JPS61147220A - 光ビ−ム走査装置 - Google Patents
光ビ−ム走査装置Info
- Publication number
- JPS61147220A JPS61147220A JP59269226A JP26922684A JPS61147220A JP S61147220 A JPS61147220 A JP S61147220A JP 59269226 A JP59269226 A JP 59269226A JP 26922684 A JP26922684 A JP 26922684A JP S61147220 A JPS61147220 A JP S61147220A
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- Japan
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- light
- laser beam
- incident
- laser
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- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、ホログラムを用いた光ビーム走査装置に関す
るものである。
るものである。
第２図は従来のホログラムディスクにレーザ光を照射し
、静電ドラムにレーザ光を直線走査する状態を示す図で
ある。レーザ発振器１から発振されたレーザ光は矢印方
向に回転するホログラムディスク２に入射し、ホログラ
ムディスク２に形成された干渉縞により３回折光が静電
ドラム３上を矢印方向に直線走査され、記録データを所
定のクロックタイミングで静電ドラム３に書込むもので
ある。
、静電ドラムにレーザ光を直線走査する状態を示す図で
ある。レーザ発振器１から発振されたレーザ光は矢印方
向に回転するホログラムディスク２に入射し、ホログラ
ムディスク２に形成された干渉縞により３回折光が静電
ドラム３上を矢印方向に直線走査され、記録データを所
定のクロックタイミングで静電ドラム３に書込むもので
ある。
上述の様な従来のレーザ光の走査装置においては、レー
ザ光が走査される位置によって速度が変化し１例えばド
ラム上のＢ点にレーザ光が照射された場合にはドラム上
のＡ点にレーザ光が照射された場合に比べてドラム上で
の回折光の走査する速度が増す。このことは等間隔に情
報を書込む必要がある静電ドラム３に、歪んだ書込みを
行うことになり印字品質の劣化を招く。
ザ光が走査される位置によって速度が変化し１例えばド
ラム上のＢ点にレーザ光が照射された場合にはドラム上
のＡ点にレーザ光が照射された場合に比べてドラム上で
の回折光の走査する速度が増す。このことは等間隔に情
報を書込む必要がある静電ドラム３に、歪んだ書込みを
行うことになり印字品質の劣化を招く。
また２発振器１とホログラムディスク２との間に等速性
を確保する為にｆθレンズ等の補助光学系を用いた装置
も存在するがｆθレンズは高価で装置自体のコストアン
プの原因となり、さらに。
を確保する為にｆθレンズ等の補助光学系を用いた装置
も存在するがｆθレンズは高価で装置自体のコストアン
プの原因となり、さらに。
ｆθレンズを調整することも困難な技術を必要とする。
本発明は、上述の従来の欠点に鑑み、レーザ光を直線走
査する際ｆθレーザ等の補助光学系を用いることなくレ
ーザ光の等速性を保持することを可能にした光ビーム走
査装置を提供することを目的とするものである。
査する際ｆθレーザ等の補助光学系を用いることなくレ
ーザ光の等速性を保持することを可能にした光ビーム走
査装置を提供することを目的とするものである。
上記目的は１本発明によれば、ホログラムにレーザ光を
入射して直線走査を行うホログラムスキャナにおいて、
前記レーザ光を分離する分離手段と、該分離手段により
分離されたレーザ光が照射される律速手段と、該律速手
段で反射した光を検出する検出手段と、該検出手段で検
出した信号により前記レーザ光の走査速度を補正する補
正手段とを有することを特徴とする光ビーム走査装置を
