JPS6116028A - 磁気記録媒体およびその製造方法 - Google Patents

磁気記録媒体およびその製造方法

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JPS6116028A
JPS6116028A JP13552884A JP13552884A JPS6116028A JP S6116028 A JPS6116028 A JP S6116028A JP 13552884 A JP13552884 A JP 13552884A JP 13552884 A JP13552884 A JP 13552884A JP S6116028 A JPS6116028 A JP S6116028A
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JP
Japan
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plasma
fluorine
layer
protective film
film layer
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JP13552884A
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English (en)
Inventor
Takashi Kubota
隆 久保田
Fumio Komi
文夫 小海
Tsunemi Oiwa
大岩 恒美
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Maxell Ltd
Original Assignee
Hitachi Maxell Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は磁気記録媒体およびその製造方法に関し、さ
らに詳しくは、耐食性に優れたωり気配録媒体およびそ
の製造方法に関する。
〔従来の技術〕
一般に、磁性1′5)末を結合剤成分とともに基体フィ
ルム上に結着させるか、或いは強磁性金属またはそれら
の合金などを真空蒸着等やこよって基体フィルム上に被
着してつくられる磁気記録媒体は、記録再生時に磁気ベ
ッド等と激しく摺接するため磁性層が摩耗され易く、特
に真空蒸着等によって形成される強磁性金属薄膜型磁気
記録媒体は、高密度記録特性に優れる反面、磁気ヘッド
との摩i!f係数が大きくて摩耗や損傷を受は易く、ま
た空気中で除々に酸化を受けて最大磁束密度などの磁気
特性が劣化するなどの難点がある。
このため、磁性層上に種々の保護膜層を設けて耐久性お
よび耐食411を改善することが行われており、近年、
たとえば、テトラメチルシランやオクタメチルツクロチ
F:)/ロキサン等のケイ素系有機化合物のプラズマ重
合保護膜層を磁性層上に形成することが提案されでいる
。(特開昭57−82229号、特開昭58−6042
7号)〔発明が解決しようとする問題点〕 ところが、この種のケイ素系有機化合物のプラズマ重合
保護膜層は、潤滑性や耐摩耗性に優れるものの、親水性
の酸素原子や窒素原子を含むため腐食されやすく、未だ
充分に耐食性を改善することができない。
〔問題点を解決するだめの手段〕
この発明はかかる現状に鑑み鋭意研究を重ねた結果なさ
れたもので、基体上に磁性層を形成した後、この磁性層
を、モノマーガス中にさらしてプラズマ重合を行い、プ
ラズマ重合保護膜層形成後、さらにフッ素系有機化合物
のモノマーガスまたはフッ素系化合物を含む混合モノマ
ーガス中にさらしてプラズマ重合を行うか、あるいは、
フ・7素ガスもしくはフッ素系化合物のガス中にさらし
てプラズマ処理を行うか、もしくは、フッ素ガス中にさ
らしてフッ素化処理を行い、フッ素原子を磁性層側より
表面層側に多く含むプラズマ重合保護膜層を形成するこ
とによって、緻密で硬いプラズマ重合保護膜層を磁性層
上に強固に被着形成し、フッ素原子が示す疎水性により
耐食性を充分に改善させたものである。
この発明において磁性層」−に被着形成されるプラズマ
重合保護膜層は14反応槽内で、ケイ素系有機化合物の
