JPS6189551A - 円筒状物体のピンホ−ル検査装置 - Google Patents
円筒状物体のピンホ−ル検査装置Info
- Publication number
- JPS6189551A JPS6189551A JP21057884A JP21057884A JPS6189551A JP S6189551 A JPS6189551 A JP S6189551A JP 21057884 A JP21057884 A JP 21057884A JP 21057884 A JP21057884 A JP 21057884A JP S6189551 A JPS6189551 A JP S6189551A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspected
- electrode
- cylindrical object
- pinhole
- discharge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/20—Investigating the presence of flaws
- G01N27/205—Investigating the presence of flaws in insulating materials
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、絶縁性をもち少なくとも一端面側か開放され
ている円筒状物体に、ピンホールが1′r在しているか
否かを検査するための検査装置ムこ1.vlするもので
ある。
ている円筒状物体に、ピンホールが1′r在しているか
否かを検査するための検査装置ムこ1.vlするもので
ある。
(従来技術〕
円筒状物体の側壁面に、ピンホールがあイ)が否かを検
査するだめの検査装置、L Lで、火花放電・発利用す
るものが公知である。このような検査装置では、円筒状
の被検査物体の側壁を異種の電極で挟み、これらの電極
間に高電圧を印加して、その放電電流を監視することに
よりピンホールの有無を検査する。ずなわち、ピンホー
ルがある場合には、そのピンボールを介して火花放電が
生じやすくなるので、その放電電流の監視によりピンホ
ールの有無が判断できるようになる。
査するだめの検査装置、L Lで、火花放電・発利用す
るものが公知である。このような検査装置では、円筒状
の被検査物体の側壁を異種の電極で挟み、これらの電極
間に高電圧を印加して、その放電電流を監視することに
よりピンホールの有無を検査する。ずなわち、ピンホー
ルがある場合には、そのピンボールを介して火花放電が
生じやすくなるので、その放電電流の監視によりピンホ
ールの有無が判断できるようになる。
上述のようなピンホール検査装置としては、特開昭54
−28189号、 44r開昭55−.143424号
、特開昭55−151256号などの各公報に示された
ものがある。しかしながら、上記の特開昭54−281
89号公報記載の装置では、被検査物体に一方の電極を
接触させて、これを回転させながら全周の検査を行うの
で、被検査物体や電極にキズ、変形が生じやすいととも
に、検査時間が長くなるという欠点がある。特開昭55
−143424号公報記載の装置においては、検査のた
めに容器状の被検査物体に導電性の液体を使用するので
、その充填作業や検査後の乾燥作業等の検査工数が増え
、やはり検査の高速化の点で問題がある。また、特開昭
55−151256号公報記載の装置では、被検査物体
の端面付近の検査ができないとともに、被検査物体の表
面を中継して両電極間に放電電流が流れるいわゆる沿面
放電を併用することから、この沿面放電による電圧1;
Y下が著しく、ピンホールの検出精度が低下するという
欠点がある。
−28189号、 44r開昭55−.143424号
、特開昭55−151256号などの各公報に示された
ものがある。しかしながら、上記の特開昭54−281
89号公報記載の装置では、被検査物体に一方の電極を
接触させて、これを回転させながら全周の検査を行うの
で、被検査物体や電極にキズ、変形が生じやすいととも
に、検査時間が長くなるという欠点がある。特開昭55
−143424号公報記載の装置においては、検査のた
めに容器状の被検査物体に導電性の液体を使用するので
、その充填作業や検査後の乾燥作業等の検査工数が増え
、やはり検査の高速化の点で問題がある。また、特開昭
55−151256号公報記載の装置では、被検査物体
の端面付近の検査ができないとともに、被検査物体の表
面を中継して両電極間に放電電流が流れるいわゆる沿面
放電を併用することから、この沿面放電による電圧1;
Y下が著しく、ピンホールの検出精度が低下するという
欠点がある。
本発明の目的は、上述のような従来の検査装置のもつ欠
