JPS6153127B2 - - Google Patents
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- JPS6153127B2 JPS6153127B2 JP54065566A JP6556679A JPS6153127B2 JP S6153127 B2 JPS6153127 B2 JP S6153127B2 JP 54065566 A JP54065566 A JP 54065566A JP 6556679 A JP6556679 A JP 6556679A JP S6153127 B2 JPS6153127 B2 JP S6153127B2
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、タンデム式冷間圧延機における板
厚制御方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for controlling plate thickness in a tandem cold rolling mill.
従来タンデム式冷間圧延機の板厚の偏差を補正
する制御方法においては、初段(#1)のスタン
ド出側に設置されたX線ゲージ・メータによつて
この#1スタンドのロール圧下位置を操作する方
法、及び最終段(例えば#5)スタンド出側に設
置されたX線ゲージ・メータによつてこの#5ス
タンドのロール速度を操作する方法が一般的であ
つた。さらに最近では、製品品質の一層の向上及
び省資源のための歩留の向上の要望に応えるた
め、冷圧板厚の一層の精度向上を目指して、張力
を検出しなくとも、#1スタンド出側に設置され
たX線ゲージ・メータによつて検出した板厚の偏
差に基づいて各スタンドのロール速度を操作する
方法が提案され、注目されている。ところが、こ
の方法では次のような問題点が存在する。第1
に、#1スタンド出側に設置されたX線ゲージ・
メータの信号によつて#1スタンドのロール速度
を制御する場合に、X線ゲージ・メータの信号に
より#1スタンドのロール圧下位置を修正する積
分制御と、同じくX線ゲージ・メータの信号によ
りロール速度を制御する比例積分制御が競合し、
所期の機能を果し得ないという難点がある。第2
に、#1スタンド出側に設置されたX線ゲージ・
メータの信号によつて後段スタンドのロール速度
を操作するにあたつては、各スタンドのロール速
度を採り入れてデイジタル方式で板の移動をトラ
ツキングするための大がかりな装置が必要であ
る。従つて、この装置を実現するためには、多大
な費用及び工事期間を要するという難点がある。 In the conventional control method for correcting plate thickness deviations in tandem cold rolling mills, the roll rolling position of the #1 stand is determined by an X-ray gauge/meter installed on the outlet side of the first stage (#1) stand. A common method has been to control the roll speed of the #5 stand using an X-ray gauge/meter installed on the exit side of the final stage (for example #5) stand. Furthermore, in recent years, in order to meet the demand for further improvement in product quality and yield improvement for resource saving, we have been aiming to further improve the accuracy of cold-pressed plate thickness. A method of controlling the roll speed of each stand based on deviations in plate thickness detected by an X-ray gauge/meter installed in the stand has been proposed and is attracting attention. However, this method has the following problems. 1st
The X-ray gauge installed on the exit side of #1 stand.
When controlling the roll speed of the #1 stand using the meter signal, there is an integral control that corrects the roll down position of the #1 stand based on the X-ray gauge/meter signal, and an integral control that corrects the roll reduction position of the #1 stand based on the X-ray gauge/meter signal. The proportional-integral controls that control the speed compete;
The problem is that it cannot perform its intended function. Second
The X-ray gauge installed on the exit side of #1 stand.
In order to control the roll speed of the subsequent stands using the meter signal, a large-scale device is required to digitally track the movement of the plate by taking the roll speed of each stand. Therefore, in order to realize this device, a large amount of cost and construction period are required.
この発明は上述の問題点を解決した圧延機の板
厚制御方法を提供するもので、その概要は次のと
おりである。 This invention provides a method for controlling plate thickness in a rolling mill that solves the above-mentioned problems, and the outline thereof is as follows.