提供することよって達成される。
入射して直線走査を行うホログラムスキャナにおいて、
前記レーザ光を分離する分離手段と、該分離手段により
分離されたレーザ光が照射される律速手段と、該律速手
段で反射した光を検出する検出手段と、該検出手段で検
出した信号により前記レーザ光の走査速度を補正する補
正手段とを有することを特徴とする光ビーム走査装置を
提供することよって達成される。
上記手段によれば９分離されたレーザ光の−っを律速手
段を介して検出手段に入力することによりレーザ光の等
速性に対する誤差を検出し、この誤差を補正手段により
補正することによってレーザ光の等速走査を確保する作
用を有する。
段を介して検出手段に入力することによりレーザ光の等
速性に対する誤差を検出し、この誤差を補正手段により
補正することによってレーザ光の等速走査を確保する作
用を有する。
以下２本発明の実施例を添付図面にしたがって詳述する
。
。
第１図は本発明の光ビーム走査装置の概略構成図であり
、同図においてレーザ発振器４とホログラムディスク５
との間にはミラー６．７．ビームスプリンター８．変調
器９が設けられ、静電ドラム１０上にはバースケール１
１が設けられている。
、同図においてレーザ発振器４とホログラムディスク５
との間にはミラー６．７．ビームスプリンター８．変調
器９が設けられ、静電ドラム１０上にはバースケール１
１が設けられている。
ミラー６、ビームスプリッタ−８，変調器９は同一光軸
上に順次配置されており、ミラー６は後述するホログラ
ムディスク５からの反射回折光をレンズ１２を介して検
出器１３に入射させる為のものであり、ビームスプリン
ター８は発振器４から発振されたレーザ光を２方向に分
離するものであり、変調器９は基本信号発生器１４とビ
デオ信号により作られる信号発生器１６から入力する変
調信号に従ってレーザ光を変調するものである。
上に順次配置されており、ミラー６は後述するホログラ
ムディスク５からの反射回折光をレンズ１２を介して検
出器１３に入射させる為のものであり、ビームスプリン
ター８は発振器４から発振されたレーザ光を２方向に分
離するものであり、変調器９は基本信号発生器１４とビ
デオ信号により作られる信号発生器１６から入力する変
調信号に従ってレーザ光を変調するものである。
ミラー７は上述で分離された他のレーザ光をホログラム
ディスク５の所定位置Ｃに照射する為の反射鏡である。
ディスク５の所定位置Ｃに照射する為の反射鏡である。
また、バースケール１１はホログラムディスク５の位置
Ｃに照射されたレーザ光の回折光がバースケール１１の
スケールｌｌａに入射する様に配置され、スケールＩｌ
ａには等間隔にバースケールが設けられている。
Ｃに照射されたレーザ光の回折光がバースケール１１の
スケールｌｌａに入射する様に配置され、スケールＩｌ
ａには等間隔にバースケールが設けられている。
以上の様な構成の光ビーム走査装置において。
そのビーム走査動作を以下で説明する。
レーザ発振器４から発振されたル−ザ光はミラ一６．中
央大域６ａ部を通過してビームスプリッタ−８に入射す
る。ビームスプリッタ−８を透過したレーザ光は変調器
９を介してホログラムディスク５の位置りに入射し、そ
の回折光は静電ドラム１０に入射する。静電ドラム１０
に入射した回折光が入射する位置は、同図（８１に示す
内部１５の拡大図である同図（ｂｌに示す様に、静電ド
ラム１０の位置Ｅ１に入射する。
央大域６ａ部を通過してビームスプリッタ−８に入射す
る。ビームスプリッタ−８を透過したレーザ光は変調器
９を介してホログラムディスク５の位置りに入射し、そ
の回折光は静電ドラム１０に入射する。静電ドラム１０
に入射した回折光が入射する位置は、同図（８１に示す
内部１５の拡大図である同図（ｂｌに示す様に、静電ド
ラム１０の位置Ｅ１に入射する。
また、ビームスプリンター８で反射したレーザ光はミラ
ー７でさらに反射されホログラムディスクの位置Ｃに入
射し、その回折光はスケールｌｌａ上の位置Ｅ２に入射
する。両回折光の位置はホログラムディスク５の矢印方
向の回転に従って、静電ドラム１０．スケールｌｌａ上
を移動し、静電ドラム１０を走査し、静電ドラム１０上
に光書込みを行う。
