JPS62128578A - 強磁性体磁気抵抗素子およびその製造法 - Google Patents

強磁性体磁気抵抗素子およびその製造法

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JPS62128578A
JPS62128578A JP60270097A JP27009785A JPS62128578A JP S62128578 A JPS62128578 A JP S62128578A JP 60270097 A JP60270097 A JP 60270097A JP 27009785 A JP27009785 A JP 27009785A JP S62128578 A JPS62128578 A JP S62128578A
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JP
Japan
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electrode
thin film
ferromagnetic
substrate
reliability
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JP60270097A
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Yoshiyasu Sugimoto
杉本 善保
Ichiro Shibazaki
一郎 柴崎
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N50/00Galvanomagnetic devices
    • H10N50/10Magnetoresistive devices

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は強磁性体lin気抵抗抵抗素子の製法に関する
[従来の技術] 従来、磁気抵抗素子の製法として、絶縁性基板の上に真
空蒸着、スパッタリングなどの方法で磁気抵抗効果を有
する強IIfi性体薄膜を形成した後、強磁性体薄膜の
所定の位置にめっきによって電極を形成し、次にエッチ
ング加工して磁気抵抗素子を作成することが試みられて
いた。従来のこのような方法で作られた磁気抵抗素子を
、感磁部がブリッジを構成している素子を例として第8
図(A)、第8図CB)に示す。第8図(A)は上面図
、第8図CB)は第8図のX−X線に沿う断面図である
。図において11は基板、13は強磁性体薄膜で、中央
部の幅の狭い領域13A、13B、13G、130がブ
リッジを構成する感磁部で、周縁の幅の広い領域は引ま
わし電極部となる。14A、14B、14(:、140
は外部接糸充用の電極、17八、178.17G、17
Dはそれぞれ電極14八、1411.14c、I4Dに
はんた15A、15B、15G、15Dによって接続さ
れたり−ト線である。なお第8図(A)、第8図(B)
においては、保護膜、モールド樹脂等の図示を省略しで
ある。
rInIn抗抵抗素子磁部は極めて薄い金属1摸を使用
するため、強磁性体薄膜のシート抵抗は極めて高く、電
解めっきの電極として機能し難いので、直接強磁性体薄
膜上にめっきで電極形成を行うことは極めて困難であっ
た。また、強磁性体薄膜のn莫厚が極めて薄いため、め
っきン夜によって強磁性体膜が腐蝕されるという問題が
あった。ざらに感磁部のブリッジを構成する13Aない
し130の抵抗が異なると、ブリッジは非平衡となりオ
フセット電圧を生ずるので、13八ないし13Dの寸法
を精度よく一致させなければならないか、感磁部薄膜の
幅は極めて細いので、寸法の制御には限界があった。ま
た強磁性薄膜の引まわし電極が薄いので抵抗値が大きく
、そのために感度低下を招いていた。しかも引きまわし
電極部上に八uなどをめっきして抵抗値を下げ、感度を
上げようとすると、素子として必要な保護膜との密着性
が悪く、また、工程上も上述したように電極部と感磁部
との境界をめっきする際にエッチングされるなど信頼性
を損なうという問題があった。このように従来の方法で
は電極作製が難しく、また信頼性と小滴りの上から強磁
性体ETA気抵抗抵抗素子業的生産は困難であった。
[発明が解決しようとする問題点コ 本発明は従来のこのような欠点を解消し、オフセット電
