JPS61155803A - 幅測定装置 - Google Patents
幅測定装置Info
- Publication number
- JPS61155803A JPS61155803A JP27618384A JP27618384A JPS61155803A JP S61155803 A JPS61155803 A JP S61155803A JP 27618384 A JP27618384 A JP 27618384A JP 27618384 A JP27618384 A JP 27618384A JP S61155803 A JPS61155803 A JP S61155803A
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- JP
- Japan
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- measured
- edge
- detector
- movement
- signal
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/04—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
- G01B11/046—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for measuring width
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、光源部及び受光部から構成され本エツジ検出
器を被測定物の夫々の端部位置に追従させて被測定物の
幅を測定する幅測定装置に関する。
器を被測定物の夫々の端部位置に追従させて被測定物の
幅を測定する幅測定装置に関する。
従来の幅測定装置は、被測定物の上方に固定配置された
棒状蛍光灯光源と、被測定物の下方に移動可能に配置さ
れた２つの半導体光電センナと、この光電センナを夫々
被測定物の端部に追従させるサーブ駆動部と、このサー
ブ駆動部により移動する光電センサの移動量を電気信号
に変換し出力する移動量検出部とから構成され【いる。
棒状蛍光灯光源と、被測定物の下方に移動可能に配置さ
れた２つの半導体光電センナと、この光電センナを夫々
被測定物の端部に追従させるサーブ駆動部と、このサー
ブ駆動部により移動する光電センサの移動量を電気信号
に変換し出力する移動量検出部とから構成され【いる。
この光電センナが被測定物の端部位置を検出したときの
その移動量を検出することにより被測定物の幅を求める
ことができる。
その移動量を検出することにより被測定物の幅を求める
ことができる。
しかしながら、光源が棒状蛍光灯光源であるため、被測
定物の上下動することにより幾何学的誤差を生じやすく
、また、サーブ駆動部の追従誤差が直接幅測定誤差とな
るためサー？駆動部の性能が装置の性能を左右するなど
の問題がある。
定物の上下動することにより幾何学的誤差を生じやすく
、また、サーブ駆動部の追従誤差が直接幅測定誤差とな
るためサー？駆動部の性能が装置の性能を左右するなど
の問題がある。
本発明は、上記問題点に対処して成されたもので、被測
定物の上下動による誤差が生じることがなく、かつサー
ブ駆動部の追従誤差を補正可能にした幅測定装置を提供
しようとするものである。
定物の上下動による誤差が生じることがなく、かつサー
ブ駆動部の追従誤差を補正可能にした幅測定装置を提供
しようとするものである。
本発明は、エツジ検出器を平行光線を照射する光源部と
、この光源部からの光線を受光しその位置信号を出力す
る光検知器を有する受光部とから構成し、このエツジ検
出器をサーブ駆動部により被測定物の端部へ追従させる
とともにその移動量を検出器で検出し、その移動量信号
と前記光検知器からのエッジ位置信号とから被測定物の
幅を測定するように構成したものである。
、この光源部からの光線を受光しその位置信号を出力す
る光検知器を有する受光部とから構成し、このエツジ検
出器をサーブ駆動部により被測定物の端部へ追従させる
とともにその移動量を検出器で検出し、その移動量信号
と前記光検知器からのエッジ位置信号とから被測定物の
幅を測定するように構成したものである。
以下、本発明の一実施例につき、第１図及び第２図を参
照して説明する。
照して説明する。
この一実施例は、第２図に示すように被測定物１０の両
