JPS61208138A - Test system for microprocessor device - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To display a test result on a display means by taking a test in response to an indication from an input means according to a test program stored in a microprocessor. CONSTITUTION:The item number and start of a test are inputted with KEY 2. The microprocessor CTL1 detects the item number of the test according to the order of the KEY 2 and the address of the program is set in the starting address of the ROM 6 in an external testing device ETST 5. The ROM 6 starts the test program under microprogram control to test a specified position of the CTL1, and the result of a normal end of abnormal end is reported as data to the CTL1, which displays the result on a display device DSP 3 as 'GOOD' or 'NO GOOD'.

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明は、マイクロプロセッサを使用して種種の制御
を行う制御装置（以下、マイクロプロセッサ装置という
）の試験方式に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a test method for a control device (hereinafter referred to as a microprocessor device) that uses a microprocessor to perform various types of control.

（従来の技術） 従来、マイクロプロセッサ装置の試験方式としては、主
に２つある。第１の試験方式は、マイクロプロセッサ装
置の外部に、試験用データを入力するための入出力装置
および入出力装置からマイクロプロセッサ装置へ試験用
データを入力する命令を入力するキーボードを用意し、
他方マイクロプロセッサ装置の内部に入出力装置および
キーボードとのインタフェース回路を予め組み込んでお
く構成である。試験結果は、入出力装置から得られる。(Prior Art) Conventionally, there are mainly two methods for testing microprocessor devices. In the first test method, an input/output device for inputting test data and a keyboard for inputting commands for inputting test data from the input/output device to the microprocessor device are prepared outside the microprocessor device.
On the other hand, this is a configuration in which an input/output device and an interface circuit with a keyboard are pre-installed inside the microprocessor device. Test results are obtained from the input/output device.

また、第２の試験方式は、試験用プログラムを予めマイ
クロプロセッサ装置内の読出し専用メモリ（以下、ＲＯ
Ｍという）に書き込んでおき、ＲＯＭに格納された試験
用プログラムに基づきマイクロプロセッサの指示により
試験を行う構成である。第２の試験方式における試験結
果は、例えば通常マイクロプロセッサ装置に設けられて
いる表示手段（例えば、液晶ディスプレイ等）に表示さ
れる。試験の結果、マイクロプロセッサ装置が正常であ
れば例えば“ＧＯＯＤ”と表示され、異常であれば“Ｎ
ｏ　　ＧＯＯＤ”と表示される。In the second test method, the test program is stored in a read-only memory (hereinafter referred to as RO) in the microprocessor device in advance.
The configuration is such that a test is performed according to instructions from a microprocessor based on a test program stored in a ROM. The test results in the second test method are displayed, for example, on a display means (eg, a liquid crystal display, etc.) normally provided in a microprocessor device. As a result of the test, if the microprocessor device is normal, for example, "GOOD" will be displayed, and if it is abnormal, "N" will be displayed.
o GOOD” is displayed.

（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、上記従来の試験方式にあっては、以下の
問題点を有する。上記第１の試験方式では、マイクロプ
ロセッサ装置の外部に入出力装置およびキーボードを設
ける必要があり、他方内部に入出力装置およびキーボー
ドとのインタフェース回路が必要であるため、大規模な
ものとなるという問題点がある。また、上記第２の試験
方式では、第１の試験方式よりはコンパクトなものとな
るが、マイクロプロセッサ装置ごとに専用のＲＯＭが必
要であって不経済であり、またこのＲＯＭを実装するた
めの実装領域が必要となるという問題点がある。(Problems to be Solved by the Invention) However, the conventional test method described above has the following problems. In the first test method, it is necessary to provide an input/output device and a keyboard outside the microprocessor device, and an interface circuit with the input/output device and keyboard is required inside the device, so it is said to be large-scale. There is a problem. In addition, although the second test method is more compact than the first test method, it is uneconomical because it requires a dedicated ROM for each microprocessor device, and it is difficult to implement this ROM. There is a problem that a mounting area is required.

従って、この発明はこれらの従来技術の問題点を解決す
ることを目的とする。Therefore, the present invention aims to solve these problems of the prior art.

（問題点を解決するための手段） この発明は、情報を入力する入力手段と情報を表示する
表示手段とを有し、マイクロプロセッサで制御されるマ
イクロプロセッサ装置を対象とする。この発明によれば
、このマイクロプロセッサ装置に前記マイクロプロセッ
サとのインタフェース用コネクタを設け、該インタフェ
ース用コネクタに前記マイクロプロセッサ装置を試験す
るための試験用プログラムを格納するメモリを有する外
部試験装置を接続する。そして、試験は入力手段から入
力された情報に基づき前記マイクロプロセッサにより前
記試験用プログラムを実行し、試験結果を前記表示手段
に表示させることにより行なわれる。(Means for Solving the Problems) The present invention is directed to a microprocessor device that has input means for inputting information and display means for displaying information, and is controlled by a microprocessor. According to this invention, the microprocessor device is provided with a connector for interfacing with the microprocessor, and an external test device having a memory storing a test program for testing the microprocessor device is connected to the interface connector. do. The test is carried out by executing the test program by the microprocessor based on information input from the input means and displaying the test results on the display means.