圧が小さく、感度が高く、信頼性にすぐれた強磁性体磁
気抵抗素子およびその製造法を提供することを目的とす
る。
[問題点を解決するための手段] かかる目的を達成するために、本発明の強磁性体磁気抵
抗素子は絶縁性の基板の表面に所要の形状で密着形成さ
れた金属薄膜からなる電極部と、金属薄膜上および基板
上の所要部分にのみ密着形成された強磁性体薄膜からな
る感磁部とを有することを特徴とする。
また本発明の強磁性体磁気抵抗素子の製造法は、少なく
とも、絶縁性の基板上に電極材料を被着する工程、被着
された電極材料を所望の形状にエッチングする工程、基
板およびエッチングされた電極材料上に強磁性体薄膜を
被着する工程、被着された強磁性体薄膜を所望の形状に
エッチングし感lin部パターンを形成する工程を含む
ことを特徴とする。
[作用コ 電極rg膜の上に強磁性体薄膜が形成されるので、電極
形成工程において、従来みられたような感磁部のエッチ
ング等による信頼性の低下がなく、また再現性と信頼性
が高く、保護層との密着性が良いので素子の信頼性が高
い。また引きまわし電極は感磁部に比べて電極専用に厚
付けした薄膜が用いられており、そのため引きまわし電
極部の抵抗値を低くすることができ、オフセット電圧を
小さく抑えることができる。ざらに耐熱性の高い電極材
料を用いることができるので強磁性薄膜形成時に基板を
高温に加熱できるので一層感度を高くすることができる
[実り諷イ列コ 以下に図面を参照して本発明を説明する。
第1図(A)は本発明の強磁性体磁気抵抗素子の実施例
の上面図、第1図(B)は第1図(八)の八−へ線に沿
った断面図である。この例は第8図に示した従来例と同
じブリッジ型の素子の例を示しである。
第1図(A) 、 (Bl においてlは絶縁性基板、
2は基板l上に形成された電極薄膜、3は基板l上に形
成されかつ電極薄膜2上に重なる状態で形成された強磁
性体薄膜パターンであり、感磁部を形成している。4A
、4B、4G、4Dは外部接続のための電極部であり、
各電極部にリード線7八、7B、7G、70がはんだ5
A、5B、5C,5Dを介して接続されている例を示し
である。感磁部および電極部は保護被膜6で覆われ、リ
ード線接続部近傍は樹脂8で覆われた構造となっている
。ただし第1図(A)においては保Ha Ili 6 
、モールド樹脂8の図示を省略しである。
第2図は本発明の強磁性体磁気抵抗素子の他の実施例の
断面図である。本図において、第1図の実施例と同一の
参照符号を付けたものは、第11四に示した例と同一の
部材である。本例においては強tn性薄膜が電極薄膜の
外部電極側の一部を覆っているのみである点が第1図(
A) 、 (B)の実施例と異なっている。
通常、強磁性体磁気抵抗素子は、高感度、高出力および
低消費力のため高抵抗を要求される。このため膜厚は薄
く形成することが好ましい。従って基板1には、表面が
凹凸の極めて少ない鏡面のものが用いられ、好ましくは
100Å以下の表面粗さのものが良い。また、基板は絶
縁性または少なくとも表面が絶縁性である必要がある。
また、少なくとも 400℃までは安定な材質のものが
よい。
従って、基板lは、一般に半導体素子の基板等に使われ
ている絶縁性の基板でよいが、特にガラス基板、セラミ
ック基板、石英ガラス基板、サファイア基板、酸化膜付
シリコン基板等が好ましい材料である。
本発明の素子における電極薄膜は、電極として低抵抗で
あることが好ましい。従って膜厚はできるだけ厚く形成
し、かつ材料としては抵抗率の小さいものが好ましい。
また、強磁性体磁気抵抗素子は、オフセット電圧を少な
くする必要があるため、感磁部パターンの形状精度を要
求される。本発明の素子では、感磁部パターンを形成す
る時点で、感磁部パターンが形成される部分と他の部分
とでは、電極薄膜の膜厚分だけの段差が形成された構造
となっている。この段差は、素子のオフセット電圧と深
くかかわるため、電極部膜厚には木質的な上限値が生ず
る。即ちこの段差が大きすぎると、感磁部パターンの形
状精度が悪(なり、オフセット電圧が大ぎくなる。従っ
て電極薄膜2の膜厚は一定の厚み以下とする必要があり
、電極薄膜の形状、抵抗率と許容されるオフセット電圧
の両者を考慮すると限界段差は5.0μm以下であり、
好ましくは3.0μm以下、さらに好ましくは1.0μ
m以下である。
電極薄膜2の材質としては、腐蝕しにくい金属材料が好
ましく用いられ、Cu、Au、Mo、W、Ta、Ti、
