JPS61174539A - 写真焼付装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の劇用分析〕 本発明は写Ｘ焼付装置、特に測光機構に特徴を有する写
真焼付装置に関するものである。

〔従来の＆術〕

一奴に写真の形成においては、撮影済のフィルムを現像
してネガフィルムを得た後に、このネガフィルムの像を
印画紙に焼付ける焼付工程が必要とされる。この焼付工
程においては１通常、Ｒ終的に得られる写真が適正な色
相及び適正な濃度を有するものとなるように、＃８付け
を行なう前にネガフィルムの透過光量を測定し、この測
定結果に基いてカットフィルター及びシャッターの動作
を制御して適正な焼付、を行なうようにしている。

従来においては、焼付光路をさまたけないように結像レ
ンズの周囲に測光素子を複数個固定配置してなるＬＡＴ
Ｄ測光機構を設け、これらの測光素子により斜め下方か
らネガフィルムの透過光のブルー成分、グリーン成分、
レッド成分の光量をそれぞれ欄足し、この測定結果に基
いて８ｍのカットフィルター即ちイエローのカットフィ
ルター。

マ（ン夕のカットフィルター、シアンのカットフィルタ
ーのうちから選択されたカットフィルターを焼付光路へ
挿入し、かつ露光量を規制するシャッターを測定結果に
基いて設定された時間だけ開いてネガフィルムの投影像
を印画紙に焼付けるようにし九構成の写真焼付装置が知
られている。しかしながら、このような装置においては
、ブルー成分、グリ−／成分、レッド成分の平均値を測
光する積分中性方式を採用したものであるため、写真に
おける色相及び裏皮を十分に適正なものとするためには
、さらにオペレータによるネガフィルムの目視判定を必
要とし、このため焼付の自動化を達成することができず
不便である問題点を有している。

このようなことから、近年ネガフィルムス千ヤナーと称
される測光ａ構を採用することが研究開発されている。

このネガフィルムス千ヤナーは。

焼付用光源とは別個に測光用光源を設け、この測光用光
源の光路中に測光光学系を配置し、前記測光用光源と測
光光学系との間でネガフィルムを移動走査しながら、測
光光学系によシネガフイルムの分割された微小領域毎の
透過光量を測定し、これによシ得られた微小領域毎の測
定値を演算してカットフィルターの選択及びシャッター
の開時間の設定を行なうようにしたものである。このよ
うな測光機構によればオペレータによるネガフィルムの
目視判定を必要とせず適正な焼付処理が可能である。　
　゛ 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかるに最近においては、カメラ店などの末端業者にお
いて写真の形成を容易に行なうことができるような低コ
ストで簡単な構成の写真焼付装置の出現が強く望まれる
ようになつ−で、き、てい、る。Ｌしかしながら、上記
の如きネガフィルムス千ヤナーと称される測光機構を採
用した写真焼付装置においては、焼付用光源の他に専用
の測光用光源を必要とするため装置が高価で複雑となる
うえ、測光用光源が焼付用光源とは別個のものであるの
で、測定結果に基いて制御された条件で焼付処理が行な
われたのにも拘わらず得られた写真においては色相或い
は良度が必ずしも適正なものとはならない、とい２問題
点を肩している。

〔発明の目的〕

本発明は以上の如き事情に基いてなされたものであって
、その目的は、簡単な構成でしかも適正な条件で確実に
焼付処理を行々うことができる写真焼付装置を提供する
ことにある。

〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明写真焼
付装置は、焼付用光源と、焼付にかかるネガフィルムの
透過光量を測定する測光機構と、この測光機構による測
定結果に基いて前記焼付用光源からの元の波長特性を制
御するカットフィルター群と、前記測光機構による測定
結果に基いて印画紙の無光量を制御するシャッター機構
とを具えてなり、前記側光機構は、前記焼付用光源から
前記印画紙に至る焼付光路を横断するようネガフィルム
に対して移動走査され、前記焼付光路外に退出した位置
とされ九後焼付が行なわれることを％黴とする。

斯かる構成によれば、測光の丸めの専用の光源が不要で
るって構成が簡単となり、しかも実際に焼付に用いる焼
付用光源よりの光によるネガフィルムの透過光量をネガ
フィルムの微小領域毎に測定して焼付条件を設定するた
め適正な条件で確実に焼付処理を行なうことができて良
好な１ｉｎｔ實の写真を得ることが可能となる。

