JPS6145496A - デコ−ダ回路 - Google Patents
デコ−ダ回路Info
- Publication number
- JPS6145496A JPS6145496A JP59166114A JP16611484A JPS6145496A JP S6145496 A JPS6145496 A JP S6145496A JP 59166114 A JP59166114 A JP 59166114A JP 16611484 A JP16611484 A JP 16611484A JP S6145496 A JPS6145496 A JP S6145496A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- nand gate
- output
- transistor
- inverter
- load
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Static Random-Access Memory (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、書込み時に高電圧を必要とするメモリのデコ
ーダ回路に関する。
ーダ回路に関する。
CMOS (相補型MO3)のEFROM (電気的に
プログラム可能なROM)は書込み時にワード線および
ビット線を読出し時より高電圧にする必要がある。この
ためデコーダ回路も読出し時と書込み時で異なる選択レ
ベルを出力できるもOでなければならない。第2図はこ
の種のワード線デコーダの従来例で6.3ビツトのアド
レス人力307丁τ〜a2/axをデコードして8本の
ワード線の1本(WL)を選択する例を示しである(a
t/atはaiまたはaiという意味である)。使用す
るMOS)ランジスタは全てエンハンスメント型で、Q
nl 〜Qn5はnチャネル、Qpl ”’Qp3はp
チャネルである。電源には2種類あり、Vccは低電圧
(例えば5V)の固定電源、V ppiは書込み時に高
電圧Vpp(例えば21■)になり、読出し時にはVc
cに切換わる電源である。Vssはアースである。
プログラム可能なROM)は書込み時にワード線および
ビット線を読出し時より高電圧にする必要がある。この
ためデコーダ回路も読出し時と書込み時で異なる選択レ
ベルを出力できるもOでなければならない。第2図はこ
の種のワード線デコーダの従来例で6.3ビツトのアド
レス人力307丁τ〜a2/axをデコードして8本の
ワード線の1本(WL)を選択する例を示しである(a
t/atはaiまたはaiという意味である)。使用す
るMOS)ランジスタは全てエンハンスメント型で、Q
nl 〜Qn5はnチャネル、Qpl ”’Qp3はp
チャネルである。電源には2種類あり、Vccは低電圧
(例えば5V)の固定電源、V ppiは書込み時に高
電圧Vpp(例えば21■)になり、読出し時にはVc
cに切換わる電源である。Vssはアースである。
トランジスタQn1〜Qn3とQpl は3人力のナン
ドゲートを構成し、3人力が共にH(ハイ)レベルのと
きだけ出力XをL(ロー)レベルにする。ナンドゲート
の出力XはトランファゲートQn4を通してCMOSイ
〜ンバー夕を構成するトランジスタQn5 、 Qp
3のゲートに印加され、X=LのときはトランジスタQ
n5をオフ、Qp3をオンにする。従って、ワード線W
LのレベルはH(選択)になる。逆にX=Hのときはト
ランジスタQn5がオン、Qp3がオフであるからワー
ド線WLはL(非選択)になる。
ドゲートを構成し、3人力が共にH(ハイ)レベルのと
きだけ出力XをL(ロー)レベルにする。ナンドゲート
の出力XはトランファゲートQn4を通してCMOSイ
〜ンバー夕を構成するトランジスタQn5 、 Qp
3のゲートに印加され、X=LのときはトランジスタQ
n5をオフ、Qp3をオンにする。従って、ワード線W
LのレベルはH(選択)になる。逆にX=Hのときはト
ランジスタQn5がオン、Qp3がオフであるからワー
ド線WLはL(非選択)になる。
Ql)2はワード線レベルを安定に保持するために必要
なラッチ用のプルアップトランジスタである。つまり、
書込み時にはVpp1=Vppになり人力Xを供給する
ナンドゲートの電源は依然Vccであるから、このま\
ではインバータの動作が不安定になる。即ちX=Hとな
ってもインバータのゲートに印加される電圧はVacで
しかなく、これではvppで動作するインバータの出力
が完全にLにはならないからである。そこでこのWL=
LをトランジスタQp2に帰還してオンさせることによ
りトランジスタQ n 5とトランジスタGlp3のゲ
ートに高電圧Vppを印加し、ワード線WLを完全にL
(非選択)にする。このときvpp系とVce系がショ
ートしないようにする必要があり、これはトランジスタ
Q n 4が設けられていることで確保される。即ちト
ランジスタQp2がインパークのゲート電圧をVl)I
)へプルアップすればトランジスタQn4はカットオフ
になる。X=L (選択)のときはWL=Hとなるので
トランジスタQp2はオフになり、トランジスタQp3
が完全にオンしてワード線WLはvppになる。読出し
時はVpp1がVCCとなるだけで基本的な動作は変ら
