JPS6139974Y2 - - Google Patents
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- JPS6139974Y2 JPS6139974Y2 JP2824179U JP2824179U JPS6139974Y2 JP S6139974 Y2 JPS6139974 Y2 JP S6139974Y2 JP 2824179 U JP2824179 U JP 2824179U JP 2824179 U JP2824179 U JP 2824179U JP S6139974 Y2 JPS6139974 Y2 JP S6139974Y2
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は集積回路の試験装置に係り、特に、
その試験、測定の手順を簡素化し、高速試験を可
能ならしめる改良に関するものである。[Detailed description of the invention] This invention relates to an integrated circuit testing device, and in particular,
This paper relates to improvements that simplify the testing and measurement procedures and enable high-speed testing.
一般に高密度集積回路（LSI）の試験に当つて
はその機能試験とともに電源（消費）電流の測定
を行わねばならない。以下、時計用LSIを例にと
つて説明する。第１図は従来のLSI試験装置の一
例を示すブロツク構成図で、１は被試験LSI、２
はLSI１に動作電圧を供給する電源、３はLSI１
の入力へ信号を供給するフアンクシヨン・ジエネ
レータ（FG）、４はLSI１の電源電流を測る電流
計、５はLSI１の複数個の出力端子における出力
パターンと予想正常パターンとを比較して機能試
験をするコンパレータ、６は機能試験を行うスト
ローブパルスを発生するストローブ発生回路であ
る。 Generally, when testing high-density integrated circuits (LSI), it is necessary to measure the power supply (consumption) current as well as perform functional tests. The following explains using a clock LSI as an example. Figure 1 is a block configuration diagram showing an example of a conventional LSI test device, where 1 is the LSI under test, 2
is the power supply that supplies operating voltage to LSI1, 3 is LSI1
4 is an ammeter that measures the power supply current of LSI 1, and 5 is a function test that compares the output pattern at the multiple output terminals of LSI 1 with an expected normal pattern. Comparator 6 is a strobe generating circuit that generates strobe pulses for performing functional tests.
特に、時計用LSIなどでは使用電池の制限から
低消費電力が要求されるので、その機能のすべて
の状態での消費電流を測定し、電池取替え期間の
保証、当該LSIの信頼性の確認が行われる。LSI
１は規定された電圧を発生する電源２によつて動
作状態となり、フアンクシヨン・ジエネレータ３
からの信号によつて計時機能の試験を行う。すな
わち、プログラムされたフアンクシヨン・ジエネ
レータ３からの入力信号に対応したLSI１の出力
パターンと、その時の予想正常パターンとをコン
パレータ５を用いて、比較時点を指令するストロ
ーブ発生回路６からのストローブパルスの制御の
下に比較される。ところで、消費電流は電流計４
を用いて、上記機能試験の各ステツプ毎にその直
後に測定する必要があり、更に、電流計の種類に
よつては、機能試験を行うときは取り外してお
き、消費電流の測定時のみ接続せねばならないこ
ともあり、ある出力の動作状態をフアンクシヨ
ン・ジエネレータ３で作り保持している間に機能
試験と消費電流測定との２つの操作をせねばなら
ず、操作回数が非常に多く、所要時間も長くなる
という欠点があつた。 In particular, watch LSIs require low power consumption due to battery limitations, so we measure the current consumption in all functions, guarantee the battery replacement period, and confirm the reliability of the LSI. be exposed. LSI
1 is put into operation by a power supply 2 that generates a specified voltage, and a function generator 3
The timekeeping function is tested using the signal from the That is, the output pattern of the LSI 1 corresponding to the programmed input signal from the function generator 3 and the expected normal pattern at that time are compared using the comparator 5, and the strobe pulse from the strobe generation circuit 6 is controlled. compared below. By the way, the current consumption is measured by ammeter 4
It is necessary to take measurements immediately after each step of the above functional test using the ammeter. Furthermore, depending on the type of ammeter, it may be necessary to remove it when performing a functional test and connect it only when measuring current consumption. Therefore, while creating and maintaining the operating state of a certain output using the function generator 3, it is necessary to perform two operations: a function test and a current consumption measurement, which requires a large number of operations and takes a long time. It also had the disadvantage of being long.