点を一掃することにあり、円筒状の被検査物体の端面側
までも高速で検査できるようにするとともに、検査工程
中に被検査物体や電極にキズなどが入ることのないよう
なピンホール検査装置を提供することを目的とする。
点を一掃することにあり、円筒状の被検査物体の端面側
までも高速で検査できるようにするとともに、検査工程
中に被検査物体や電極にキズなどが入ることのないよう
なピンホール検査装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の検査装置において
は、一方の電極を円筒状の被検査物体の中空部内に所定
間隙をもって挿入できるように、被検査物体の内周径よ
りも若干小径となるように設定するとともに、他方の電
極そして被検査物体表面を経由して前記一方の電極に至
る沿面放電を解消するために、他方の電極の端面に対向
して絶縁性の抑え板を配置し、この抑え板に被検査物体
の端面を押しつけて検査位置に保持するようにしたごと
を特徴とするものである。
は、一方の電極を円筒状の被検査物体の中空部内に所定
間隙をもって挿入できるように、被検査物体の内周径よ
りも若干小径となるように設定するとともに、他方の電
極そして被検査物体表面を経由して前記一方の電極に至
る沿面放電を解消するために、他方の電極の端面に対向
して絶縁性の抑え板を配置し、この抑え板に被検査物体
の端面を押しつけて検査位置に保持するようにしたごと
を特徴とするものである。
本発明を適用したピンボール検査装置の第一実施例の縦
断面を°示ず第1図およびその溝断面を示す第2図にお
いて、円柱体として構成された負電極1ば、電流計2を
介して直流の高圧電源3の負極に接続されている。この
負電極1の外側には、第2図にも示すように、円筒状の
被検査物体5が配置される。前記負電極1の外周径は、
被検査物体5の内周径よりも若干小さく設定されている
ので、これらの間には図中り、で示すように若干のクリ
アランスができるようになる。このクリアランスL1、
さらに負電極1の左端面側の面取り部6により、負電極
■を取り囲むように被検査物体5を挿入する時に、互い
がキズつくことを防止できる。
断面を°示ず第1図およびその溝断面を示す第2図にお
いて、円柱体として構成された負電極1ば、電流計2を
介して直流の高圧電源3の負極に接続されている。この
負電極1の外側には、第2図にも示すように、円筒状の
被検査物体5が配置される。前記負電極1の外周径は、
被検査物体5の内周径よりも若干小さく設定されている
ので、これらの間には図中り、で示すように若干のクリ
アランスができるようになる。このクリアランスL1、
さらに負電極1の左端面側の面取り部6により、負電極
■を取り囲むように被検査物体5を挿入する時に、互い
がキズつくことを防止できる。
負電極1の外周を覆うように挿入された被検査物体5は
、一方の端面5aが絶縁性の抑え板7に密着されるよう
に加圧装置8を介して、やはり絶縁性をもった他方の抑
え板9により押圧され、被検査物体5は抑え板7と抑え
板9との間に密着して挟持される。また、前記負電極1
の両端は細径に構成されており、その段付き部の端面1
a、1bと抑え仮7.9との間には、d、で示すクリア
ランスが生ずるようになっている。なお、抑え板7は、
固定部に対して弾性支持されているのが望ましく、この
ため例えば図示のようにばね10か利用されたり、ある
いは抑え板7さらには抑え板9自体を、弾性をもったゴ
ムにより構成する。このように、抑え板7.9自体を弾
性ゴムにすると、被検査物体5の端面を密着して保持す
る上でも非常に有効である。なお、抑え板7,9の端面
に、被検査物体5あるいは負電極1の位置決め用の突起
や四部を形成しておくことが好ましい。
、一方の端面5aが絶縁性の抑え板7に密着されるよう
に加圧装置8を介して、やはり絶縁性をもった他方の抑
え板9により押圧され、被検査物体5は抑え板7と抑え
板9との間に密着して挟持される。また、前記負電極1
の両端は細径に構成されており、その段付き部の端面1
a、1bと抑え仮7.9との間には、d、で示すクリア
ランスが生ずるようになっている。なお、抑え板7は、
固定部に対して弾性支持されているのが望ましく、この
ため例えば図示のようにばね10か利用されたり、ある
いは抑え板7さらには抑え板9自体を、弾性をもったゴ
ムにより構成する。このように、抑え板7.9自体を弾
性ゴムにすると、被検査物体5の端面を密着して保持す
る上でも非常に有効である。なお、抑え板7,9の端面
に、被検査物体5あるいは負電極1の位置決め用の突起
や四部を形成しておくことが好ましい。
こうして、負電極1.被検査物体5を取り伺けた後、第
2図に示したように、2つのブロフク12a、12bと
から構成された正電極12を、被検査物体5の全周を覆
うように設置する。この正電極12は、被検査物体5の
