JPS61145403A - 光学的検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、光学的に圧力、温度の物理量を検出する光学
的検出装置に関する。

〔発明の背景〕

電気的手段による圧力あるいは温度測定装置は、その測
定信号を電気的な信号に変換して遠隔地へ伝送すること
が一般的である。そのため、この測定信号を伝送する途
中において、電気的な誘導雑音を受ける可能性が高い。

この点、光学的手段を用いた圧力あるいは温度測定装置
は、伝送路に光ファイバを用いることで遠隔測定が可能
となシ、耐雑音性のある信号伝送が実現できる。

光学的手段として利用する光の性質には、光の強度、位
相、周波数および偏光がある。特に、光の強度変化を測
定する装置は、取シ扱いが比較的簡単であり、また信号
処理が容易である点から、種々多数の測定方法および測
定装置に利用されている。しかしながら、一般に、光の
強度変化金利用する測定装置においては、圧力あるいは
温度の検出部以外での光量変化、例えば光ファイバを光
の伝送路とした場合の伝送損失変化による光量変化が測
定誤差の要因となる。この伝送損失変化が発生する原因
として、光ファイバの曲がシによって臨界角よシ犬なる
反射角を持つ伝送光の発生、あるいは光フアイバ全体の
振動によるマイクロベンドの発生等があシ、これらは光
ファイバの伝送損失を変化させる。

このようなことから、光ファイバを利用して光の強度変
化により圧力あるいは温度を測定する装置では、測定精
度を高めるために、伝送損失変化を小さくするか、伝送
損失変化を補償する必要がある。この光ファイバの伝送
損失変化の補償方式については、＠２６回自動制御連合
講演会、昭和５８年１１月、ｐ、４３５に１光フアイバ
センサの基準パス検出法の改良と光圧力計の応用”と題
する文献において論じられている。前記の文献の中で述
べられている伝送損失補償方式の光圧力センナの補償回
路への適用例を第９図に示す。

第９図において、圧力センナ部は、送光ファイバ３．６
と受光ファイバ８，９と、これら４本の光ファイバ３，
６．８および９の端面と対向して配置された反射板を兼
ねるダイアフラム２２と、これらの位置関係を固定する
ハウジング２３から構成される。圧力セ／を部における
送光ファイバ３．６からの光は、光ファイバとダイアフ
ラム２２との距離、すなわち圧力信号に対応した光量が
受光ファイバ８．９によりそれぞれ受光される。

発光ダイオード１．４は、演算制御回路２０により制御
される駆動回路７．１０によって駆動され、同一波長の
光２．５を発生する。受光ダイオード１５．１６が接続
され九光電変換回路１７．１８は、受光ファイバ８．９
からの圧力信号１１゜１２．１３および１４を受光電圧
信号に変換する。

演算処理回路１９は、これらの受光電圧信号に対し後述
の演算をする。その演算結果は、演算制御回路２０で補
正され圧力表示回路２１にて表示される。

次に、この補償方式の原理について説明する。

発光ダイオード１が発光したときの光電変換回路１７．
１８の受光電圧信号は、次式で表わされる。

Ｖｌ、　＝　Ｋ、、・Ｐｔ＋＝に＋γ・Ｌｓ　　・Ｌｓ
−９・Ｌ９・Ｐ２・・・・・・・・・（１） Ｖ＋ｚ＝に＋ｓ　°Ｐ１２＝ＫＩＳ　ＩＬ３　＠Ｌｓ　
−ｓ　＠Ｌｓ°Ｐ２・・・・・・・・・（２） また、発光ダイオード４が発光したときの受光電圧信号
は、同様にして次式で表わされる。

Ｖｌ５＝Ｋｔｙ　　”　　ＰＩ３＝ＫＩ７　　”　　Ｌ
ｓ　　・　Ｌｇ−ｓ　　”　　Ｌ９　　・　Ｐｓ・・・
・・・・・・（８） Ｖｓｉ＝に＋ｓ　・Ｐ＋４＝Ｋｔｓ−Ｌｓ　・Ｌｓ−１
Ｌｓ　・Ｐｓ・・・・・・・・・（４） ただし、Ｖｌｌ　：圧力信号ｉによる受光電圧信号Ｋｊ
　；光電変換回路ｊの変換係数 Ｐ＋　　Ｈ圧力信号光ｉの光量 ＬＬ、光ファイバｔの伝送効率 Ｌｍ−軌ｊ光ファイバｍ、　　ｎ間の結合効率Ｐｒｉ発
光ダイオード１．４の光ｒの光量 演算処理回路１９は、第（１）式、第（２）式、第（３
）式および第（４）式の受光電圧信号をそれぞれ記憶し
た後、次の演算を行う。