板厚の粗調整は、#1スタンド出側に設置され
たX線ゲージ・メータの信号により、#1スタン
ドのロール圧下位置を操作することにより行な
う。これは圧延機に挿入される厚板の板厚の大き
な変動を除去することを目的としている。板厚の
微調整は、#1スタンド出側に設置されたX線ゲ
ージ・メータの信号により、#1スタンド及び
#5スタンドのロール速度を操作することにより
行なう。#1スタンドのロール速度操作は、上記
の圧下位置による制御機能を補助するものとして
行なわれ、#1〜#2スタンド間の張力によつて
板厚を調整する。#5スタンドのロール速度操作
は、#1スタンド出側の板厚の変動が上記2つの
制御機能によつて除去しきれずに#5スタンドま
で到達した場合に、#4〜#5スタンド間の張力
の調整によつてこの変動をさらに小さくすること
を目指している。この目的を実現するために、
#1スタンドのX線ゲージ・メータ信号に、板が
#1スタンドから#5スタンドまで移動するに要
する時間に相当する時間処理を加え、その信号に
よつて#5スタンドのロール速度を操作する。最
終板厚は#5スタンド出側に設置されたX線ゲー
ジ・メータによつて測定され、最終の板厚目標値
との間に偏差がある場合には、#5スタンドのロ
ール速度を操作して#4〜#5スタンド間の張力
を調整することによつて、最終の板厚が保証され
ている。この際、#5スタンドからゲージ・メー
タまでの板の移動によるむだ時間補償を採り入れ
ることによつて誤差の発生を防止している。さら
に、#5スタンドのロール速度の操作量が飽和す
るのを防止するため、この操作量も測定してこれ
を操作範囲の中心位置に制御する方法も採り入れ
ている。この制御は、具体的には#1〜#4スタ
ンドのロール速度を操作することによつて行なわ
れる。この発明の実施例を図面と共に説明すれば
次のとおりである。 Rough adjustment of the plate thickness is performed by operating the roll reduction position of the #1 stand using a signal from an X-ray gauge/meter installed on the exit side of the #1 stand. This is aimed at eliminating large variations in the thickness of the plates inserted into the rolling mill. Fine adjustment of the plate thickness is performed by manipulating the roll speed of the #1 stand and the #5 stand using signals from an X-ray gauge/meter installed on the exit side of the #1 stand. The roll speed operation of the #1 stand is carried out to assist the control function based on the above-mentioned rolling position, and the plate thickness is adjusted by the tension between the #1 and #2 stands. The roll speed operation of the #5 stand is performed by adjusting the tension between the #4 and #5 stands when the variation in the plate thickness on the outlet side of the #1 stand cannot be completely removed by the above two control functions and reaches the #5 stand. We aim to further reduce this fluctuation by adjusting the To achieve this purpose,
Time processing corresponding to the time required for the board to move from stand #1 to stand #5 is added to the X-ray gauge/meter signal of stand #1, and the roll speed of stand #5 is controlled by that signal. The final plate thickness is measured by an X-ray gauge/meter installed on the outlet side of the #5 stand, and if there is a deviation from the final plate thickness target value, the roll speed of the #5 stand is adjusted. By adjusting the tension between #4 and #5 stands, the final plate thickness is guaranteed. At this time, the generation of errors is prevented by incorporating dead time compensation due to the movement of the plate from the #5 stand to the gauge/meter. Furthermore, in order to prevent the operational amount of the roll speed of the #5 stand from becoming saturated, a method is also adopted in which this operational amount is also measured and controlled to the center position of the operational range. This control is specifically performed by manipulating the roll speed of stands #1 to #4. Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図はこの発明の一実施例に係る制御装置の
ブロツク図を示すもので、1〜5はそれぞれスタ
ンドで、板厚の相調整のための圧下位置による制
御は、スタンド1出側に設置されたX線ゲージ・
メータ6の板厚偏差信号を制御装置7によつて処
理した上、ロール圧下位置の制御装置3に伝送す
ることによつて行なう。圧延機に挿入される原板
の板厚に大きな変動がある場合には、これを取り
除くようにロール圧下位置が修正される。制御の
基本は積分方式で、一定量以上の偏差がX線ゲー
ジ・メータ6で検出されている限り、圧下位置は
圧下制御装置8によつて上方向又は下方向へ操作
しつづけられる。さらに、スタンド1のロール速
度の操作については、X線ゲージ・メータ6の板
厚偏差信号を制御装置9によつて処理した上、加
算器10を介してロール速度の制御装置11に伝
送することによつて行なう。従来技術において
は、初段スタンド1出側の板厚制御の上記の2つ
の機能の分担が明確になされておらず、双方の機
能が競合して所期の機能を果し得ない難点があつ
た。この実施例においては、この難点を解消する
ため、制御装置9の機能を次のようにしている。
すなわち、制御装置9が一般に比例積分要素を基
に組み立てられている点に着目し、双方の機能の
競合を防止するためには、制御装置7又は9のう
ちいずれか一方の積分要素を除外することが有効
であることを明らかにした。制御装置7の圧下制
御は、制御装置9のロール速度の制御に比較して
より重要な機能であり、板厚偏差除去のための積
分要素を備えていることが望ましい。そこで、圧
下位置の制御装置7には積分制御を用い、ロール
速度の制御装置9においては積分要素を除外し、
比例要素のみによる制御を導入し、過応答を防止
