JPS61269352A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPS61269352A
JPS61269352A JP11035185A JP11035185A JPS61269352A JP S61269352 A JPS61269352 A JP S61269352A JP 11035185 A JP11035185 A JP 11035185A JP 11035185 A JP11035185 A JP 11035185A JP S61269352 A JPS61269352 A JP S61269352A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
full wafer
wafer
full
package
Prior art date
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Pending
Application number
JP11035185A
Other languages
English (en)
Inventor
Chiyoshi Kamata
千代士 鎌田
Kanji Otsuka
寛治 大塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP11035185A priority Critical patent/JPS61269352A/ja
Publication of JPS61269352A publication Critical patent/JPS61269352A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は半導体装置、特に、%異な構造を備えた半導体
モジー−ルに関する。
〔背景技術〕
近時、電子回路ユニットはシステム機能の増大化にとも
なって、増々高密度、多機能化の方向にある。
LSIチップの機能の増大にともなってチップから引出
すリード数も多くなってきている。
LSIの1チツプ内圧すべての要求機能を収容すること
は困難な場合が多いため、実装密度を上げる手段として
、基板上に数多くのICを搭載し、1つのパッケージに
したマルチチップ方式が多く行なわれている。
しかし、従来のかかるマルチチップ方式は、数多くのI
Cを搭載するため、組立工数が急激に増加するし、ビン
数も増加せざるを得ないし、また、実装密度も低いもの
にとどまるなど未だ光分なものとはいえない。
なお、マルチチップ化について詳しく述べている文献の
例として工業調査会1980年1月15日発行1’−I
C化実装技術jp145〜146及び226〜229、
工業調査会発行「電子材料」第23巻第9号p50〜5
5並びに日経マグロウヒル社発行「日経エレクトロニク
スJm253(1980)p68〜70がある。
〔発明の目的〕
本発明はかかる技術的背景の下新規な構造を有し、高密
度大モジエール化が可能で、パッケージ実装密度が高く
、組立工数が低減され、放熱効率が高く、高信頼性の半
導体装置(モジエール)を提供することを目的とする。
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、本発明半導体装置は、各基板に固着された各
フルウェハLSIを上下に向い合わせに接合し、パッケ
ージ両面に入出力配線リードを配し、キャップを取付け
、ハーメチック封止を行って成る構造となしたもので、
クエハ同志の接合であるため従来のマルチチップに比し
て工程数が低減され、高密度大モジエール化が可能で、
パッケージ笑装密度が高くなり、パッケージ両面に入出
力配線リードを配したので入出力信号をパッケージ両面
から取り出すことができ、かつ、パッケージ両面から放
熱することができ放熱効率が高く、また、その構造上フ
ルウェハLSIの接合の信頼度も高いなどの利点を有す
る半導体モジュールが得られた。
〔実施例〕
次に、本発明を、実施例に示す図面に基づいて説明する
第1図は本発明の実施例を示す断面図、第2図は、同平
面図である。なお、第1図は第2図1−111に沿う断
面を示す。
基板1上に接着剤2によりフルフェノ・3を固着する。
同様の構造よりなる基板4に接着剤5によりフルウェハ
6が固着されたものを用意し、前記フルウェハ3と当該
フルウェハ6とを上下に向い合せにボンディングする。
このボンディングは周知のCCB (コントロールコラ
ップス・ボンディング)7技術により行うことができる
。このボンディングにより、基板1上にフルウェハ3が
固着され、該フルウェハ3上にフルウェハ6が向い合せ
にボンディングされ、該フルフェノ・6上に基板4が載
置された構造となる。各基板1及び4の両端部には、上
面から側面、さらに、底面にかけて、リード8を金属の
メッキ、蒸着技術などにより形成してあり、基板1の上
面のリード部9の端部と当該基板1上にマウントされた
フルウェハ3のパッド(図示せず)とをコネクタワイヤ
lOにより電気的に接続する。これにより、フルフェノ
S3の入出力信号が基板1の裏面のリード部から取り出
しすることができるようになっている。
一方、基板4の表面に固着されたフルフェノ・6につい
ても、該ウェハ6のパッド(図示せず)と基板4の表面
に形成されたリード部12の端部とをコネクタワイヤ1
0により電気的に接続し、上記フルウェハ3と同様に、
該ウェノ・6の入出力信号を基板4の裏面リード部13
により取出しすることができるようにする。このようK
して形成されたパッケージ14の端部に、第2図に示す
ように4分割されたキャップ部材15,16.17゜1
8を取付け、これらキャップ部材15〜18と各基板1
及び4との間にできる空間(すきま)にシーリング材1
9を充填し、ハーメチックシールする。各キャップ15
〜18には、第1図に示すよ5K、各基板1及び4を支
持できるような溝が形成されており、当該溝内に各基板
1及び4の両端部を嵌合し、前記のごとく空間にシーリ
ング材19を充填し、4分割された各キャップ15〜1
8をリング状に集合させ、第2図に示すような円形形状
のキャップ20を形成する。
本発明においては、パッケージ140基板1の上面に冷
却フィン21を取付けるとよい。尚第2図では該フィン
の図示を省略しである。