端部に夫々移動可能に配置されたエツジ検出器２０ 、
２０’と、このエツジ検出器２０ 、２０’を被測定物
ＩＱの端部に夫々追従させるサーブ駆動部３０．３０’
と、エツジ検出器Ｚ Ｏ、２０’の移動量を検出する検
出部４０．４０’と、この検出部４０ 、４０’からの
移動量信号及び前記エツジ検出器２０ 、２０’からの
エツジ信号から被測定物１００幅を算出する演算部５Ｑ
とから構成されている。
端部に夫々移動可能に配置されたエツジ検出器２０ 、
２０’と、このエツジ検出器２０ 、２０’を被測定物
ＩＱの端部に夫々追従させるサーブ駆動部３０．３０’
と、エツジ検出器Ｚ Ｏ、２０’の移動量を検出する検
出部４０．４０’と、この検出部４０ 、４０’からの
移動量信号及び前記エツジ検出器２０ 、２０’からの
エツジ信号から被測定物１００幅を算出する演算部５Ｑ
とから構成されている。
このエツジ検出器２０は第１図に示すよ５に構成されて
いる。すなわち、このエツジ検出器２０は、被測定物１
０をその対向端に介在させるように構成された断面Ｃ形
のフレーム２１を有している。このフレーム２１の下信
端忙は、光源部２２が配置されている。この光源部２２
は、光源２３とレンズ２４とから成り、前記被測定物１
０の端部に平行光線を照射するように構成されている。
いる。すなわち、このエツジ検出器２０は、被測定物１
０をその対向端に介在させるように構成された断面Ｃ形
のフレーム２１を有している。このフレーム２１の下信
端忙は、光源部２２が配置されている。この光源部２２
は、光源２３とレンズ２４とから成り、前記被測定物１
０の端部に平行光線を照射するように構成されている。
また、前記フレーム２１の上側端忙は、受光部２５が配
置されている。この受光部２５は、前記光源部２２から
照射され前記被測定物１０ＶＣｇぎられず照射された平
行光線を受光するもので、２つのレンズ２６．２７及び
光検知器となるＣＣＤ素子２８から構成されている。
置されている。この受光部２５は、前記光源部２２から
照射され前記被測定物１０ＶＣｇぎられず照射された平
行光線を受光するもので、２つのレンズ２６．２７及び
光検知器となるＣＣＤ素子２８から構成されている。
このように構成されたエツジ検出器２０は、サーメ駆動
部３０により被測定物１０の端部位置に追従するように
構成され【いる。すなわち、このサーブ駆動部３０は、
前記フレーム２１に連結された送りねじ３１を有し、前
記エツジ検出器２０のＣＣＤ素子２８がその光学系の視
野内に被測定物１０の端部が到来したことを検出するま
でエツジ検出器２０を移動させる。このＣＣＤ素子２８
からのエツジ到来信号は、サー？アンプ３２を介してサ
ー＆ｆｆｉ動部３０に供給され、この信号を受けた後サ
ーブ駆動部３Ｑは前記エツジ検出器２０の移動を停止さ
せる。
部３０により被測定物１０の端部位置に追従するように
構成され【いる。すなわち、このサーブ駆動部３０は、
前記フレーム２１に連結された送りねじ３１を有し、前
記エツジ検出器２０のＣＣＤ素子２８がその光学系の視
野内に被測定物１０の端部が到来したことを検出するま
でエツジ検出器２０を移動させる。このＣＣＤ素子２８
からのエツジ到来信号は、サー？アンプ３２を介してサ
ー＆ｆｆｉ動部３０に供給され、この信号を受けた後サ
ーブ駆動部３Ｑは前記エツジ検出器２０の移動を停止さ
せる。
また、このエツジ検出器２０の移動量は、検出部４０に
より検出されている。この検出部４０は、前記エツジ検
出器２０のフレーム２１の下端に取着された位置検出用
ヘッド４１及びこのへ、ド４１Ｖｃ対向配置されたマグ
ネスケール４２から構成されている。
より検出されている。この検出部４０は、前記エツジ検
出器２０のフレーム２１の下端に取着された位置検出用
ヘッド４１及びこのへ、ド４１Ｖｃ対向配置されたマグ
ネスケール４２から構成されている。
また、この検出部４０からの移動量信号及び前記ＣＣＤ
素子からのエツジ位置信号は、演算部５０に供給されて
いる。すなわち、この演算部５０）ｃは、前記エツジ検
出器２０がエツジの到来を検出した後停止するまでのサ
ーブ駆動部の追従誤差によるエツジ位置信号ＷＩＩが供
給されている。このエッジ位置信号Ｗ１はＣＣＤ素子２
８の受光しているビット数を数えることにより得られる
。また、このエツジ位置信号ｗＭは、光学系のセンタＬ
から被測定物１０の端部までの距離ＷＡ ｉｃ比例して
おり、この両者の関係は受光部２５０倍率がｍとすると ＷＡ ｗ ｍＷｌ で表わされる。
素子からのエツジ位置信号は、演算部５０に供給されて
