JPS61137242A - 光デイスクおよびアドレス記録再生方法 - Google Patents
光デイスクおよびアドレス記録再生方法Info
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- JPS61137242A JPS61137242A JP59259478A JP25947884A JPS61137242A JP S61137242 A JPS61137242 A JP S61137242A JP 59259478 A JP59259478 A JP 59259478A JP 25947884 A JP25947884 A JP 25947884A JP S61137242 A JPS61137242 A JP S61137242A
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- signal
- photodetectors
- tracks
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光ディスクおよびこの光ディスクにレーザー
を照射して各種情報を記録再生する方法に関するもので
あり、特に高密度記録に適したアドレスを記録した光デ
ィスクおよびそのアドレスの再生方法に関するものであ
る。
を照射して各種情報を記録再生する方法に関するもので
あり、特に高密度記録に適したアドレスを記録した光デ
ィスクおよびそのアドレスの再生方法に関するものであ
る。
従来の技術
近年、各種情報をディスクにレーザー光を用いて記録再
生する光ディスクメモリが多く提案されている。その中
で、記録密度および転送レートを゛向上させる記録再生
方法として、光ディスクの表面に、ディスク半径方向の
断面が７字形となる溝を形成し、このＶ溝の斜面をトラ
ックとして信号の記録再生を行なう方法を提案し／ζ。
生する光ディスクメモリが多く提案されている。その中
で、記録密度および転送レートを゛向上させる記録再生
方法として、光ディスクの表面に、ディスク半径方向の
断面が７字形となる溝を形成し、このＶ溝の斜面をトラ
ックとして信号の記録再生を行なう方法を提案し／ζ。
（特願昭５８−１７５２５９号）
第２図にＶ溝を持つ光ディスクの半径方向の断面を示す
。第２図のＡとＢ、或いは、ＣとＤ等の互いに隣り合う
２つの斜面に、第３図に示す様に２つのレーザースポッ
ト１および２を照射する。
。第２図のＡとＢ、或いは、ＣとＤ等の互いに隣り合う
２つの斜面に、第３図に示す様に２つのレーザースポッ
ト１および２を照射する。
これらのレーザーを互いに独立に駆動することにより、
２つの斜面をトラックとして独立な信号を記録すること
ができる。記録薄膜３は、例えばＴｅＯｘ （ｘχ１．
１）を用い、レーザーパワーの変 １化に従って反射
率を変化させること如より信号の記録を行なう。
２つの斜面をトラックとして独立な信号を記録すること
ができる。記録薄膜３は、例えばＴｅＯｘ （ｘχ１．
１）を用い、レーザーパワーの変 １化に従って反射
率を変化させること如より信号の記録を行なう。
以上の」：うに記録した信号を再生する場合、記録時と
同様に隣り合う２つの斜面にレーザーを再生パワーとし
て照射し、２トラツクの信号を同時に再生する。この再
生方式については、前記特許出願に詳しく示されている
様に、■溝の形状を最適化すれば、ディスクからの反射
光のうち±１次回折光を中心として受光することに」＝
す、隣接斜面からのクロスト−りを十分抑制し、１つの
トラックの信号をそれぞれ再生することができる。
同様に隣り合う２つの斜面にレーザーを再生パワーとし
て照射し、２トラツクの信号を同時に再生する。この再
生方式については、前記特許出願に詳しく示されている
様に、■溝の形状を最適化すれば、ディスクからの反射
光のうち±１次回折光を中心として受光することに」＝
す、隣接斜面からのクロスト−りを十分抑制し、１つの
トラックの信号をそれぞれ再生することができる。
１だ、ディスク上の目的とするトランクを検索するだめ
、トランク」−にアドレスを予め記録している。アドレ
ス信号は、第４図に示す様に、溝の深さを変化さぜたピ
ット４を形成することにより記録する。■溝を持つディ
スクは、７字形状を持ツカノティング針で金属原盤をカ
