JPS61169749A - 物品の外面検査方法 - Google Patents
物品の外面検査方法Info
- Publication number
- JPS61169749A JPS61169749A JP60011435A JP1143585A JPS61169749A JP S61169749 A JPS61169749 A JP S61169749A JP 60011435 A JP60011435 A JP 60011435A JP 1143585 A JP1143585 A JP 1143585A JP S61169749 A JPS61169749 A JP S61169749A
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- JP
- Japan
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- comparison circuit
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- circuit
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- comparison
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- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Medical Preparation Storing Or Oral Administration Devices (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は主として錠剤等小型の物品の外面検査方法に関
する。
する。
従来の技術
従来、錠剤等は打錠機により製造された後。
浸透途中にセいて目視により電、割れ、欠け。
印刷汚れ、刻印の良否等の検査を行っている。
しかし人間の直感的判断力は体調、疲労変により変動し
、検査基準が必ずしも一定ではなく。
、検査基準が必ずしも一定ではなく。
かつ非能率的でコスト高となる。これを改善する手段と
してＴＶカメラ等を用いて光学的に検査する方法が擺案
式れている。この方法は、予め標準品をＴＶカメラ等に
て撮影し１表面の映像情報を記憶し１次いで検体を同一
条件にて撮影し、映像情報を比較回路−ζおいて上記標
準映像情報と比較し、良否を判定するものである。
してＴＶカメラ等を用いて光学的に検査する方法が擺案
式れている。この方法は、予め標準品をＴＶカメラ等に
て撮影し１表面の映像情報を記憶し１次いで検体を同一
条件にて撮影し、映像情報を比較回路−ζおいて上記標
準映像情報と比較し、良否を判定するものである。
発明が解決しようとする問題点
この場合１錠剤等は多数連続して高速に慢送され、従っ
て比較判定はきわめて短時間に行う必要がある。しかし
撮像機として例えばＣＣＤ方式の固体撮像素子（以下Ｃ
ＣＤ式撮像機という）を利用した場合、Ｗｉ面を構成す
る画素（転送電極）はきわめて多数（例えば５ｃＩＩｘ
Ｓｅｌｌの画面で約！５万個）配列されている。従って
記憶回路の記憶素子はこれに相当する個数を必要とする
と共に、比較回路も同様にこれに相当する素子を必要と
するものである。しかも比較操作は標準Ｓ＠情報と検体
映像情報とを上記多数の比較素子にインプットし、その
差を検出するようにしたもので、相当の手数を要し１次
の検体の送り込まれるまでのごく短時聞内に処理すルコ
とは、コンピュータを利用するとしてもきわめて困遣で
ある。
て比較判定はきわめて短時間に行う必要がある。しかし
撮像機として例えばＣＣＤ方式の固体撮像素子（以下Ｃ
ＣＤ式撮像機という）を利用した場合、Ｗｉ面を構成す
る画素（転送電極）はきわめて多数（例えば５ｃＩＩｘ
Ｓｅｌｌの画面で約！５万個）配列されている。従って
記憶回路の記憶素子はこれに相当する個数を必要とする
と共に、比較回路も同様にこれに相当する素子を必要と
するものである。しかも比較操作は標準Ｓ＠情報と検体
映像情報とを上記多数の比較素子にインプットし、その
差を検出するようにしたもので、相当の手数を要し１次
の検体の送り込まれるまでのごく短時聞内に処理すルコ
とは、コンピュータを利用するとしてもきわめて困遣で
ある。
本発明はかかる点に１み、高速にて連続して導入される
多数の検体の映像情報を、記憶された標準品情報に対し
、容易に比較判定することを目的とする。
多数の検体の映像情報を、記憶された標準品情報に対し
、容易に比較判定することを目的とする。
問題点を解決するための手段
上記目的を達成するための本発明を実施例に対応する第
１図乃至＠４図に基づいて説明する１、先づ標準品入Ｓ
を撮像用カメラ４（またはＳ）により撮影し、映像信号
をＡ／Ｄ変１１１して記−回路１２にインプットする。