した点にこの実施例の特徴がある。制御装置9の
制御量は次式に表わされる。 FIG. 1 shows a block diagram of a control device according to an embodiment of the present invention. Reference numerals 1 to 5 are stands, and control by the rolling position for phase adjustment of plate thickness is installed on the exit side of stand 1. X-ray gauge
This is done by processing the board thickness deviation signal from the meter 6 by the control device 7 and transmitting it to the control device 3 at the roll-down position. If there is a large variation in the thickness of the original plate inserted into the rolling mill, the roll rolling position is corrected to remove this variation. The basic control is an integral method, and as long as a deviation of a certain amount or more is detected by the X-ray gauge/meter 6, the reduction position continues to be operated upward or downward by the reduction control device 8. Furthermore, in order to operate the roll speed of the stand 1, the board thickness deviation signal from the X-ray gauge/meter 6 is processed by the control device 9 and then transmitted to the roll speed control device 11 via the adder 10. It is done by In the conventional technology, the division of the above-mentioned two functions of plate thickness control on the exit side of the first stage stand 1 was not clearly defined, and there was a problem in that both functions conflicted and the intended function could not be achieved. . In this embodiment, in order to solve this difficulty, the functions of the control device 9 are as follows.
That is, focusing on the point that the control device 9 is generally assembled based on proportional-integral elements, in order to prevent conflict between the functions of both devices, the integral element of either the control device 7 or 9 is excluded. It has been shown that this is effective. The rolling control of the control device 7 is a more important function than the roll speed control of the control device 9, and it is desirable to have an integral element for removing sheet thickness deviation. Therefore, integral control is used in the rolling position control device 7, and the integral element is excluded in the roll speed control device 9.
This embodiment is characterized in that control using only proportional elements is introduced to prevent overresponse. The control amount of the control device 9 is expressed by the following equation.
△V1/V1=hP△h1/h1………(1)
V1;スタンド1のロール速度
△V1;スタンド1のロール速度操作量(制御装
置9の出力)
h1;スタンド1出側板厚
△h1;スタンド1出側板厚偏差
hP;調整用係数(比例ゲイン)
次にスタンド5のロール速度を制御するため、
X線ゲージ・メータ6の板厚偏差信号を時間処理
回路12に伝送する。時間処理回路12において
は、板がスタンド1からスタンド5まで移動する
のに要する時間に相当する時間処理が、X線ゲー
ジ・メータ6からの板厚偏差信号に加えられる。
スタンド1から5までの板の移動時間は、スタン
ド1及び4のロール速度制御装置11及び15に
取り付けられた速度発電機17及び18の出力を
演算することによつて推定している。なお、図中
13,14,16それぞれはスタンド2,3,5
のロール速度制御装置である。従来技術において
は、板の移動時間を推定するためにスタンド1〜
4のロール速度を検出して、デイジタル演算を行
なうという大がかりな方法によつていたが、この
実施例では、移動時間の推定に際してスタンド1
〜4のロール速度の全てを使用せずに、このうち
の2つみを使用している。これは、十分な精度を
得る範囲で時間処理回路12の回路をできるだけ
簡略化することを目的としている。2つのみを使
用した場合に、4つ全部を使用した場合と比較し
て、どの程度の精度が得られるかについては、そ
れぞれによつて計算された移動時間の比Kを導入
することによつて明らかにすることができるが、
そのKは次式に示すとおりである。 △V 1 /V 1 =h P △h 1 /h 1 ......(1) V 1 ; Roll speed of stand 1 △V 1 ; Roll speed operation amount of stand 1 (output of control device 9) h 1 ; Stand 1 outlet side plate thickness △h 1 ; Stand 1 outlet side plate thickness deviation h P ; Adjustment coefficient (proportional gain) Next, in order to control the roll speed of stand 5,
The board thickness deviation signal from the X-ray gauge/meter 6 is transmitted to the time processing circuit 12. In the time processing circuit 12, time processing corresponding to the time required for the board to move from stand 1 to stand 5 is applied to the board thickness deviation signal from the X-ray gauge/meter 6.