ッティングし、この金属原盤からスタンパをとり、スタ
ンパで基材樹脂を成形して作る。アドレスピットは、金
属原盤のカッティング時にカッティング針をピット位置
に対応して振動させることば」こり作成する。
、トランク」−にアドレスを予め記録している。アドレ
ス信号は、第４図に示す様に、溝の深さを変化さぜたピ
ット４を形成することにより記録する。■溝を持つディ
スクは、７字形状を持ツカノティング針で金属原盤をカ
ッティングし、この金属原盤からスタンパをとり、スタ
ンパで基材樹脂を成形して作る。アドレスピットは、金
属原盤のカッティング時にカッティング針をピット位置
に対応して振動させることば」こり作成する。
アドレス信号の再生は、ピットによるＶ溝の深さの変化
で、ディスクから反射した回折光の強度が変化すること
を利用して行なうことができる。
で、ディスクから反射した回折光の強度が変化すること
を利用して行なうことができる。
発明が解決しようとする問題点
以上のような従来のアドレス記録方式では、第４図に示
す様に、１本の■溝にあるトラックＣ９Ｄにアドレスピ
ットを記録しても、隣接するトラックＢおよびＥとそれ
ぞれ共有する山の稜線αおよびβが変調されているため
、トラックＢおよびＥの再生信号にクロスト−りが発生
する。
す様に、１本の■溝にあるトラックＣ９Ｄにアドレスピ
ットを記録しても、隣接するトラックＢおよびＥとそれ
ぞれ共有する山の稜線αおよびβが変調されているため
、トラックＢおよびＥの再生信号にクロスト−りが発生
する。
■溝ディスクの断面を第５図に示す。トランクピンチを
ｐｔ、ｖ溝の深さをｄ、Ｖ溝の角度をθとする。■溝形
状の一例として次のような形を用いる。
ｐｔ、ｖ溝の深さをｄ、Ｖ溝の角度をθとする。■溝形
状の一例として次のような形を用いる。
θ
コノとき、ｕｎ （−ｚ） −Ｐｔ ／ｄ ＝ ４ ｎ
ここで、アドレスピットのため、■溝の深さをΔｄ変化
させた場合、トラックピンチがΔｐｔ変化するとすれば
、上式より、 θ Δｐｔ−−Δｄ ’ｎ （２） ＝ ２ｎ・Δｄ ・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・（１）となる。基材の屈折率がｎ＝１．
５の場合、（１）式より、ピントの深さの変化Δｄの３
倍、トラックピッチΔｐｔが変化し、稜線はΔｐｔの２
倍変化することになる。例えば、Δｄ−０，０２μｍの
場合２・Δｐｔ＝０．１２μｍとなり、トラックピッチ
ｐｔ は１１ｚｍ程度のため、この稜線の変動は、クロ
ストークの大きな要因となる。特に第６図に示す様に隣
接するＶ溝でアドレスが重なるような場合には、隣接す
るアドレス信号の影響により、アドレス信号を読み誤る
可能性が高くなる。
ここで、アドレスピットのため、■溝の深さをΔｄ変化
させた場合、トラックピンチがΔｐｔ変化するとすれば
、上式より、 θ Δｐｔ−−Δｄ ’ｎ （２） ＝ ２ｎ・Δｄ ・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・（１）となる。基材の屈折率がｎ＝１．
５の場合、（１）式より、ピントの深さの変化Δｄの３
倍、トラックピッチΔｐｔが変化し、稜線はΔｐｔの２
倍変化することになる。例えば、Δｄ−０，０２μｍの
場合２・Δｐｔ＝０．１２μｍとなり、トラックピッチ
ｐｔ は１１ｚｍ程度のため、この稜線の変動は、クロ
ストークの大きな要因となる。特に第６図に示す様に隣
接するＶ溝でアドレスが重なるような場合には、隣接す
るアドレス信号の影響により、アドレス信号を読み誤る
可能性が高くなる。
本発明はかかる点に鑑みて表すれたもので、アドレス信
号間のクロストークをなくシ、アドレス信号を誤りなく
再生することができる光ディスクおよびアドレスの記録
再生方法を提供することを目的としている。
号間のクロストークをなくシ、アドレス信号を誤りなく
再生することができる光ディスクおよびアドレスの記録
再生方法を提供することを目的としている。
問題点を解決するための手段
本発明は上記問題点を解決するため、光ディスク上のＶ
溝の１本おきに溝の深さを変調してアドレス信号を記録
している。まだこの光ディスクのアドレス信号の再生は
、■溝上の隣接するトラックに２つのレーザースポット