第（５）式の演算結果は、送光ファイバ３，６あるいは
受光ファイバ８，９の伝送損失の項を含まず、送光ファ
イバ３，６と受光ファイバ８，９との光の結合係数の関
数すなわち圧力のみの関数となる。

また、第（５）式が定数とならないためには、送光ファ
イバ３，６と受光ファイバ８，９との光の結合係数が異
なる必要があるが、光ファイバ３，６゜８および９を例
えば第１０図に示すように検出端面を対称配置すること
で第１１図の関係を得ることができ、第１１図の例えば
Ｚ＋−Ｚｚの範囲（直線部分）を圧力センサとして利用
することにより正確な検出を行いうる。しかしながら、
以上の補償方式は、送受光ファイバとして４本の光ファ
イバを必要とするため、圧力センナ部の構造が複雑とな
る。

〔発明の目的〕

本発明は、光ファイバを利用して光の強度変化によシ圧
力や温度等の物理量を測定する場合において、使用する
光ファイバの本数を減らすとともに、装置構造を簡略化
しうる光学的検出装置を提供することを目的とする。

〔発明の概要〕

上記目的を達成するため、本発明は送光に用いる光ファ
イバと受光に用いる光ファイバの種類を異ならせ、送光
ファイバと受光ファイバとの間の光の結合効率を光の進
行方向に応じて変えることによシ光ファイバの伝送損失
の変化を補償するようにした点に特徴を有する。

すなわち、本発明は、時分割的に駆動される第１の発光
源および第２の発光源と、 被測定物理量の変化に応じて後述する光ファイバの端面
との相対距離が変化する反射板を有する測定部と、 前記第１および第２の発光源と測定部との間に配され、
互に異なる光特性を有する第１．第２の光ファイバと、 前記第２の光源からの光であって第２の光ファイバを介
して伝送され測定部で反射されたのち第１の光ファイバ
を介して伝送された第２の光を受光して電気信号に変換
する第１の光電変換部および前記第１の光源からの光で
あって第１の光ファイバを介して伝送され測定部で反射
されたのち第２の光ファイバを介して伝送され九第１の
光を受光して電気信号に変換する第２の光電変換部と、
前記第１の光源からの光を第１の光ファイバに導入し、
かつ第２の光源からの反射光を前記第１光電変換部に導
く第１の光分岐器および前記第２の光源からの光を第２
の光ファイバに導入し、かつ第１の光源からの反射光を
前記第２光電変換部に導く第２の光分岐器と、 前記第１の光電変換器と第２の光電変換器からの電気信
号の比を演算して前記被測定物理量を求める演算部と、
を備えた点に特徴を有する。

この場合において、−第１．第２の光フアイバは、コア
径、コア内部の屈折率分布または開口数のうち、少なく
ともいずれか一つを各党ファイバで異ならせることによ
シ光特性を異ならせた点に特徴を有する。

〔発明の実施例〕

次に本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。

第１実施例 第１図は、本発明による光学的検出装置を光圧力センサ
に適用した場合の一実施例である。発光ダイオード１，
４は、駆動制御回路３４によシ制御される駆動回路７，
１０により駆動され、同一波長の出射光３０．３２を発
生する。発光ダイオード１からの出射光３０は、第１の
光分岐器２４およびロッドレンズ２６を介して第１の光
ファイバ２８に入射後、圧力センナ部へ伝送される。

圧力センナ部は、第１の光ファイバ２８と第２の光ファ
イバ２９と、これらの光ファイバ２８゜２９の検出端面
に対向して配置された反射板を兼ねるダイアフラム２２
と、これらの位置関係を固定するハウジング２３とから
構成される。

圧力センナ部における第１の光ファイバ２８からの投射
光は、光ファイバ２８．２９とダイアフラム２２との距
離、すなわち圧力信号に対応した光量が第２の光ファイ
バ２９により受光される。