この考案は以上の点に鑑み、このような問題を
解決すると共にかかる欠点を除去すべくなされた
もので、その目的は簡単な構成によつて、機能試
験と消費電流のチエツクとを同時に行うことがで
き、操作回数を少く、試験所要時間を短くするこ
とができる集積回路の試験装置を提供することに
ある。 In view of the above points, this invention was devised in order to solve such problems and eliminate such drawbacks.The purpose is to perform a function test and check of current consumption at the same time with a simple configuration. An object of the present invention is to provide an integrated circuit testing device that can reduce the number of operations and shorten the time required for testing.
このような目的を達成するため、この考案は、
被試験集積回路の入力にプログラムされたステツ
プ毎の入力信号を供給するフアンクシヨン・ジエ
ネレータと、上記ステツプ毎の上記被試験集積回
路の出力を上記入力信号に対応する予想正常出力
と比較してその被試験集積回路の機能試験をする
コンパレータとを有し、かつ上記入力信号を高速
で供与するステツプ毎の消費電流を検出する電流
検出器と、この電流検出器によつて得られた消費
電流を直ちに電圧に変換しその出力を上記コンパ
レータに供給する変換器とを備え、上記コンパレ
ータにおいて上記変換器からの出力と前記消費電
流の規格値に対応する電圧と比較し消費電流のチ
エツクを前記機能試験とともに行い得るようにし
たものである。 In order to achieve this purpose, this idea
A function generator that supplies an input signal for each step programmed to the input of the integrated circuit under test, and compares the output of the integrated circuit under test for each step with the expected normal output corresponding to the input signal, and compares the output of the integrated circuit under test for each step with the expected normal output corresponding to the input signal. A current detector has a comparator for functionally testing the test integrated circuit, and a current detector detects the current consumption for each step by supplying the input signal at high speed, and immediately detects the current consumption obtained by the current detector. and a converter that converts the output into voltage and supplies the output to the comparator, and the comparator compares the output from the converter with a voltage corresponding to the standard value of the current consumption to check the current consumption together with the functional test. It has been made possible to do so.
以下、図面に基づきこの考案の実施例を詳細に
説明する。 Hereinafter, embodiments of this invention will be described in detail based on the drawings.
第２図はこの考案の一実施例を示すブロツク構
成図で、第１図に示した従来装置と同一部分は同
一符号で示し、その説明は省略する。図におい
て、７は電源電流を検出する電流検出器、８は電
流検出器７で検出された電流の値をこれに対応す
る電圧値に変換して、それをコンパレータ５に供
給する変換器である。 FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of this invention. The same parts as those of the conventional device shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and their explanation will be omitted. In the figure, 7 is a current detector that detects the power supply current, and 8 is a converter that converts the current value detected by the current detector 7 into a corresponding voltage value and supplies it to the comparator 5. .
機能試験は従来装置と同一であつて、電源２が
投入され、フアンクシヨン・ジエネレータ３から
所定のパルスや波形信号が入力されると、被試験
LSI１はその入力に対応したパターンの出力を出
す。電流検出器７はその出力時の消費電流を検出
し、変換器８はこの検出電流値をそれに対応する
電圧に変換し、かつ試験規格値との比較を行つた
のち、例えば、規格を満足している場合は低電圧
値を、規格を満足しない場合は高電圧値をコンパ
レータ５に供給する。コンパレータ５には常に
LSI１の入力信号に対応した出力の予想正常パタ
ーンが与えられるが、このとき変換器８からの比
較入力に対しては常に低電圧の予想パターンが与
えられる。従つて、機能試験の各ステツプ毎に機
能試験とともに消費電流のチエツクもストローブ
発生器６からのストローブパルスの制御の下に同
時に行うことができる。 The functional test is the same as that of conventional equipment; when the power supply 2 is turned on and the specified pulse or waveform signal is input from the function generator 3, the
LSI1 outputs a pattern corresponding to its input. The current detector 7 detects the current consumption at the time of its output, and the converter 8 converts this detected current value into a corresponding voltage and compares it with the test standard value. If the standard is not satisfied, a low voltage value is supplied to the comparator 5, and if the standard is not satisfied, a high voltage value is supplied to the comparator 5. Comparator 5 always has
An expected normal pattern of output corresponding to the input signal of the LSI 1 is given, but at this time, a low voltage expected pattern is always given to the comparison input from the converter 8. Therefore, in each step of the functional test, the current consumption can be checked as well as the functional test at the same time under the control of the strobe pulses from the strobe generator 6.
