JPS6140953B2 - - Google Patents
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- JPS6140953B2 JPS6140953B2 JP53124754A JP12475478A JPS6140953B2 JP S6140953 B2 JPS6140953 B2 JP S6140953B2 JP 53124754 A JP53124754 A JP 53124754A JP 12475478 A JP12475478 A JP 12475478A JP S6140953 B2 JPS6140953 B2 JP S6140953B2
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- JP
- Japan
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- test
- signal
- switch
- circuit
- reactor
- Prior art date
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Safety Devices In Control Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は原子炉保護系統のテスト用インタロツ
ク回路に関するものである。
ク回路に関するものである。
〔従来の技術〕
原子炉保護系統については、種々の基準が定め
られており、それらに従えば、原子炉保護系統
は、定期点検を行なう必要があることから、随時
その機能がテストできるようになつていなければ
ならない。これを、試験可能性基準という。
られており、それらに従えば、原子炉保護系統
は、定期点検を行なう必要があることから、随時
その機能がテストできるようになつていなければ
ならない。これを、試験可能性基準という。
また、原子炉保護系統は、冗長化された他の保
護系統から与えられた正常と異常の判定信号をも
とにして、多数決原理により実際の保護動作が行
なわれるので、１つの原子炉保護系統の試験中に
原子炉に本当に異常が生じた場合に保護動作が行
なえるように、試験中の原子炉保護系統は擬似的
に異常信号を生じるようになつていなければなら
ない。これを単一故障基準という。単一故障基準
は、例えば定期点検のような原子炉保護系統の試
験を行なう場合に必要とされる。
護系統から与えられた正常と異常の判定信号をも
とにして、多数決原理により実際の保護動作が行
なわれるので、１つの原子炉保護系統の試験中に
原子炉に本当に異常が生じた場合に保護動作が行
なえるように、試験中の原子炉保護系統は擬似的
に異常信号を生じるようになつていなければなら
ない。これを単一故障基準という。単一故障基準
は、例えば定期点検のような原子炉保護系統の試
験を行なう場合に必要とされる。
このような原子炉保護系統の一例を第１図に示
す。第１図は原子炉保護系統の原子炉停止系を示
している。原子炉停止系とは、原子炉の臨界また
は臨界超過の状態から原子炉に負の反応度を挿入
することにより、原子炉を臨界未満にし、高温停
止から低温停止にいたらしめ、かつ、停止状態を
維持するための機能を備えるように設計された設
備をいう。（「発電用軽水型原子炉施設に関する安
全設計審査指針」原子力委員会 昭和52年６月14
日 ３ページ記載の用語の定義より）第１図にお
いて、Ｄはプロセス信号の検出器で、これによつ
て検出されたプロセス信号はリレーRLの常閉接
点ＡCを通じて演算器C1，C2，C3からなる演算回
路に与えられ、所定の信号処理がなされる。演算
器C2，C3の出力信号はそれぞれ信号監視器B1，
B2に与えられる。信号監視器は、例えば原子炉
の温度の上限値と下限値についての警報信号を与
えるためにB1とB2の２個が設けられている。信
号監視器は、温度の上限値と下限値のような原子
炉の保護の要否を判断するための要因の数に応じ
て複数個設けられている。これらの信号監視器
B1，B2は、それぞれ与えられた信号を基準値に
基づいて判定し、それに応じた二値の判定信号を
生じる。このようなことから、信号監視器B1，
B2は原子炉の異常の有無を監視するものであ
る。なお、信号監視器は２個以外の複数個だけ設
けられていてもよい。SW1およびSW2はテスト・
スイツチであり、信号監視器に対応して２個設け
