JPS61281440A - Image pickup tube - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To prevent degradation in picture quality by increasing the strength of collimation lens at the portions corresponding with four corners of effective screen when compared with other portions thereby producing a simulated image at the outside of effective screen. CONSTITUTION:The gap sections at the portions l1-l4 of electrodes G5, G6' as collimation lenses to be formed immediately in front of the target face of an electrostatic focus/electrostatic deflection image pickup tube corresponding with four corners of effective screen Pe are brought near to a mesh electrode thus to increase the strength of lens. In other word, a projection is formed on the electrode G5 while a recess is formed in the electrode G6' and faced each other. And a simulation image to be produced by the return beam from the target face reflecting from the electrode is produced at the outside position even for the four corners of effective screen Pe. Consequently, degradation of picture quality due to the simulated image can be prevented effectively resulting in improvement of picture quality.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は撮像管に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to an image pickup tube.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は、撮像管において、コリメーションレンズのレ
ンズ強度を局部的に上げることＫより、疑似像の発生位
置を有効画面外とし、疑似像による画質劣化を防止する
ものである。In the present invention, by locally increasing the lens strength of the collimation lens in the image pickup tube, the generation position of the false image is set outside the effective screen, thereby preventing image quality deterioration due to the false image.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第５図は、静電集束・静電偏向型（以下、「Ｓ・ＳＩＭ
Ｊという）の撮像管の一例を示すものである。Figure 5 shows the electrostatic focusing/electrostatic deflection type (hereinafter referred to as "S SIM").
This figure shows an example of an image pickup tube (referred to as J).

同図において、（１）はガラスパルプ、（２）はフェー
スプレー）　、　＜３）はターゲット面（光電変換面）
。In the figure, (1) is glass pulp, (2) is face spray), and <3) is target surface (photoelectric conversion surface).
.

（４）は冷封止用のインジウム、（５）は金属リングで
ある。また、（６）はフェースプレート（２）を買通し
てターゲット面（３）に接触するようになされている信
号取出用の電極である。また、Ｇ６はメツシュ状電極で
あシ、メツシュホルダー（７）に取付ゆられる。この電
極Ｇ６はメツシュホルダー（７）、インジウム（４）ヲ
介して金属リング（５）に接続され、この金属リング（
５）を介して所定電圧、例えば十５ｏｏｖが印加される
。(4) is indium for cold sealing, and (5) is a metal ring. Further, (6) is a signal extraction electrode which is designed to pass through the face plate (2) and come into contact with the target surface (3). Further, G6 is a mesh-like electrode and is attached to a mesh holder (7). This electrode G6 is connected to a metal ring (5) via a mesh holder (7) and indium (4), and this metal ring (
5), a predetermined voltage, for example 15 oov, is applied.

また、Ｋ　、　Ｇ１及びＧ２は、夫々電子銃を構成する
カソード、第１グリツド電極及び第２グリツド電極であ
る。また、（８）はこれらを固定するためのビードガラ
スであシ、ＬＡはビーム制限開孔である。Furthermore, K, G1, and G2 are a cathode, a first grid electrode, and a second grid electrode, respectively, which constitute an electron gun. Further, (8) is a bead glass for fixing these, and LA is a beam limiting aperture.

また、Ｇ３．　Ｇ４及びＧ５は、夫々第３．第４及び第
５グリツド電極である。これらの電極０３〜Ｇ５は、夫
々ガラスパルプ（１）の内面にクロム、二ツケル等の金
属が蒸着された後、レーデ−によるカッティングでパタ
ーニングされて形成される。これら電極０３〜Ｇ５によ
り集束用の電極系が構成されると共に、Ｇ４は偏向兼用
の電極でもある。電極０３〜Ｇ５は、第６図にその展開
図を示すように形成される０図面の簡単化のため、この
第６図においては金属の蒸着されていない部分を黒線で
示している。Also, G3. G4 and G5 are the third. These are the fourth and fifth grid electrodes. These electrodes 03 to G5 are formed by depositing a metal such as chromium or nickel on the inner surface of the glass pulp (1), and then patterning it by cutting with a radar. These electrodes 03 to G5 constitute a focusing electrode system, and G4 also serves as a deflection electrode. Electrodes 03 to G5 are formed as shown in a developed view in FIG. 6. To simplify the drawing, in FIG. 6, the portions on which metal is not deposited are indicated by black lines.