〔実施例〕

以下本発明の一実施例を詳細に説明する。

第１図は写真焼付装置の概略を示す説明図であり、１は
焼付用光源でロシ、この光源１の背後には可視光反射鏡
１１が配置されている。２は防熱ガラスであシ、光源１
よシの光のうち熱線部分の透過を抑制してネガフィルム
の焼損を防止する。

８はカットフィルター群であシ１例えばイエロー光成分
をカットするイエローカットフィルター８１と、マ補ン
タ光成分をカットするマゼンタカットフィルター８２と
、シアン光成分をカットするシアンカットフィルター８
３とよりなシ、これらのカットフィルターはそれぞれ電
磁ソＩｐイド８１１゜８２１．８８１によシ焼付党路中
に進退自在に設けられておシ、後述する測光機構による
測定結果に基いて選択されたカットフィルターが焼付時
に焼付光路中に介挿される。４はミラートンネルでちゃ
、このミラートンネル４は内面が鏡面に構成されておシ
、カットフィルターを透過した後の焼付元が、この内部
で反射混合されることにより均一化される。５は拡散板
であり、ミラートンネル４と共に作用してネガフィルム
の照明ムラを防止する。

Ｆは焼付にかかるネガフィルムでアシ、このネガフィル
ムＦは拡散板５の直後に配置される。６は焼付にかかる
ネガフィルムＦの透過光量を測定する側光機構であシセ
の詳細は後述する。７は結像用光学系でめシ、ネガフィ
ルムＦの投影像を焼付位置に配置された焼付用印画紙Ｐ
に結像させる九めのものでおる。８は焼付光路を遮断す
るための７ヤツタ一機構であシ、シャッター板８１と、
このシャッター板８１を焼付光路中に進退自在に移動せ
しめるための電磁ソヒノイド８２とよルなる。

このシャッター板８１嬬通常は焼付光路中に進入されて
いて当該焼件光路を遮断しておシ、焼付時においては一
１光機１１１６による測定結果に基いて設定され要時間
だけ焼付光路から退出して印１１厭Ｐの露光量を制御す
る。

前記測光機構６は、第２図に詳細に示すように。

全反射ミラー６１と、第１のレン／ｅ群６ｚと、第２の
レンズ群６８と、フィルタ一群６４と、受光素子群６５
と、移動走査機構９とよりなる。全反射ミラー６１はミ
ラー取付台６１１に焼付光路の軸に対してはぼ４５度の
角度に傾いた状態で取付けられておシ、ミラー取付台６
１１は、移動走査機構９のスライド板９１　Ｋ！Ｅｌ定
されている。第１のレンズ群６２は８つの帯状のし／ズ
６ｚ１゜ｓｚｇ、ｓｚｓよシなシ、レンズホル／−６２
４内において、全反射ミラー６１０反射光路と直角方向
に一列に並んだ状態で保持されておシ、レンズホルダー
６２４は前記スライド板９１に固定されている。６２５
，６２６はし／ズ仕切板である。第２のレンズ＃６３は
８つの帯状し／ズ６１３１，６８２゜６８３　よシなシ
、これらのし７ズがそれぞれ第１のレンズ群６ｚのレン
ズ６２１，６２２，６２８よりの光を受けるようホルダ
ー６８４内に一列に並んだ状態で保持されてお９．ホル
ダー６８４は前記スライド板９１に固定されている。フ
ィルタ一群６４は、主としてブルー系統の光を透過する
帯状のゾルー系フィルター６４１と、主としてグリーン
系統の光を透過する帯状のグリーン系フィルター６４２
と、王としてレッド系統の光を透過する帯状のレッド系
フィルター６４８とよシ表）、これらのフィルター６４
１，６４１６４３はそれぞれ前Ｅレンズ６３１，６８２
．６８ｆ３の直後に位置するよう前記ホルダー６８４内
に保持されている。受光素子群６５は、８つの帯状の受
光素子６５１゜６５２．６５８よりなシ、これらの受５
を素子はそれぞれ前記フィルター６４１，６４２，６４
３のＯＮ後に位置するよう前記ホルダー６８４内に保持
されている。これらの受光素子６５１，６５２１．６５
８は例えばホトダイオードアレイよりなりその受光部の
長さく第２Ｉ図において紙面に直角方向の長さ）はネガ
フィルムＦの画諏部よプの透過光のうち輪方向（第２図
において紙面に直角方向の長さ）全体に伸びる帯状領域
からの透過光を一度に受光し得る長さとされる。具体的
に説明すると、第８図に示すように、ネガフィルムＦに
おける１コマの画像部Ｆ１を幅方向（以下「Ｙ方向」と
いう。）に沿ってｍ行に分割し、かつ画像１１ｓＦ１の
長さ方向（以下「Ｘ方向」という。）に沿ってｎ列に分
割して０合計量Ｘｎ個の微小領域ΔＳに区画し、受光素
子６５１．６５Ｂ、６５８ｆ）各々においては、１列中
に含まれる微小領域の数即ちｎ個の各々に対応するよう
各受光部ＬＡを一列に配列してなる構成とされる。

