JPS6141557B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は結晶缶内の白下を加熱煎糖すると共
に糖液の供給、水の供給を間欠的に行う間欠煎糖
制御装置に関する。

結晶缶を用いた煎糖制御装置は一般的には第１
図のような構成が取られていた。即ち結晶缶１１
内には白下、つまり糖液及び種糖が混合された液
が入れられ結晶缶１１内を通るパイプ１２に蒸気
が供給されて結晶缶１１が加熱される。結晶缶１
１内の白下の固さが固さ計、例えばレオメータ１
３で検出され、かつ白下の液レベルが液レベル計
１４で検出され、これ等検出出力は制御装置１５
に供給される。制御装置１５ではこれ等供給され
た白下の固さや液レベルを示す信号にもとずき制
御信号を手動、自動切替装置１６，１７をそれぞ
れ通じて差水弁１８、糖液弁１９へ供給してそれ
ぞれパイプ２１を通じる水やパイプ２２を通じる
糖液を結晶缶１１内に供給するのを制御する。尚
糖種即ち種晶は種晶弁２３を通じて結晶缶１１内
に供給される。

この煎糖装置において水や糖液を連続的に供給
して行う場合と比較してこれ等を間欠的に供給す
ることによつて煎糖時間を短かくすることができ
ることが知られている。即ち例えば第２図に示す
ような時刻t₁において糖液弁１９を全開して糖液
を結晶缶１１内に供給し、蒸気による加熱部２４
の上部に迄糖液を入れ、つまり結晶缶１１内の液
レベルがl₁になると、その時刻t₂において糖液の
供給を停止して蒸気供給パイプ１２に設けられた
蒸気弁２５を全開して結晶缶１１内の糖液を加熱
濃縮する。この場合結晶缶１１内の液レベルが一
定値l₁に保たれるように糖液弁１９がオンオフ制
御される。

このようにして糖液が濃縮されて固さ計１３よ
り得られる糖液の固さが設定値B₁に達するとそ
の時刻糖液弁１９は全閉とされる。その時刻t₃迄
は結晶缶１１内の液面はl₁に定値制御される。固
さがB₂になると種晶弁２３がその時刻t₄で開かれ
て種晶が結晶缶１１内に投入される。これまでが
濃縮起晶工程である。次に育晶準備工程となり固
さ計１３の出力がB₃になるとその時刻t₅において
差水弁１８が開かれ、白下の固さは短時間低下さ
れる。

その後は育晶工程となり、固さがB₄になると
その時刻t₆に差水弁１８が開かれて一定量の水が
供給される。この結果白下の固さが下がり次の設
定値B₅になる迄待ち、このB₅に固さがなるとそ
の時刻t₇に再び差水弁１８が開かれて一定量の差
水が行われる。以下このことが繰返されて固さ計
の固さが設定値B₇に達するとその時刻t₉に次は糖
液弁１９が開かれて糖液が供給され、白下の液レ
ベルが設定値l₂に達すると糖液弁１９が閉められ
る。これにより白下の固さが下がり、B₇より上
の設定値B₈に固さ計１３の出力が達するとその
時刻t₁₀に糖液弁１９が再び開かれて糖液レベル
が設定値l₃に達する迄糖液が供給される。以下同
様のことが繰返される。この固さが設定値B₇に
達する迄のように差水のみを間欠的に行う工程が
水煎工程、つまり差水煎糖工程であり、その後の
糖液のみを間欠的に行う工程は糖煎工程、つまり
糖液煎糖工程である。

固さが設定値B₁₁になり液レベルが設定値l₆に
達した時点で糖液の供給が停止されて育晶工程が
終了する。その後は煎締め工程となり固さ計１３
の出力が設定値B₁₂になつてこの煎締め工程が完
了して蒸気弁２５がこの時刻t₁₄で全閉される。

煎糖制御工程において種晶以外の結晶、いわゆ
る偽晶が発生しないように、即ち最初に供給した
種晶の数を保つてその種晶を育てて大きくするよ
うに制御が必要であり、そのためには白下を濃縮
させて偽晶が発生する状態に近い状態にするか、
或は偽晶を発生させるがそれを消しながら煎糖を
行うことによつて全体の煎糖時間を短かくするこ
とができる。偽晶を発生させることなく比較的短
かい時間で煎糖を終了するためには、これ等の差
水煎糖や糖液煎糖等の制御が重要である。この制
御は砂糖の品質によつて異なり、つまり品種に応
じて設定値を変えたり糖液煎糖、差水煎糖の糖
液、水の供給回数、これらの組合せ、即ちこれ等
を交互に行つたり、或は同時に行つたりする組合
せかたが異なる。