いる。すなわち、この演算部５０）ｃは、前記エツジ検
出器２０がエツジの到来を検出した後停止するまでのサ
ーブ駆動部の追従誤差によるエツジ位置信号ＷＩＩが供
給されている。このエッジ位置信号Ｗ１はＣＣＤ素子２
８の受光しているビット数を数えることにより得られる
。また、このエツジ位置信号ｗＭは、光学系のセンタＬ
から被測定物１０の端部までの距離ＷＡ ｉｃ比例して
おり、この両者の関係は受光部２５０倍率がｍとすると ＷＡ ｗ ｍＷｌ で表わされる。
また、前記検出器４０からは、被測定物１０のセンタＣ
から前記光学系のセンタＬまでの距離に相当する移動量
信号−が供給されている。
から前記光学系のセンタＬまでの距離に相当する移動量
信号−が供給されている。
このよ５に移動量信号Ｗ蓋及びエッジ位置信号Ｗ１が供
給された演算部５０は、被測定物１０のセンタＣからそ
の端部までの距離Ｗ！を次のよ５にして求める。
給された演算部５０は、被測定物１０のセンタＣからそ
の端部までの距離Ｗ！を次のよ５にして求める。
ＷＴ ｍ ＷＭ −ｍＷＢ ！ ＷＭ −ＷＡすな
わち、距離Ｗ！は、エツジ検出器２０の移動量ＷＭから
サーボ駆動部５０の追従誤差分ＷＡ ｉｃ相当する信号
ｍＷＢを減算することにより求められる。そして、この
距離ＷＴＫ、被測定物１０の他端位置に追従するエツジ
検出器２０′及び検出器４０′からの信号ｗＭ’ 、
Ｗ、’から得られる距離ｗ？’を加えることにより被測
定物１００幅が測定される。
わち、距離Ｗ！は、エツジ検出器２０の移動量ＷＭから
サーボ駆動部５０の追従誤差分ＷＡ ｉｃ相当する信号
ｍＷＢを減算することにより求められる。そして、この
距離ＷＴＫ、被測定物１０の他端位置に追従するエツジ
検出器２０′及び検出器４０′からの信号ｗＭ’ 、
Ｗ、’から得られる距離ｗ？’を加えることにより被測
定物１００幅が測定される。
このようにエツジ検出器；ｔ ｏ 、 ｉ ｏ’が被測
定物１０の端部を検出した後停止しするまでの追従誤差
分Ｗムを検出し、エツジ検出器２ｏ、ｉｏ’の移動量信
号を補正するようにしたので、被測定物１０の正確な幅
を測定することができる。
定物１０の端部を検出した後停止しするまでの追従誤差
分Ｗムを検出し、エツジ検出器２ｏ、ｉｏ’の移動量信
号を補正するようにしたので、被測定物１０の正確な幅
を測定することができる。
また、平行光線を用いているため被測定物１０の上下動
化よる幾何学的誤差も極めて少なく押えることができる
。また、被測定物１０の夫々の端部に別々構成され別々
に移動されるエツジ検出器２０ 、 Ｚ Ｏ’を配置し
たので、幅の異なる被測定物１０の測定にも適用できる
。
化よる幾何学的誤差も極めて少なく押えることができる
。また、被測定物１０の夫々の端部に別々構成され別々
に移動されるエツジ検出器２０ 、 Ｚ Ｏ’を配置し
たので、幅の異なる被測定物１０の測定にも適用できる
。
なお、エツジ検出器２ｏ、ｔ’ｏ’の移動量検出器４０
、４０’として位置検出用ヘオド４１及びマグネスケ
ール４２を用いて説明したが、移動量を電気信号に変換
し位置信号として出力するものとしては、他に、光学式
リニアスケール。
、４０’として位置検出用ヘオド４１及びマグネスケ
ール４２を用いて説明したが、移動量を電気信号に変換
し位置信号として出力するものとしては、他に、光学式
リニアスケール。
リニア４テンショメータ、ゲールねじなどの送りねじの
回転数を検出するシャフトエンコーダあるいはビニオン
の回転数を検出するシャフトエンコーダ等を用いても良
い。
回転数を検出するシャフトエンコーダあるいはビニオン
の回転数を検出するシャフトエンコーダ等を用いても良
い。
また、第３図に示すように１つのＣ形フレーム６０に被
測定物１．′００両端に追従する１対のエツジ検出器を
内蔵、シて構成しても良い。この場合、各端を検出する
検出部６１．６１’及び光源部６２．６２’を夫々別々
のサー？駆動部６３゜６３’、６３．６３’により移動
させるように構成するとともに各部６１１６１’、６２
．６２’にその移動量検出部６４．６４’、６４．６４
’を設け、移動量を検出する。検出部６１．６１’及び
光源部６２．６２’の各構成は前述の一実施例と同様の
構成である。このように構成することｋより、両光学系
の位置合せ等の調整が設置する以前に可能となり、また
保守性が向上する。
測定物１．′００両端に追従する１対のエツジ検出器を
内蔵、シて構成しても良い。この場合、各端を検出する