The travel time of the board from stands 1 to 5 is estimated by calculating the outputs of speed generators 17 and 18 attached to roll speed control devices 11 and 15 of stands 1 and 4. Note that 13, 14, and 16 in the figure are stands 2, 3, and 5, respectively.
This is a roll speed control device. In the conventional technology, stands 1 to 1 are used to estimate the moving time of the board.
However, in this embodiment, when estimating the travel time, the roll speed of stand 1 is detected and digital calculations are performed.
Rather than using all of the ~4 roll speeds, only two of them are used. The purpose of this is to simplify the circuit of the time processing circuit 12 as much as possible within the range of obtaining sufficient accuracy. The degree of accuracy obtained when only two are used compared to when all four are used can be determined by introducing the ratio K of the travel time calculated by each. It can be made clear that
The K is as shown in the following formula.
K=L×(1/V1+1/V2+1/V3+1/V4)
/2×L×(1/V1+1/V4)
V1:スタンド1のロール速度
V2;スタンド2のロール速度
V3;スタンド3のロール速度
V4;スタンド4のロール速度
L;スタンド間距離
第2図は最小圧下率(42%)及び最大圧下率
(87%)の場合に、Kがどのような値をとるかを
示す。Kの値はそれぞれ0.99及び0.92となり、圧
下率の変化によるKの変動はこの範囲に収まるこ
とがわかる。K=0.955を中心とした誤差は±3.7
%以内である。この程度の誤差であれば、移動時
間の計算には許容範囲内である。ここで圧下率と
は次式に示される概念である。K=L×(1/V 1 +1/V 2 +1/V 3 +1/V 4 )
/2×L×(1/V 1 +1/V 4 ) V 1 : Roll speed of stand 1 V 2 ; Roll speed of stand 2 V 3 ; Roll speed of stand 3 V 4 ; Roll speed L of stand 4; Stand Distance Figure 2 shows what value K takes in the case of the minimum rolling reduction rate (42%) and the maximum rolling reduction rate (87%). The values of K are 0.99 and 0.92, respectively, and it can be seen that fluctuations in K due to changes in rolling reduction fall within this range. The error around K=0.955 is ±3.7
Within %. This level of error is within the allowable range for calculating travel time. Here, the rolling reduction is a concept expressed by the following equation.
圧下率=原板厚−最終板厚/原板厚
次に時間処理回路12の全体の構成は第3図の
ブロツク図に示すとおりで、121,122はス
タンド1,4のロール速度信号V1,V4の入力端
子、123,124は入力バツフア・アンプ、1
25,126は逆数(1/V1、1/V4)をとるた
めの除算器、127は加算器、128は係数器
(2L)である。係数器128の出力が板の移動時
間〔2L(1/V1+1/V4)〕を表わす。さらにこ
の装置においては、上記の方法で推定された板の
移動時間の遅れを、次のようにして実現してい
る。端子129にはX線ゲージ・メータ6からの
板厚偏差信号が与えられ、この信号は入力バツフ
アアンプ130を介して1次遅れ回路132,1
33が直列に並べられた回路に与えられる。ここ
で1次遅れ回路132,133の構成を第4図に
示す。図において、R1,R2は抵抗、Cはコンデ
ンサ、Amp.は増幅器、Mult.は乗算器である。端
子aには端子129を経由した入力信号Viが、
端子bには時定数調整用の信号xが与えられる。
この時定数調整用の信号xは係数器128の出力
の逆数であり、これは除算器134によつて求め
られる。端子cには出力信号Voが現われる。こ
の回路の機能は次式で表わされる。 Rolling ratio = original plate thickness - final plate thickness / original plate thickness Next, the entire configuration of the time processing circuit 12 is as shown in the block diagram of FIG . 4 input terminals, 123 and 124 are input buffer amplifiers, 1
25 and 126 are dividers for taking reciprocal numbers (1/V 1 , 1/V 4 ), 127 is an adder, and 128 is a coefficient unit (2L). The output of the coefficient multiplier 128 represents the moving time of the plate [2L (1/V 1 +1/V 4 )]. Further, in this device, the delay in the plate movement time estimated by the above method is realized as follows. A board thickness deviation signal from the X-ray gauge/meter 6 is given to the terminal 129, and this signal is sent to the first-order delay circuit 132, 1 via the input buffer amplifier 130.