Ni。
Fej:o、(:r等やこれらの合金等がある。また、
電極薄膜2は、上記金属の多層の薄膜でもよい。
強磁性体薄膜3の材質としては、保磁力の小さい一般の
強磁性体材料でよく、Fe、Go、Niまたはそれらの
合金等は好ましいものであり、実用的には磁気抵抗効果
の大きなNi −Fe合金、N1−Go金合金より好ま
しい。また、強1ift性体簿膜3の厚みは好ましくは
5000λ以下である。これ以上では、素子が低抵抗と
なりパターン形状との関係で、実用的な出力の素子の作
製は不可能である。従ってより好ましくは感磁部の強磁
性体薄膜の厚さは2000λ以下であり、さらに好まし
くは200〜1000人である。
保護膜6は、感磁部および電極部の汚染や腐蝕を防ぐ役
割りを果たしている。この保護膜6の材質は、一般に半
導体素子で用いられている無機質の絶縁膜でよく、 A
jZ203 、 Si3N4 、 5i02 。
りんガラスおよびそれらの多層膜等が好ましく用いられ
る。本実施例では絶縁膜が1〜15μm程度の範囲で形
成される。本実施例では、本発明の素子を外部接続する
1例として、電極4とリード線かばんだによりポンディ
ングされている例を示したが、他のホンディング方法、
例えばワイヤホンディングやり一1〜ボンディング等も
等しく用いられる。
本発明の素子は、必要に応じて樹脂モールドされる場合
もある。モールド樹脂8の材質は、−aにエポキシ樹脂
等の耐熱性および耐湿性に富んだものが好ましい。また
、素子全体がモールドされることもあり、一部のみがリ
ード線の補強等でモールドされることもある。
次に本発明の強磁性体磁気抵抗素子の製造法について、
第3図、第4図、第5図を参照して述べる。第3図は工
程図の一例、第4図は各工程における素子の上面図、第
5図は第4図におけるB−B線に沿った断面図である。
第3図における電極薄膜を形成する工程は、絶縁性の基
板1を所要の温度に加熱保持し、真空蒸着、スパッター
、めフき等の方法により電極薄膜2を被着形成する工程
である。この工程後の素子の状況を第4図(A)、第5
図(A)に示す。
次は、′屯極薄)摸2の所要の部位をエッチングする工
程である。これは、感磁部を形成する部分のT、極薄膜
をエッチング除去する工程である。この工程により、素
子は第4図(8)、第5図(B)に示す状態となる。
強磁性体R@形成工程は、感磁部となる強磁性体薄膜を
付着形成する工程であって、基板1を所要の温度好まし
くは250℃以上に加熱保持し、基板1上に磁気抵抗効
果を有する強磁性体薄膜3を、真空蒸着、MBE、スパ
ッター等の方法で付着形成する工程である。この工程に
よって、素子は第4図(C)、第5図(C)に示す状態
となる。
感磁部パターン形成工程は、前の工程で形成した強磁性
体薄膜3を所要の部位のみ残し、エッチング除去する工
程であって、設計により定められた感磁パターンが第4
図(D)、第5図(D)に示すように実質的に形成され
る工程である。
次いで、通常の素子製作で行われている引きまわし部の
エッチングや、外部接続のための電極パッド部の形成等
の工程が続く。ざらに感磁部や電極の引きまわし部等の
表面を絶縁性の保S=+摸6で覆うため、保護膜の形成
工程が続き、通常の半導体の電子部品等で行われている
ダイシングによるカット工程、ボンディング、モールド
等の工程が続いて行われ、本発明の強磁性体磁気抵抗素
子の製造は完了する。
本発明の素子は、上述したような構造としたので、電極
薄膜の形成後に薄い感磁品薄膜を形成することができる
。このため電極パターンが再現性よく、高い信頼性で形
成できる。また電極薄膜の厚さを制御することによって
、強磁性材料の薄膜からなる感磁部のパターンを精度よ
くエッチングすることができる。さらに引まわし電極部
に電極専用に形成された薄膜を用いているので、高感度
で低オフセットの素子製作が可能である。さらに無機質
絶縁物との密着性および耐熱性が高く、融点の高い電極
材料が電極として使用でき、また5i02などの保護層
との密着性のよい強磁性体薄膜が上層にあるので、良好
な保護膜の形成が可能である。この保護膜は、素子の感
磁面の機械的摩擦からの保護も可能である。従って素子
の極めて高い信頼性が確保できると共に量産が容易な構
造となっている。さらにこうした電極材料の使用により
磁気抵抗効果を生ずる感磁部の強磁性体薄膜を高温で形
成できるので、強磁性体薄膜の結晶性と磁気異方性を改