外周径よりも若干人きい内周径をもって形成された中空
部を備えている。したかって、正電極12を取り付けた
状態では、図示のように、被検査物体5との間にL2の
クリアランスが生ずることになる。また、前記抑え板7
.9のそれぞれは、正電極12の両端面とクリアランス
d2をもって対向する位置まで延びている。なお、正電
極12としては、これを1個の円筒形状としたり、3個
以上の分割個数とすることも可能である。また、そのチ
ャッキングを行う手段としても、図示した並進式のめな
らず回転式など他の種々の方式を採用できる。
2図に示したように、2つのブロフク12a、12bと
から構成された正電極12を、被検査物体5の全周を覆
うように設置する。この正電極12は、被検査物体5の
外周径よりも若干人きい内周径をもって形成された中空
部を備えている。したかって、正電極12を取り付けた
状態では、図示のように、被検査物体5との間にL2の
クリアランスが生ずることになる。また、前記抑え板7
.9のそれぞれは、正電極12の両端面とクリアランス
d2をもって対向する位置まで延びている。なお、正電
極12としては、これを1個の円筒形状としたり、3個
以上の分割個数とすることも可能である。また、そのチ
ャッキングを行う手段としても、図示した並進式のめな
らず回転式など他の種々の方式を採用できる。
以上のようにして、各電極l、12および被検査物体5
のチャッキングを行った後、各電極1゜12間に所定レ
ベルの高電圧を印加すると、被検査物体5が良品でその
全側面にピンホール、クラック等が存在していない場合
には放電が行われない。しかしながら、被検査物体5の
側面に図中15で示したようなピンホールが存在すると
、正電極12.負電極1との間に印加される電圧か前記
所定レベルであっても、このピンボール15を介して火
花放電が発生する。そして、この火花放電による放電電
流を電流計2により検出するようにすれば、電流計2を
監視することて被検査物体5にピンホールなどの欠陥部
分があるか否かが判別できることになる。
のチャッキングを行った後、各電極1゜12間に所定レ
ベルの高電圧を印加すると、被検査物体5が良品でその
全側面にピンホール、クラック等が存在していない場合
には放電が行われない。しかしながら、被検査物体5の
側面に図中15で示したようなピンホールが存在すると
、正電極12.負電極1との間に印加される電圧か前記
所定レベルであっても、このピンボール15を介して火
花放電が発生する。そして、この火花放電による放電電
流を電流計2により検出するようにすれば、電流計2を
監視することて被検査物体5にピンホールなどの欠陥部
分があるか否かが判別できることになる。
ところで上述の構成によれば、正電極12の端面と抑え
板7.9との間、また負電極1の端面と抑え板7,9と
の間にそれぞれクリアランスdl。
板7.9との間、また負電極1の端面と抑え板7,9と
の間にそれぞれクリアランスdl。
d2が設けられており、そして被検査物体5の両端が前
記抑え板7.9に間隙なく完全に密着されることから、
両電極1.12が被検査物体5の両端部分まで延長され
ていても、沿面放電の発生を確実に防くことができる。
記抑え板7.9に間隙なく完全に密着されることから、
両電極1.12が被検査物体5の両端部分まで延長され
ていても、沿面放電の発生を確実に防くことができる。
したがって、検査中に沿面放電による思わぬ電圧低下を
きたして検査精度を劣化させるようなことがなく、しか
も被検査物体5の端部側まで高精度に検査することがで
きる。
きたして検査精度を劣化させるようなことがなく、しか
も被検査物体5の端部側まで高精度に検査することがで
きる。
また、ピンホール検出のだめの火花放電を、印加電圧を
低くしても確実に生じさせるだめには、被検査物体5と
負電極1.正電極12とのそれぞれのクリアランスL+
、L2を小さく設定すればよい。しかし、これらをあま
り小さくし過ぎると、チャッキング作業時に互いに擦れ
合ってキズが入る原因になりやすいので、クリアランス
L、、L2を0.5mm前後に抑え、印加電圧を300
0V〜aooov程度にすれば、良好なピンホール検査
を行うことができる。なお、この場合のクリアランスd
、、d2の値としては、O〜3R+m程度でよい。
低くしても確実に生じさせるだめには、被検査物体5と
負電極1.正電極12とのそれぞれのクリアランスL+
、L2を小さく設定すればよい。しかし、これらをあま
り小さくし過ぎると、チャッキング作業時に互いに擦れ
合ってキズが入る原因になりやすいので、クリアランス
L、、L2を0.5mm前後に抑え、印加電圧を300
0V〜aooov程度にすれば、良好なピンホール検査
を行うことができる。なお、この場合のクリアランスd
、、d2の値としては、O〜3R+m程度でよい。