モノマーガスまたは炭化水素化合物の七ツマーガスもし
くはフッ素系有機化合物の七ツマーガスを、高周波ある
いはマイクロ波等によりプラズマ重合させて磁性層の表
面に被着形成することによって形成される。このプラズ
マ重合保護膜層を形成するのに使用するケイ素系有機化
合物の七ツマーガスとしては、たとえば、テトラメチル
シラン、ヘキサメチルジシラザン、ビニルトリメデルシ
ラン、テトラメトキシシラン、ヘキサメチルジシロキサ
ン、オクタメチルシフロチ1−ラシロキサン、[リメチ
ルシリルアセチレン等の七ツマーガスが好ましく使用さ
れ、炭化水素化合物のモノマーガスとしては、たとえば
、プロパン、エチレン、プロピレン、アセトニトリル、
プロピオニトリル等の七ツマーガスが好ましく使用され
る。またフッ素系有機化合物のモノマーガスとしては、
たとえば、02F4、C3F6等の七ツマーガスが好ま
しく使用される。
これらの、ケイ素系有機化合物の七ツマーガス、炭化水
素化合物のモノマーガスおよび)、素有機化合物のモノ
マーガスは、高周波によりラジカルが生成され、この生
成されたラジカルが反応し重合して被膜となる。
このようなプラズマ重合を行う場合のガス圧および高周
波やマイクロ波の電力は、ガス圧が高くなるほど被着速
度が速くなる反面モノマーガスが比較的低分子量でプラ
ズマ重合されて硬い保護膜層が得られず、ガス圧を低く
して電力を高(すると被着速度が遅くなる反面高分子化
された比較的硬い保護膜層が得られる。ところが、ガス
圧を低くして電力を高くしすぎると、モノマーガスが粉
末化してしまいプラズマ重合保護膜層が形成されないた
め、ガス圧を0.001〜3トールの範囲内とし、電力
密度を0.03〜5 W / caの範囲内とするのが
好ましく、ガス圧を0.003〜1トールとし、電力密
度を0.05〜3 W/cJの範囲内とするのがより好
ましい。
このようなプラズマ重合によって形成されたプラズマ重
合保護膜層は、次いで、さらにフッ素系有機化合物の七
ツマーガスまたはフッ素系化合物を含む混合モノマーガ
スを用いてプラズマ重合するか、あるいはフッ素ガスま
たはフッ素系化合物のガスを用いてプラズマ処理を行う
か、もしくは、フッ素ガスを用いてフッ素化処理を行う
ことによって、表面層側に磁性層側より多くのフッ素原
子が含有されたプラズマ重合保護膜層が形成される。
フッ累系Y−r 機化合物の′〔ツマ ガス17.−は
)・ノ素系化合物を含む混合モノマ ガスによるプラズ
マ重合は、前記の有機化合物のモノマ ガスによるプラ
ズマ重合と全く同様にして行われ、フッ素系有機化合物
の七ツマーガスとしては、CF4.02F4.02F6
.03FG、C3F6、SF6等のモノマーガスが好ま
しく使用される。また、このようなフッ素系有機化合物
のモノマーガスおよびフッ素系化合物を含む混合モノマ
ーガスのプラズマ重合を行う場合の、ガス圧および高周
波やマイクロ波の電力は、前記のケイ素系有機化合物、
炭化水素系化合物およびフッ素系有機化合物のプラズマ
重合を行う場合と同じ理由で、ガス圧を0.001〜3
トールの範囲内とし、電力密度を0.03〜5 W /
 cAの範囲内とするのが好ましく、ガス圧を0.00
3〜1トールとし、電力密度を0.05〜3W/ Ca
の範囲内とするのがより好ましい。
また、フッ素ガスまたはフッ素系化合物のガスによるプ
ラズマ処理は、ケイ素系有機化合物または炭化水素系化
合物のプラズマ重合保護膜層の表面層の水素原子の一部
または大半を、フッ素原子と置換し、フッ素原子をプラ
ズマ重合保護膜層の表面層と結合させて、そのフッ素原
子が示す疎水性によって耐食性を充分に改善することを
目的として行われる。フッ素ガス以外のフッ素系化合物
のガスとしては、CF4、C2F6、c3Fe、SF6
等のガスが好ましく使用され、これらのフッ素ガスおよ
びフッ素系化合物のガスは単独で使用される他、ヘリウ
ムガス、アルゴンガス等の希ガスと混合して使用される
。このような希ガスと混合して使用されるとフッ素ガス
が少なくても安定な放電を起こすことができるという利
点がある。これらの希ガスと混合して使用する場合は、
フッ素ガスまたはフッ素系化合物のガス対希ガスの容積
比にして1対20〜1対1の範囲内で使用するのが好ま