１図乃至＠４図に基づいて説明する１、先づ標準品入Ｓ
を撮像用カメラ４（またはＳ）により撮影し、映像信号
をＡ／Ｄ変１１１して記−回路１２にインプットする。
次いで検体人を撮影し、得られる映像信号をＡ／Ｄ変換
し、該映像信号を比較回路ＩＦＪに印加する。この回路
１匹にはリアルタイム比較回路１Ｇを備え、検体Ａの映
像信号と標準品の映像信号とをリアルタイムで比較する
ことを特徴とするものである。
し、該映像信号を比較回路ＩＦＪに印加する。この回路
１匹にはリアルタイム比較回路１Ｇを備え、検体Ａの映
像信号と標準品の映像信号とをリアルタイムで比較する
ことを特徴とするものである。
作用
両映像信号をリアルタイムで比較するようにしたから、
それぞれの映像は極めて多数の画素から構成されてはい
るが、高速比較が容易であり、従って高速で順次送り込
まれる物品（検体）の測定が確実である。
それぞれの映像は極めて多数の画素から構成されてはい
るが、高速比較が容易であり、従って高速で順次送り込
まれる物品（検体）の測定が確実である。
実施例
第１図以下に示す木実施例は、打＠機から送り出される
錠剤（以下検体という）の外表面の検査に本発明を適用
した例を示す。第！ｒｇ！Ｊに示す検査機１には、対を
なしかつ榴接する吸着ドラムｉ！、ＩＩを備え、それぞ
れの吸着ドラム２゜３には測定すべき検体Ａ及び標準錠
剤（以下標準品という）ＡＳを収納する窪みを備え、吸
引作用によりこの１みに検体Ａまたは標準品Ａｓを吸引
収納するよう−ごしたもので、吸着ドラム２上の検体人
（または、１１１に品ＡＳ）は吸着ドラム８に表裏反転
して移行される。それぞれの吸着ドラム２．１には撮像
用カメラ４．５と瞬間的に投光する光源例えばストロボ
６．１とを対没し、一方のカメラ４及びストロボ６は検
体Ａ（またはｓ準品ＡＳ）の表百を、また他方のカメラ
５ＦＩＬびストロボ１はその裏面を撮影するようにした
ものである。
錠剤（以下検体という）の外表面の検査に本発明を適用
した例を示す。第！ｒｇ！Ｊに示す検査機１には、対を
なしかつ榴接する吸着ドラムｉ！、ＩＩを備え、それぞ
れの吸着ドラム２゜３には測定すべき検体Ａ及び標準錠
剤（以下標準品という）ＡＳを収納する窪みを備え、吸
引作用によりこの１みに検体Ａまたは標準品Ａｓを吸引
収納するよう−ごしたもので、吸着ドラム２上の検体人
（または、１１１に品ＡＳ）は吸着ドラム８に表裏反転
して移行される。それぞれの吸着ドラム２．１には撮像
用カメラ４．５と瞬間的に投光する光源例えばストロボ
６．１とを対没し、一方のカメラ４及びストロボ６は検
体Ａ（またはｓ準品ＡＳ）の表百を、また他方のカメラ
５ＦＩＬびストロボ１はその裏面を撮影するようにした
ものである。
カメラ４．ｇはＴＶカメラ等が中いられるが。
好ましくはＣＣＤ方式の固体撮像素子を用いたカメラを
用いる。このＣＣＤ方式のカメラは画像信号の記憶と取
出しに好都合である。
用いる。このＣＣＤ方式のカメラは画像信号の記憶と取
出しに好都合である。
尚、カメラ纏及び５による検体Ａの良否の判定要領は同
一であり、以下一方のカメラ４による検体人の検査要領
を説明する。
一であり、以下一方のカメラ４による検体人の検査要領
を説明する。
２４１図は本発明の検査方法の概略工程図である。先づ
上記要領にてカメラ４にて標準品Ａｓの表面を撮影し、
映像信号は一時記憶回路１０に記憶されると共に測定範
囲算定回路１１に印加される。一般にカメラにて撮影し
た場合、ｓ！準品（検体も含む）の周縁の映１象波形は
乱れて甘り、従って測定範囲から除嚢することが好まし
い、この測定範囲決定方法は１例えば木発明者が先に小
軸した特願昭！Ｉｍｌｍ−１ｓａｔ号の方法がある。こ
れは撮像の中心点を決定し。
上記要領にてカメラ４にて標準品Ａｓの表面を撮影し、
映像信号は一時記憶回路１０に記憶されると共に測定範
囲算定回路１１に印加される。一般にカメラにて撮影し
た場合、ｓ！準品（検体も含む）の周縁の映１象波形は
乱れて甘り、従って測定範囲から除嚢することが好まし
い、この測定範囲決定方法は１例えば木発明者が先に小
軸した特願昭！Ｉｍｌｍ−１ｓａｔ号の方法がある。こ
れは撮像の中心点を決定し。
これを中心として外周より若干小径とした測定範囲を設
定するようにしたものである。
定するようにしたものである。
第１＋図にセいてｎは測定範囲を示す。この測定範囲Ｂ
内の各１面素の映像信号（電圧）は記憶回路１！に記憶
される。
内の各１面素の映像信号（電圧）は記憶回路１！に記憶
される。
同時に許容範囲演算回路１ｓに映像信号が印加され、各
画素の許容範囲が設定される。これは予め設定された許
容範囲（１！圧差）を設定するものであるが、撮影の１
１漂準品へＳの画面と検体人の画面とが若干ずれること
がある。これを考慮しそのずれの範囲内の各画素の電圧
の最大の差も考慮して決定するもので１以上の各操作は
コンピュータを利用して行われる。
画素の許容範囲が設定される。これは予め設定された許