られている。信号監視器B1，B2の出力信号はそ
れぞれ通常接点側（NOR）に投入されたテス
ト・スイツチSW1，SW2を通じて保護論理回路
G1，G2に与えられる。例えば、信号監視器B1、
テスト・スイツチSW1、保護論理回路G1の系統
を原子炉温度の上限値の警報信号が伝送させら
れ、信号監視器B2、テスト・スイツチSW2、保護
論理回路G2の系統を原子炉温度の下限値の警報
信号が伝送させられる。保護論理回路G1，G2に
は、判定信号ｋ，ｌが与えられる。これらの判定
信号ｋ，ｌは第１図の原子炉保護系統と同様な構
成の原子炉保護系統によつて作成されるものであ
る。保護論理回路G1，G2は、例えば２アウト・
オブ３回路であつて、原子炉保護系統からの３つ
の判定信号のうち少なくとも２つが一致していれ
ば、多数決原理によりそれらに従つた信号を原子
炉保護信号として出力するものである。
す。第１図は原子炉保護系統の原子炉停止系を示
している。原子炉停止系とは、原子炉の臨界また
は臨界超過の状態から原子炉に負の反応度を挿入
することにより、原子炉を臨界未満にし、高温停
止から低温停止にいたらしめ、かつ、停止状態を
維持するための機能を備えるように設計された設
備をいう。（「発電用軽水型原子炉施設に関する安
全設計審査指針」原子力委員会 昭和52年６月14
日 ３ページ記載の用語の定義より）第１図にお
いて、Ｄはプロセス信号の検出器で、これによつ
て検出されたプロセス信号はリレーRLの常閉接
点ＡCを通じて演算器C1，C2，C3からなる演算回
路に与えられ、所定の信号処理がなされる。演算
器C2，C3の出力信号はそれぞれ信号監視器B1，
B2に与えられる。信号監視器は、例えば原子炉
の温度の上限値と下限値についての警報信号を与
えるためにB1とB2の２個が設けられている。信
号監視器は、温度の上限値と下限値のような原子
炉の保護の要否を判断するための要因の数に応じ
て複数個設けられている。これらの信号監視器
B1，B2は、それぞれ与えられた信号を基準値に
基づいて判定し、それに応じた二値の判定信号を
生じる。このようなことから、信号監視器B1，
B2は原子炉の異常の有無を監視するものであ
る。なお、信号監視器は２個以外の複数個だけ設
けられていてもよい。SW1およびSW2はテスト・
スイツチであり、信号監視器に対応して２個設け
られている。信号監視器B1，B2の出力信号はそ
れぞれ通常接点側（NOR）に投入されたテス
ト・スイツチSW1，SW2を通じて保護論理回路
G1，G2に与えられる。例えば、信号監視器B1、
テスト・スイツチSW1、保護論理回路G1の系統
を原子炉温度の上限値の警報信号が伝送させら
れ、信号監視器B2、テスト・スイツチSW2、保護
論理回路G2の系統を原子炉温度の下限値の警報
信号が伝送させられる。保護論理回路G1，G2に
は、判定信号ｋ，ｌが与えられる。これらの判定
信号ｋ，ｌは第１図の原子炉保護系統と同様な構
成の原子炉保護系統によつて作成されるものであ
る。保護論理回路G1，G2は、例えば２アウト・
オブ３回路であつて、原子炉保護系統からの３つ
の判定信号のうち少なくとも２つが一致していれ
ば、多数決原理によりそれらに従つた信号を原子
炉保護信号として出力するものである。
試験可能性基準を満足するために、演算器C1
にはリレーRLの切換えによつてテスト・ジヤツ
クTJからの模擬入力信号が供給できるようにな
つており、またテスト・スイツチSW1，SW2の切
換えによつて信号監視器B1，B2の出力信号がそ
れぞれテスト・ランプBL1，BL2に供給できるよ
うになつている。これによつて、テスト・ランプ
BL1，BL2はテスト状態にあるときは、点灯す
る。また単一故障基準を満足するために、テス
ト・スイツチSW1，SW2がテスト側、（TEST）
に切換つたとき保護論理回路G1，G2には疑似的
に異常発生を示す“１”信号が与えられるように
なつている。
にはリレーRLの切換えによつてテスト・ジヤツ
クTJからの模擬入力信号が供給できるようにな
つており、またテスト・スイツチSW1，SW2の切
換えによつて信号監視器B1，B2の出力信号がそ
れぞれテスト・ランプBL1，BL2に供給できるよ
うになつている。これによつて、テスト・ランプ
BL1，BL2はテスト状態にあるときは、点灯す
る。また単一故障基準を満足するために、テス
ト・スイツチSW1，SW2がテスト側、（TEST）
に切換つたとき保護論理回路G1，G2には疑似的
に異常発生を示す“１”信号が与えられるように