しく、希ガスが多ずぎるとフッ素化の速度がおそくなる
。また、このようなフッ素ガスもしくはフッ素系化合物
のガスのプラズマ処理を行う場合のガスHEおよび高置
′6JLヤマイクロ波の電力は、安定な放電を維持し、
フッ素化を速(行うため、ガス圧を0.1〜5トールの
範囲内とし、電力密度を0.1〜2 W/cnlの範囲
内とするのが好ましく、ガス圧を0.3〜3トールとし
、電力密度を0.2〜l W / cJの範囲内とする
のがより好ましい。
さらに、フッ素ガスによるフッ素化処理は、フッ素ガス
を満たした容器中にプラズマ重合保護膜層を放置して行
われ、5〜30分間放置することによって、プラズマ重
合保護膜層表面のラジカルまたは水素原子の一部または
大半と反応して、プラズマ重合保護膜層表面にフッ素原
子が取り込まれる。
このように、ケイ素系有機化合物または炭化水素化合物
の七ツマーガスもしくはフッ素有機化合物のモノマーガ
スを用いてプラズマ重合をおこない、プラズマ重合保護
膜層形成後、さらにフッ素系有機化合物のモノマーガス
またはフッ素系化合物を含む混合モノマーガスを用いて
プラズマ重合するか、あるいはフッ素ガスまたは)・/
素糸化合物のガスを用いてプラズマ処理を行うか、もし
くは、フッ素ガスを用いてフッ素化処理を行うと、フッ
素原子を磁性層側より表面層例に多く含むプラズマ重合
保護膜層が容易に形成され、フッ素原子が示す疎水性に
よって耐食性が一段と向上される。このようなフッ素原
子を硼P1尺・1側より表面層側に多く含むプラズマ重
合保護膜層の膜厚は、30〜1000人の範囲内である
ことが好ましく、膜厚が薄すぎるとこの保護膜層による
耐食性の効果が充分に発揮されず、厚すぎるとスペーシ
ングロスが大きくなりすぎて電磁変換特性にg影響を及
ぼす。
このように、フッ素原子を磁性層側より表面層側に多く
含むプラズマ重合保護膜層中に含まれるフッ素原子は、
プラズマ重合保護膜層の表面から10〜500人の範囲
の表面層においてケ・イ素原子と炭素原子の合計量、も
しくは炭素原子tこ対し原子数比で0.1倍以上含有さ
れていることが好ましく、プラズマ重合保護膜層がrイ
素系有機化合物のプラズマ重合によって形成されている
場合は、プラズマ重合保護膜層中におけるケイ素原子が
全原子に対して10〜30’M7の範囲内で含有され、
炭素原子は全原子に対して20〜・40%の範囲内で含
有されていることが好ましい。
基体上に形成される磁性層は、7Fe203粉末、Fe
3041)末、CO含有r  Fe203粉末、Co含
有Fe3O4粉末、Fe粉末、CO粉末、Fe−Ni粉
末などの磁性粉末を結合剤成分および有機溶剤等ととも
に基体上に塗布、乾燥するか、或いは、Co、Ni、、
Fe、Co−Ni、Go−Cr、、Go−P、、Co−
Ni −Pなどの強磁性材を真空蒸着、イオンブレーテ
ィング、スパッタリング、メッキ等の手段によって基体
上に被着するなどの方法で形成される。
また、磁気記録媒体としては、ポリエステルフィルムな
どの合成樹脂フィルムを基体とする磁気テープ、円盤や
ドラムを基体とする磁気ディスクや磁気ドラムなど、磁
気ヘッドと摺接する構造の種々の形態を包含する。
〔実施例〕
次に、この発明の実施例について説明する。
実施例1 厚さ10μのポリエステルフィルムを真空蒸着装置に装
填し、lXl0−5トールの真空下でコバルトを加熱蒸
発させてポリエステルフィルム上に厚さ1000人のコ
バルトからなる強θ)性金属薄膜層を形成した。次いで
、第1図に示すプラズマ重合装置を使用し、この強磁性
金属薄膜層を形成したポリエステルフィルム1を反応槽
2内で原反ロール3から円筒状キャン4の周側面に沿っ
て移動させ、巻き取りロール5に巻き取るようにセット
し、ガス導入管6からテトラメチルシランのモノマーガ
スを5 secmの流量で導入し、ガス圧0.01トー
ルで13.56M1lzの高周波を電力密度2 W /
 c♂でプラズマ重合を行い、厚さ150人のプラズマ
重合保護膜層を形成した。なお、図中8は反応槽2内を
減圧するための排気系であり、9は電極7に高周波を印
加するための高周波電源である。次いで、第2図に示す
プラズマ処理装置を使用し、この強磁性金属薄膜層を形