33 are applied to the circuits arranged in series. Here, the configuration of the first-order delay circuits 132 and 133 is shown in FIG. In the figure, R 1 and R 2 are resistors, C is a capacitor, Amp. is an amplifier, and Mult. is a multiplier. The input signal Vi via the terminal 129 is connected to the terminal a.
A signal x for time constant adjustment is given to the terminal b.
This time constant adjustment signal x is the reciprocal of the output of the coefficient multiplier 128, and is obtained by the divider 134. An output signal Vo appears at terminal c. The function of this circuit is expressed by the following equation.
ただし、Sはラプラス変数である。 However, S is a Laplace variable.
上式(2)から乗算器Mult.に与えられる時定数調
整用信号xは、時定数の逆数の次元を持つべきも
のであることがわかる。さらに圧延機及び圧延機
条件等の特性によつて、1次遅れ回路を1つに減
らすことも可能である。 It can be seen from the above equation (2) that the time constant adjustment signal x given to the multiplier Mult. should have a dimension of the reciprocal of the time constant. Furthermore, depending on the characteristics of the rolling mill and rolling mill conditions, it is possible to reduce the number of primary delay circuits to one.
このように第1図に示される時間処理回路12
を必要最小限に簡略化し、かつ十分な機能を実現
している点にも、この実施例の特徴がある。さら
にこの装置12の機能としては、X線ゲージ・メ
ータ6で測定した板厚偏差を、スタンド5のロー
ル速度で補償するばかりでなく、操作に望ましい
方向へずらせることも可能である。すなわち、X
線ゲージ・メータ6によつてスタンド1の出側板
厚偏差を測定して、一定範囲を越えるの板厚偏
差が検出された場合には、最終板厚を十分に方
向へずらせるように、スタンド5のロール速度を
操作する。こうした制御方法を採り入れることに
より板厚の方向の偏差は、従来よりきわめて小
さな範囲に収めることが可能となる。この点もこ
の装置の特徴とするところである。の板厚偏差
を方向へずらす回路の一例についても、第3図
の時間処理回路の構成中に示されている。すなわ
ち、入力バツフアアンプ130の出力を比較器1
35に導き、ここで一定範囲を越えるの板厚偏
差が検出された場合には、板厚偏差信号に一定の
方向のバイアスを加えるために、電源136か
ら加算器131にバイアスを与える。1次遅れ回
路133からの出力は、係数137、出力アンプ
138、及び端子139を介して、第1図の加算
器19に伝送され、スタンド5出側に設置された
X線ゲージ・メータ20の板厚偏差信号を制御装
置21で処理した後の信号に加算される。加算器
19の出力は、スタンド5のロール速度制御装置
16に伝送され、スタンド5のロール速度を操作
し、スタンド4〜5間の張力を調整して、最終板
厚を実現する。ここで制御装置21は、X線ゲー
ジ・メータ20の信号によつてスタンド5のロー
ル速度を操作するものであるが、X線ゲージ・メ
ータ20はスタンド5の中心位置から離れた場所
に設置されるため、該スタンドから該ゲージ・メ
ータまでの板の移動によるむだ時間が存在し、従
来技術においては、これが低速時又は低速から高
速にわたる速度変更時の板厚制御の性能を低下さ
せていた。この実施例では、これに対処するため
制御装置21を第5図の詳細なブロツク図に示さ
れるように構成している。すなわち、スタンド5
のロール速度を速度発電機22(第1図参照)に
よつて得て、これを端子211、入力バツフアア
ンプ212、及び逆数演算をするための除算器2
13を介して採り入れ、板の移動によるむだ時間
を推定し、かつ、該操作量の板の移動に対応した
むだ時間を実現するために、上記の推定された移
動時間によつて自動的に調整される時定数を備え
た1次遅れ回路214,215を、直列に2つ
(又は場合によつては1つであつてもよい)並べ
た点にこの制御装置の特徴がある。端子216の
信号は、バツフアアンプ217、板の移動に応じ
た上記むだ時間を与える1次遅れ回路214,2
15及び係数器218からなる帰還回路を経て、
端子219から採り入れたX線ゲージ・メータ2
0の板厚偏差信号から減算器210によつて減じ
る。この減じた結果を比例積分演算回路211に
入力して端子216にむだ時間補償をした信号を
得るという負帰還制御をして、これを加算器19
に送出している。ここで1次遅れ回路214,2
15は第4図に示したものと同一である。 In this way, the time processing circuit 12 shown in FIG.