検出部６１．６１’及び光源部６２．６２’を夫々別々
のサー？駆動部６３゜６３’、６３．６３’により移動
させるように構成するとともに各部６１１６１’、６２
．６２’にその移動量検出部６４．６４’、６４．６４
’を設け、移動量を検出する。検出部６１．６１’及び
光源部６２．６２’の各構成は前述の一実施例と同様の
構成である。このように構成することｋより、両光学系
の位置合せ等の調整が設置する以前に可能となり、また
保守性が向上する。
また、この実施例同様１つのＣ形フレームｙＯＫ、１対
のエツジ検出器を内蔵させ、夫々の受光部１１．７１’
と光源部１２．７２’とを夫々１つのサーボ駆動部７
Ｊ 、 ７ ｊ’により移動させても良い。なお、図中
７４．７４．７４’、７４’は送りねじ、７５．７５’
は連結軸、１６．１６’はギャゲックス及び７Ｆ、７７
．７７’、７７／は移動量検出部である。このように構
成することにより前述の他の実施例に比し両光学系の位
置精度を向上させることができる。
のエツジ検出器を内蔵させ、夫々の受光部１１．７１’
と光源部１２．７２’とを夫々１つのサーボ駆動部７
Ｊ 、 ７ ｊ’により移動させても良い。なお、図中
７４．７４．７４’、７４’は送りねじ、７５．７５’
は連結軸、１６．１６’はギャゲックス及び７Ｆ、７７
．７７’、７７／は移動量検出部である。このように構
成することにより前述の他の実施例に比し両光学系の位
置精度を向上させることができる。
本発明は、このように構成したので、被測定物の上下動
変化による幾何学的誤差の発生を押えることができ、ま
たサー？追従誤差の影響をなくすことができ、よって正
確な幅を測定することができる。
変化による幾何学的誤差の発生を押えることができ、ま
たサー？追従誤差の影響をなくすことができ、よって正
確な幅を測定することができる。
第１図及び第２図は本発明の一実施例を説明するための
もので、第１図は要部の構成図、第２図は全体の構成図
、第３図及び第４図は別々の他の実施例を示す構成図で
ある。 １０・・・被測定物、２０・・・エツジ検出器、２２・
・・光源部、２５・・・受光部、２８・・・ＣＣＤ素子
、３り・・・サーボ駆動部、４０・・・検出器、５０・
・・演算部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第２図 第３図 第４図
もので、第１図は要部の構成図、第２図は全体の構成図
、第３図及び第４図は別々の他の実施例を示す構成図で
ある。 １０・・・被測定物、２０・・・エツジ検出器、２２・
・・光源部、２５・・・受光部、２８・・・ＣＣＤ素子
、３り・・・サーボ駆動部、４０・・・検出器、５０・
・・演算部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第２図 第３図 第４図
Claims (1)
- 光源部及び受光部から構成されるエッジ検出器を被測定
物の夫々の端部位置に追従させて被測定物の幅を測定す
る幅測定装置において、被測定物に平行光線を照射する
光源部及びこの光源部からの平行光線を受光するように
対向配置され、複数の光検出素子を直線上に配置した光
検知器を備えた受光部からなるエッジ検出器と、このエ
ッジ検出器を被測定物の各端部位置に追従させるサーボ
駆動部と、このサーボ駆動部により移動されるエッジ検
出器の移動量を検出する検出器と、この検出器からの移
動量信号及び前記光検知器からのエッジ位置信号を受け
被測定物の幅を算出する演算部とから構成したことを特
徴とする幅測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27618384A JPS61155803A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 幅測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27618384A JPS61155803A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 幅測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61155803A true JPS61155803A (ja) | 1986-07-15 |
Family