電極Ｇ４は互いに絶縁されて入シ組んでいる４つの電極
部Ｈ＋、Ｈ，Ｖ＋及びＶ−が交互に配された、いわゆる
アロー・９ターンとされる。これら電極部Ｈ十〜ｖ−カ
ら（７）　！ｊ　−Ｐ　（１２Ｈ＋）　〜（１２Ｖ−）
ハ、電極Ｇ３と絶縁され、かつ管軸と平行にこれを横切
るようく形成される。そして、夫々の先端部には幅広の
コンタクト部ＣＴが形成される。The electrode G4 is a so-called arrow nine turn in which four electrode parts H+, H, V+, and V- are arranged alternately and are insulated from each other and arranged in a nest. These electrode parts H0~v-k (7)! j −P (12H+) ~(12V−)
C. It is insulated from the electrode G3 and is formed parallel to and across the tube axis. A wide contact portion CT is formed at each tip.

また、第６図において、Ｇ６は上述したメツシュ状電極
Ｇ６と電気的に接続される電極であシ、電極０３〜Ｇ５
が形成されると同時にガラスバルブ（１）の内面に同様
に形成される。In addition, in FIG. 6, G6 is an electrode electrically connected to the mesh-like electrode G6 described above, and electrodes 03 to G5
is similarly formed on the inner surface of the glass bulb (1) at the same time as it is formed.

尚、第６図において、ＳＬは真空排気のために電極Ｇ、
及びＧ２を管外から加熱するに際し、電極Ｇ３を加熱し
ないように設けられたスリットであシ、ＭＡは面板との
角度合せのためのマークである。In addition, in FIG. 6, SL is connected to electrode G for vacuum evacuation,
and MA is a mark for adjusting the angle with the face plate.

第５図に戻って、Ｇ３はその一端がステムピンａ４に接
続されたコンタクタ−スプリングを示し、このスプリン
グ（１３の他端は上述したリード（１２Ｈ＋　）〜（１
２Ｖ　）のコンタクト部ＣＴに接触するようになされる
。このスプリング及びステムピンはリード（１２Ｈ＋）
〜（１２Ｖ−）に対して夫々設けられる。Returning to FIG. 5, G3 indicates a contactor spring whose one end is connected to stem pin a4, and the other end of this spring (13) is connected to the above-mentioned leads (12H+) to (1
2V) contact portion CT. This spring and stem pin are lead (12H+)
~(12V-) respectively.

そして、ステムピン、スプリング及びリードを介して、
電極Ｇ４を構成する電極部Ｈ十及びＨ−１ｃは、所定電
圧、例えばＯｖを中心に対称的に変化する水平偏向電圧
が印加され、また、電極部Ｖ十及びｖ−Ｋも、所定電圧
、例えばＯｖを中心に対称的に変化する垂直偏向電圧が
印加される。Then, via the stem pin, spring and lead,
A predetermined voltage, for example, a horizontal deflection voltage that changes symmetrically around Ov, is applied to the electrode portions H0 and H-1c constituting the electrode G4, and the electrode portions V0 and vK are also applied with a predetermined voltage, for example, a horizontal deflection voltage that changes symmetrically around Ov. For example, a vertical deflection voltage that changes symmetrically around Ov is applied.

また、Ｇ９はその一端がステムピンαｅに接続されたコ
ンタクタ−スプリングを示し、このスプリング（１５１
の他端は上述した電極Ｇ３に接触するようになされてい
る。そして、このステムピンａｆｊ及びスプリングα９
を介して電極ＧａＫ所定電圧、例えば＋４００Ｖが印加
される。Further, G9 indicates a contactor spring whose one end is connected to the stem pin αe, and this spring (151
The other end is made to contact the electrode G3 mentioned above. Then, this stem pin afj and spring α9
A predetermined voltage, for example +400V, is applied to the electrode GaK via the electrode GaK.