第２の光ファイバ２９で受光された光は再び伝送され、
第２のロッドレンズ２７を通過後筒２の光分岐器２５で
光の進行方向が変えられ、第１の受光ダイオード１６１
に圧力信号光３１として照射され、第１の光電変換回路
１８１により受光電圧信号に変換される。同様にして、
発光ダイオード４からの出射光３２は、発光ダイオード
１の出射光３０と逆の経路を経て第１の光分岐器２４に
よシ光の進行方向を変えられ、第２の受光ダイオード１
５１に圧力検出信号３３として照射され、第２の光電変
換回路１７１により受光電圧信号に変換される。これら
の受光電圧信号は、演算処理回路３５に入力される。

演算処理回路３５では、後述の演算処理が実行され、マ
イクロコンビエータ３６によシその演算結果は補正され
る。マイクロコンピュータ３６は、駆動制御回路３４へ
の制御信号を出力し、間接的に駆動回路７，１０を制御
する。マイクロコンピュータ３６で補正された演算結果
は、圧力表示回路３７にて表示される。

次に、演算処理回路３５の演算処理について説明する。

発光ダイオード１が発光した時、第１の光電変換回路１
８１の受光電圧信号は次式で表わされる。

Ｖｓ＋＝Ｋｔａｔ　８Ｐｓ＋＝に＋ｓｔ　＠Ｌｔｓ　′
Ｌ（ｓｓ−ｘｓ）ａＬｓｓ　１Ｐｓ。

・・・・・・・・・（６） また、発光ダイオード４が発光した時、第２の光電変換
回路１７１の受光電圧信号は、同様に次式で表わされる
。

Ｖｍｓ＝ＫｒｙビＰｍ５＝Ｋｔｙｔ　＋Ｌｎ　＋Ｌ（ｗ
ｅ−ｖｓ）　”　Ｌ！１１１１Ｐｓｚ・・・・・・・・
・（７） ただし　Ｖｔ１圧力圧力量による受光電圧信号ＫＪ　；
光電変換回路」の変換係数 Ｐｌ　；圧力信号光ｉの光量 ＬＬ；光ファイバＬの伝送効率 Ｌ（−−−）　？光が光ファイバｍからｎへ進行すると
きの結合効率 Ｐｓｏ；光ファイバ２８への入射光３０の光量 Ｐ３！；光ファイバ２９への入射光３２の光量 演算処理回路３５は、第（６）式および第（７）式の受
光電圧信号をそれぞれ記憶したのち、次の演算を行う。

・・・・・・・・・（８） ここで 第（８）式の演算結果は、第１の光ファイバ２Ｂの伝送
損失および第２の光ファイバ２９の伝送損失の項を含ま
ず、第１の光ファイバ２Ｂと第２の光ファイバ２９との
間の結合効率の関数、すなわち圧力のみの関数となる。

また、第（８）式が定数とならないためには、光の進行
方向に応じて光ファイバ２８．２９間の結合効率Ｌ　（
ｕ　−２９）＊　　Ｌ　（２８−雪ｓ）が異なる必要が
ある。この条件を満足するだめには、例えばコア径、コ
ア内部の屈折率分布あるいは開口数が異なる２株類の光
ファイバを第１の光ファイバ２８、第２の光ファイバ２
９として使用すればよい。

圧力センサ部におけるこれらの種類が異なる光ファイバ
２８．２９から、反射板を兼ねたダイアフラム２２への
それぞれの出射光強度分布ＩＩ。

１１は、例えば第２図のようになる。すなわち、第１の
光ファイバ２８と第２の光ファイバ２９との種類を異な
らせることによりダイアフラム２２における出射光強度
分布Ｉｓ、Ｉｔが異なってくる。その結果、光の進行方
向に応じ、ダイアフラム２２の反射を介した光フアイバ
２８，２９ｅ＝Ｉ％ｉ）の間の結合効率Ｌ（雪８−雪ｓ
）、　　Ｌ（！ｅ−ｚｓ）が異なシ、必要とする結合効
率が得られる。したがって、これらの種類が異なる第１
の光ファイバ２８と第２の光ファイバ２９を用いること
により、第３図の特性を有する光圧力センナを得ること
ができる。