成し、さらにプラズマ重合保護膜層を形成したポリエス
テルフィルム1を反応槽10内の上部に配設した基盤1
1の下面にセットした。次ぎに、ガス導入管12からフ
ッ素ガスとヘリウムガスとの混合ガス(混合容積比1:
10)を10105e流入し、ガス圧1トールで電極1
3により13.56門11zの高周波を電力密度0.5
W/ calで1分間プラズマ処理した。なお、図中1
4は反応槽10内を減圧するための排気系であり、15
は電極13に高周波を印加するだめの高周波電源である
。しかる後、所定の巾に裁断して、第3図に示すような
ポリエステルフィルムl上に強磁性金属薄膜層16およ
びプラズマ重合保護膜層17を順次に積層形成した磁気
テープAをつくった。このようにして形成されたプラズ
マ重合保護膜層をESCAで分析した結果、プラズマ重
合保護膜層の表面から50人の深さにおいてフッ素化が
起こっており、表面層におけるケイ素原子は15%、炭
素原子は30%、フッ素原子は50%でケイ素原子と炭
素原子との合計量に対し、フッ素原子は原子数比で1.
1倍含有ささていた。
実施例2 実施例1におけるプラズマ重合保護膜層のプラズマ処理
において、フッ素ガスとヘリウムガスとの混合ガスに代
えてCF4を同量使用した以外は実施例1と同様にして
磁気テープをつくった。このようにして形成されたプラ
ズマ重合保護膜層をESCAで分析した結果、プラズマ
重合保護膜層の表面から50人の深さにおいてフッ素化
が起こっており、表面層におけるケイ素原子は25%、
炭素原子は40%、フッ素原子は30%でケイ素原子と
炭素原子との合計量に対し、フッ素原子は原子数比で0
.46倍含有されていた。
実施例3 実施例1におけるプラズマ重合保護膜層のプラズマ処理
に代えて、プラズマ重合保R5設層を形成したポリエス
テルフィルムをフッ素ガスを満たした容器中に20分間
放置した以外は実施例1と同様にして磁気テープをつく
った。このようにして形成されたプラズマ重合保護膜1
fiをE’SCΔで分析した結果、プラズマ重合保護膜
層の表面から30人の深さにおいてフッ素化が起こって
おり、表面層におけるケイ素原子は30%、炭素原子は
50%、フッ素原子は15%でケイ素原子と炭素原子と
の合計量に対し、フッ素原子は原子数比で、0.19侶
含有されていた。
実施例4 実施例1におけるプラズマ重合保護膜層のプラズマ処理
に代えて、プラズマ重合保護膜層を形成したポリエステ
ルフィルムを再度、反応槽2内で原反ロール3から円筒
状キャン4の周側面に沿って移動させ、巻き取りロール
5に巻き取るようにセットし、ガス導入管6からC2F
4のモノマーガスを5Qsccmの流量で導入し、ガス
圧0.02 ) −ルで13.56M1lzO高周波を
電力密度0.3W/c%でプラズマ重合を行い、厚さ2
00人のプラズマ重合保護膜層をさらに積層形成した以
外は実施例1と同様にして磁気テープをつくった。この
ようにして形成されたプラズマ重合保護膜層をESCA
で分析した結果、プラズマ重合保護膜層の表面層におけ
る炭素原子は30%、フッ素原子は60%で炭素原子に
対し、フッ素原子は原子数比で2倍含有されていた。
実施例5 実施例1におけるプラズマ重合保護膜層のプラズマ処理
に代えて、プラズマ重合保護膜層を形成したポリエステ
ルフィルムを再度、反応槽2内で原反ロール3から円筒
状キャン4の周側面に沿って移動させ、巻き取りロール
5に巻き敗イ)よ・うにセットし、ガス導入管6からテ
トラメチルシランのモノマーガスを30secmの流冷
で、またCF4ガスを10105eの流量で導入し、ガ
ス圧0.021・−ルで13.561112の高周波を
電力密度0.5W/cAでプラズマ重合を行い、厚さ2
00人のプラズマ重合保護膜層をさらに積層形成した以
外は実施例1゛と同様にして磁気テープをつくった。こ
のようにして形成されたプラズマ重合保護膜1行をES
CAで分析した結果、プラズマ重合Oi¥護膜層の表面
層における炭素原子は55%、ケイ素原子は20%、フ
ッ素原子は20%で炭素原子とケイ素原子との合計量に
対し、フッ素原子は原子数比で0.27倍含有されてい
た。
実施例6 ot−FeVl、性粉末       600重量部エ