（作　用） この発明により設けられるインタフェース用コネクタは
、マイクロプロセッサ装置内に設けられるマイクロプロ
セッサと外部試験装置内に設けられるメモリとを接続す
る作用をもつ、そして、入力手段からの所定の指示によ
り、マイクロプロセッサはメモリ内に格納されている試
験プログラムに従ってマイクロプロセッサ装置を試験し
、表示手段に表示させる。(Function) The interface connector provided in accordance with the present invention has the function of connecting a microprocessor provided in a microprocessor device and a memory provided in an external test device, and has the function of connecting a microprocessor provided in a microprocessor device to a memory provided in an external test device. , the microprocessor tests the microprocessor device according to a test program stored in the memory and causes the display means to display the result.

（実施例） 以下、この発明を一実施例に基づき図面を参照して詳細
に説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail based on an example with reference to the drawings.

添付図面はこの発明の一実施例を示す図である。同図に
おいて、マイクロプロセッサを使用した制御装置、すな
わちマイクロプロセッサ装置（以下、ＣＴＬという）ｌ
には、０〜９までの数字に対応する１０個のキー（以下
、ＫＥＹという）２、“’ＧＯＯＤ”　、“Ｎｏ　　Ｇ
ＯＯＤ”、Ｏ〜９の数字等を表示する表示装置（以下、
ＤＳＰという）３、および図示しないマイクロプロセッ
サのアドレスバス、データバス、電源供給用線を収容す
る外部とのインタフェース用コネクタ（以下、Ｃ０ＮＮ
という）４が実装されている。ＣＴＬＩを試験する外部
試験装置（以下、ＥＴＳＴという）５には、ＣＴＬ装置
ｌを試験するための試験用プログラムおよびデータを格
納する読出し専用メモリ（以下、ＲＯＭという）６、お
よびＣ０ＮＮ４と接続されアドレスバス、データバス、
電源供給用線を収容するコネクタ付ケーブル（以下、Ｃ
ＢＬという）７及び電源用のヒユーズ（図示しない）が
実装されている。The accompanying drawings are diagrams showing one embodiment of the present invention. In the figure, a control device using a microprocessor, that is, a microprocessor device (hereinafter referred to as CTL)
There are 10 keys (hereinafter referred to as KEY) corresponding to numbers 0 to 9 2, "'GOOD", "No G
OOD”, a display device that displays numbers from O to 9 (hereinafter referred to as
DSP) 3, and an external interface connector (hereinafter referred to as C0NN) that accommodates the address bus, data bus, and power supply line of the microprocessor
) 4 has been implemented. An external test device (hereinafter referred to as ETST) 5 that tests the CTLI includes a read-only memory (hereinafter referred to as ROM) 6 that stores test programs and data for testing the CTL device 1, and is connected to C0NN4 and has an address. bus, data bus,
Cable with connector (hereinafter referred to as C) that accommodates the power supply line
BL) 7 and a power supply fuse (not shown) are mounted.

次に、動作について説明する。Next, the operation will be explained.

オペレータはＣＴＬＩの電源断の状態でＣ０ＮＮ４とＣ
ＢＬ７を接続した後、ＣＴＬＩの電源を投入する。オペ
レータはＣＴＬ　ｌの電源が投入され初期状態を確認後
ＫＥＹ２を使用し、試験項番、試験開始を入力する。Ｃ
ＴＬＩのマイクロプロセッサはＫＥＹ２の押された順で
試験項番、試験開始を検出し、プログラムのアドレスを
ＥＴＳＴＳ内のＲＯＭ６の該当試験用プログラムの先頭
番地に設愛する。ＲＯＭ６はマイクロプログラム制御の
ちとに試験用プログラムを開始し、ＣＴＬｌの指定箇所
の試験を行い、正常終了または異常終了の結果をデータ
としてＣＴＬＩへ報告する。The operator must connect C0NN4 and C with the CTLI power off.
After connecting BL7, turn on the power to CTLI. After the operator turns on the CTL l and confirms the initial state, the operator uses KEY2 to input the test item number and test start. C
The TLI microprocessor detects the test item number and test start in the order in which KEY2 is pressed, and sets the program address to the start address of the corresponding test program in ROM6 in the ETSTS. The ROM 6 starts the test program after microprogram control, tests the designated portion of the CTLl, and reports the result of normal termination or abnormal termination to the CTLI as data.