ない。
なラッチ用のプルアップトランジスタである。つまり、
書込み時にはVpp1=Vppになり人力Xを供給する
ナンドゲートの電源は依然Vccであるから、このま\
ではインバータの動作が不安定になる。即ちX=Hとな
ってもインバータのゲートに印加される電圧はVacで
しかなく、これではvppで動作するインバータの出力
が完全にLにはならないからである。そこでこのWL=
LをトランジスタQp2に帰還してオンさせることによ
りトランジスタQ n 5とトランジスタGlp3のゲ
ートに高電圧Vppを印加し、ワード線WLを完全にL
(非選択)にする。このときvpp系とVce系がショ
ートしないようにする必要があり、これはトランジスタ
Q n 4が設けられていることで確保される。即ちト
ランジスタQp2がインパークのゲート電圧をVl)I
)へプルアップすればトランジスタQn4はカットオフ
になる。X=L (選択)のときはWL=Hとなるので
トランジスタQp2はオフになり、トランジスタQp3
が完全にオンしてワード線WLはvppになる。読出し
時はVpp1がVCCとなるだけで基本的な動作は変ら
ない。
上述した回路構成のデコーダは素子数が多く、また配線
数も多いので、高集積化の妨げとなる。
数も多いので、高集積化の妨げとなる。
つまり、ワードデコーダは各ワード線に設けられ、これ
が狭いピッチではレイアウトできないとなると、各ワー
ド線のピッチを広げざるを得す、全体、 とじて占める
面積が広くなり高集積化できない。
が狭いピッチではレイアウトできないとなると、各ワー
ド線のピッチを広げざるを得す、全体、 とじて占める
面積が広くなり高集積化できない。
そこで、本発明ではデコーダ回路の構成を改良して素子
数を減らし、また配線数も減らすことで狭いピンチでの
レイアウトを可能とし、高集積化の要望に応えようとす
るものである。
数を減らし、また配線数も減らすことで狭いピンチでの
レイアウトを可能とし、高集積化の要望に応えようとす
るものである。
本発明は、出力用のCMOSインバータを、書込み時に
は高電圧に、また読出し時には低電圧に切換わる電源で
動作させ、且つ該インバータを、アドレス入力をデコー
ドするナンドゲートの出力で駆動するようにしたデコー
ダ回路において、該ナンドゲートの電源も該インバータ
と同じ電源にすると共に、該ナンドゲートの負荷をデブ
リション型トランジスタによる定電流源とし、さらに該
ナンドゲートの出力で直接該インバータを駆動する構成
としたものである。
は高電圧に、また読出し時には低電圧に切換わる電源で
動作させ、且つ該インバータを、アドレス入力をデコー
ドするナンドゲートの出力で駆動するようにしたデコー
ダ回路において、該ナンドゲートの電源も該インバータ
と同じ電源にすると共に、該ナンドゲートの負荷をデブ
リション型トランジスタによる定電流源とし、さらに該
ナンドゲートの出力で直接該インバータを駆動する構成
としたものである。
ナンドゲートの負荷をデプリション型トランジスタによ
る定電流源にすると、該ナンドゲートの電源をインパー
クと同じ電源にすることができる。
る定電流源にすると、該ナンドゲートの電源をインパー
クと同じ電源にすることができる。
このためナンドゲートの非選択出力は書込み時に 。
高電圧になるので、プルアップ用のトランジスタQp2
およびその配線L+が省略でき、またそれに伴ない電源
ショート防止用のトランジスタQ n 4も不要になる
。
およびその配線L+が省略でき、またそれに伴ない電源
ショート防止用のトランジスタQ n 4も不要になる
。
以下、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例で、第2図と同一部分には同
一符号が付しである。本例が第2図と異なる点は、第1
にQn+〜Qn3を駆動トランジスタとするナンドゲー
トの負荷をデブリション(depletion )型の
nチャネルMISトランジスタQndに代え、第2に該
ナンドゲートの電源をVpp1にし、第3に該ナンドゲ
ートの出力Xで直接CMOSインパークを駆動するよう
にしたことである。
一符号が付しである。本例が第2図と異なる点は、第1
にQn+〜Qn3を駆動トランジスタとするナンドゲー
トの負荷をデブリション(depletion )型の
nチャネルMISトランジスタQndに代え、第2に該
ナンドゲートの電源をVpp1にし、第3に該ナンドゲ
ートの出力Xで直接CMOSインパークを駆動するよう
にしたことである。
従って、第2図のトランジスタQp2.Qn4は省略さ
れ、また帰還用の配線し1も省略されている。更にはp
チャネルトランジスタを形成するn−wellが1つで
済む(第2図では2つ必要)。
れ、また帰還用の配線し1も省略されている。更にはp
チャネルトランジスタを形成するn−wellが1つで
済む(第2図では2つ必要)。
代りにデプリション型のトランジスタQndのチャネル
を形成するためのイオン注入工程が1回余分に増えるが
、これは集積度向上の妨げにはならない。かかる回路構
成とすることで、第2図の場合48μm必要であったピ
ンチ(デコーダ回路を配列するピンチ)が24−μmに
半減した。また電源もV ppi系統だけで済むシ 以下、動作を説明する。ナンドゲートの出力Xはアドレ