スレノクCN(積木化学工業80〃 社製、塩化ビニル−酢酸ビニ ル共重合体) バンデノクスT−5250(大  30μ日本インキ社
製、ウレタンエ ラス17−) コロネート1.・(日本ボリウレタ  10・tン工業
社製、二官能性低分子 量ンソシアネ 1化合物) メチルイソブチルケトン    400〃I−ルエン 
          40011この組成物をボールミ
ル中で72時間混合分散して何す性塗料を凋製し、この
磁性塗料を厚さ10μのポリエステルフィルム上に乾燥
厚が4μとなるように塗布、乾燥して磁性層を形成した
。次いで、これに実施例1と同様にしてプラズマ重合保
護膜層を形成し、プラズマ処理を行って磁気テープをつ
くった。
実施例7 厚さ50μのポリイミドフィルムを真空蒸着装置に装填
し、ポリイミドフィルムを300℃に加熱しな力<43
X10−’トールの真空下でコハルト−クロム合金を加
熱蒸発させて、ポリ・イ、ミドフ・イルム上に厚さ35
00人のコハル1− クロム合金(モル比82:18)
からなる強磁性金属薄R’A層を形成した。次いで、こ
れに実施例1と同様にしてプラズマ重合保護膜層を形成
し、磁気テープをつ(った。
比較例1 実施例1において、プラズマ処理を省いた以外は、実施
例1と同様にして磁気テープをつくった。このようにし
て形成されたプラズマ重合保護膜層をESCAで分析し
た結果、プラズマ重合保護膜層の表面層におけるケイ素
原子は35%、炭素原子は40%であった。
比較例2 実施例1において、プラズマ重合保護膜層の形成および
プラズマ処理を省いた以外は実施例1と同様にして磁気
テープをつくった。
各実施例および各比較例で得られた磁性テープについて
耐食性を試験した。耐食性試験は、f−1られた磁気テ
ープを60°C190%RHの条件下に7日間放置して
最大磁束密度を測定し、放置前の磁気テープの最大磁束
密度を100%としてこれと比較した値でその劣化率を
調べて行った。また耐食性試験とともに各磁気テープの
表面を肉眼で観察したところ、比較例2で得られた磁気
テープでは黒い点食が多数認められたが、各実施例およ
び比較例1でf4られた磁気テープは表面の光沢などに
異常は認められなかった。
下表はその結果である。
〔発明の効果〕 −F表から明らかなように、この発明で青られた磁気テ
ープ(実施例1〜7)は、いずれも従来の磁気テープ(
比較例1および2)に比し、劣化率が小さく、また表面
を肉眼で観察した結果では表面の光沢などに異常が認め
られず、このことからこの発明によって得られる磁気記
録媒体は、耐食性が一段と改善されていることがわかる
【図面の簡単な説明】
第1図はプラズマ重合保護膜層を形成する際に使用する
プラズマ重合装置の1例を示す概略断面図、第2図はプ
ラズマ重合保護膜層の表面をフッ素化処理する際に使用
するプラズマ処理装置の1例を示す概略断面図、第3図
はこの発明によって得られた磁気テープの部分拡大断面
図である。 1・・・ポリエステルフィルム(基体)、16・・・強
磁性金属薄膜層<Vt性層)、17・・・プラズマ重合
保護膜層、A・・・磁気テープ(磁気記録媒体)特許出
願人  日立マクセル株式会社 手続ネli正凹:(自発) 1.事件の表示 ゛  昭和59年特許願第135528冗2、発明の名
称 磁気記録媒体およびその製造方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 大阪府茨木市別寅−・T目1番885シ名 称
 (581)日立マクセル株式会社代表者 永 井  
厚 4、代理人 住 所 大阪市東区博労町2丁目41番地明細書の「発
明の詳細な説明」の欄 6、補正の内容 (1)  明細書第5ページ、第11行目の「炭化水素
化合物」を「炭化水素系化合物」と補正する。 (2)明細書第6ページ、第2行目の「炭化水素化合物
」を1炭化水素系化合物」と補正する。 (3)明細書第6ページ、第10行目の「炭化水素化合
物」を1炭化水素系化合物」と補正する。 (4)明細8第6ページ、第10行目から第11行目に
かi−1での「フッ素有機化合物」を「フッ素糸有機化
合物J、!:?ili正する。 (5)明細書第10ベ ジ、第9行目から第10行「1
にかけての「炭化水素化合物Jを「炭化水素系化合物」