をそれぞれ照射し、光ディスクからの反射光を２つの光
検出器でそれぞれ受光し、各光検出器で再生したアドレ
ス信号を用いて、補間を行なう。
溝の１本おきに溝の深さを変調してアドレス信号を記録
している。まだこの光ディスクのアドレス信号の再生は
、■溝上の隣接するトラックに２つのレーザースポット
をそれぞれ照射し、光ディスクからの反射光を２つの光
検出器でそれぞれ受光し、各光検出器で再生したアドレ
ス信号を用いて、補間を行なう。
作 用
本発明による光ディスクでは、上記のように１本おきの
溝にアドレス信号を記録しているため、アドレス信号間
のクロストークは発生しない。
溝にアドレス信号を記録しているため、アドレス信号間
のクロストークは発生しない。
寸だ、この光ディスクのアドレス信号のｍ生において、
アドレスを記録したＶ溝のトランクを再生する場合、前
記２つの光検出器は、それぞれ同じアドレス値のアドレ
ス信号を再生し、アドレスを記録してい々いＶ溝のトラ
ックを再生ずる場合、各光検出器は、隣接する■溝のア
ドレス信号をクロストークにより再生することができ、
この各光検出器の出力から両隣のＶ溝のアドレス値を求
め、これらのアドレス値から補間することにより該当す
るＶ溝のアドレス値を得ることができる。
アドレスを記録したＶ溝のトランクを再生する場合、前
記２つの光検出器は、それぞれ同じアドレス値のアドレ
ス信号を再生し、アドレスを記録してい々いＶ溝のトラ
ックを再生ずる場合、各光検出器は、隣接する■溝のア
ドレス信号をクロストークにより再生することができ、
この各光検出器の出力から両隣のＶ溝のアドレス値を求
め、これらのアドレス値から補間することにより該当す
るＶ溝のアドレス値を得ることができる。
実施例
以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。
明する。
第７図に本実施例におけるディスクのフォーマットを示
す。第７図において、５はディスクの最外周、６はディ
スクの最内周、７は中心穴を衣わず。最外周５と最内周
６に四丑れた部分（図中ａで示した範＋２Ｕ（）に■溝
が、同心固状あるいはスパイラル状に形成されている。
す。第７図において、５はディスクの最外周、６はディ
スクの最内周、７は中心穴を衣わず。最外周５と最内周
６に四丑れた部分（図中ａで示した範＋２Ｕ（）に■溝
が、同心固状あるいはスパイラル状に形成されている。
寸だ、ｂ部分はアドレス領域を表わしている。アドレス
領域では、■溝の１本卦きに溝の深さを変調してアドレ
ス信号を記録している。アドレス信号に１、各Ｖ溝を示
すアドレス値のコード信号、アドレス領域の始点を示す
アドレスマーク信号、コード信号の再生時に発生したエ
ラーを検出、訂正するだめのエラー訂正符号、クロック
同期信号などで構成する。
領域では、■溝の１本卦きに溝の深さを変調してアドレ
ス信号を記録している。アドレス信号に１、各Ｖ溝を示
すアドレス値のコード信号、アドレス領域の始点を示す
アドレスマーク信号、コード信号の再生時に発生したエ
ラーを検出、訂正するだめのエラー訂正符号、クロック
同期信号などで構成する。
以上のような光ディスクのアドレス領域の拡大図を第１
図に示す。第１図において、■溝イ（トラックＡ、Ｂ）
お」二びＶ溝ハ（トラッ／Ｅ 、 Ｆ ）は、■溝の深
さを深くしたアドレスピットＰ１ でアドレス信号を
記録している。■溝目（トラックＣ，Ｄ）にはアドレス
信号は記録していない。
図に示す。第１図において、■溝イ（トラックＡ、Ｂ）
お」二びＶ溝ハ（トラッ／Ｅ 、 Ｆ ）は、■溝の深
さを深くしたアドレスピットＰ１ でアドレス信号を
記録している。■溝目（トラックＣ，Ｄ）にはアドレス
信号は記録していない。
まず、Ｖ溝イのアドレス信号を再生する場合について説
明する。レーザースポット１がトラックＡに、レーザー
スポット２がトランクＢに照射されているとする。各レ
ーザースポットの反射光は、光検出器ＤＩ、Ｄ２（第８
図に示す）で受光する。
明する。レーザースポット１がトラックＡに、レーザー
スポット２がトランクＢに照射されているとする。各レ
ーザースポットの反射光は、光検出器ＤＩ、Ｄ２（第８
図に示す）で受光する。
ディスクからの反射光は、トランク上のアドレスピット
により回折される。そのため、アドレスピントの有無に