なつている。
単一故障基準を満足するためには、テスト中は
必ずテスト・スイツチSW1，SW2がTEST側に投
入されていなければならない。さもないと、模擬
入力信号が正常相当の信号であるとき、保護論理
回路G1，G2には正常判定信号が与えられるの
で、このときプロセスが異常でも冗長化保護系の
故障によりそれらの１系統しか異常を検出しない
ときは、多数決により正常と看做されることにな
るからである。そこで従来は例えば第２図のよう
なインタロツク回路によりテスト・スイツチ
SW1，SW2の切換えとリレーRLの励磁との関係
を規定している。すなわち論理積回路ANDによ
りテスト・スイツチSW1，SW2がいずれもTEST
側に投入されていることを条件にしてリレーRL
を励磁するものである。
必ずテスト・スイツチSW1，SW2がTEST側に投
入されていなければならない。さもないと、模擬
入力信号が正常相当の信号であるとき、保護論理
回路G1，G2には正常判定信号が与えられるの
で、このときプロセスが異常でも冗長化保護系の
故障によりそれらの１系統しか異常を検出しない
ときは、多数決により正常と看做されることにな
るからである。そこで従来は例えば第２図のよう
なインタロツク回路によりテスト・スイツチ
SW1，SW2の切換えとリレーRLの励磁との関係
を規定している。すなわち論理積回路ANDによ
りテスト・スイツチSW1，SW2がいずれもTEST
側に投入されていることを条件にしてリレーRL
を励磁するものである。
このような従来のインタロツク回路によればテ
スト時には常に単一故障基準が満足されるが、テ
ストの実情にてらすと、このようなリレーRLの
励磁の条件づけはテスト遂行上融通性のないもの
となる。すなわち、テストとしては定常運転中に
随意に行うものの他に、試運転中のテストや定期
検査時に行うテストがあり、これらテストの中に
は、わざと異常状態に相当する模擬入力信号を与
えて原子炉が実際に保護されるまでの応答時間を
測定したり、実際のプロセス信号に対する演算回
路や信号監視回路の動作を確認する等のテストが
ある。そしてこれらのテストにおいては単一故障
基準の満足はとくに要求されない。前者の場合に
はテスト・スイツチSW1，SW2をTEST側に切換
えずにリレーRLを励磁しなければならず、また
後者の場合にはテスト・スイツチSW1，SW2を
TEST側に切換えてリレーRLを非励磁としなけ
ればならない。しかしそのようなことは第２図の
ようなインタロツクがかかつている限り不可能で
ある。また「テスト中」の報知はテスト・スイツ
チSW1，SW2がTEST側に切換えられない限り現
れないので、テストの種類によつてはテスト中で
あつてもその旨が表示されないことがある。
スト時には常に単一故障基準が満足されるが、テ
ストの実情にてらすと、このようなリレーRLの
励磁の条件づけはテスト遂行上融通性のないもの
となる。すなわち、テストとしては定常運転中に
随意に行うものの他に、試運転中のテストや定期
検査時に行うテストがあり、これらテストの中に
は、わざと異常状態に相当する模擬入力信号を与
えて原子炉が実際に保護されるまでの応答時間を
測定したり、実際のプロセス信号に対する演算回
路や信号監視回路の動作を確認する等のテストが
ある。そしてこれらのテストにおいては単一故障
基準の満足はとくに要求されない。前者の場合に
はテスト・スイツチSW1，SW2をTEST側に切換
えずにリレーRLを励磁しなければならず、また
後者の場合にはテスト・スイツチSW1，SW2を
TEST側に切換えてリレーRLを非励磁としなけ
ればならない。しかしそのようなことは第２図の
ようなインタロツクがかかつている限り不可能で
ある。また「テスト中」の報知はテスト・スイツ
チSW1，SW2がTEST側に切換えられない限り現
れないので、テストの種類によつてはテスト中で
あつてもその旨が表示されないことがある。
本発明の目的は、各種のテストに対して融通性
のあるインタロツク回路を提供することにある。
のあるインタロツク回路を提供することにある。
プロセス信号の検出器からの実入力信号と、テ
スト・ジヤツクからの模擬入力信号の入力を切換
えるリレーと、 該リレーを介して入力された信号について、所
定の信号処理を行なう演算器と、 原子炉の保護の要否の判断をするための要因の
数に応じて複数個設けられていて、前記演算器か
らの信号を基準値に基づいて判定して二値の判定
信号を発生して原子炉の異常の有無を監視する信