移動走査機構９は、前記スライド板９１と、スライドガ
イド９ｚと、スライドガイド取付板９８と、Ａシスモー
タ９４と、動力伝達部１００とよ）なる。動力伝達部１
００は、パルスモータ９４０回転軸に固定した第１のブ
ー！Ｊ　１０１と、この第１のブー！７１０１の回転力
を伝達するベルト１０２と、このベル）　１０ｇから回
転力を受ける第２のプーリ１０Ｂと、この第２のプーリ
１０Ｂに同軸的に遅Ｊｉｉ！固定されたギヤー１０４と
、このイヤー１０４のビニオイに噛合するよう前記スラ
イド板９１の下部に設けたラック１０５とよシなる。

前記スライド板９１はスライドガイド９ｚに摺動可能に
取付けられておシ、パルスモータ９４の正転及び逆転に
よシスライド板９１が焼付光路中に進退自在に移動され
、このスライド板９１の移動に伴ない、前記全反射ミラ
ー６１．第１のレンズ群６２．第２のレンズ群６８．フ
ィルタ一群６４及び受光素子群６５が一体的に移動する
。スライド板９１におけるミラー取付台６１１が固定さ
れている端部側には、スライド板９１が退出したときに
焼付光路を妨げ表いように切欠部９１１が設けられてい
る。

以上の測光機構６は、納置光学系７を保持する光学系保
持台７１に保持されている。

以上の構成の装置によれば次のようにして焼付処理が行
なわれる。まずネガフィルム！をその画像部Ｆ１が拡散
板５の直後の所定位置に位置するようセットする。測光
機構６においてノ９ルスモータ９４を正転させて、全反
射ミラー６１がネガフィルムＦの画像部Ｆ１の先趨部（
第３図において左［１１１１部）の第１列の微小領域か
らの透過光を受光し得る位置までスライド板９１を焼付
光路内に進入させる。次にパルスモータ９４を一定速度
で逆転することによタスライド板９１を焼付光路内にお
いて一定の速度で後退させて、全反射ミラー６１をネガ
フィルムＦの画像部Ｆ１に対してその先端から後端部ま
で移動走査せしめる。この移動走査中においては、全反
射ミラー６１の移動走査に伴ない、第１のレンズ群６２
．第２のレンズ群６Ｂ及びフィルタ一群６４ｔ−介して
受光素子群６５に入射される透過光量が、ネガフィルム
Ｆの画像部Ｆｌの第１列の微小額域に対応するものから
第ｎ列の微小領域に対応するものに至るまで順次変化す
るので、受光素子群６５において画像部Ｆ１の各微小領
域ΔＳ毎にそれぞれブルー糸、グリーン系及びレッド系
光の透過光量を測定することができる。このようにして
画像部の全領域の測光が終了した後は、パルスモータ９
４によシスライド板９１を後退させて測光機構６を焼付
光路外に退出させる。一方受光素子群６５において得ら
れた画像部Ｆ１の透過光量の情報は情報処理装置（図示
せず）によシ演算処理されて焼付条件が設定され、カッ
トフィルター群８においては前記焼付条件に基いて選択
されたカットフィルターがその電磁ソレノイドにより、
焼付光路内に介挿され、そしてシャッター機構８におい
ては前記焼付条件に基いて設定された時間だけシャッタ
ー板８１が七のｘｉミソレノイドより焼付光路外に退出
されて。