ＣＴＬｌはＲＯＭ６から受信したデータにより、その結
果を“ＧＯＯＤ”または“Ｎｏ　　ＧＯＯＤ”等の表示
としてＤＳＰ３へ表示する。尚、オペレータはＫＥＹ２
を定められた順で押すことによリ、設計された試験用プ
ログラムの任意の項番の試験、実行、終了を入力できる
。また、オペレータがＫＥＹ２により試験終了を入力す
ることで、実行されるプログラムは試験用プログラムか
らＣＴＬＩの自プログラムにもどされる。更に、この動
作を行うために、ＣＴＬＩにはＫＥＹ２の押下順に試験
の開始、試験項番を検出してＲＯＭ８の該当番地ヘジャ
ンブさせるプログラム、ＲＯＭ６からのデータを受信し
試験結果を表示させるプログラム、および試験終了を検
出してＣＴＬｌの自プログラムへ戻るプログラムが追加
されるだけでよい。Based on the data received from the ROM 6, the CTLl displays the result on the DSP 3 as a display such as "GOOD" or "No GOOD". In addition, the operator is KEY2
By pressing in the prescribed order, you can input the test, execution, and termination of any item number of the designed test program. Further, when the operator inputs the end of the test using KEY2, the program to be executed is returned from the test program to the CTLI's own program. Furthermore, in order to perform this operation, the CTLI includes a program that starts the test in the order in which KEY2 is pressed, a program that detects the test item number and jumps to the corresponding address in ROM8, a program that receives data from ROM6 and displays the test result, and It is only necessary to add a program that detects the end of the test and returns to CTLl's own program.

以上、この発明を一実施例に基づき説明した。The present invention has been described above based on one embodiment.

この実施例ではＲＯＭ６の電源はＣＴＬＩから供給され
る構成であったが、これに代えてＥＴＳＴｓ内にバッテ
リーを設けた構成としてもよい。In this embodiment, the power for the ROM 6 is supplied from the CTLI, but instead of this, a battery may be provided in the ETSTs.

（発明の効果） 以上説明したように、この発明によれば、以下の効果が
得られる。(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, the following effects can be obtained.

（ａ）試験の開始等の情報および試験結果の出力のため
に専用の外部入出力装置を必要としない。(a) A dedicated external input/output device is not required for outputting information such as test start and test results.

（ｂ）外部試験装置としては基本的にメモリのみを有す
る構成なので、極めてコンパクトで簡単なものとなる。(b) Since the external test device basically has only a memory, it is extremely compact and simple.

（ｃ）上記（ｂ）の効果に起因し、外部試験装置は簡単
に可搬することができ、現地で即マイクロプロセッサ装
置の試験ができる。(c) Due to the effect of (b) above, the external test device can be easily transported, and the microprocessor device can be tested immediately on site.

（ｄ）試験用プログラムを外部試験装置のメモリに格納
しておくだけで、複数の同一タイプのマイクロプロセッ
サ装置を試験することができる。(d) A plurality of microprocessor devices of the same type can be tested simply by storing a test program in the memory of an external test device.

また、試験内容の追加、変更等は外部試験装置のメモリ
の内容を変更するだけで対処できる。Furthermore, additions to, changes to, etc., test contents can be handled by simply changing the contents of the memory of the external test device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

添付図面はこの発明の一実施例を示す図である。 ｉ−ｍ−マイクロプロセッサ装置（ＣＴ　Ｌ）、２−−
−キー（ＫＥＹ）、 ３−ｍ−表示装置（Ｄ　Ｓ　Ｐ）、 ４−−−インターフェース用コネクタ（ＣＯＮＮ）５−
ｍ−外部試験装置（ＥＴＳＴ）、 ６−−−読出し専用メモリ（ＲＯＭ）。 特　　許　　出　　願　　人 沖電気工業株式会社 特許出願代理人The accompanying drawings are diagrams showing one embodiment of the present invention. i-m-microprocessor device (CTL), 2--
-Key (KEY), 3-m-Display device (DSP), 4--Interface connector (CONN) 5-
m--external test equipment (ETST); 6--read-only memory (ROM); Patent Application Hitoki Electric Industry Co., Ltd. Patent Application Agent

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 情報を入力する入力手段と情報を表示する表示手段とを
有し、マイクロプロセッサで制御されるマイクロプロセ
ッサ装置において、該マイクロプロセッサ装置に前記マ
イクロプロセッサとのインタフェース用コネクタを設け
、該インタフェース用コネクタに前記マイクロプロセッ
サ装置を試験するための試験用プログラムを格納するメ
モリを有する外部試験装置を接続し、前記入力手段から
入力された情報に基づき前記マイクロプロセッサにより
前記試験用プログラムを実行し、試験結果を前記表示手
段に表示させることを特徴とするマイクロプロセッサ装
置の試験方式。In a microprocessor device that is controlled by a microprocessor and has input means for inputting information and display means for displaying information, the microprocessor device is provided with a connector for interfacing with the microprocessor, and the interface connector is provided with a connector for interfacing with the microprocessor. An external test device having a memory storing a test program for testing the microprocessor device is connected, the test program is executed by the microprocessor based on information input from the input means, and the test results are obtained. A testing method for a microprocessor device, characterized in that the display means displays information.