号監視器と、 該信号監視器に対応した数だけ設けられてい
て、対応した信号監視器からの二値信号をテスト
側と通常接点側への接続に切換えるとともに、単
一故障基準を満たすためにテスト中はいずれもテ
スト側に投入されているテスト・スイツチと、 該テスト・スイツチがテスト側にあるときは、
テスト状態を表示するテスト・ランプと、 前記テスト・スイツチが通常接点側にあるとき
は、前記信号監視器から与えられる信号と、他の
原子炉保護系統から与えられる信号をもとにし
て、多数決原理に基づいて原子炉保護信号を発生
する保護論理回路 とを有する原子炉保護系統の原子炉停止系に使用
し、 前記複数個のテスト・スイツチにつき、それら
がテスト側に切換えられていることの論理積を求
める第１の論理積回路と、 着脱自在な論理バイパス・スイツチが装着され
ていることと前記複数個のテスト・スイツチがテ
スト側に切換えられていることの論理和を求め、
この論理和を中央操作部へ出力する第１の論理和
回路と、 前記論理バイパス・スイツチが二値状態の一方
にあることと前記第１の論理和積回路の論理和を
求め、その出力信号を表示させる第２の論理和回
路と、 前記テスト・ジヤツクの近傍に設けられ、模擬
入力信号によつてテストをするときにテスト側に
切換えられる模擬入力スイツチと、 該模擬入力スイツチがテスト側に切換えられて
いることと前記第２の論理和回路の出力信号との
論理積を求め、その出力信号で前記リレーを励磁
して原子炉保護系統への入力信号を実入力から模
擬入力に切換えさせる第２の論理積回路、 とを具備した原子炉保護系統のテスト用インタロ
ツク回路である。
スト・ジヤツクからの模擬入力信号の入力を切換
えるリレーと、 該リレーを介して入力された信号について、所
定の信号処理を行なう演算器と、 原子炉の保護の要否の判断をするための要因の
数に応じて複数個設けられていて、前記演算器か
らの信号を基準値に基づいて判定して二値の判定
信号を発生して原子炉の異常の有無を監視する信
号監視器と、 該信号監視器に対応した数だけ設けられてい
て、対応した信号監視器からの二値信号をテスト
側と通常接点側への接続に切換えるとともに、単
一故障基準を満たすためにテスト中はいずれもテ
スト側に投入されているテスト・スイツチと、 該テスト・スイツチがテスト側にあるときは、
テスト状態を表示するテスト・ランプと、 前記テスト・スイツチが通常接点側にあるとき
は、前記信号監視器から与えられる信号と、他の
原子炉保護系統から与えられる信号をもとにし
て、多数決原理に基づいて原子炉保護信号を発生
する保護論理回路 とを有する原子炉保護系統の原子炉停止系に使用
し、 前記複数個のテスト・スイツチにつき、それら
がテスト側に切換えられていることの論理積を求
める第１の論理積回路と、 着脱自在な論理バイパス・スイツチが装着され
ていることと前記複数個のテスト・スイツチがテ
スト側に切換えられていることの論理和を求め、
この論理和を中央操作部へ出力する第１の論理和
回路と、 前記論理バイパス・スイツチが二値状態の一方
にあることと前記第１の論理和積回路の論理和を
求め、その出力信号を表示させる第２の論理和回
路と、 前記テスト・ジヤツクの近傍に設けられ、模擬
入力信号によつてテストをするときにテスト側に
切換えられる模擬入力スイツチと、 該模擬入力スイツチがテスト側に切換えられて
いることと前記第２の論理和回路の出力信号との
論理積を求め、その出力信号で前記リレーを励磁
して原子炉保護系統への入力信号を実入力から模
擬入力に切換えさせる第２の論理積回路、 とを具備した原子炉保護系統のテスト用インタロ
ツク回路である。
以下図面によつて本発明を説明する。第３図は
本発明実施例の概念的構成図である。第３図にお
いて一点鎖線で囲んだ部分が本発明による改良部
分である。すなわち模擬入力スイツチTJSWの切
換状態を論理積回路AND2の一方の入力とし、他
方の入力としては論理和回路OR2を通じて、テス
ト・スイツチSW1，SW2の切換状態の論理積また
は論理バイパス・スイツチBYSWの切換状態を与
えるようにしたものである。模擬入力スイツチ
TJSWは模擬入力用ジヤツクTJの近くに設けら
れ、模擬入力によつてテストをするときに
「TEST」側に切換えられる。論理バイパス・ス
イツチBYSWは着脱自在なもので、試運転時や定
期検査時だけに装着される。論理バイパス・スイ
ツチBYSWはテスト・スイツチSW1，SW2の切換