ス入力が全てHのときにLとなる。このLレベルは第2
図と同様、読出し時も書込み時もVSSである。しかし
、Hレベルは読出し時にV CC%書込み時にVI)I
)に切換わる。これはナンドゲートの電源もV ppi
にし負荷トランジスタはデプリション型にしたためであ
る。このため、同じ<Vpp1で動作するCMOSイン
バータを直接駆動しても問題が生じない。つまり、第2
図のトランジスタQn4.Qp2が不要になるのである
。但し、このためにはノアゲートの負荷が定電流源でな
ければならない。何故ならば、第2図のようにトランジ
スタQp1のままにしておくと、Vpp1=Vppのと
きに該トランジスタに流れる電流が大きくなり過ぎ、そ
の電流をトランジスタQn1〜Q n 3で引いてもよ
ほどトランジスタサイズ力く大きくなければ出力XをL
= V ssに落としきれないからである。
を形成するためのイオン注入工程が1回余分に増えるが
、これは集積度向上の妨げにはならない。かかる回路構
成とすることで、第2図の場合48μm必要であったピ
ンチ(デコーダ回路を配列するピンチ)が24−μmに
半減した。また電源もV ppi系統だけで済むシ 以下、動作を説明する。ナンドゲートの出力Xはアドレ
ス入力が全てHのときにLとなる。このLレベルは第2
図と同様、読出し時も書込み時もVSSである。しかし
、Hレベルは読出し時にV CC%書込み時にVI)I
)に切換わる。これはナンドゲートの電源もV ppi
にし負荷トランジスタはデプリション型にしたためであ
る。このため、同じ<Vpp1で動作するCMOSイン
バータを直接駆動しても問題が生じない。つまり、第2
図のトランジスタQn4.Qp2が不要になるのである
。但し、このためにはノアゲートの負荷が定電流源でな
ければならない。何故ならば、第2図のようにトランジ
スタQp1のままにしておくと、Vpp1=Vppのと
きに該トランジスタに流れる電流が大きくなり過ぎ、そ
の電流をトランジスタQn1〜Q n 3で引いてもよ
ほどトランジスタサイズ力く大きくなければ出力XをL
= V ssに落としきれないからである。
そこで本例ではnチャネル型のデブリションMI S
l−ランジスタQndを用いて定電流負荷を構成する。
l−ランジスタQndを用いて定電流負荷を構成する。
このようにすると、V ppiがVl)PでもVccで
も流れる電流はほぼ一定であるから、ある程度のサイズ
のトランジスタQnl 〜Qn3でX=Lを確実にVs
sに低下させ得る。勿論、トランジスタQ n 1〜Q
n3の1つでもオフになれば、トランジスタQndはデ
プリション型であるので出力XはVpp(書込み時)ま
たはVcc(読出し時)になる。
も流れる電流はほぼ一定であるから、ある程度のサイズ
のトランジスタQnl 〜Qn3でX=Lを確実にVs
sに低下させ得る。勿論、トランジスタQ n 1〜Q
n3の1つでもオフになれば、トランジスタQndはデ
プリション型であるので出力XはVpp(書込み時)ま
たはVcc(読出し時)になる。
以上述べたように本発明によれば、少ない素子数および
配線数で0MO3型のデコーダ回路を構成できるので、
狭いピッチでのレイアウトが可能になり、集積度が向上
する利点がある。
配線数で0MO3型のデコーダ回路を構成できるので、
狭いピッチでのレイアウトが可能になり、集積度が向上
する利点がある。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は従来
のデコーダ回路の一例を示す回路図である。 図中、Qnl 〜Qn3 、 Qndはノアゲートを構
成するトランジス、夕、Q10.Qp3はCMOSイン
バータを構成するトランジスタである。
のデコーダ回路の一例を示す回路図である。 図中、Qnl 〜Qn3 、 Qndはノアゲートを構
成するトランジス、夕、Q10.Qp3はCMOSイン
バータを構成するトランジスタである。
Claims (1)
- 出力用のCMOSインバータを、書込み時には高電圧に
、また読出し時には低電圧に切換わる電源で動作させ、
且つ該インバータを、アドレス入力をデコードするナン
ドゲートの出力で駆動するようにしたデコーダ回路にお
いて、該ナンドゲートの電源も該インバータと同じ電源
にすると共に、該ナンドゲートの負荷をデプリション型
トランジスタによる定電流源とし、さらに該ナンドゲー
トの出力で直接該インバータを駆動する構成としてなる
ことを特徴とするデコーダ回路。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59166114A JPS6145496A (ja) | 1984-08-08 | 1984-08-08 | デコ−ダ回路 |
US06/759,980 US4782247A (en) | 1984-08-08 | 1985-07-29 | Decoder circuit having a variable power supply |
DE8585109709T DE3585573D1 (de) | 1984-08-08 | 1985-08-02 | Dekodierschaltung in einem integrierten speicherchip. |