と補正する。 (6)明細書第10ページ、第10行目から第11行目
にかけての「フッ素有機化合物」を「フッ素系有機化合
物Jと補正する。 (7)明細書第11ページ、下から第4行目の、[−全
原子に対して10〜30%の範囲内で」を、「全原子に
対して5〜30%の範囲内で」と補正する。 (8)明細宕第11ページ、下から第3行目の、「全原
子に対して20〜40%の範囲Jを1全原子に対して1
0〜40%の範囲」と補正する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基体上に磁性層を形成し、この磁性層上に、フッ素
    原子を磁性層側より表面層側に多く含むプラズマ重合保
    護膜層を設けたことを特徴とする磁気記録媒体 2、プラズマ重合保護膜層が、ケイ素原子と炭素原子、
    もしくは炭素原子を主成分として含み、かつ表面から1
    0〜500Åの表面層においてフッ素原子をケイ素原子
    と炭素原子の合計量、もしくは炭素原子に対し原子数比
    で0.1倍以上含んでなる特許請求の範囲第1項記載の
    磁気記録媒体3、プラズマ重合保護膜層が、ケイ素原子
    と炭素原子、もしくは炭素原子を主成分として含むプラ
    ズマ重合保護膜層と、さらにこの上に積層形成したケイ
    素原子と炭素原子とフッ素原子を含むプラズマ重合保護
    膜層とからなる特許請求の範囲第1項または第2項記載
    の磁気記録媒体 4、基体上に磁性層を形成し、次いで、この磁性層を、
    モノマーガス中にさらしてプラズマ重合を行い、プラズ
    マ重合保護膜層形成後、さらにフッ素系有機化合物のモ
    ノマーガスまたはフッ素系化合物を含む混合モノマーガ
    ス中にさらしてプラズマ重合を行い、フッ素原子を磁性
    層側より表面層側に多く含むプラズマ重合保護膜層を設
    けることを特徴とする磁気記録媒体の製造方法 5、基体上に磁性層を形成し、次いで、この磁性層を、
    モノマーガス中にさらしてプラズマ重合を行い、プラズ
    マ重合保護膜層形成後、さらにフッ素ガスもしくはフッ
    素系化合物のガス中にさらしてプラズマ処理を行い、フ
    ッ素原子を磁性層側より表面層側に多く含むプラズマ重
    合保護膜層を設けることを特徴とする磁気記録媒体の製
    造方法6、基体上に磁性層を形成し、次いで、この磁性
    層を、モノマーガス中にさらしてプラズマ重合を行い、
    プラズマ重合保護膜層形成後、さらにフッ素ガス中にさ
    らしてフッ素化処理を行い、フッ素原子を磁性層側より
    表面層側に多く含むプラズマ重合保護膜層を設けること
    を特徴とする磁気記録媒体の製造方法
JP13552884A 1984-06-30 1984-06-30 磁気記録媒体およびその製造方法 Pending JPS6116028A (ja)

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JP (1) JPS6116028A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS62183033A (ja) * 1986-02-06 1987-08-11 Furukawa Electric Co Ltd:The 磁気記録体の製造方法
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JPS62264424A (ja) * 1986-05-09 1987-11-17 Tdk Corp 磁気記録媒体
JPS62284536A (ja) * 1986-03-11 1987-12-10 ドイチエ・トムソン−ブラント・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 特定の障害信号のデジタル補償方法
JPS6450235A (en) * 1987-08-21 1989-02-27 Fuji Electric Co Ltd Magnetic recording medium

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