このときネガフィルムＦの画像部Ｆ１の投影像が印１Ｉ
ｉＩＩ紙Ｐに焼付けられる。

以上において受光素子６５１，６５２，６５３の各々に
おける受光部ＬＡの数は、ネガフィルムＦの画像部にｌ
のＹ方向の分割数以上であればよいが。

測光に必要な微小領域ΔＳの面積は１画像部ｐ１の面積
の大小により変化するものであることから。

測光磯ｖｌ＃６を画像ｓＦ１の面積の大小によらず共通
に使用可能なものとするためには、最小面積の画像部Ｆ
１に対してＹ方向の必要分割数に対応し得るよう受光部
ＬＡの数を多くするのが好ましい。

そしてこのように受光１１ｓＬＡの数を多くする場合に
おいて、大面積の画像部Ｆ１の測光を行なうときには、
測光に必要な微小領域ΔＳの面積に対応するよう受光部
ＬＡの複数個を金具した透過光量を測定することが好ま
しい。

またこのようないわゆるＩインド測光と共にＬＡＴＤ測
光をも必要とする場合にはポイント測光にお′いて得ら
れ九微小領域毎の透過光量の平均櫨を求めればよく、こ
れにより容易にＬＡＴＤ測光なも達成することができる
。

更にスライド板９１をシャッター板として兼用せしめる
ことも可能であって、この場合には測光時におけるスラ
イド板９１の移動走査終了後、当該スライド板９１を焼
付光路外に退出せしめておく時間が測光結果に基い几設
定時間となるように当該測光結果に基いてパルスモータ
９４の正転及び逆転動作を制御するようにすればよい。

そしてこのような構成とする場合には、専用のシャッタ
ー板及びこのシャッター板駆動用の電磁ソレノイドが不
要となり構成が簡単となる。

以上の構成によれば、測光機構６を焼付光路内において
ネガフィルムに対して移動走査可能にする九め、焼付用
光源１の光を利用しながら測光を行なう、こと、φト”
ｆ：童、、この几め測光用の光源として専用の光源を設
けることが不要となって構成が簡単で低コストとなシ、
シかも測光においては実際に焼付に用いる焼付用光源の
光を利用し、そのうえネガフィルムの透過光量を当該ネ
ガフィルムの微小領域毎に測定する方式によれば測光結
果に基いて制御された条件で焼付処理を行なうことによ
り。

得られる写真の色和及び裏皮を確実に過圧なものとする
ことができる。

〔発明の効果〕

以上＃Ｐ細に説明したように９本発明は、焼付用光源と
、焼付にかかるネガフィルムの透過光量を測定する測光
機構と、この測光機構による測定結果に基いて前記焼付
用光源からの尤の仮＆特性を制御するカットフィルター
群と、前記測光機構による測定結果に基いて印画厭の露
光量を制御するシャッター機構とを具えてなｐ、前記測
光機構は。

前記焼付用光源から前記印画戯に至る焼付光路を横断す
るようネガフィルムに対して移動走査され。

前記焼付光路外に退出した位置とされた後焼付が？Ｔな
われることを特徴とする写真焼付装置でおるから、簡単
な構成でしかも過圧な条件でＷｓ実に焼付処理を行なう
ことができる写真焼付装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は一実施例の概略を示す説明図、第２図は測光機
構の一例を示す説明図、第８図はネガフィルムにおける
分割された微小領域と受光素子との対応関係を説明する
ための説明図である。 １・・・焼付用光源　　　　８・・・カットフィルター
群４・・・ミラートンネル　５・・・拡散板６・・・副
九憬傳　　　　７・・・結像用光学系８・・・シャッタ
ー機構　　　６１・・・全反射ミラー６ｚ・・・第１の
レンズ群　６３・・・第２のレンズ群６４・・・フィル
゛タ一群　　６５・・・受光素子群９・・・移動走査機
構　　　９１・・・スライド板９ｚ　・・・スライドガ
イド　９８　・・・スライドガイド取付板９４・・・パ
ルスモータ　　６１，６５Ｚ、６５Ｂ・・・受光素・子
′ＯＮ工匡互＝匡＝コ 図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １）焼付用光源と、焼付にかかるネガフィルムの透過光
   量を測定する測光機構と、この測光機構による測定結果
   に基いて前記焼付用光源からの光の波長特性を制御する
   カットフィルター群と、前記測光機構による測定結果に
   基いて印画紙の露光量を制御するシャッター機構とを具
   えてなり、前記測光機構は、前記焼付用光源から前記印
   画紙に至る焼付光路を横断するようネガフィルムに対し
   て移動走査され、前記焼付光路外に退出した位置とされ
   た後焼付が行なわれることを特徴とする写真焼付装置。