Another feature of this embodiment is that it is simplified to the necessary minimum and provides sufficient functionality. Furthermore, the function of this device 12 is not only to compensate for the plate thickness deviation measured by the X-ray gauge/meter 6 using the roll speed of the stand 5, but also to shift it in the direction desired for operation. That is, X
Measure the thickness deviation on the outlet side of the stand 1 using the line gauge meter 6, and if a thickness deviation exceeding a certain range is detected, set the stand so that the final plate thickness is sufficiently shifted in the direction. Manipulate the roll speed of 5. By adopting such a control method, the deviation in the direction of plate thickness can be kept within a much smaller range than in the past. This point is also a feature of this device. An example of a circuit for shifting the plate thickness deviation in the direction is also shown in the configuration of the time processing circuit in FIG. That is, the output of the input buffer amplifier 130 is
35, and if a plate thickness deviation exceeding a certain range is detected here, a bias is applied to the adder 131 from a power supply 136 in order to add a bias in a certain direction to the plate thickness deviation signal. The output from the first-order delay circuit 133 is transmitted via a coefficient 137, an output amplifier 138, and a terminal 139 to the adder 19 in FIG. The plate thickness deviation signal is added to the signal after being processed by the control device 21. The output of the adder 19 is transmitted to the roll speed controller 16 of the stand 5 to manipulate the roll speed of the stand 5 and adjust the tension between the stands 4 and 5 to achieve the final board thickness. Here, the control device 21 operates the roll speed of the stand 5 based on the signal from the X-ray gauge/meter 20, but the X-ray gauge/meter 20 is installed at a location away from the center position of the stand 5. Therefore, there is dead time due to the movement of the plate from the stand to the gauge/meter, and in the prior art, this degrades the performance of plate thickness control at low speeds or when changing speeds from low to high speeds. In this embodiment, in order to cope with this problem, the control device 21 is constructed as shown in the detailed block diagram of FIG. That is, stand 5
A roll speed of
13, the dead time due to the movement of the board is estimated, and the dead time is automatically adjusted according to the above estimated movement time in order to realize the dead time corresponding to the movement of the board with the operation amount. A feature of this control device is that two first-order delay circuits 214 and 215 (or one may be used depending on the case) are arranged in series. The signal at the terminal 216 is sent to the buffer amplifier 217 and the first-order delay circuits 214 and 2 which provide the dead time according to the movement of the board.
15 and a feedback circuit consisting of a coefficient unit 218,
X-ray gauge/meter 2 taken from terminal 219
Subtractor 210 subtracts from the plate thickness deviation signal of 0. Negative feedback control is performed by inputting this subtracted result to the proportional-integral calculation circuit 211 to obtain a dead time compensated signal at the terminal 216, and this is input to the adder 19.
It is being sent to Here, the first-order delay circuit 214, 2
15 is the same as shown in FIG.