ー７でさらに反射されホログラムディスクの位置Ｃに入
射し、その回折光はスケールｌｌａ上の位置Ｅ２に入射
する。両回折光の位置はホログラムディスク５の矢印方
向の回転に従って、静電ドラム１０．スケールｌｌａ上
を移動し、静電ドラム１０を走査し、静電ドラム１０上
に光書込みを行う。
一方、同図山）に示す様に両回折光が位置Ｅ１及びＥ２
に入射している場合には、バースケール１目盛分走査速
度がずれていることになる。これは。
に入射している場合には、バースケール１目盛分走査速
度がずれていることになる。これは。
入射位置、入射角度を変えることで容易に実行で６一
きる。特にスケール１１ａ上を移動する回折光に対して
、ホログラムディスク５の位置りから静電ドラム１０に
入射する回折光の走査はハースケール１目盛分遅れてい
る。
、ホログラムディスク５の位置りから静電ドラム１０に
入射する回折光の走査はハースケール１目盛分遅れてい
る。
ここで、バースケール１１で反射した光が再度ホログラ
ムディスク５で回折された光をミラー６で反射し、レン
ズ１２を介して検出器１３に集光する。検出器１３では
光電変換を行いスケール１１ａ上のバースケールを回折
光が通過する信号を検出する。この時、１つのバースケ
ールを通過１６時間ｔ ＋ （ｓｅｃ ） 、各バー
スケールの間隔をｄ（ｍ）とすると５回折光の走査速度
■０は。
ムディスク５で回折された光をミラー６で反射し、レン
ズ１２を介して検出器１３に集光する。検出器１３では
光電変換を行いスケール１１ａ上のバースケールを回折
光が通過する信号を検出する。この時、１つのバースケ
ールを通過１６時間ｔ ＋ （ｓｅｃ ） 、各バー
スケールの間隔をｄ（ｍ）とすると５回折光の走査速度
■０は。
Ｖｏ＝ｄ／ｌ ＋ （ｍｕ／５ｅｃ） ・・
・ｉｌｌとなる。レーザプリンタの解像度をＭ Ｃｄｏ
ｔ／ｍｍ）とする。この時基本クロックの周波数ｆＯは
２次式を満たす必要がある。
・ｉｌｌとなる。レーザプリンタの解像度をＭ Ｃｄｏ
ｔ／ｍｍ）とする。この時基本クロックの周波数ｆＯは
２次式を満たす必要がある。
ｆ ｏ＝Ｖｏ −Ｍ＝ｄ−Ｍ／ｌ ＋ （Ｈｅｒｚ
）・・・・（２） 次に、このＴｏを発生する回路について説明する。第５
図において、２１で、バースケールからのバーの検出信
号を第１図１３の受光器より得る。
）・・・・（２） 次に、このＴｏを発生する回路について説明する。第５
図において、２１で、バースケールからのバーの検出信
号を第１図１３の受光器より得る。
次に、カウンタ回路２２を通し、カウンタ内で発生する
パルスの個数より時間ｔ１を検出する。この個数を、は
しご回路２３を通して、電圧に変換する。さらに逆数回
路２４を経て、２５で定数ｄ・Ｍを乗算し、最後にＶＣ
Ｏ２６により必要な周波数１口が発生できる。
パルスの個数より時間ｔ１を検出する。この個数を、は
しご回路２３を通して、電圧に変換する。さらに逆数回
路２４を経て、２５で定数ｄ・Ｍを乗算し、最後にＶＣ
Ｏ２６により必要な周波数１口が発生できる。
この回路は、第１図では１４で示される。この基本信号
を用いて、レーザプリンタの情報であるビデオ信号が１
６より発生される。そして、この信号が変調器例えばＡ
ＯＭによってスイッチングされる。なお１時間検知のた
めに、１目盛早く。
を用いて、レーザプリンタの情報であるビデオ信号が１
６より発生される。そして、この信号が変調器例えばＡ
ＯＭによってスイッチングされる。なお１時間検知のた
めに、１目盛早く。
バースケール上走査させた訳であるが、この第５図の回
路の時間遅れも考慮すると、１目盛よりさらに先を、ハ
ースケール上では走査するようにしても良い。この際、
バースケール上と、ドラム上での走査点の違いはあるが
、速度としては、はぼ同じとみて良く問題はない。
路の時間遅れも考慮すると、１目盛よりさらに先を、ハ
ースケール上では走査するようにしても良い。この際、
バースケール上と、ドラム上での走査点の違いはあるが
、速度としては、はぼ同じとみて良く問題はない。
こうして静電ドラム１０上を走査する回折光の直線走査
速度は１等速に律速されて走査することができる。
速度は１等速に律速されて走査することができる。