電流検出器７はLSI１のすぐ近くに設置するこ
とができ、変換器８によつて低インピーダンスに
してコンパレータ５に接続することによつて、電
流値のまゝコンパレータ５に送るより、電圧値に
変換して送る方が測定ケーブルの影響などを受け
難く、正確かつ高速の試験が可能である。 The current detector 7 can be installed very close to the LSI 1, and by connecting it to the comparator 5 with a low impedance using the converter 8, it is possible to convert it to a voltage value rather than sending the current value to the comparator 5 as is. Converting and sending data is less affected by measurement cables and enables more accurate and faster testing.
上記実施例では時計用LSIの場合について説明
したが、入力が変化しなければ出力は保持される
スタテイツク動作のLSIにはすべて適用でき、特
に、低電力を保証する要のあるLSIの試験に有用
である。 Although the above example describes the case of a clock LSI, it can be applied to any LSI with static operation in which the output is maintained as long as the input does not change, and is particularly useful for testing LSIs that require low power guarantees. It is.
以上説明したように、この考案によれば、複雑
な手段を用いることなく、入力信号（クロツク）
を高速で供与するステツプ毎の電源電流（消費電
流）を測り、この消費電流を直ちに電圧に変換し
回路動作のテストと同時に消費電流を判定するよ
うにした簡単な構成によつて、機能試験と消費電
流のチエツクとを同時に行うことができ、操作回
数を少く、試験所要時間を短くすることができる
ので、実用上の効果は極めて大である。 As explained above, according to this invention, input signals (clocks) can be controlled without using complicated means.
A simple configuration that measures the power supply current (current consumption) for each step that supplies power at high speed, immediately converts this current consumption to voltage, and determines the current consumption at the same time as testing the circuit operation enables functional testing and testing. The practical effects are extremely large because the current consumption can be checked at the same time, the number of operations can be reduced, and the time required for testing can be shortened.
第１図は従来の集積回路試験装置の一例を示す
ブロツク構成図、第２図はこの考案の一実施例を
示すブロツク構成図である。
図において、１は被試験集積回路、２は電源、
３はフアンクシヨンジエネレータ、５はコンパレ
ータ、６はストローブ発生回路、７は電流検出
器、８は変換器である。なお、図中同一符号は同
一または相当部分を示す。
FIG. 1 is a block diagram showing an example of a conventional integrated circuit testing apparatus, and FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of this invention. In the figure, 1 is the integrated circuit under test, 2 is the power supply,
3 is a function generator, 5 is a comparator, 6 is a strobe generating circuit, 7 is a current detector, and 8 is a converter. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or corresponding parts.
Claims (1)
ツプ毎の入力信号を供給するフアンクシヨン・ジ
エネレータと、前記ステツプ毎の前記被試験集積
回路の出力を前記入力信号に対応する予想正常出
力と比較して該被試験集積回路の機能試験をする
コンパレータとを設けた集積回路の試験装置にお
いて、前記入力信号を高速で供与するステツプ毎
の消費電流を検出する電流検出器と、この電流検
出器によつて得られた消費電流を直ちに電圧に変
換しその出力を前記コンパレータに供給する変換
器とを備え、前記コンパレータにおいて前記変換
器からの出力と前記消費電流の規格値に対応する
電圧と比較し消費電流のチエツクを前記機能試験
と同時に行い得るようにしたことを特徴とする集
積回路の試験装置。 a function generator that supplies an input signal for each programmed step to the input of the integrated circuit under test; In an integrated circuit testing device equipped with a comparator for functionally testing a test integrated circuit, a current detector detects current consumption for each step of supplying the input signal at high speed; a converter that immediately converts the current consumption into a voltage and supplies the output to the comparator, and the comparator compares the output from the converter with a voltage corresponding to the standard value of the current consumption to check the current consumption. An integrated circuit testing device characterized in that it is capable of performing the above-mentioned functional test at the same time.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2824179U JPS6139974Y2 (en) | 1979-03-05 | 1979-03-05 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2824179U JPS6139974Y2 (en) | 1979-03-05 | 1979-03-05 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55127280U JPS55127280U (en) | 1980-09-09 |
| JPS6139974Y2 true JPS6139974Y2 (en) | 1986-11-15 |
Family
ID=28873841
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2824179U Expired JPS6139974Y2 (en) | 1979-03-05 | 1979-03-05 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6139974Y2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004085469A (en) * | 2002-08-28 | 2004-03-18 | Yamaha Corp | Semiconductor device inspection method and system |
-
1979
- 1979-03-05 JP JP2824179U patent/JPS6139974Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004085469A (en) * | 2002-08-28 | 2004-03-18 | Yamaha Corp | Semiconductor device inspection method and system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55127280U (en) | 1980-09-09 |
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