結晶缶１基当りに一般には各種の品種を製造し
ている。従つてその品種と対応した制御パターン
を用意する必要がある。しかし従来においては前
記煎糖制御のシーケンスを、いわゆるアナログ計
器用の接点リレーとタイマーとを組合せて行つて
いた。このため一つの結晶缶についてその制御パ
ターンを変えるには数十ケ所もの設定値を変更す
る必要があり、これらの変更個所をその制御パネ
ルに設けることは実質的に不可能である。従つて
一つの結晶缶に対して一つの品種の制御しか行う
ことができなかつた。

対象品種が予め与えられても煎糖制御の理論は
必ずしも完成されたものでないため実際に煎糖運
転を行つて各種の設定値を調整する必要があり、
その調整においても従来においては設定個所が非
常に多いため大変煩雑であつた。

この発明の目的は品種に対応して異なる制御パ
ターンに変更することが容易であり、又その一つ
の品種についても最適の制御パターンに調整する
ことが比較的容易で短時間で行うことを可能とす
る間欠煎糖制御装置を提供することにある。

この発明によれば結晶缶に対して糖液の供給、
水の供給を間欠に行う間欠煎糖制御装置において
少なくとも糖煎き工程及び水煎き工程においては
それぞれ同一種のパラメータが用意され、これ等
のパラメータを各工程に対応した値に設定して糖
煎モジユール及び水煎きモジユールとして記憶装
置に記憶される。その記憶装置内の各工程に対応
したパラメータを各工程毎に順次読出してそのパ
ラメータにもとずき制御する。従つて糖煎工程及
び水煎き工程の少なくとも一方が複数回行われる
場合には、それ等についての同一種のパラメータ
中の設定値だけがその工程に応じて変更される。
従つてその工程の設定や設定値の変更が容易であ
る。

このような制御はいわゆるマイクロコンピユー
タを使用して行うことができ、例えば第３図に示
すようにバス２７に中央処理装置いわゆるCPU
２８、プログラムが記憶された読出し専用メモリ
２９、読み書き可能なメモリ３１、操作パネル３
２、入出力制御部３３がそれぞれ接続されてお
り、CPU２８はプログラムメモリ２９のプログ
ラムを順次読出して解読実行することにより入出
力制御部３３を通じて例えば第１図における固さ
計１３や液レベル計１４のデータをそれぞれ取込
み、設定値と比較して必要な演算を行い差水弁１
８や糖液弁１９、蒸気弁２５等に対する制御を行
う信号を出力する。

例えば煎糖制御工程においてその起動から完了
迄を複数の工程、例えば第４図に示すようにS₁，
S₂………S₁₅迄の15の工程に分けられる。各工程
にその動作に必要なものがパラメータとして記憶
されている。即ちこれは第４図における読み書き
可能なメモリ３１に記憶され、又工程毎に対応し
たパラメータを読出してそれにパラメータに応じ
た制御を行う。

例えば第４図においてステツプS₃におけるパラ
メータとしてはその工程の動作の内容、即ち動作
モードに対して付けられたモジユール名があり、
これは例えば１番乃至６番迄もちいられる。糖煎
モードは１番、水煎モードは２番、糖及び水煎き
の繰返しモードは３番、濃縮起晶モードは５番、
育晶準備モードは６番等と予め番号が付けられ
る。パラメータつまり項目は例えばP₁〜P₁₀の10
項目とされ、P₁には先に示したその工程の動作モ
ードを示す番号が記憶される。その動作モードが
例えば糖煎工程の場合はモジユール番号、即ち動
作モード番号として１番が記憶される。２番目の
項目P₂には糖煎の回数が何回かが記憶され、更に
その糖煎工程の初期の固さの値、初期値が記憶さ
れる等各項目によつてその工程に対して与えられ
た値が記憶される。

このように各ステツプ、即ち工程毎に対応した
パラメータがモジユール３４として読み書き可能
な記憶装置に記憶されており、各ステツプ毎に対
応するモジユールを読出しそのモジユール内のパ
ラメータに対応して制御を行う。これ等のモジユ
ール内の各パラメータの設定は操作パネル３２を
通じて手動的に操作員によつて設定し、又その設
定値を変更することが可能である。

例えば第４図におけるステツプS₃が糖煎モード
であり、糖煎モジユールの各パラメータは第４図
に示すようにパラメータP₁のモジユール名は１と
され、パラメータP₂は糖煎の回数とされ、パラメ
ータP₃は固さ初期値であり、第５図ＡにP₃として
示すようにそのステツプS₃の最初の白下の固さで
あり、パラメータP₄は固さの変化幅であり、つま
り或る固さの設定値より次の設定値迄の変化幅P₄
であり、次のパラメータP₅は白下のレベル変化
幅、即ち糖液の供給にともなうレベルの変化幅P₅
であり、次のパラメータP₆は糖液弁１９の開度で
あり、差水弁１８の開度はパラメータP₇で設定さ
れ、糖液弁閉偏差は第５図Ｂに示す値P₈、即ち糖
液弁１９を開いてから閉じるまでの固さの変化幅
P₈がパラメータP₈であり、同様に差水弁閉偏差は
差水弁１８を開いてから閉じる迄の固さの変化量
P₉がパラメータP₉であり、差水弁開偏差、つまり
第５図Ｃに示すように糖液弁を開いてから差水弁
を開く迄における固さの変化量P₁₀がパラメータ
P₁₀として与えられる。