第3図に示した本発明の第二実施例は、一方の端面側に
底面20aが設りられている円筒状の被検査物体20を
、その底面20aも含めて検査するためのものである。
底面20aが設りられている円筒状の被検査物体20を
、その底面20aも含めて検査するためのものである。
なお、第一実施例と共通の部材については、共通の符号
を付しである。この第二実施例においては、底面20a
の検査も同時に行うようにするために、正電極12に底
面検査用の付加電極13が接続されている。また、抑え
板7はとしては、例えばネオプレンゴム等の弾性をもつ
ゴム板が用いられている。
を付しである。この第二実施例においては、底面20a
の検査も同時に行うようにするために、正電極12に底
面検査用の付加電極13が接続されている。また、抑え
板7はとしては、例えばネオプレンゴム等の弾性をもつ
ゴム板が用いられている。
前記正電極12そして付加電極工3の内面には、多数の
突起18が形成されている。このような突起18が設け
られていると、突起18の回りに著しい不平等電界が生
ずるので、より低い電圧レー・ルで放電を発生させるこ
とができるようになる。
突起18が形成されている。このような突起18が設け
られていると、突起18の回りに著しい不平等電界が生
ずるので、より低い電圧レー・ルで放電を発生させるこ
とができるようになる。
このように、検査時の印加電圧を低く設定ずろことがで
きれば、電源装置の保守管理上好ましいとともに、沿面
放電を防く意味でも有りjとなる。なお、上記第一、第
二実施例において、負電極1゜正電極12の極性を逆に
して使用したり、電源として交流を利用することも可能
である。
きれば、電源装置の保守管理上好ましいとともに、沿面
放電を防く意味でも有りjとなる。なお、上記第一、第
二実施例において、負電極1゜正電極12の極性を逆に
して使用したり、電源として交流を利用することも可能
である。
上述のように、本発明の検査装置によれば、t+’c来
装置では発生しやすかった沿面放電が防止さ′!1゜る
ので、円1fjl状の被検査物体にピンホール等の欠陥
部が存在するか否かが、その!>lLt部側までも高M
i度で検出できるようるこなろ。さらに被検査物体と電
極とを接触させることなく、しかも被検)′i物体の全
周を(灸査ずイ)にあたっ′(、これらをr〔1トIi
l;さ−已たりする必要もないので、被検査物体や電極
表面を楊つり〈)ことかなく、高辻で全周の検査かでき
る。
装置では発生しやすかった沿面放電が防止さ′!1゜る
ので、円1fjl状の被検査物体にピンホール等の欠陥
部が存在するか否かが、その!>lLt部側までも高M
i度で検出できるようるこなろ。さらに被検査物体と電
極とを接触させることなく、しかも被検)′i物体の全
周を(灸査ずイ)にあたっ′(、これらをr〔1トIi
l;さ−已たりする必要もないので、被検査物体や電極
表面を楊つり〈)ことかなく、高辻で全周の検査かでき
る。
したかって、本発明の検査装置による検査上[′?を製
造下、[:d中にIII入れ、その検査情+■を実時間
で利用することも可能となる。
造下、[:d中にIII入れ、その検査情+■を実時間
で利用することも可能となる。
第1図は、本発明の第一実施例の縦断面図てあ・3゜
第2図は、第1図に示した第一実施例の4!′7.断面
図である。 第3図は、本発明の第二実施例の縦断面図である。 ■・・・負電極 2・・・電流計3・・・高圧電
源 5・・・被検査物体7.9・・抑え板 I
2・・正電極15・・ピンホール I8・・突起 20・・被検査物体。 手続ネ市正書 昭和59年12月10日
図である。 第3図は、本発明の第二実施例の縦断面図である。 ■・・・負電極 2・・・電流計3・・・高圧電
源 5・・・被検査物体7.9・・抑え板 I
2・・正電極15・・ピンホール I8・・突起 20・・被検査物体。 手続ネ市正書 昭和59年12月10日
Claims (4)
- (1)絶縁性の円筒状物体の内周壁に沿う外周形状をも
ち、前記円筒状物体の中空部に挿入される円柱型の一方
の電極と、前記円筒状物体の外周壁に沿う内周形状をも
ち、円筒状物体の外周面を覆って配置される中空型の他
方の電極とを備え、前記両電極間に流れる放電電流によ
り、円筒状物体に存在するピンホールを検出するための
検査装置において、 前記一方の電極の外周径を円筒状物体の内周径よりも所
定量小さく設定するとともに、前記他方の電極の端面に
対向して配置された絶縁性の抑え板に円筒状物体の端面
を密着して押しつけることにより円筒状物体を検査位置
に保持するようにしたことを特徴とする円筒状物体のピ
ンホール検査装置。 - (2)前記一方の電極の少なくとも一端面側の外周径を