容範囲（１！圧差）を設定するものであるが、撮影の１
１漂準品へＳの画面と検体人の画面とが若干ずれること
がある。これを考慮しそのずれの範囲内の各画素の電圧
の最大の差も考慮して決定するもので１以上の各操作は
コンピュータを利用して行われる。
次いで検体人を撮影しＡ／Ｄ変換し、映（象信号は比較
回路１６に印加される。この比較回路１６は上記記憶回
路１鵞に記憶された漂準品Ａｓの数値と比較するリアル
タイム比較回路１６と許容範囲比較回路１フとよりなる
。
回路１６に印加される。この比較回路１６は上記記憶回
路１鵞に記憶された漂準品Ａｓの数値と比較するリアル
タイム比較回路１６と許容範囲比較回路１フとよりなる
。
前述の如く検体Ａは高遠変で移行し、検体相互間の測定
時間間隔はきわめて短く、従って通常のコンピュータに
よる比較判定処理即ち記憶回路１２の各画素の記憶情報
を比較回路の素子にインプットすると共に、検体Ａの映
像のこれに相当する位置の画素を選択し、その情報を上
記比較素子にインプットすることは手数を要し。
時間間隔はきわめて短く、従って通常のコンピュータに
よる比較判定処理即ち記憶回路１２の各画素の記憶情報
を比較回路の素子にインプットすると共に、検体Ａの映
像のこれに相当する位置の画素を選択し、その情報を上
記比較素子にインプットすることは手数を要し。
かつ両回を構成する画素数は前述の如く数十万ｇ＋ど及
ぶものであり、相当の時間を要し高速処理には不適当で
ある。
ぶものであり、相当の時間を要し高速処理には不適当で
ある。
従って木発明は、この比較をリアルタイム処・里により
行うようにしたものである。こ＼に云うリアルタイム処
理とは、記憶回路１！からの情報と検体人の映像情報と
を同期して連続して１頃次繰出り、ｍ次判定してその差
を検出するものである。即ち予め定められた特定位置の
画素を基準とし、記憶回路１！の特定画素と検体人の映
像の特定画素とを同期指令回路１８により合致させ、つ
いで両方の画素信号を同期して順次繰出し、リアルタイ
ム比較回路１６に送り込み、該比較回路１ｓ１こセいて
両者の等（電圧差）を判定し１次の許容範囲比較回路１
丁に印加し。
行うようにしたものである。こ＼に云うリアルタイム処
理とは、記憶回路１！からの情報と検体人の映像情報と
を同期して連続して１頃次繰出り、ｍ次判定してその差
を検出するものである。即ち予め定められた特定位置の
画素を基準とし、記憶回路１！の特定画素と検体人の映
像の特定画素とを同期指令回路１８により合致させ、つ
いで両方の画素信号を同期して順次繰出し、リアルタイ
ム比較回路１６に送り込み、該比較回路１ｓ１こセいて
両者の等（電圧差）を判定し１次の許容範囲比較回路１
丁に印加し。
その差が許容範囲内にあるか否か比較される。
これによって検ＫＡの映像の測定範囲Ｂ内の各画素の信
号（ＩＩ圧）の良否を判定し、不良の場合ニは適宜の指
令を発し、あるいは表示灯を点灯する。
号（ＩＩ圧）の良否を判定し、不良の場合ニは適宜の指
令を発し、あるいは表示灯を点灯する。
発明の効果
以上の如く木発明によると意は、漂準品と検体とのそれ
ぞれの映像信号を比較するに当り、ＩＩ ｙルタイムに
より行うようにしたから、その比較は高速を可能とする
ことができ、従って例えば打＠機より高速にて送り出さ
れる鋺剤等の褒面検査にきわめて有効である。
ぞれの映像信号を比較するに当り、ＩＩ ｙルタイムに
より行うようにしたから、その比較は高速を可能とする
ことができ、従って例えば打＠機より高速にて送り出さ
れる鋺剤等の褒面検査にきわめて有効である。
第１図は本発明の外面検査方法の概略工程図。
第！図は検ｆｌｌｌｌの概略説明図、第８図は標準品及
び検体の平面図、第４図はリアルタイムによる比較処理
の説明図である。 ４、Ｉｓは撮像用カメラ、 ！茸は記憶回路。 １＠はリアルタイム比較回路、 人は検体。 ＡＳは雪準品である。 特許出；應大 株式会社 ミューチュＴル他
１名 第１図 第２図
び検体の平面図、第４図はリアルタイムによる比較処理
の説明図である。 ４、Ｉｓは撮像用カメラ、 ！茸は記憶回路。 １＠はリアルタイム比較回路、 人は検体。 ＡＳは雪準品である。 特許出；應大 株式会社 ミューチュＴル他
１名 第１図 第２図
Claims (1)
- 標準品と検体とをそれぞれ撮影し、表面状態を対比し良
否を判別する外面検査方法において、予め標準品を撮像
機により撮影し、標準映像信号をＡ／Ｄ変換し記憶回路
にインプットし、次いで検体を撮影し得られる映像信号
をＡ／Ｄ変化すると共に、該映像信号と上記記憶回路か
らの標準映像信号とを同期して順次取出し、リアルタイ