スタンド1〜4のロール速度操作は、第1図の
加算器19の出力の操作量の飽和防止を目指した
もので、加算器19の出力すなわち、時間処理回
路12及び制御装置21の出力の操作量の和を、
制御量として、これを操作範囲の中心とするよう
に、積分回路23及び係数回路24,25,2
6,27を介してスタンド1,2,3,4のロー
ル速度制御装置11,13,14,15を操作す
る。具体的には、加算器19の出力が方向へ偏
つた場合には、ロール速度制御装置11,13,
14,15を方向へ操作する。この場合、係数
器24,25,26,27によつて積分器23の
出力を、例えば1、3/4、2/4、1/4の比
率に振り分けることもできる。この場合の装置の
機能は次式で表わすことができる。 The roll speed operations of the stands 1 to 4 are aimed at preventing saturation of the operation amount of the output of the adder 19 in FIG. The sum of the quantities,
The integral circuit 23 and the coefficient circuits 24, 25, 2
6, 27 to operate the roll speed control devices 11, 13, 14, 15 of the stands 1, 2, 3, 4. Specifically, when the output of the adder 19 is biased in the direction, the roll speed control devices 11, 13,
Operate 14 and 15 in the direction. In this case, the output of the integrator 23 can be divided into ratios of, for example, 1, 3/4, 2/4, and 1/4 by the coefficient multipliers 24, 25, 26, and 27. The function of the device in this case can be expressed by the following equation.
C=−hbi∫(△V5/V5)dt (3)
△Vb1/V1=hb1・C (4)
△Vb2/V2=hb2・C (5)
△Vb3/V3=hb3・C (6)
△Vb4/V4=hb4・C (7)
V1〜V5;スタンド1〜5のロール速度
△V5;スタンド5のロール速度操作量(加算器
19の出力)
hbi、hb1〜hb4;係数
△Vb1〜△Vb4;スタンド1〜4のロール速度操
作量(係数器24〜27の出力)
以上のようにこの装置の特徴は、時間処理回路
12及び比例積分回路21の出力の操作量の和を
制御量として、他スタンドのロール速度を操作
し、制御の安定性と飽和防止をする点にある。 C=-h bi ∫(△V 5 /V 5 )dt (3) △Vb 1 /V 1 =h b1・C (4) △Vb 2 /V 2 =h b2・C (5) △Vb 3 / V 3 = h b3・C (6) △Vb 4 /V 4 = h b4・C (7) V 1 to V 5 ; Roll speed of stands 1 to 5 △V 5 ; Roll speed operation amount of stand 5 (additional h bi , h b1 to h b4 ; Coefficients △Vb 1 to △Vb 4 ; Roll speed operation amount of stands 1 to 4 (outputs of coefficient multipliers 24 to 27) As described above, the features of this device are , the sum of the manipulated variables of the outputs of the time processing circuit 12 and the proportional-integral circuit 21 is used as a controlled variable to manipulate the roll speeds of other stands, thereby stabilizing the control and preventing saturation.
上述の実施例の説明からも明らかなように、こ
の発明によればロールの圧下位置制御とロール速
度制御とを簡易な構成で組合せることにより、高
品質の製品が得られ、実用上きわめて有用なもの
であるといえる。 As is clear from the above description of the embodiments, according to the present invention, by combining roll reduction position control and roll speed control in a simple configuration, a high quality product can be obtained, which is extremely useful in practice. It can be said that it is a thing.
第1図はこの発明の一実施例に係る制御装置の
ブロツク図、第2図は最小圧下率及び最大圧下率
における移動時間比Kの特性値を示す図、第3図
は時間処理回路12のブロツク図、第4図は1次
遅れ回路の回路図、第5図は制御装置のブロツク
図である。
1〜5……スタンド、6,20……X線ゲー
ジ・メータ、7,9……制御装置、8,29,3
0,31,32……圧下制御装置、10,19…
…加算器、11,13,14,15,16……ロ
ール速度制御装置、12……時間処理回路、1
7,18,22……速度発電機、21……制御装
置、23……積分器、24,25,26,27…
…係数器、132,133……1次遅れ回路。
FIG. 1 is a block diagram of a control device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing characteristic values of the moving time ratio K at the minimum rolling reduction rate and the maximum rolling reduction rate, and FIG. FIG. 4 is a circuit diagram of the first-order delay circuit, and FIG. 5 is a block diagram of the control device. 1-5...stand, 6,20...X-ray gauge/meter, 7,9...control device, 8,29,3
0,31,32...pressure control device, 10,19...