状態の如何にかかわらずリレーRLを励磁したい
ときにオンにされる。これらスイツチはそれぞれ
“TEST”および“ON”が論理信号の“１”を表
わす。論理和回路OR2の出力状態はランプELに
よつて表示される。ランプELは信号が“１”の
とき点灯する。また論理バイパス・スイツチ
BYSWからはその着脱に応じた信号が論理和回路
OR1に与えられる。この信号は論理バイパス・ス
イツチBYSWが「着」のとき“１”、「脱」のとき
“０”である。論理和回路OR1には、他の原子炉
保護系統についての論理バイパス・スイツチ
BYSWの着脱に応じた信号が与えられる。これに
よつて、少なくとも１個の原子炉保護系統に論理
バイパス・スイツチBYSWが装着されているとき
は、論理和回路OR1は“１”信号を出力する。論
理和回路OR1の出力は原子炉についての中央操作
部へ送られる。
本発明実施例の概念的構成図である。第３図にお
いて一点鎖線で囲んだ部分が本発明による改良部
分である。すなわち模擬入力スイツチTJSWの切
換状態を論理積回路AND2の一方の入力とし、他
方の入力としては論理和回路OR2を通じて、テス
ト・スイツチSW1，SW2の切換状態の論理積また
は論理バイパス・スイツチBYSWの切換状態を与
えるようにしたものである。模擬入力スイツチ
TJSWは模擬入力用ジヤツクTJの近くに設けら
れ、模擬入力によつてテストをするときに
「TEST」側に切換えられる。論理バイパス・ス
イツチBYSWは着脱自在なもので、試運転時や定
期検査時だけに装着される。論理バイパス・スイ
ツチBYSWはテスト・スイツチSW1，SW2の切換
状態の如何にかかわらずリレーRLを励磁したい
ときにオンにされる。これらスイツチはそれぞれ
“TEST”および“ON”が論理信号の“１”を表
わす。論理和回路OR2の出力状態はランプELに
よつて表示される。ランプELは信号が“１”の
とき点灯する。また論理バイパス・スイツチ
BYSWからはその着脱に応じた信号が論理和回路
OR1に与えられる。この信号は論理バイパス・ス
イツチBYSWが「着」のとき“１”、「脱」のとき
“０”である。論理和回路OR1には、他の原子炉
保護系統についての論理バイパス・スイツチ
BYSWの着脱に応じた信号が与えられる。これに
よつて、少なくとも１個の原子炉保護系統に論理
バイパス・スイツチBYSWが装着されているとき
は、論理和回路OR1は“１”信号を出力する。論
理和回路OR1の出力は原子炉についての中央操作
部へ送られる。
第４図に各スイツチ、各表示ランプ、および模
擬入力ジヤツクの配置の一例を示す。ただし論理
バイパス・スイツチBYSWは別体の着脱自在なユ
ニツト上に装着される。
擬入力ジヤツクの配置の一例を示す。ただし論理
バイパス・スイツチBYSWは別体の着脱自在なユ
ニツト上に装着される。
このように構成されたインタロツク回路の動作
は次のとおりである。
は次のとおりである。
模擬入力によつて実際の保護動作をテストする
場合は、テスト・スイツチSW1，SW2をNOR側
に投入したままで、論理バイパス・スイツチ
BYSWをオンにする。そうするとランプELが点
灯して「テスト可」が表示される。そこで模擬入
力スイツチTJSWをTEST側に切換えると、論理
積回路AND2の出力が“１”になつてリレーRLの
励磁が行われ、その接点Ac，Aoの開閉状態が交
代して模擬入力端子TJから保護系に対して模擬
入力の供給が可能になる。したがつて模擬入力を
様々に変えて実際の保護動作をテストすることが
できる。このとき単一故障基準は満足されない。
場合は、テスト・スイツチSW1，SW2をNOR側
に投入したままで、論理バイパス・スイツチ
BYSWをオンにする。そうするとランプELが点
灯して「テスト可」が表示される。そこで模擬入
力スイツチTJSWをTEST側に切換えると、論理
積回路AND2の出力が“１”になつてリレーRLの
励磁が行われ、その接点Ac，Aoの開閉状態が交
代して模擬入力端子TJから保護系に対して模擬
入力の供給が可能になる。したがつて模擬入力を
様々に変えて実際の保護動作をテストすることが
できる。このとき単一故障基準は満足されない。
実入力によつて演算器C1，C2，C3と信号監視
器B1，B2をテストするときは、テスト・スイツ
チSW1，SW2をTEST側に切換えて、模擬入力ス
イツチTJSWをNOR側に切換える。論理バイパ
ス・スイツチBYSWはオンでもオフでもよい。そ
うすると論理積回路AND2の出力が“０”になつ