ムで比較判定することを特徴とする物品の外面検査方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60011435A JPS61169749A (ja) | 1985-01-23 | 1985-01-23 | 物品の外面検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60011435A JPS61169749A (ja) | 1985-01-23 | 1985-01-23 | 物品の外面検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61169749A true JPS61169749A (ja) | 1986-07-31 |
| JPH0544982B2 JPH0544982B2 (ja) | 1993-07-07 |
Family
ID=11778003
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60011435A Granted JPS61169749A (ja) | 1985-01-23 | 1985-01-23 | 物品の外面検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61169749A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0233545A2 (de) * | 1986-02-10 | 1987-08-26 | Nukem GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen von Fehlerstellen in einem Gegenstand |
| JPS63173170A (ja) * | 1987-01-13 | 1988-07-16 | Omron Tateisi Electronics Co | 実装基板検査装置 |
| JPH046404A (ja) * | 1990-04-25 | 1992-01-10 | Seikosha Co Ltd | 画像監視方法 |
| JP2015059810A (ja) * | 2013-09-18 | 2015-03-30 | 株式会社デンソーウェーブ | 外観検査システム |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5160587A (en) * | 1974-11-22 | 1976-05-26 | Toppan Printing Co Ltd | Insatsubutsuno kensasochi |
| JPS59186335A (ja) * | 1983-04-08 | 1984-10-23 | Hitachi Ltd | パタ−ン検査方式 |
-
1985
- 1985-01-23 JP JP60011435A patent/JPS61169749A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5160587A (en) * | 1974-11-22 | 1976-05-26 | Toppan Printing Co Ltd | Insatsubutsuno kensasochi |
| JPS59186335A (ja) * | 1983-04-08 | 1984-10-23 | Hitachi Ltd | パタ−ン検査方式 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0233545A2 (de) * | 1986-02-10 | 1987-08-26 | Nukem GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen von Fehlerstellen in einem Gegenstand |
| JPS63173170A (ja) * | 1987-01-13 | 1988-07-16 | Omron Tateisi Electronics Co | 実装基板検査装置 |
| JPH046404A (ja) * | 1990-04-25 | 1992-01-10 | Seikosha Co Ltd | 画像監視方法 |
| JP2015059810A (ja) * | 2013-09-18 | 2015-03-30 | 株式会社デンソーウェーブ | 外観検査システム |
| US10190989B2 (en) | 2013-09-18 | 2019-01-29 | Denso Wave Incorporated | Method and apparatus for inspecting appearance of object using images picked up under different light quantities |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0544982B2 (ja) | 1993-07-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |