JPS619733A - テスト装置 - Google Patents

テスト装置

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Publication number
JPS619733A
JPS619733A JP59131387A JP13138784A JPS619733A JP S619733 A JPS619733 A JP S619733A JP 59131387 A JP59131387 A JP 59131387A JP 13138784 A JP13138784 A JP 13138784A JP S619733 A JPS619733 A JP S619733A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
register
test
microprocessor
microinstruction
test function
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP59131387A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6367212B2 (ja
Inventor
Yuji Kamiyama
神山 祐史
Masashi Deguchi
雅士 出口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP59131387A priority Critical patent/JPS619733A/ja
Publication of JPS619733A publication Critical patent/JPS619733A/ja
Publication of JPS6367212B2 publication Critical patent/JPS6367212B2/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、マイクロプログラム制御方式のマイクロプロ
セッサに関するものである。
従来例の構成とその問題点 近年、マイクロプロセッサの高集積化・高機能化に供い
、マイクロプロセッサの設計・開発が複雑化してきた。
そのため開発コストの低下、開発時間の短縮を図るため
の、内蔵テスト機能が重要視されてきた。
以下に、従来のマイクロプロセッサ内の各部ハードウェ
ア機能のテスト方法を説明する。第1図に、従来のマイ
クロプロセッサ内の各部ハードウェア機能テストの構成
図を示す。
1はマイクロプロセッサ外部から入力される機械語命令
を格納する命令レジスタ、2は命令レジスタ1の内容を
解読するマンビイグアレイ、3はマイクロプログラムを
格納する制御メモリ、4は制御メモリ3の読出しアドレ
スを格納する制御メモリアドレスレジスタ、6は制御メ
モリ3の出力であるマイクロプログラムを格納するマイ
クロ命令レジスタ、6はマイクロ命令レジスタ5の内容
を解読しマイクロ命令実行のだめの制御信号を出力する
マイクロ命令デコーダ、7はマイクロプロセッサ外部と
のバス転送全制御するバス転送制御回路、8は機械語命
令読込みアドレスを格納する命令フェッチアドレスレジ
スタ、9は前記命令フェッチアドレスレジスタ8に設定
する値を管理し、前記バス転送制御回路7に命令フェッ
チのためのバス転送起動を要求する命令7工ツチ制御回
路、1oは転送アドレスのセグメントを格納するセグメ
ントベースレジスタ、11は命令7エツチアドレスレジ
スタ8の内容とセグメントベースレジスタ10の内容を
加算し転送アドレスを決定子る加算器である。
以上の構成においてマイクロプロセッサ外部のハード5
17機能をテストするだめには、機械語命令によるテス
トプログラムを作成・実行させる必要がある。
しかしながら、マイクロプログラム制御されるマイクロ
プロセッサにおいては、機械語命令とマイクロプロセッ
サ内の各部ハードウェアが1対1には対応しない。その
ため、機械語命令によるテストプログラムの実行により
エラーが発生した場合に、マイクロプロセッサ内のどの
部分のハードウェアのエラーかという物理的な対応付け
が困難である。さらに、異方る機械語命令がマツピング
アレイによシ同一のマイクロプログラムに展開されるこ
とも多くあるため、ハードウェア機能のテスト項目以上
の数の、機械語命令によるテストプログラムが必要とカ
るという問題点があった。
発明の目的 本発明は、前記問題点に鑑み、マイクロプロセッサ内の
各部ハードウェア機能のテストをマイクロプログラムに
より行うことのできるマイクロプロセッサの内蔵テスト
装置を提供するものである。
発明の構成 本発明は、マイクロプロセッサのテスト機能動作を指定
するテスト端子と、テスト機能の実行を制御するテスト
機能制御回路と、マイクロプロセッサ外部から入力され
る機械語命令を格納する命令レジスタと、前記命令レジ
スタの内容を解読するマンピングアレイと、マイクロプ
ログラムを格納する制御メモリと、前記制御メモリの読
出しアドレスを格納する制御メモリアドレスレジスタと
、マイクロ命令を格納するマイクロ命令レジスタと、前
記制御メモリ出力とマイクロプロセッサ外部からのデー
タ入力のうちの一方を前記マイクロ命令レジスタへ出力
する選択器と、前記マイクロ命令レジスタの内容を解読
するマイクロ命令デコーダと、テスト機能動作中のマイ
クロプロセッサ外部とのデータ転送アドレスを格納する
テスト機能アドレスレジスタを具備するマイクロプロセ
ッサの内蔵テスト装置であり、マイクロプログラムによ
るテストプログラムをマイクロプロセッサ外部から読込
み、実行させるハードウェアを付加することによって、
テストプログラムとテストの対象となるハードウェア機
能の対応を明確化して診断能力を向上させると共に、マ
イクロプロセッサのテストに要する時間を短縮させるも
のである。
実施例の説明 第2図は、本発明の一実施例におけるマイクロプロセッ
サの内蔵テスト装置の構成図である。
図において、1は命令レジスタ、2はマンピングアレイ
、3は制御メモリ、4は制御メモリアドレスレジスタ、
5はマイクロ命令レジスタ、6はマイクロ命令デコーダ
、7はバス転送制御回路、8は命令フェッチアドレスレ
ジスタ、9は命令フエッチ制御回路、10はセグメント
ベースレジスタ、11は加算器で、v上は第1図の構成
と同じものである。12は制御メモリ3の出力とマイク
Oフロセッサ外部からのデータ入力のうちの一方をマイ
クロ命令レジスタ5へ出力する選択器である。マイクロ
命令レジスタのビット幅がデータバスのピント幅の2倍
とすると選択器12は、出力がマイクロ命令レジスタの
上位ワードを指定する選択器13と下位ワードを指定す
る選択器14の2つで構成される。15はテスト機能動
作を指定するテスト端子、16はテスト機能実行に必要
な制御信号を発生するテスト機能制御回路、17はテス
ト機能制御回路16の動作タイミングを制御するシーケ
ンサである。
本実施例におけるテスト機能制御回路160制御動作を
以下に説明する。テスト端子15によシテスl能動作が
指定されるとテスト機能制御回路16は命令フェッチ制
御回路9に命令フェッチ禁止信号を出力する。まず、第
1の期間には命令ンエノテアドレスレジスタ8をテスト
機能アドレスレジスタとして用いて読込むべきマイクロ
命令の主記憶上のアドレスを設定し、バス転送制御回路
7に読込み要求信号を出力し、選択器13の出力をマイ
クロプロセッサ外部からのデータ入力とし、選択器14
はいずれの入力も出力されないようにすることによって
マイクロプロセッサ外部からのデータ入力をマイクロ命
令レジスタ5の上位ワードへ格納する。次に、第2の期
間には、命令フェッチアドレスレジスタ8の内容を更新
し、第1の期間と同様の制御によυマイクロプロセッサ
外部からのデータ入力をマイクロ命令レジスタ5の下位
ワードへ格納する。第1・第2の期間を通じてマイクロ
命令デコーダには解読禁止信号を出力する。最後に、第
3の期間には、選択器13゜14の出力は無効とな9マ
イクロ命令レジスタ5は変更されず、マイクロ命令デコ
ーダわに対して解読許可信号を出力し、第1・第2の期
間で格納されたマイクロ命令レジスタの内容が解読・実
行される。以上の第1〜第3の制御動作を操返すことに
より、マイクロ命令を順次読込み、マイクロ命令デコー
ダ6の機能テストおよびマイクロ命令実行部の動作テス
トを行うことができる。
なお、1つのマイクロプログラムの読込み・実行を3つ
の期間で行っているが、各期間の間に何も実行しない期
間が挿入されてもよい。
発明の効果 本発明は、マイクロプロセッサ外部からマイクロプログ
ラムを読込み・実行させるためのハードウェアを付加す
ることによって、マイクロプロセッサ内の各部ハードウ
ェア機能をマイクロプログラムによシテストできるよう
にし、テストプログラムとテスト対象となるハードウェ
ア機能の対応の明確化でテストプログラムの誤シ箇所発
見能力を向上させると共に、マイクロプロセッサのテス
トに要する時間を短縮させるものであり、その実用的効
果は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のマイクロプロセッサ内の各部ハードウェ
ア機能テストの構成図、第2図は本発明の一実施例にお
けるマイクロプロセッサの内蔵テスト装置の構成図であ
る。 1・・・・・・命令レジスタ、2・・・・・・マツピン
グアレイ、3・・・・・・制御メモリ、4・・・・・・
制御メモリアドレスレジスタ、5・・・・・・マイクロ
命令レジスタ、6・・・・・・マイクロ命令デコーダ、
7・・・・・・バス転送制御回路、8・・・・・・テス
ト機能アドレスレジスタ(命令ソエッチアドレスレジス
タ)、12・・・選択器、15・・・・・テスト端子、
16・・・・・・テスト機能制御回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 莢行制岬信号 第2図 芙行制御信号