また、電極Ｇ５は、例えばガラスバルブ（１）の側面に
あけられた穴ａηにフリットガラスα♂を用いて封着さ
れた電極ピン（１１に接続される。そして、電極Ｇ５に
は、この電極ピン（１１を介して所定電圧、例えば＋３
２０Ｖが印加される。Further, the electrode G5 is connected to an electrode pin (11) sealed to a hole aη made in the side surface of the glass bulb (1) using frit glass α♂. A predetermined voltage, e.g. +3
20V is applied.

以上の構成において、電極０３〜Ｇ５で形成される静電
レンズにより電子ビームの集束が行われる。In the above configuration, the electron beam is focused by the electrostatic lens formed by the electrodes 03 to G5.

また、電極Ｇ５及び０６間に形成される静電レンズ、い
わゆるコリメーションレンズによりランディングエラー
の補正が行われる。さらに、電子ビームの偏向は、電極
０４による偏向電界によって行われる。Further, the landing error is corrected by an electrostatic lens, a so-called collimation lens, formed between the electrodes G5 and G06. Further, the electron beam is deflected by a deflection electric field generated by the electrode 04.

尚、第７図は、第５図例の撮像管の一部の斜視図であり
、対応する部分には同一符号を付して示している。Note that FIG. 7 is a perspective view of a part of the image pickup tube of the example shown in FIG. 5, and corresponding parts are designated by the same reference numerals.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

この第５図例のような撮像管によれば、白く見えるリン
グ状の疑似像■Ｄが発生する。これは・ターゲット面（
３）からの戻シビームが電極で反射し、再びターゲット
面（３）の電位の高い部分、例えば未走査域に入射する
ために発生するものと考えられる。この疑似像ＩＤは、
管径に対する有効画面Ｐｇの大きさの関係から、有効画
面Ｐｅ　Ｋ対して、略第８図に示すような位置で発生す
る。そのため、有効画面ｐｅの四ずみの位置で疑似像１
１）が発生し易く、これによる画質劣化が問題となる。According to the image pickup tube as shown in the example shown in FIG. 5, a ring-shaped pseudo image (D) that appears white is generated. This is the target surface (
This is thought to occur because the return beam from 3) is reflected by the electrode and re-enters a high-potential portion of the target surface (3), for example, an unscanned area. This pseudo image ID is
Due to the relationship between the size of the effective screen Pg and the pipe diameter, the problem occurs at a position approximately as shown in FIG. 8 with respect to the effective screen PeK. Therefore, the pseudo image 1 is
1) is likely to occur, and image quality deterioration due to this is a problem.

ここで。here.

有効画面Ｐｅとは、ターゲット面のうち、受像管の画面
にあられれる部分の信号を得る電子ビーム走査域のこと
である。The effective screen Pe is an electron beam scanning area for obtaining signals from a portion of the target surface that falls on the screen of the picture tube.

ところで、この疑似像ＩＤの発生位置は、電極Ｇ５及び
０６間に形成されるコリメーションレンズの強さに依存
し、強くするととＫより有効画面Ｐｅの外側とできる。By the way, the position where this pseudo image ID is generated depends on the strength of the collimation lens formed between the electrodes G5 and 06, and if it is made strong, it can be located outside of the effective screen Pe from K.

電極Ｇ５及びＧ６の印加電圧を夫々ＥＱ５及びＥｃａと
するとき、コリメーションレンズは、（ＥＧｓ　−ＥＧ
５　）　／　Ｅａｓに比例して強くなるが、これが一定
のときには、電極Ｇ５を電極Ｇ６に近づけることにより
、つまシミ極Ｇ５とＧ６のギャップ部を電極Ｇ６に近づ
けることによりコリメーシヨンレンズを強くすることが
できる。When the voltages applied to the electrodes G5 and G6 are respectively EQ5 and Eca, the collimation lens is (EGs - EG
5) The strength increases in proportion to /Eas, but when this is constant, the collimation lens is strengthened by bringing the electrode G5 closer to the electrode G6, and by bringing the gap between the tab stain poles G5 and G6 closer to the electrode G6. be able to.