てリレーRLの励磁がなくなり接点Ac，Aoの開閉
状態は元に戻る。これによつて実入力が保護系に
与えられ、それに基づく演算器C1，C2，C3およ
び信号監視回路B1，B2の動作結果がテスト・ラ
ンプBL1，BL2にそれぞれ表示される。このとき
もランプELは点灯して「テスト可」の状龍を表
示している。
器B1，B2をテストするときは、テスト・スイツ
チSW1，SW2をTEST側に切換えて、模擬入力ス
イツチTJSWをNOR側に切換える。論理バイパ
ス・スイツチBYSWはオンでもオフでもよい。そ
うすると論理積回路AND2の出力が“０”になつ
てリレーRLの励磁がなくなり接点Ac，Aoの開閉
状態は元に戻る。これによつて実入力が保護系に
与えられ、それに基づく演算器C1，C2，C3およ
び信号監視回路B1，B2の動作結果がテスト・ラ
ンプBL1，BL2にそれぞれ表示される。このとき
もランプELは点灯して「テスト可」の状龍を表
示している。
模擬入力によつて演算器C1，C2，C3および信
号監視器B1，B2をテストするときは、上記の状
態において模擬入力スイツチTJSWをTEST側に
倒す。そうするとこれによつて論理積回路AND2
の出力が“１”になつてリレーRLが励磁され、
接点Ac，Aoは模擬入力が可能な状態に切換わ
る。このテストおよび上記の実入力テストにおい
ては論理バイパス・スイツチBYSWのオンオフは
何んの影響も与えないから、これらのテストは論
理バイパス・スイツチが装着されないときにも行
える。とくに後者のテストは定常運転中に随時に
行われるテストと同じものであるから、これが論
理バイパス・スイツチBYSWの無い状態でも行え
るということは、このスイツチが取り外された定
常運転時にも同じテストが行えることを意味す
る。
号監視器B1，B2をテストするときは、上記の状
態において模擬入力スイツチTJSWをTEST側に
倒す。そうするとこれによつて論理積回路AND2
の出力が“１”になつてリレーRLが励磁され、
接点Ac，Aoは模擬入力が可能な状態に切換わ
る。このテストおよび上記の実入力テストにおい
ては論理バイパス・スイツチBYSWのオンオフは
何んの影響も与えないから、これらのテストは論
理バイパス・スイツチが装着されないときにも行
える。とくに後者のテストは定常運転中に随時に
行われるテストと同じものであるから、これが論
理バイパス・スイツチBYSWの無い状態でも行え
るということは、このスイツチが取り外された定
常運転時にも同じテストが行えることを意味す
る。
上記３つのテスト中は常にランプELが点灯し
て「テスト可」を表示している。逆にいえばラン
プELが点灯している間は上記のいずれのテスト
も可能である。すなわちランプELが点灯してい
るときに、テスト・スイツチSW1，SW2をNOR
側、模擬入力スイツチTJSWをTEST側にすると
上記最初のテストが行え、テスト・スイツチ
SW1，SW2をTEST側、模擬入力スイツチTJSW
をNOR側にすると上記２番目のテストが行え、
両スイツチをいずれもTEST側にすると上記最後
のテストが行える。なおランプELが点灯してい
るときは、テスト・スイツチSW1，SW2の少なく
とも一方がNOR側で、かつ論理バイパス・スイ
ツチBYSWがオフまたは「脱」の状態であるか
ら、模擬入力スイツチTJSWの投入状態の如何に
かかわらずテストは行えない。
て「テスト可」を表示している。逆にいえばラン
プELが点灯している間は上記のいずれのテスト
も可能である。すなわちランプELが点灯してい
るときに、テスト・スイツチSW1，SW2をNOR
側、模擬入力スイツチTJSWをTEST側にすると
上記最初のテストが行え、テスト・スイツチ
SW1，SW2をTEST側、模擬入力スイツチTJSW
をNOR側にすると上記２番目のテストが行え、
両スイツチをいずれもTEST側にすると上記最後
のテストが行える。なおランプELが点灯してい
るときは、テスト・スイツチSW1，SW2の少なく
とも一方がNOR側で、かつ論理バイパス・スイ
ツチBYSWがオフまたは「脱」の状態であるか
ら、模擬入力スイツチTJSWの投入状態の如何に
かかわらずテストは行えない。
テストを行なう場合には、模擬入力スイツチ
TJSWの状態にかかわりなくランプELが点灯し
ているようにするために、模擬入力スイツチ
TJSWと論理和スイツチOR2の出力信号の論理積
によりリレーRLの励磁を行なつている。
TJSWの状態にかかわりなくランプELが点灯し