ID=17565869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27618384A Pending JPS61155803A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 幅測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61155803A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63281005A (ja) * | 1987-05-13 | 1988-11-17 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 物体の端部位置測定装置 |
| JPS63282607A (ja) * | 1987-05-14 | 1988-11-18 | Kawasaki Steel Corp | 帯状物体の幅測定装置 |
| JPS6419104U (ja) * | 1987-07-23 | 1989-01-31 | ||
| JPH04364405A (ja) * | 1991-06-11 | 1992-12-16 | Nkk Corp | シート寸法測定装置 |
| JPH0552526A (ja) * | 1991-08-29 | 1993-03-02 | Nkk Corp | シート寸法測定装置 |
| US5453825A (en) * | 1993-06-16 | 1995-09-26 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for controlling the transport and the positioning of sheets |
| JP2010540901A (ja) * | 2007-09-22 | 2010-12-24 | ザ・ボーイング・カンパニー | 複合テープの幅を測定する方法及び装置 |
| CN103344187A (zh) * | 2013-06-28 | 2013-10-09 | 上海宝锋工程技术有限公司 | 冶金产品宽度的在线测量装置及其方法 |
| CN104668312A (zh) * | 2013-11-27 | 2015-06-03 | 通快机床两合公司 | 用于探测板形工件的整体尺寸的方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5842904A (ja) * | 1981-09-08 | 1983-03-12 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 測長装置 |
-
1984
- 1984-12-28 JP JP27618384A patent/JPS61155803A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS5842904A (ja) * | 1981-09-08 | 1983-03-12 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 測長装置 |
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| JPH0619247B2 (ja) * | 1987-05-13 | 1994-03-16 | 住友金属工業株式会社 | 物体の端部位置測定装置 |
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| EP2878393A1 (de) * | 2013-11-27 | 2015-06-03 | TRUMPF Werkzeugmaschinen GmbH + Co. KG | Verfahren zum Erfassen einer Außenabmessung eines plattenförmigen Werkstücks |
| US9618649B2 (en) | 2013-11-27 | 2017-04-11 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg | Detecting an overall dimension of a plate-shaped workpiece by a non-contact sensor |
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