との光圧力センサにおいて、ダイアフラム２２に圧力が
加わると光ファイバ２８，２９とダイアフラム２２との
距離が変化し、光ファイバ２８゜２９間の光の結合効率
が変化する。この結合効率の変化は、第（６）式および
第（７）式に示されるように受光電圧信号Ｖｓｔ　ｔ　
Ｖｓｓの変化となる。受光電圧信号ＶｓＩ、Ｖｓｓは、
圧力および光ファイバ２８゜２９の伝送損失の関数であ
るが、演算処理回路３５の演算結果である第（８）式は
、発光ダイオード１．４の出射光が一定の場合、圧力変
化があるときのみ（Ｖｓ１／　Ｖｓａ　）は変化する。

したがって、第３図の例えばｚ３〜ｚ４の範囲を圧力セ
ンサの圧力検出範囲として利用する。マイクロコンピュ
〒り３６は、演算処理回路３５の第（８）式の演算結果
から、第３図の圧力と（Ｖ３１／　Ｖｓｓ　）との関係
に基づいて圧力を決定する。

以上のように、光ファイバを利用し、光の強度変化によ
シ圧力を測定する光応用センナにおいて、光ファイバの
伝送損失変化に影響されることなく高精度な圧力の測定
が種類の異なる２本の光ファイバを用いることで実現で
き、これに伴って圧力センサ部の構造の簡単化が図れる
。また光ファイバの伝送損失変化は、光ファイバと光フ
ァイバとを接続する場合に使用する光コネクタの接続損
失をも含むと考えることができる。このため、光フアイ
バを長距離にわたって敷設する場合は、圧力セ／す部と
発光ダイオード、受光ダイオードおよび光ファイバを含
む信号処理部とを分離することができ、信号処理部の光
フアイバと圧力センサ部の光ファイバとを必要に応じて
光コネクタを用いて接続することが可能となる。したが
って、この光コネクタによる接続点数も２点と少なくて
済み、光フアイバの取扱いが簡単となる。

第２の実施例 次に、本発明の第２の実施例を第４図に示す。

この実施例において、圧力センサ部は、第１の光ファイ
バ２８、第２の光ファイバ２９、圧力が加わることによ
シ変化するダイアフラム２２０、ダイアフラム２２０に
取付けられた光の遮断板２２１およびこれらの位置関係
を固定するハウジング２３０とから構成される。このよ
うな構成において、遮断板２２１の移動量すなわち圧力
に対する光電変換回路１７１，１８１から出力される受
光電圧信号の変化は、第５図のような特性になる。

この特性上、例えば、ｚｓ−Ｚ＠の範囲を圧力センナの
圧力検出範囲として利用する。

発光ダイオード１，４の駆動回路７，１０は、駆動制御
回路３４によシ発光ダイオード１，４が時分割的に駆動
されるように制御される。発光ダイオード１，４を時分
割駆動とすることで、光分岐器２４．２５とロッドレン
ズ２６，２７との間の多重反射光、あるいは光分岐器２
４．２５と空気との間の屈折率の違いによシ発生する反
射光が受光ダイオード１５１，１６１に照射され、圧力
信号による受光電圧信号に対する誤差信号となることを
防止できる。すなわち、例えば発光ダイオード１を駆動
した場合、多重反射光等が受光ダイオード１５１に照射
されるが、この多重反射光は圧力センサ信号ではないた
め使用せず、受光ダイオード１６１に照射される圧力信
号光３１を使用し、多重反射光の影響を避ける。

第３の実施例 また、発光ダイオード１，４の出射光量の変動は、第（
８）式に示されるように圧力信号が変化しない場合にお
いても受光電圧信号の比（Ｖｓｔ　／　Ｖｓｓ　）が変
動することとなυ、圧力信号に対する測定誤差となる。

そこで、第６図に示すように第３の受光ダイオード４０
および第３の光電変換回路４１を設け、この光電変換回
路４１からの受光電圧信号を検出することで、発光ダイ
オード１，４の出射光量の変動による測定誤差の影響を
補償することができる。以下、第６図における受光電圧
信号の処理方法を考慮した第３の実施例について説明す
る。