善でき、高感度、高出力の磁気抵抗素子の製作が可能で
ある。
また本発明の製造工程によれば、強磁性体薄膜の感磁部
を損傷することなく素子製作が可能であり、かつ通常の
半導体にはみられない10μm以上の5i02等の保護
膜の形成も充分可能となり、感磁面を摩擦等の機械的外
力に対しても保護でき、かつ耐湿性等の長期信頼性も大
幅に向上した素子製作が可能である。
以下に素子の具体的な製造例について述べる。
実施例1 表面が鏡面研磨された2インチ角のガラス基板を200
℃に加熱保持し、厚さ1.0μ0のCr薄膜をスパッタ
ーにより形成した。次に硝酸セリウムアンモニウム系の
腐蝕液を用い、第4図(8)に示したようにCr薄膜の
一部をエッチング除去した。次いで基板を300℃に加
熱保持し、基板上全面に、700人の80%Ni −2
0%GO合金薄膜をスパッターにより形成した。次に過
硫酸アンモニウム系の腐蝕液を用い第4図(D) に示
した如くエッチングにより感磁部の基本パターンを形成
した。次いで、フォトレジスト(東京応化工業■製0F
PR800)を用い、所要の部位のみめっきするパター
ンめっき法により、オールナ552(上材工業)を用い
て0.2μmのAu層を、硫酸Ni浴を用いて3μmの
Ni層を第1図の4Aないし4Dにあたる部分に形成し
、外部接続用電極パッド部とした。次にフォトレジスト
をエッチングマスクとし、引きまわし部のエッチングを
行い、磁気抵抗素子の4つの端子部分を形成した。次に
メタルマスクで第1図の4Aないし4Dにあたる部分を
覆い、1.5μmの5i02 W6を形成した。その後
、60%5n−40%pb組成の溶融はんだ槽につけ、
はんだ部5Aないし5Dを形成した。このような工程で
、2インチ角のガラス基板上に、強磁性体磁気抵抗素子
を約70偏向時に形成した。
この基板をダイシングソーにより、4.3+n+n X
7.2mmの素子チップに切断した。その各素子チップ
に4木のリード線をはんだボンディングした後、エポキ
シ樹脂を第1図の8で示したように塗布硬化し、第1図
(A) 、 (B)に示した本発明の強磁性体磁気抵抗
素子を製作した。
その素子特性は、第1表に示した如くである。
比較のため従来例の値を同時に示したが、本実施例の素
子は明らかに従来のものと比較してオフセットが1桁小
さくまた、感度は2倍近くも高い。また、長期信頼性評
価の結果を第2表に示しである。1000時間の長期耐
湿加温テストで全く特性変化がみられず、極めて良好な
信頼性を有することも明らかである。さらに、電極部と
感磁部境界のエッチング等による劣化も全くなく、電極
形成の信顆度も高く、充分な再現性も確認できた。
第1表 実施例2 表面が鏡面研磨された2インチ角のガラス基板を150
℃に加熱保持し、基板全面に厚さ0.2μIのCrFi
J膜、厚さ0.3μmのMo薄膜をこの順序で連続蒸着
により形成した。次に (CF4 +Q2)ガスを用い
ドライエッチングでMo薄膜の一部を、CCfL4を用
いてC「薄膜の一部を第4図(B)に示したようにエッ
チング除去した。Cr薄膜の除去はウェットエッチング
によってもよい。次いで基板を300℃に加熱保持し、
基板上全面に560人の58%Ni −15%Fe合金
薄膜をスパッターにより形成した。その後は、実施例1
と全く同様の工程で素子製作を行った。
こうして製作した磁気抵抗素子の特性は、第3表に示し
た如くである。第4表には、信頼性評価の結果を載せた
。実施例1と同様に良好な特性と信頼性を有している。
第3表 85°C285%相対湿度中1000時間放置後結果ま
た、これまでブリッジ型の素子について説明してきたが
、本発明を第6図に示すような感磁部9A、9Bが互い
に直交する型の強Iin性体磁気抵抗素子や第7図に示
すような感bn部9Cをもち、3端子のブリッジを形成
しない強磁性体磁気抵抗素子にも適用できることは言う
までもない。
[発明の効果コ 以上説明したように、本発明においては電極薄膜の上に
強磁性体薄膜が形成されるので、電極形成工程における
再現性と信頼性が高く、保護層との密着性が良いので素
子の信頼性が高い。また電極薄膜を引きまわし電極部に
用いるので、オフセット電圧が小さく、感度が高い。さ
らに耐熱性の高い電極材料を用いることができるので強
磁性薄膜形成時に基板を高温に加熱できるので一層感度
を高くすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)は本発明の強磁性体磁気抵抗素子の実施例