ているようにするために、模擬入力スイツチ
TJSWと論理和スイツチOR2の出力信号の論理積
によりリレーRLの励磁を行なつている。
論理バイパス・スイツチBYSWが装着されてい
るときは、その投入状態によつては上記のように
単一故障基準を満足しないテストが行われうる
が、論理バイパス・スイツチBYSWは、試運転時
あるいは定期検査時のように、単一故障基準を満
足しないテストが行われてもよいときにのみ装着
され、かつその旨が論理和回路OR1を通じて中央
操作部へ報知される。一方定常運転に入るときは
論理バイパス・スイツチBYSWは取り外されるの
で、このとき同じチヤネルのテスト・スイツチ類
がTEST状態になければ、この報知は消える。し
たがつてテストの実行者はこの報知に基づいて定
常運転への移行等の可否が判断できる。
るときは、その投入状態によつては上記のように
単一故障基準を満足しないテストが行われうる
が、論理バイパス・スイツチBYSWは、試運転時
あるいは定期検査時のように、単一故障基準を満
足しないテストが行われてもよいときにのみ装着
され、かつその旨が論理和回路OR1を通じて中央
操作部へ報知される。一方定常運転に入るときは
論理バイパス・スイツチBYSWは取り外されるの
で、このとき同じチヤネルのテスト・スイツチ類
がTEST状態になければ、この報知は消える。し
たがつてテストの実行者はこの報知に基づいて定
常運転への移行等の可否が判断できる。
このように、ランプELの点滅状態によつてテ
ストが可能かどうかをテストの実行者が知ること
ができるようにするためと、テスト・スイツチ
SW1，SW2をNOR側に投入したままで模擬入力
によつて実際の保護動作をテストすることができ
るようにするために、論理バイパススイツチ
BYSWが設けられている。
ストが可能かどうかをテストの実行者が知ること
ができるようにするためと、テスト・スイツチ
SW1，SW2をNOR側に投入したままで模擬入力
によつて実際の保護動作をテストすることができ
るようにするために、論理バイパススイツチ
BYSWが設けられている。
以上のように本発明は、リレーの励磁の条件づ
け用スイツチとして、テスト・スイツチの他に模
擬入力スイツチとして着脱自在な論理バイパス・
スイツチとを設け、テスト・スイツチの切換状態
の如何にかかわらず模擬入力スイツチと論理バイ
パススイツチとによつてもリレーの励磁が行える
ようにした。このため、各種のテストに対して融
通性のあるインタロツク回路が得られる。またテ
ストの可否および定常運転の可否をそれぞれ報知
するようにしたので、操作しやすいインタロツク
回路が得られる。
け用スイツチとして、テスト・スイツチの他に模
擬入力スイツチとして着脱自在な論理バイパス・
スイツチとを設け、テスト・スイツチの切換状態
の如何にかかわらず模擬入力スイツチと論理バイ
パススイツチとによつてもリレーの励磁が行える
ようにした。このため、各種のテストに対して融
通性のあるインタロツク回路が得られる。またテ
ストの可否および定常運転の可否をそれぞれ報知
するようにしたので、操作しやすいインタロツク
回路が得られる。
第１図は原子炉保護系の一例の概念的構成図、
第２図は従来のインタロツク回路例、第３図は本
発明実施例の概念的構成図、第４図は本発明実施
例におけるスイツチやランプ類の配置図である。 Ｄ……検出器、C1〜C3……演算器、B1，B2…
…信号監視器、SW1，SW2……テスト・スイツ
チ、BL1，BL2……テスト・ランプ、G1，G2……
保護論理回路、AND……論理積回路、OR……論
理和回路、EL……ランプ。
第２図は従来のインタロツク回路例、第３図は本
発明実施例の概念的構成図、第４図は本発明実施
例におけるスイツチやランプ類の配置図である。 Ｄ……検出器、C1〜C3……演算器、B1，B2…
…信号監視器、SW1，SW2……テスト・スイツ
チ、BL1，BL2……テスト・ランプ、G1，G2……
保護論理回路、AND……論理積回路、OR……論
理和回路、EL……ランプ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ プロセス信号の検出器からの実入力信号と、
テスト・ジヤツクからの模擬入力信号の入力を切
換えるリレーと、 該リレーを介して入力された信号について、所
定の信号処理を行なう演算器と、 原子炉の保護の要否の判断をするための要因の
数に応じて複数個設けられていて、前記演算器か
らの信号を基準値に基づいて判定して二値の判定