本発明の実施例は以上に限るわけではなく、第３図に示
す様にビームスプリンター８を用いて一つのレーザ光を
分離して用いることなく、レーザ発振器を２つ用いてレ
ーザ発振器４ａの発振レーザ光を常にホログラムディス
ク５の所定位置Ｃに入射し、その回折光をバースケール
１１に入射してその反射光をたとえば半導体レーザから
なるレーザ発振器４ｂを電気的に変調して発振器４ｂか
ら発振される静電ドラム１０の走査用レーザ光のクロッ
クを律速しても良い。この様に光ビーム走査装置を構成
することによってビームスブリック−８を削除して装置
を構成することができると同時に、直接レーザ光を変調
することが可能な半導体レーザをレーザ発振器４ｂに用
い検出器１３の検出信号をレーザ発振器４ｂに入力する
ことによりレーザを発振する時にレーザ光を変調するこ
とが可能になる。したがって独立した変調器９も削除す
ることができる。
す様にビームスプリンター８を用いて一つのレーザ光を
分離して用いることなく、レーザ発振器を２つ用いてレ
ーザ発振器４ａの発振レーザ光を常にホログラムディス
ク５の所定位置Ｃに入射し、その回折光をバースケール
１１に入射してその反射光をたとえば半導体レーザから
なるレーザ発振器４ｂを電気的に変調して発振器４ｂか
ら発振される静電ドラム１０の走査用レーザ光のクロッ
クを律速しても良い。この様に光ビーム走査装置を構成
することによってビームスブリック−８を削除して装置
を構成することができると同時に、直接レーザ光を変調
することが可能な半導体レーザをレーザ発振器４ｂに用
い検出器１３の検出信号をレーザ発振器４ｂに入力する
ことによりレーザを発振する時にレーザ光を変調するこ
とが可能になる。したがって独立した変調器９も削除す
ることができる。
尚、第１図、第３図とも両レーザ光の入射位置Ｃ，Ｄは
同一ファセット上に位置しているが、第４図に示す様に
異なったファセット上の入射位置Ｅ、Ｆにレーザ光を入
射させ、その回折光を各別の位置に設けられた静電ドラ
ム１０．バースケール１１に入射しても同様に実施する
ことができることは勿論である。
同一ファセット上に位置しているが、第４図に示す様に
異なったファセット上の入射位置Ｅ、Ｆにレーザ光を入
射させ、その回折光を各別の位置に設けられた静電ドラ
ム１０．バースケール１１に入射しても同様に実施する
ことができることは勿論である。
さらに１本実施例では変調信号発生器１４として電圧−
周波数変換を行ったが、他の各バースケールの通過時間
を補正できる回路であれば検出器１３と変調器９との間
に接続して同様に用いることができる。なお２本発明は
ディスクに限ったことではなく３円筒１円錐、角錐など
の回転体であるホログラムでも成立することは言うまで
もない。
周波数変換を行ったが、他の各バースケールの通過時間
を補正できる回路であれば検出器１３と変調器９との間
に接続して同様に用いることができる。なお２本発明は
ディスクに限ったことではなく３円筒１円錐、角錐など
の回転体であるホログラムでも成立することは言うまで
もない。
以上詳細に説明した様に本発明によれば、従来のホログ
ラムディスクを用いた光ビーム走査装置に用いられてい
たｆθレンズ等の高価な補助光学系を削除して光走査の
等速性を改善することができる。
ラムディスクを用いた光ビーム走査装置に用いられてい
たｆθレンズ等の高価な補助光学系を削除して光走査の
等速性を改善することができる。
また、レーザ発振器もガスレーザ、イオンレーザ、半導
体レーザ等各種レーザ発振装置を用いることが可能であ
る。
体レーザ等各種レーザ発振装置を用いることが可能であ
る。
第１図！ａ）は本発明の光ビーム走査装置の概略構成図
。 第１図（ｂ）は本発明の光ビーム走査装置の概略構成図
の一部拡大図。 第２図は従来の光ビーム走査装置の概略構成図。 第３図は本発明の他の光ビーム走査装置の概略構成図。 第４図は本発明のレーザ光入射位置の異なる光′ビーム