発光ダイオード１が発光したとき、第３の光電変換回路
４１の受光電圧信号は次式となる。

Ｖｓａ　＝　Ｋ４１　・Ｐｓｓ　　　　　　　　−”・
・（９）また、発光ダイオード４が発光したとき、第３
の光電変換回路４１の受光電圧信号は、同様に次式とな
る。

Ｖｓ會＝　Ｋ４１　働Ｐｓ＊　　　　　　・・・・・・
・・・αＯ第（６）式、第（７）式、第（６）式および
第６１式から次の関係が得られる。

ただし、Ｖｓｓ：第１の光分岐器２４からの分岐光３８
による受光電圧信号 ｖ３９：第２の光分岐器２５からの分岐光３９による受
光電圧信号 に４１　：第３の光電変換回路の変換係数Ｐ３８；光分
岐器２４からの分岐光３Ｂの光量 Ｐｓ＊＋光分岐器２５からの分岐光３９の光量 第αυ式において、（Ｐｓｏ／Ｐｓｓ　）の項は第１の
光分岐器２４の分岐比であり、（Ｐｓｉ／　Ｐｓｓ　）
の項は第２光分岐器２５の分岐比であることからそれぞ
れ定数となる。したがって、第αυ式は発光ダイオード
１，４の出射光量の変動の影響を受けない。

第αυ式の演算の具体的処理の構成を第６図にて説明す
る。発光ダイオード１を発光したとき、第１の光電変換
回路１８１および第３の光電変換回路４１からのそれぞ
れの受光電圧信号Ｖａｌｅ　ｖ、。

は除算回路４２に入力される。また発光ダイオード４を
発光したとき、第２の光電変換回路１７１および第３の
光電変換回路４１からのそれぞれの受光電圧信号Ｖｓｓ
、　ＶＢは除算回路４３に入力される。発光ダイオード
１，４は時分割的に駆動するため、除算回路４２．４３
の出力も時分割的に得られることから、除算回路４２．
４３の出力はサンプルホールド回路４４．４５にそれぞ
れ保持される。マイクロコンピュータ４７は発光ダイオ
ード１．４の駆動制御回路３４に時分割駆動のための信
号を出力するほか、サンプルホールド回路４４．４５の
セット信号、リセット信号を出力し、除算回路４２．４
３からの出力が得られた時点で除算回路４６にサンプル
ホールド回路４４．４５からの信号が出力されるよう制
御する。除算回路４６からの出力は、第αυ式の演算結
果であシ、マイクロコンピュータはこの演算結果から、
第３図の関係に基づいてダイアフラム２２に加わってい
る圧力を決定し、圧力表示回路４８にて表示する。

第４の実施例 次に、第ｔの光ファイバ２８と第２の光ファイバ２９と
の間の光の結合のみならず、発光ダイオード１を駆動し
た場合の圧力センサ部からの戻シ光３１１．発光ダイオ
ード４を、駆動した場合の圧力センサ部からの戻９光３
３１を利用して補償する第４の実施例について、第７図
によシ説明する。

発光ダイオード１が発光したとき得られる受光電圧信号
は、次式となる。

Ｖ３１１＝Ｋｌ？１−ＰＳ１１＝ＫＩ７１　・Ｌム°Ｌ
ｓｓ−ｓｓ−Ｐｓ。

・・・・・・・・・ａ２ ｖ３Ｉ：′に１１ＩＨＰ３にもに＋ｇ＋　′Ｌｚｓ　ｅ
Ｌ（ｕ−ｗｅ　）　１ｌＬｚ＊°ｐｓ。

・・・・・・・・・（６） また同様に発光ダイオード４が発光したとき得られる受
光電圧信号は、次式となる。

Ｖｓｓ＋＝に＋ｓｔ　′Ｐ３ｓｔ＝に＋ｓヒＬｅｅ°Ｌ
Ｂ−Ｂ・ｐ：＋ｚ・・・・・・・・・α騰 Ｖｓｓ＝ＫＩｙ＋　°Ｐｓｓ°に＋ｙヒＬ２９　ｅＬ　
（ｅ−３ｍ　）　０Ｌ２１°Ｐ３２・・・・・・・・・
（７） 演算処理回路３５は、第（６）式、第（７）式、第（１
２式および第α国式の受光電圧信号をそれぞれ記憶した
のち、次の演算をする。