信号を発生して原子炉の異常の有無を監視する信
号監視器と、 該信号監視器に対応した数だけ設けられてい
て、対応した信号監視器からの二値信号をテスト
側と通常接点側への接続に切換えるとともに、単
一故障基準を満たすためにテスト中はいずれもテ
スト側に投入されているテスト・スイツチと、 該テスト・スイツチがテスト側にあるときは、
テスト状態を表示するテスト・ランプと、 前記テスト・スイツチが通常接点側にあるとき
は、前記信号監視器から与えられる信号と、他の
原子炉保護系統から与えられる信号をもとにし
て、多数決原理に基づいて原子炉保護信号を発生
する保護論理回路 とを有する原子炉保護系統の原子炉停止系に使用
し、 前記複数個のテスト・スイツチにつき、それら
がテスト側に切換えられていることの論理積を求
める第１の論理積回路と、 着脱自在な論理バイパス・スイツチが装着され
ていることと前記複数個のテスト・スイツチがテ
スト側に切換えられていることの論理和を求め、
この論理和を原子炉についての中央操作部へ出力
する第１の論理和回路と、 前記論理バイパス・スイツチが二値状態の一方
にあることと前記第１の論理積回路の論理和を求
め、その出力信号を表示させる第２の論理和回路
と、 前記テスト・ジヤツクの近傍に設けられ、模擬
入力信号によつてテストをするときにテスト側に
切換えられる模擬入力スイツチと、 該模擬入力スイツチがテスト側に切換えられて
いることと前記第２の論理和回路の出力信号との
論理積を求め、その出力信号で前記リレーを励磁
して原子炉保護系統への入力信号を実入力から模
擬入力に切換えさせる第２の論理積回路、 とを具備した原子炉保護系統のテスト用インタロ
ツク回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12475478A JPS5552107A (en) | 1978-10-11 | 1978-10-11 | Test use interlock circuit for reactor protection system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12475478A JPS5552107A (en) | 1978-10-11 | 1978-10-11 | Test use interlock circuit for reactor protection system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5552107A JPS5552107A (en) | 1980-04-16 |
| JPS6140953B2 true JPS6140953B2 (ja) | 1986-09-11 |
Family
ID=14893282
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12475478A Granted JPS5552107A (en) | 1978-10-11 | 1978-10-11 | Test use interlock circuit for reactor protection system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5552107A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62228979A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-07 | 株式会社東芝 | 原子炉保護系の点検装置 |
| JP2015072164A (ja) * | 2013-10-02 | 2015-04-16 | 株式会社東芝 | 制御棒駆動システム |
| CN104021825B (zh) * | 2014-05-28 | 2016-08-31 | 中广核核电运营有限公司 | 一种核电站反应堆保护***试验模拟*** |
-
1978
- 1978-10-11 JP JP12475478A patent/JPS5552107A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5552107A (en) | 1980-04-16 |
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