本発明における各フルウェハ3及び6は、例えばシリコ
ン単結晶基板から成り、周知の技術によってこのウェハ
内には多数の回路素子が形成され、1つの回路機能が与
えられて跡る。
回路素子の具体例は、例えばMOS)ランジスタから成
り、これらの回路素子によって、例えば論理回路の回路
機能が形成されている。
本発明に使用される基板1及び4は、上記Siフルウェ
ハとの熱膨張係数をマツチングするために、SiCによ
り構成されていることが好ましい。
接着剤2及び5も同様の理由からSi系ゴムやゲル接着
剤を使用することが好ましい。
入出力配線リード8は、例えばタングステンにより構成
されている。
コネクタワイヤ10は例えばA!線やAu線より成る。
キャップ20は、上記基板と同様のSiCにより構成す
ることが好ましい。
シーリング材19は、上記接着剤と同様のSi系ゴムや
ゲルを使用することが好ましい。
〔効果〕
[11本発明によれば高密度大モジュール化が可能とな
った。
(2)本発明によればパッケージ実装が向上し、特に、
本発明パッケージをユニットとして次々と重ねて実装す
ることにより実装密度を飛躍的に向上させることが出来
た。
(31本発明によればウェハ同志の接合である為マルチ
チップモジュールに比べて組立工程を少なくすることが
できた。
(41本発明によれば入出力信号をパッケージ両面から
取り出すことが可能となった。
(5)本発明によればウェハが上下に接合されているの
で、当該接合部の信頼度が高いものとすることができた
(61本発明によれば両面から放熱することができ、放
熱効率を高いものとすることができた。
(71本発明によれば大モジュールが可能で、大型コン
ビエータにも一個ないし二個程度組み込めば足りるとい
う利点ケ有する。
以上本発明者によってなされた発明を実施例にもとづ宮
具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で檻々変更可
能であることはいうまでもない。
例えば、前記実施例ではフルウェハLSIを二個接合す
る例を示したが、二個以上でもよく、また、実施例に示
した装置を一ユニットとして複数個組み合せたものでも
よい。また、ウエノ・に代えてチップでもよい。
また、キャップを四分割する例を示したが、その他二分
割等他の態様でもよい。
さらに、キャップを円形とした例を示したが、角形等地
の形状でもよい。
〔利用分野〕 本発明は各種の半導体モジュールに適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す断面図、第2図は本発明
の実施例を示す平面図である。 1・・・基板、2・・・接着剤、3・・・ウェハ、4・
・・基板、5・・・接着剤、6・・・ウェハ、7・・・
CCB、8・・・リード、9・・・リード部、10−・
・コネクタワイヤ、11・・・リード部、12−・・リ
ード部、13−・・リード部、14・・・パッケージ、
15・・・キャップ部材、16・・・キャップ部材、1
7・・・キャップ部材、18・・・キャップ部材、19
・・・シーリング材、20・・・キャップ。 第  1  図 第  2  図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、複数の半導体ウェハ又はチップを上下に向い合せに
    接合してなる構造を有し、パッケージ両面に入出力配線
    リードを有し、かつ、キャップにより、前記ウェハ又は
    チップを固着している基板を支持し、封止して成ること
    を特徴とする半導体装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の装置において、放熱フ
    ィン又はスタッドをパッケージに取付してなることを特
    徴とする、特許請求の範囲第1項記載の半導体装置。
JP11035185A 1985-05-24 1985-05-24 半導体装置 Pending JPS61269352A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11035185A JPS61269352A (ja) 1985-05-24 1985-05-24 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11035185A JPS61269352A (ja) 1985-05-24 1985-05-24 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61269352A true JPS61269352A (ja) 1986-11-28

Family

ID=14533561

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11035185A Pending JPS61269352A (ja) 1985-05-24 1985-05-24 半導体装置

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JP (1) JPS61269352A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5150196A (en) * 1989-07-17 1992-09-22 Hughes Aircraft Company Hermetic sealing of wafer scale integrated wafer
US7112468B2 (en) 1998-09-25 2006-09-26 Stmicroelectronics, Inc. Stacked multi-component integrated circuit microprocessor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5150196A (en) * 1989-07-17 1992-09-22 Hughes Aircraft Company Hermetic sealing of wafer scale integrated wafer
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