第９図Ａ、Ｂ及び第１０図Ａ、Ｂは電極Ｇ５とＧ１のギ
ャップ部の位置を変えたときのコリメーションレンズと
有効画面ｐｇに対する疑似像ＩＤの発生位置を示したも
のであシ、第９図Ａ及び第１０図Ａにおいて、ＬＣはコ
リメーションレンズを示している。9A and 10B and 10A and 10B show the positions where the pseudo image ID occurs with respect to the collimation lens and the effective screen pg when the position of the gap between the electrodes G5 and G1 is changed. In FIG. 9A and FIG. 10A, LC indicates a collimation lens.

以上の考察から、第５図例において、電極Ｇ５とＧ６の
ギャップ部をメツシュ状電極ＧｓＫ近づけることにより
、疑似像ＩＤの発生位置を有効画面Ｐｅの外側とするこ
とができ、疑似像ＩＤによる画質劣化の問題は解決する
こととなる。From the above considerations, in the example of FIG. 5, by bringing the gap between the electrodes G5 and G6 closer to the mesh-like electrode GsK, the generation position of the pseudo image ID can be made outside the effective screen Pe, and the image quality due to the pseudo image ID can be The problem of deterioration will be solved.

しかし、このときコリメーションレンズが強くなること
から、ターゲット面（３）の走査域全体で電子ビームを
垂直にランディングさせることが不可能となシ、第１１
図に斜線で示すようＫ、有効画面Ｐｅの周辺部に対応し
てシェーディングや幾可的歪が生じ画質劣化が大きくな
る。特Ｋ、単管カラーカメラ用撮像管では、カラーシェ
ーディングとなシ画質劣化は著しい。However, since the collimation lens becomes stronger at this time, it is impossible to land the electron beam vertically over the entire scanning area of the target surface (3).
As shown by diagonal lines in the figure, shading and geometric distortion occur in the periphery of the effective screen Pe, K, resulting in significant deterioration in image quality. Special K: In single-tube color camera image pickup tubes, color shading and image quality deterioration are significant.

本発明は斯る点に鑑み、ランディングエラーにｉ　　よ
る画質劣化をほとんど生ぜずに疑似像による画質劣化を
防止することを目的とするものである。In view of this, the present invention aims to prevent image quality deterioration due to false images while hardly causing image quality deterioration due to landing error i.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は、疑似像ＩＤがリング状位置く発生し、有効画
面ＰＣの四すみで発生することに着目したものである（
第８図参照）、即ち、本発明は、ターゲット面直前に形
成されるコリメーションレンズのうち、有効画面ｐｅの
四すみに対応する部分のレンズ強度を他部分のレンズ強
度よりュげるものである０例えば有効画面Ｐｅの四すみ
に対応した部分のみ、電極Ｇ５とＧＪのギャップ部をメ
ツシュ状電極ＧｓＫ近づけるものである。The present invention focuses on the fact that pseudo image IDs occur in ring-shaped positions and occur at the four corners of the effective screen PC (
In other words, the present invention makes the lens strength of the portions corresponding to the four corners of the effective screen pe, of the collimation lens formed just in front of the target surface, lower than the lens strength of other portions. 0 For example, only in the portions corresponding to the four corners of the effective screen Pe, the gap portion between the electrodes G5 and GJ is brought closer to the mesh-like electrode GsK.