水煎きモードのモジユール３４の例を第６図に
示す。この場合モジユール名P₁は２番とされ、P₂
は水煎きの回数、P₃は第７図に示すように固さの
初期値、P₄は固さ変化幅P₄、P₅は固さ変化幅の積
算制限P₅、P₆は差水弁の開時間P₆、P₇は差水弁開
度P₇、P₈は水煎時間P₈、P₉は差水弁の閉偏差P₉が
それぞれ設定される。

他の動作モジユールについてもその動作に応じ
た各種のパラメータが決められる。

一つの煎糖制御パターンの例を第８図に示す。
この例においては濃縮起晶工程はステツプS₁、育
晶準備工程はステツプS₂とされ、育晶工程ではス
テツプS₄、ステツプS₇、ステツプS₉、ステツプ
S₁₂、ステツプS₁₅のみが使用された場合である。
このステツプS₁〜S₁₅迄における各モジユールの
パラメータの例を第９図に示す。ステツプS₃，
S₅，S₆，S₈，S₁₀，S₁₁，S₁₃，S₁₄は通過となりス
テツプS₄，S₉，S₁₅は水煎きモードであり、ステ
ツプS₇，S₁₂は糖煎きモードである。

水煎きモードのステツプS₄，S₉，S₁₅において
は同一のパラメータが用いられるが、その設定値
は例えばパラメータP₂、つまり差水回数はステツ
プS₄，S₉，S₁₅ではそれぞれ５、１、１とされ、
パラメータP₃の固さの初期値もそれぞれB₃，
B₁₀，B₁₆が設定される。つまり水煎きモードにお
いて用いられるパラメータは同一であるが設定値
は各工程における状態によつてそれぞれ設定され
る。

以上述べたようにこの発明によれば品種に応じ
た制御パターンを設定する場合に各工程を何れの
動作モジユールを用い、それをいかなる順番にす
るかの組合せを決定し、更にその各モジユールの
パラメータをそれぞれ設定して各種の制御パター
ンを作ることができ、つまり一基の結晶缶を用い
て各種の品種に対する煎糖が可能である。その場
合同一の動作モジユールについてはパラメータの
種類が同一であるため全体としてはパラメータの
種類が少なく、少ない操作子の操作パネルにより
設定でき設定操作がやり易い。一般に装置を設置
した後においてその結晶缶に合せてプログラム、
つまり制御パターンを調整する必要があるが、水
又は糖液の供給動作が１〜数回に分割されていて
設定データの量が少なく、一つの制御パターン内
における任意の工程の部分のデータだけを修正で
き、つまり一つの動作モジユールごとに修正でき
最適値を見つける時間が少ない。尚上述における
工程の数やパラメータの数は先の例に限定される
ものではない。

【図面の簡単な説明】

第１図は結晶缶煎糖制御装置の一例を示す略線
図、第２図はその制御パターンの例を示す図、第
３図は第１図中の制御装置１５の例を示す図、第
４図は制御パターンにおける各ステツプとそのス
テツプに対応した動作モジユールとの関係を示す
図、第５図は糖煎きモジユールのパラメータを説
明するための図、第６図は水煎きモジユールの例
を示す図、第７図はその説明に供するための図、
第８図は制御パターンの一例を示す図、第９図は
そのステツプ及び各動作モジユールのパラメータ
を示す図である。 １１：結晶缶、１２：蒸気供給用パイプ、１
３：固さ計、１４：液位計、１５：制御装置、１
８：差水弁、１９：糖液弁、２５：蒸気弁、３
４：動作モジユール。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 結晶缶内の白下を加熱煎糖すると共に糖液の
   供給及び水の供給を間欠的に行う結晶缶煎糖制御
   装置において、上記煎糖制御の各工程毎に対応し
   たパラメータが記憶され、これが各工程毎に順次
   読出される記憶装置と、その記憶装置から読出さ
   れたパラメータに応じた制御を行う手段とを具備
   し、少なくとも糖煎動作及び水煎動作については
   それぞれ同一種のパラメータが用いられ、各工程
   に対応してパラメータの数値が設定された糖煎モ
   ジユール及び水煎モジユールとして記憶されてい
   ることを特徴とする間欠煎糖制御装置。