・・・・・・・・・Ｑ４ 第α荀式は、第１の光ファイバ２８および第２の光ファ
イバ２９の伝送損失の項を含まず、圧力のみの関数であ
る。また、第１の光ファイバ２８と第２の光ファイバ２
９との間の光の結合係数は光の進行方向にかかわらず同
じであってもよく、例えばこの場合の各受光電圧信号は
第８図のようになシ、例えば（Ｚｙ　、　　Ｚａ　　）
の範囲を圧力センナの圧力測定範囲に利用する。したが
って、演算処理回路３５の第（１４）式の演算結果から
、第８図の圧力と（Ｖｓ＋−Ｖｓｓ　）　／　（Ｖｓｓ
＋−Ｖ　５ｓｔ）との関係に基づいて圧力を決定し、圧
力表示回路３７にて表示する。

以上の実施例では、本発明を光圧力センサに適用した例
について説明したが、例えば圧力検出のだめのダイアフ
ラムを温度検出のためのパイメタルとすることで光温度
センサとすることができる。

また変位、歪み等の測定に本発明を適用できることは、
当業者にとっては明らかである。′〔発明の効果〕 本発明によれば、光ファイバを利用し光の強度変化によ
シ、圧力、温度および歪み等を測定する光応用センサに
おいて、光ファイバの間の光の結合効率が、光の進行方
向に応じて変わる２本の種類が異なる光ファイバを使用
することにより光ファイバの伝送損失の変化に対し圧力
、温度および歪み等の測定値が影響を受けないため、高
精度な測定が可能となる。また、圧力あるいは温度等の
センサ部に格別な構成を用いることが不要となシ、構成
を簡素化しうる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
本発明に用いる光ファイバの出射光強度分布を示した特
性図、第３図は第１図における受光電圧信号の変化を示
した特性図、Ｋ４図は本発明の第２の実施例を示すブロ
ック図、第５図は第４図の実施例における受光電圧信号
の変化を示した特性図、第６図は本発明の第３の実施例
を示すブロック図、第７図は本発明の第４の実施例を示
すブロック図、第８図は第７図の実施例における受光電
圧信号の変化を示した特性図、第９図は従来の光学的検
出装置の例を示すブロック図、第１０図は従来のセンナ
部における光ファイバの配置例を示す図、第１１図は第
９図における受光電圧信号の変化を示す特性図である。 １．４・・・発光ダイオード、３，６，８，９，２８゜
２９・・・光ファイバ、７．１０・・・駆動回路、１５
゜１６．４０・・・受光ダイオード、２２，２２０・・
・ダイアフラム、１７，１８，１７１，１８１．４１・
・・光電変換回路、２０・・・演算制御回路、２１゜３
７・・・圧力表示回路、２４．２５・・・光分岐器、３
４・・・駆動制御回路、３５・・・演算制御回路、３６
・・・マイクロコンビエータ、４２，４３，４６・・・
除算回路、４４．４５・・・サンプルホールド回路。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、時分割的に駆動される第１の発光源および第２の発
   光源と、 被測定物理量の変化に応じて後述する光フアイバの端面
   との相対距離が変化する反射板を有する測定部と、 前記第１および第２の発光源と測定部との間に配され、
   互に異なる光特性を有する第１、第２の光フアイバと、 前記第２の光源からの光であつて第２の光フアイバを介
   して伝送され測定部で反射されたのち第１の光フアイバ
   を介して伝送された第２の光を受光して電気信号に変換
   する第１の光電変換部および前記第１の光源からの光で
   あつて第１の光フアイバを介して伝送され測定部で反射
   されたのち第２の光フアイバを介して伝送された第１の
   光を受光して電気信号に変換する第２の光電変換部と、
   前記第１の光源からの光を第１の光フアイバに導入し、
   かつ第２の光源からの反射光を前記第１光電変換部に導
   く第１の光分岐器および前記第２の光源からの光を第２
   の光フアイバに導入し、かつ第１の光源からの反射光を
   前記第２光電変換部に導く第２の光分岐器と、 前記第１の光電変換器と第２の光電変換器からの電気信
   号の比を演算して前記被測定物理量を求める演算部と、
   を備えたことを特徴とする光学的検出装置。 ２、特許請求の範囲第１項記載の装置において、第１、
   第２の光フアイバは、コア径、コア内部の屈折率分布ま
   たは開口数のうち、少なくともいずれか一つを各光フア
   イバで異ならせることにより光特性を異ならせたことを
   特徴とする光学的検出装置。