KR1019850005581A KR900002910B1 (ko) | 1984-08-08 | 1985-08-02 | Ic메모리 칩내의 디코더회로 |
EP85109709A EP0171718B1 (en) | 1984-08-08 | 1985-08-02 | Decoder circuit in an ic memory chip |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59166114A JPS6145496A (ja) | 1984-08-08 | 1984-08-08 | デコ−ダ回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6145496A true JPS6145496A (ja) | 1986-03-05 |
JPH0546639B2 JPH0546639B2 (ja) | 1993-07-14 |
Family
ID=15825281
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59166114A Granted JPS6145496A (ja) | 1984-08-08 | 1984-08-08 | デコ−ダ回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6145496A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02108293A (ja) * | 1988-10-15 | 1990-04-20 | Sony Corp | 不揮発性メモリのアドレスデコーダ回路 |
JPH02114717A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-26 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
US5038327A (en) * | 1989-09-20 | 1991-08-06 | Fujitsu Limited | Decoder circuit of erasable programmable read only memory for avoiding erroneous operation caused by parasitic capacitors |
JP2014142989A (ja) * | 2013-01-22 | 2014-08-07 | Freescale Semiconductor Inc | ワード線/行ドライバのためのバイアス電圧を用いるフラッシュメモリ |
EP2092204B2 (de) † | 2006-11-16 | 2022-10-26 | thyssenkrupp rothe erde Germany GmbH | Wälzlager, insbesondere mittenfreies grosswälzlager |
-
1984
- 1984-08-08 JP JP59166114A patent/JPS6145496A/ja active Granted
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02108293A (ja) * | 1988-10-15 | 1990-04-20 | Sony Corp | 不揮発性メモリのアドレスデコーダ回路 |
JPH02114717A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-26 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
US5018107A (en) * | 1988-10-25 | 1991-05-21 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device |
US5038327A (en) * | 1989-09-20 | 1991-08-06 | Fujitsu Limited | Decoder circuit of erasable programmable read only memory for avoiding erroneous operation caused by parasitic capacitors |
EP2092204B2 (de) † | 2006-11-16 | 2022-10-26 | thyssenkrupp rothe erde Germany GmbH | Wälzlager, insbesondere mittenfreies grosswälzlager |
JP2014142989A (ja) * | 2013-01-22 | 2014-08-07 | Freescale Semiconductor Inc | ワード線/行ドライバのためのバイアス電圧を用いるフラッシュメモリ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0546639B2 (ja) | 1993-07-14 |
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