の上面図、第1図(B)は第1図(A)のA−へ線に沿
った断面図、 第2図は本発明の強磁性体磁気抵抗素子の他の実施例の
断面図、 第3図は本発明の強磁性体磁気抵抗素子の製造法の実施
例を示す工程図、 第4図(A)ないし第4図(D)は各工程における強磁
性体磁気抵抗素子の上面図、 第5図(A)ないし第5図(0)はそれぞれ第4図(A
)ないし第4図(D)のB−B線に沿った断面図、 第6図および第7図はそれぞれ本発明の強磁性体磁気抵
抗素子のさらに他の実施例の感磁部パターンを示す上面
図、 第8図(A)は従来の強磁性体磁気抵抗素子の上面図、
第8図(B)は第8図(A)のX−X線に沿った断面図
である。 1.11・・・絶縁性基板、 2・・・電極薄膜、 3.13・・・強磁性体薄膜、 4A、48.4C,4D、4E、4F、4G、14A、
14B、14f;、140・・・外部接続用電極、 5A、58.5C,5D、15A、158.15(:、
150・・・はんだ、6・・・保護膜、 7A、78.7G、7D、17A、17B、17G、1
7D ・・・リード線、8・・・モールド樹脂、 9A、98.9G・・・感磁部。 lO・・・引廻し電極。 第2図 第3図 ― ハ                   0■に) 一ノ                   \ノ第6
図 G 第7図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)絶縁性の基板の表面に所要の形状で密着形成された
    金属薄膜からなる電極部と、該金属薄膜上および前記基
    板上の所要部分にのみ密着形成された強磁性体薄膜から
    なる感磁部とを有することを特徴とする強磁性体磁気抵
    抗素子。 2)少なくとも下記の工程、 [1]絶縁性の基板上に電極材料を被着する工程、 [2]該被着された電極材料を所望の形状にエッチング
    する工程、 [3]前記基板および前記エッチングされた電極材料上
    に強磁性体薄膜を被着する工程、 [4]該被着された強磁性体薄膜を所望の形状にエッチ
    ングし感磁部パターンを形成する工 程、 を含むことを特徴とする強磁性体磁気抵抗素子の製造法
JP60270097A 1985-11-29 1985-11-29 強磁性体磁気抵抗素子およびその製造法 Pending JPS62128578A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63310186A (ja) * 1987-06-12 1988-12-19 Asahi Chem Ind Co Ltd 強磁性体磁気抵抗素子の製造方法
JPH01200683A (ja) * 1988-02-04 1989-08-11 Sony Corp 磁気抵抗素子の製造方法
JPH01278081A (ja) * 1988-04-30 1989-11-08 Asahi Chem Ind Co Ltd 強磁性体磁気抵抗素子

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58106462A (ja) * 1981-12-18 1983-06-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 回転検出装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58106462A (ja) * 1981-12-18 1983-06-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 回転検出装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63310186A (ja) * 1987-06-12 1988-12-19 Asahi Chem Ind Co Ltd 強磁性体磁気抵抗素子の製造方法
JPH01200683A (ja) * 1988-02-04 1989-08-11 Sony Corp 磁気抵抗素子の製造方法
JPH01278081A (ja) * 1988-04-30 1989-11-08 Asahi Chem Ind Co Ltd 強磁性体磁気抵抗素子

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