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)マイクロプロセッサのテスト機能動作を指定する
    テスト端子と、前記テスト端子でテスト機能動作が指定
    されたときテスト機能の実行を制御するテスト機能制御
    回路と、マイクロプロセッサ外部とのバス転送を制御す
    るバス転送制御回路と、テスト機能動作で用いるマイク
    ロプロセッサ外部とのデータ転送アドレスを格納するテ
    スト機能アドレスレジスタと、マイクロプロセッサ外部
    から入力される機械語命令を格納する命令レジスタと、
    前記命令レジスタの内容を解読するマッピングアレイと
    、マイクロプログラムを格納する制御メモリと、前記マ
    ッピングアレイの出力である前記制御メモリの読出しア
    ドレスを格納する制御メモリアドレスレジスタと、マイ
    クロ命令を格納するマイクロ命令レジスタと、前記制御
    メモリ出力とマイクロプロセッサ外部からのデータ入力
    とのうちの一方を前記マイクロ命令レジスタへ出力する
    選択器と、前記マイクロ命令レジスタの内容を解読し、
    マイクロ命令実行に必要な制御信号を出力するマイクロ
    命令デコーダとを具備することを特徴とするテスト装置
  2. (2)テスト機能制御回路は、テスト機能アドレスレジ
    スタにデータ転送アドレスを設定し、バス転送制御回路
    に読込み要求信号を出力し、選択器出力をマイクロプロ
    セッサ外部からのデータ入力とする制御信号を出力し、
    マイクロ命令デコーダに解読許可信号を出力する特許請
    求の範囲第1項記載のテスト装置。
JP59131387A 1984-06-26 1984-06-26 テスト装置 Granted JPS619733A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59131387A JPS619733A (ja) 1984-06-26 1984-06-26 テスト装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59131387A JPS619733A (ja) 1984-06-26 1984-06-26 テスト装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS619733A true JPS619733A (ja) 1986-01-17
JPS6367212B2 JPS6367212B2 (ja) 1988-12-23

Family

ID=15056765

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59131387A Granted JPS619733A (ja) 1984-06-26 1984-06-26 テスト装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS619733A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6314430A (ja) * 1986-07-04 1988-01-21 Tokyo Optical Co Ltd 投影露光装置用の光学的位置合わせ装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6314430A (ja) * 1986-07-04 1988-01-21 Tokyo Optical Co Ltd 投影露光装置用の光学的位置合わせ装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6367212B2 (ja) 1988-12-23

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