走査装置の概略構成図。 第５図はｆθ発生回路のブロック図である。 ４．４ａ、４ｂ・・・レーザ発振器。 ５・・・ホログラムディスク。 ６．７・・・ミラー。 ８・・・ビームスプリッタ−２ ９・・・変調器。 １０・・・静電ドラム。 １１・・・バースケール。 外 １ｌ− １１ａ・・・スケール。 １２・・・レンズ。 １３・・・検出器。 １４・・・基本信号発生器。 １５・・・内部 １６・・・変調信号発生器。 （ＸＪ ７つ −〇
。 第１図（ｂ）は本発明の光ビーム走査装置の概略構成図
の一部拡大図。 第２図は従来の光ビーム走査装置の概略構成図。 第３図は本発明の他の光ビーム走査装置の概略構成図。 第４図は本発明のレーザ光入射位置の異なる光′ビーム
走査装置の概略構成図。 第５図はｆθ発生回路のブロック図である。 ４．４ａ、４ｂ・・・レーザ発振器。 ５・・・ホログラムディスク。 ６．７・・・ミラー。 ８・・・ビームスプリッタ−２ ９・・・変調器。 １０・・・静電ドラム。 １１・・・バースケール。 外 １ｌ− １１ａ・・・スケール。 １２・・・レンズ。 １３・・・検出器。 １４・・・基本信号発生器。 １５・・・内部 １６・・・変調信号発生器。 （ＸＪ ７つ −〇
Claims (4)
- （１）ホログラムにレーザ光を入射して直線走査を行う
ホログラムスキャナにおいて、前記レーザ光を分離する
分離手段と、該分離手段により分離されたレーザ光が照
射される律速手段と、該律速手段で反射した光を検出す
る検出手段と、該検出手段で検出した信号により前記レ
ーザ光の走査速度を補正する補正手段とを有することを
特徴とする光ビーム走査装置。 - （２）前記律速手段はバースケールであることを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載の光ビーム走査装置。 - （３）前記補正手段による補正時間だけの時間遅れを補
正ならしめるために、前記計測手段に照射するレーザ光
の入射条件を異ならせることを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載の光ビーム走査装置。 - （４）前記レーザ光を発生する発振手段を複数有するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光ビーム走
査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59269226A JPS61147220A (ja) | 1984-12-20 | 1984-12-20 | 光ビ−ム走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59269226A JPS61147220A (ja) | 1984-12-20 | 1984-12-20 | 光ビ−ム走査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61147220A true JPS61147220A (ja) | 1986-07-04 |
Family
ID=17469416
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59269226A Pending JPS61147220A (ja) | 1984-12-20 | 1984-12-20 | 光ビ−ム走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61147220A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0627400A (ja) * | 1992-04-10 | 1994-02-04 | Canon Inc | ジッター量測定手段を有した光走査装置 |
-
1984
- 1984-12-20 JP JP59269226A patent/JPS61147220A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0627400A (ja) * | 1992-04-10 | 1994-02-04 | Canon Inc | ジッター量測定手段を有した光走査装置 |
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