〔作用〕[Effect]

コリメーションレンズのうち、有効画面Ｐｅの四すみに
対応した部分のレンズ強度が上げられるので、疑似像■
Ｄは有効画面ｐｅの四すみに対してもその外側位置で発
生するようになる。したがって、有効画面Ｐｅ内で疑似
像１０は発生せず、疑似像ＩＤによる画質劣化が防止さ
れる。また、コリメーションレンズのうち有効画面ｐｅ
の四すみに対応した部分のみレンズ強度が上げられるの
で、ランディングエラーによる画質劣化は、わずかに有
効画面Ｐｅの四すみに生じる。したがって、ランディン
グエ２−による画質劣化がほとんど生じない。Since the lens strength of the collimation lens corresponding to the four corners of the effective screen Pe is increased, the false image ■
D also occurs at positions outside the four corners of the effective screen pe. Therefore, the pseudo image 10 is not generated within the effective screen Pe, and image quality deterioration due to the pseudo image ID is prevented. In addition, the effective screen pe of the collimation lens
Since the lens strength is increased only in the portions corresponding to the four corners of , image quality deterioration due to landing errors occurs slightly at the four corners of the effective screen Pe. Therefore, almost no image quality deterioration occurs due to landing error 2-.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を参照しながら本発明の一実施例について説
明しよう。Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第１図は、本例の撮像管の要部の斜視図を示すものであ
り、第７図と対応する部分には同一符号を付して示して
いる。本例においては、有効画面ｐｅの四すみに対応し
た部分のみ、電極Ｇ５と０６のイヤツブ部をメツシュ状
電極Ｇｓ　（第１図には図示せず）に近づけるものであ
る。FIG. 1 shows a perspective view of the main parts of the image pickup tube of this example, and parts corresponding to those in FIG. 7 are designated by the same reference numerals. In this example, the ear portions of the electrodes G5 and 06 are brought closer to the mesh-like electrode Gs (not shown in FIG. 1) only in portions corresponding to the four corners of the effective screen pe.

即ち、電極Ｇ５と０６のギャップ部のうち、第２図に示
すように、有効画面Ｐｅに対応するＩ１１〜ｔ４の部分
以外の部分は、従来同様に、電子ビームがターゲット面
に垂直ランディングするのに適当なレンズ強・度のコリ
メーションレンズヲ得るようＫ。That is, as shown in FIG. 2, in the gap between the electrodes G5 and 06, the part other than the part I11 to t4 corresponding to the effective screen Pe is a part where the electron beam lands vertically on the target surface, as in the conventional case. Make sure to obtain a collimation lens with appropriate lens strength and power.

その位置が定められる。Its position is determined.

これに対して、電極Ｇ５と０６のギャップ部のうち、２
工〜Ｉ１４の部分は、電極Ｇ６に近づけられる。On the other hand, in the gap between electrodes G5 and 06, 2
The portion from I14 to I14 is brought close to the electrode G6.

つまシ、ｊ１〜２４の部分において、電極Ｇ５には凸部
が形成され、一方電ｆｆ１ＧａＫは凹部が形成され、対
向するようになされる。第３図は本例におゆる電極Ｇ５
とＧ６の展開図を示すものであシ、第５図例と同様にガ
ラスバルブ（１）の内面にクロム、ニッケル等の金属が
蒸着された後、レーデ−によるカッティングでＡターニ
ングされて形成される。In the portions of the tabs j1 to j24, a convex portion is formed on the electrode G5, and a concave portion is formed on the electrode ff1GaK, so that they are opposed to each other. Figure 3 shows the electrode G5 in this example.
This figure shows a developed view of G6, which is formed by depositing metals such as chromium and nickel on the inner surface of the glass bulb (1) and then A-turning it by laser cutting, as in the example in Figure 5. Ru.

尚、電極Ｇ６に近づける距離ｄ２は、棒　管において、
電極Ｇ６の幅ｄ１が例えば２．８１１であるとき、Ｑ、
４１Ｉｍ糧度とされる。In addition, the distance d2 to approach the electrode G6 is as follows in the rod tube.
When the width d1 of the electrode G6 is, for example, 2.811, Q,
41 Im food grade.

本例は以上のように構成され、その他は第５図例と同様
に構成される。This example is constructed as described above, and the rest is the same as the example shown in FIG.

