遅延回路の遅延時
間を稼ぐために遅延回路の論理な何段で*aしても良く
、また特別にキャパシタヲ追加しても良いことはいうま
でもない。
Also, although it is not shown in the circuit diagram, it goes without saying that *a may be used in any logical stage of the delay circuit in order to increase the delay time of the delay circuit, and that a special capacitor may be added. .

またリセット信号の作り方も、各ラッチ回路、遅延回路
に応じて様々な回路構成が可能である。
Furthermore, various circuit configurations can be used to generate the reset signal depending on each latch circuit and delay circuit.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上述べたように本発明によればアドレス信号の立ち下
がり検出回路と立ち上がり検出回路をそれぞれ専用の回
路を設け、立ち下がりを検出したら立ち上がり検出回路
をリセットして初期状態に戻し、立ち上がりを検出した
ら立ち下がり検出回路をリセットし、出力信号にはそれ
ぞれDパルスを合成して^るOでアドレス信号の変化に
素早く反応し、かつ短時間のアドレス君号変fヒにも必
ず応答し、かつ出力パルスの後縁と最後0アドレス変化
との間隔を常に一定VC保つ、つまりはどυようなアド
レス信号の変化に対しても誤動作つないアドレス遷移検
出回路を提供するという効果がある。
As described above, according to the present invention, dedicated circuits are provided for the fall detection circuit and the rise detection circuit of the address signal, and when a fall is detected, the rise detection circuit is reset to return to the initial state, and when a rise is detected, the rise detection circuit is reset to the initial state. The falling detection circuit is reset, and each output signal is synthesized with a D pulse. This has the effect of always keeping the interval between the trailing edge of the pulse and the last 0 address change at a constant VC, that is, providing an address transition detection circuit that does not malfunction in response to any change in the address signal.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

嶋1図は本発明のアドレス遷移検出回路O娼1の実施列
を示す回路図、第2図、第3図、窮4図は第1図の回路
の各場合の動作波形上水したタイミングチャート図、第
5図は本発明の第20大施列全示した回路図、第6図は
本発明の飢3の実施列を示した回路図、@7図は本発明
の第4■央砲列を示した回路図、第8図は従来■アドレ
ス遷移検出回路の回路図、嬉9図(α) 、 (b) 
、 (C)は窮8図の回路の動作波形を示したタイミン
グチャート図である。 101,104,701,704・・ラッチ回路 102.105,702,705・番遅延回路103.
106・・リセット信号発生回路107.607・・出
力信号合成回路 108・・アドレス信号入力端子 109・・アドレス遷移検出回路出力端子110.11
1,112,114,117,118.119,121
,124,624,711.718.ff30,732
−・NAND回路113.115,120.122−@
NOR回路 116.123,125,126,526,527.7
31.733・・インバータ回路以上 出願人 セイコーエプソン沫式会肚 7)ルス」1ぢ1父協d幻754.、aノイミソ゛シー
Y目第20 7)−4壬料金ルミL本Qノイミ〉グ号−−L(社)第
4の 旭°しス朴ΔりさナヒビDS6、C)■I3、υ0葛、
5霞 第6の アト−し又#$iomt=x!、■ 第7の
Figure 1 is a circuit diagram showing an implementation column of the address transition detection circuit 1 of the present invention, and Figures 2, 3, and 4 are timing charts showing the operating waveforms of the circuit in Figure 1 in each case. Figure 5 is a circuit diagram showing the entire 20th main row of the present invention, Figure 6 is a circuit diagram showing the third implementation row of the present invention, and Figure 7 is a circuit diagram showing the 4th central cannon of the present invention. A circuit diagram showing columns, Figure 8 is a circuit diagram of a conventional address transition detection circuit, Figure 9 (α), (b)
, (C) is a timing chart showing the operating waveforms of the circuit in Figure 8. 101, 104, 701, 704... Latch circuit 102. 105, 702, 705... Delay circuit 103.
106...Reset signal generation circuit 107.607...Output signal synthesis circuit 108...Address signal input terminal 109...Address transition detection circuit output terminal 110.11
1,112,114,117,118.119,121
, 124,624,711.718. ff30,732
-・NAND circuit 113.115, 120.122-@
NOR circuit 116.123, 125, 126, 526, 527.7
31.733... Inverter circuit or above Applicant: Seiko Epson 7) Luz' 1. , a Noimi Socie Y No. 20 7) - 4 I3, υ0 kudzu,
5 Kasumi No. 6 Ato Shimata #$iomt=x! ,■ Seventh

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)a)アドレス信号をセット端子に入力する第1の
ラッチ回路と b)前記第1のラッチ回路の出力信号を入力し、その遅
延信号を出力として前記第1のラッチ回路のリセット端
子に供給する第1の遅延回路と、c)アドレス信号、も
しくは第1のラッチ回路。出力信号あるいは内部信号、
もしくは第1の遅延回路の出力信号あるいは内部信号の
組合せによって論理が構成される第1のリセット信号発
生回路と、 d)アドレス信号をセット端子に入力する第2のラッチ
回路と、 e)前記第2のラッチ回路の出力信号を入力し、その遅
延信号を出力として前記第2のラッチ回路のリセット端
子に供給する第2の遅延回路と、f)アドレス信号、も
しくは第2のラッチ回路の出力信号あるいは内部信号、
もしくは第2の遅延回路の回路の出力信号あるいは内部
信号の組合せによって論理が構成される第2のリセット
信号発生回路と、 g)前記第1のラッチ回路からの出力信号、もしくは前
記第1のリセット信号発生回路からの出力信号を第1入
力とし、前記第2のラッチ回路からの出力信号、もしく
は前記第2のリセット信号発生回路からの出力信号を第
2入力とし、出力が本発明のアドレス遷移検出回路とし
ての出力となつている出力信号合成回路からなり、 h)前記第1のリセット信号発生回路の出力信号は前記
第2のラッチ回路及び第2の遅延回路の両方、もしくは
少なくとも一方に供給され、前記第2のリセット信号発
生回路の出力信号は前記第1のラッチ回路、及び第1の
遅延回路の両方、もしくは少くとも一方に供給されてい
ることを特徴とするアドレス遷移検出回路。
(1) a) a first latch circuit that inputs an address signal to a set terminal; and b) an output signal of the first latch circuit that inputs the output signal and outputs the delayed signal to a reset terminal of the first latch circuit. c) an address signal or a first latch circuit; output signal or internal signal,
or a first reset signal generation circuit whose logic is configured by a combination of output signals or internal signals of the first delay circuit; d) a second latch circuit that inputs the address signal to the set terminal; and e) the second latch circuit. a second delay circuit that inputs the output signal of the second latch circuit and supplies the delayed signal as an output to the reset terminal of the second latch circuit; and f) an address signal or an output signal of the second latch circuit. Or an internal signal,
or a second reset signal generation circuit whose logic is configured by a combination of output signals or internal signals of the second delay circuit; and g) an output signal from the first latch circuit or the first reset. The output signal from the signal generation circuit is used as a first input, the output signal from the second latch circuit or the output signal from the second reset signal generation circuit is used as the second input, and the output is the address transition of the present invention. h) The output signal of the first reset signal generation circuit is supplied to both or at least one of the second latch circuit and the second delay circuit. An address transition detection circuit characterized in that the output signal of the second reset signal generation circuit is supplied to both or at least one of the first latch circuit and the first delay circuit.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02273396A (en) * 1988-12-27 1990-11-07 Intel Corp Timing circuit
US5715212A (en) * 1995-11-30 1998-02-03 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor memory device comprising address transition detecting circuit having stable response characteristic for address signal conversion

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