さらに細径としたことを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の円筒状物体のピンホール検査装置。 - (3)前記一方の電極あるいは他方の電極の表面に多数
の突起を形成したことを特徴とする特許請求の範囲第1
項もしくは第2項記載の円筒状物体のピンホール検査装
置。 - (4)前記他方の電極は、分離可能な複数個のブロック
により構成されていることを特徴とする特許請求の範囲
第1項乃至第3項のいずれかに記載の円筒状物体のピン
ホール検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21057884A JPS6189551A (ja) | 1984-10-09 | 1984-10-09 | 円筒状物体のピンホ−ル検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21057884A JPS6189551A (ja) | 1984-10-09 | 1984-10-09 | 円筒状物体のピンホ−ル検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6189551A true JPS6189551A (ja) | 1986-05-07 |
Family
ID=16591628
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21057884A Pending JPS6189551A (ja) | 1984-10-09 | 1984-10-09 | 円筒状物体のピンホ−ル検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6189551A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015146689A1 (ja) * | 2014-03-25 | 2015-10-01 | Ntn株式会社 | 軸受部品の内部欠陥検査装置および内部欠陥検査方法 |
-
1984
- 1984-10-09 JP JP21057884A patent/JPS6189551A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015146689A1 (ja) * | 2014-03-25 | 2015-10-01 | Ntn株式会社 | 軸受部品の内部欠陥検査装置および内部欠陥検査方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4369963B2 (ja) | スパークプラグ用絶縁体の検査方法 | |
JP5315814B2 (ja) | 絶縁被覆導体検査方法及び装置 | |
EP1870721B1 (en) | Insulation inspecting apparatus | |
JPS6189551A (ja) | 円筒状物体のピンホ−ル検査装置 | |
JP2003307509A (ja) | 絶縁被覆物のピンホール検査方法 | |
JP4539530B2 (ja) | モータ絶縁検査装置 | |
KR20040008114A (ko) | 소형 전기 기계의 비파괴 절연 시험 방법 및 장치 | |
JPS6247544A (ja) | 電位差計測装置 | |
JPH07128392A (ja) | 非破壊絶縁試験装置 | |
JP4244775B2 (ja) | コイル絶縁検査装置 | |
JPH03150440A (ja) | 密封容器の検査方法 | |
JPH0217071B2 (ja) | ||
JPS60155985A (ja) | 短絡検査装置 | |
WO2024130783A1 (zh) | 一种绝缘轴承的检测方法、***、设备和存储介质 | |
JPH01118765A (ja) | 中空物品の検査方法 | |
JPS6233433A (ja) | 高耐圧半導体素子の製造方法 | |
JPH03255966A (ja) | 混成集積回路用回路基板の製品検査用耐電圧試験方法 | |
JP3208573B2 (ja) | 電池チェッカー | |
JPS62121344A (ja) | 欠陥検出装置 | |
SU1462172A1 (ru) | Способ проверки целостности изделий | |
JP2004156935A (ja) | スパークテスタヘッド及びスパークテスタ | |
JPH0417395B2 (ja) | ||
JP3107114B2 (ja) | 電解コンデンサの検査装置 | |
JPS60192253A (ja) | 筒状絶縁体の内在欠陥検出方法 | |
Hudon et al. | Aging of stator bars exposed to end arm discharges |