... Adder, 11, 13, 14, 15, 16 ... Roll speed control device, 12 ... Time processing circuit, 1
7, 18, 22... speed generator, 21... control device, 23... integrator, 24, 25, 26, 27...
...Coefficient unit, 132, 133...1st order lag circuit.
Claims (1)
タンドの圧下位置制御並びに初段スタンドと最終
段スタンドのロール速度制御を行なうタンデム式
冷間圧延機の板厚制御方法において、 前記初段スタンドの圧下位置制御には前記板厚
情報による積分制御方式を用い、 前記初段スタンドのロール速度制御には前記板
厚情報による比例制御方式を用い、 前記最終段スタンドのロール速度制御に際して
は、初段スタンド及び最終段の1つ手前のスタン
ドのロール速度の情報を用いて初段スタンドから
最終段スタンドまでの板の移動時間を推定し、か
つ該推定移動時間によつて自動的に調整される時
定数を有する1次遅れ回路を直列に2つ又は1つ
設けることにより、前記板厚情報の板の移動に対
応した制御量を得る、 ことを特徴とする圧延機の板厚制御方法。 2 初段スタンド出側に設置された板厚計の板厚
情報により、その板厚が薄目又は厚目であること
を検知した場合に、最終スタンドのロール速度を
該板厚が厚目又は薄目になるように制御する特許
請求の範囲第1項記載の圧延機の板厚制御方法。[Scope of Claims] 1. A method for controlling the plate thickness of a tandem cold rolling mill, which uses plate thickness information on the outlet side of the first stand to control the rolling position of the first stand and the roll speeds of the first stand and the final stand, An integral control method based on the plate thickness information is used to control the rolling position of the first stage stand, a proportional control method based on the plate thickness information is used to control the roll speed of the first stage stand, and when controlling the roll speed of the final stage stand, , the travel time of the board from the first stage stand to the last stage stand is estimated using information on the roll speed of the first stage stand and the stand one stage before the final stage, and the time is automatically adjusted according to the estimated travel time. A method for controlling plate thickness in a rolling mill, characterized in that a control amount corresponding to the movement of the plate in the plate thickness information is obtained by providing two or one first-order delay circuit having a time constant in series. 2 If it is detected that the thickness of the plate is thin or thick based on the plate thickness information from the plate thickness meter installed on the exit side of the first stage stand, the roll speed of the final stand is adjusted to indicate whether the plate thickness is thick or thin. A method for controlling plate thickness of a rolling mill according to claim 1, wherein the method is to control the thickness of a rolling mill so that the thickness of the rolling mill is controlled to
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6556679A JPS55158818A (en) | 1979-05-29 | 1979-05-29 | Controlling method for sheet thickness in rolling mill |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6556679A JPS55158818A (en) | 1979-05-29 | 1979-05-29 | Controlling method for sheet thickness in rolling mill |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS55158818A JPS55158818A (en) | 1980-12-10 |
JPS6153127B2 true JPS6153127B2 (en) | 1986-11-17 |
Family
ID=13290682
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6556679A Granted JPS55158818A (en) | 1979-05-29 | 1979-05-29 | Controlling method for sheet thickness in rolling mill |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS55158818A (en) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS488418U (en) * | 1971-06-11 | 1973-01-30 | ||
JPS5020968A (en) * | 1973-05-31 | 1975-03-05 | ||
JPS5248125U (en) * | 1975-10-03 | 1977-04-06 | ||
JPS532144A (en) * | 1976-06-28 | 1978-01-10 | Buruusutoon Daiannu | Method of protecting finger nail and protector |
-
1979
- 1979-05-29 JP JP6556679A patent/JPS55158818A/en active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS488418U (en) * | 1971-06-11 | 1973-01-30 | ||
JPS5020968A (en) * | 1973-05-31 | 1975-03-05 | ||
JPS5248125U (en) * | 1975-10-03 | 1977-04-06 | ||
JPS532144A (en) * | 1976-06-28 | 1978-01-10 | Buruusutoon Daiannu | Method of protecting finger nail and protector |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS55158818A (en) | 1980-12-10 |
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