本例においては、電極Ｇ５と０６′のギャップ部のうち
、有効画面Ｐｅの四すみに対応するＲ１〜Ｉ１４の部分
のみメツシュ状電極ＧａＫ近づけられるので。In this example, out of the gap between the electrodes G5 and 06', only the portions R1 to I14 corresponding to the four corners of the effective screen Pe are brought close to the mesh-like electrode GaK.

コリメーションレンズのうち、有効画面ｐｅの四すみに
対応する部分のみレンズ強度が上げられる。The lens strength of only the portions of the collimation lens corresponding to the four corners of the effective screen pe is increased.

そのため、第４図に示すように、疑似ｆｌ　１０は有効
画面ｐｅの四すみに対しても、その外側位置に発生する
ようになる。ｔＪｃ４図において、破線は、従来の発生
位置を示している。Therefore, as shown in FIG. 4, the pseudo fl 10 occurs outside the four corners of the effective screen pe. In the tJc4 diagram, the broken line indicates the conventional generation position.

このように本例によれば、有効画面Ｐ６内で疑似像１１
）が発生しないので、疑似像ＩＤＥよる画質劣化が防止
される。また、コリメーションレンズのうち有効画面Ｐ
、の四すみに対応した部分のみレンズ強度が上げられる
ので、ランディングエラーはわずかに有効画面Ｐｅの四
ずみに生じ、画質劣化が少ない。In this way, according to this example, the pseudo image 11 within the effective screen P6
) does not occur, so image quality deterioration due to pseudo-image IDE is prevented. Also, the effective screen P of the collimation lens
Since the lens strength is increased only in the portions corresponding to the four corners of , , the landing error slightly occurs in the four corners of the effective screen Pe, and there is little deterioration in image quality.

尚、上述実施例はガラスバルブ（１）の内面に蒸着で電
極を形成した例であるが、これに限定されるものでなく
、例えば円筒状の金属で電極が構成されるものにも同様
に適用することができる。Although the above embodiment is an example in which the electrodes are formed by vapor deposition on the inner surface of the glass bulb (1), the invention is not limited to this, and the electrodes may be made of cylindrical metal, for example. Can be applied.

また、上述実施例はＳ−８型の撮像管に適用した例であ
るが、他の型の撮像管においても、同様の疑似像が発生
するときには１本発明を適用して同様に解決することが
できる。Further, although the above embodiment is an example applied to an S-8 type image pickup tube, if similar pseudo images occur in other types of image pickup tubes, the present invention can be applied to solve the same problem. I can do it.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上述べた本発明によれば、有効画面内で疑似像が発生
しないので、疑似像による画質劣化が防止される。しか
も、ランディングエラーはわずかに有効画面の四すみに
生じ、２ンｒイングエラーによる画質劣化が少ない。According to the present invention described above, since no false images occur within the effective screen, image quality deterioration due to false images is prevented. Furthermore, landing errors occur only slightly in the four corners of the effective screen, and there is little deterioration in image quality due to second landing errors.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第１図は本発明の一実施例の要部の斜視図、第２図〜第
４図は一実施例の説明の丸めの図、ｗｃｓ図は撮像管の
一例の断面図、第６図及び第７図はその説明のための図
、第８図〜第１０図は疑似像の説明のための図、第１１
図はランディングエラーの説明のための図である。FIG. 1 is a perspective view of a main part of an embodiment of the present invention, FIGS. 2 to 4 are rounded diagrams illustrating the embodiment, WCS diagram is a sectional view of an example of an image pickup tube, and FIGS. Figure 7 is a diagram for explaining the pseudo image, Figures 8 to 10 are diagrams for explaining the pseudo image, and Figure 11 is a diagram for explaining the pseudo image.
The figure is a diagram for explaining a landing error.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 ターゲット面の直前に形成されるコリメーションレンズ
のうち、 有効画面の四すみに対応する部分のレンズ強度を、他部
分のレンズ強度より上げたことを特徴とする撮像管。[Claims:] An image pickup tube characterized in that, of a collimation lens formed just in front of a target surface, the lens strength of the portions corresponding to the four corners of the effective screen is made higher than the lens strength of other portions.