より光検出器で受光する反射光の強度が変化する。この
強度変化によりアドレス信号を再生することができる。
により回折される。そのため、アドレスピントの有無に
より光検出器で受光する反射光の強度が変化する。この
強度変化によりアドレス信号を再生することができる。
この場合、２つの光検出器ＤＩ、Ｄ２から再生したアド
レス信号は同じアドレス値となる。■溝ハのアドレス信
号を再生する場合も同様にして行なうことができる。
レス信号は同じアドレス値となる。■溝ハのアドレス信
号を再生する場合も同様にして行なうことができる。
つぎに、■溝目のアドレス信号を再生する場合について
説明する。第１図のように、トラックＣにレーザースボ
ッｌ−１を、トラックＤにレーザースポット２を照射す
る。トラックＣは、第１図に示すように■溝イのアドレ
スピットにより稜線ａが削られ、トラック巾が狭くなる
。トランク１］（トラックピッチｐｔ）の変化は、（１
）式で示したようにアドレスピットの深さΔｄに比べて
大きくなる。
説明する。第１図のように、トラックＣにレーザースボ
ッｌ−１を、トラックＤにレーザースポット２を照射す
る。トラックＣは、第１図に示すように■溝イのアドレ
スピットにより稜線ａが削られ、トラック巾が狭くなる
。トランク１］（トラックピッチｐｔ）の変化は、（１
）式で示したようにアドレスピットの深さΔｄに比べて
大きくなる。
そのため、このアドレスピットの深さΔｄをある程度大
きくすれば、トラックＣ上のレーザースポット１でも隣
りの■溝イのアドレスピントラ十分に検出することがで
きる。同様に、トラックＤ」このレーザースポット２で
Ｖ溝ハのアドレスピントを検出することができる。この
場合、光検出器Ｄ１ではＶ溝イのアドレス信号が、光検
出器Ｄ２ではＶ溝ハのアドレス信号がそれぞれ再生され
、２つの光検出器で再生したアドレス値は一致しない。
きくすれば、トラックＣ上のレーザースポット１でも隣
りの■溝イのアドレスピントラ十分に検出することがで
きる。同様に、トラックＤ」このレーザースポット２で
Ｖ溝ハのアドレスピントを検出することができる。この
場合、光検出器Ｄ１ではＶ溝イのアドレス信号が、光検
出器Ｄ２ではＶ溝ハのアドレス信号がそれぞれ再生され
、２つの光検出器で再生したアドレス値は一致しない。
■溝目のアドレス値は、再生したＶ溝イのアドレス値と
Ｖ溝ハのアドレス値を用いて、補間により求めることが
できる。
Ｖ溝ハのアドレス値を用いて、補間により求めることが
できる。
第８図に本実施例におけるアドレス信号の再生回路のブ
ロック図を示す。第８図において、１０は光検出器ＤＩ
１，１５は光検出器Ｄ２．１１．１６はプリアンプ、１
２．１７はアドレス領域検出回路、１３．１８はアドレ
ス復調回路、１４は補間回路、１９は出力端子である。
ロック図を示す。第８図において、１０は光検出器ＤＩ
１，１５は光検出器Ｄ２．１１．１６はプリアンプ、１
２．１７はアドレス領域検出回路、１３．１８はアドレ
ス復調回路、１４は補間回路、１９は出力端子である。
第１図で説明したように、光検出器Ｄ１にはレーザース
ポット１０反射光が入射する。光検出器Ｄ１は、その反
射光を電気信号に変換して出力する。プリアンプ１１は
、光検出器Ｄ１の出力信号を増幅し再生信号ｐを得る。
ポット１０反射光が入射する。光検出器Ｄ１は、その反
射光を電気信号に変換して出力する。プリアンプ１１は
、光検出器Ｄ１の出力信号を増幅し再生信号ｐを得る。
アドレス領域検出回路１２は再生信号ｐからアドレス信
号内のアドレスマーク信号を検出し、アドレス領域を示
すアドレスゲート信号ｑを送出する。アドレス復調回路
１３はアドレスゲート信号ｑに従い、再生信号ｐからア
ドレスコード信号およびエラー訂正符号を検出し、アド
レスコードのエラーを検出および訂正し、該当するトラ
ックのアドレス値ｒを再生する。レーザースポット２に
対しても、以」二と同様にして、光検出器Ｄ２で反射光
を受光し、プリアンプ１６で再生信号Ｓを得、アドレス
領域検出回路１７は再生信号Ｓからアドレスゲート信号
ｔを発生し、この信号を用いてアドレス復調回路１８は
該当するトラックのアドレス値Ｕを再生する。補間回路
１４は、入力するアドレス値ｒおよびアドレス値Ｕが一
致するかどうかを判定する。一致する場合、その値を２
つのレーザービーム１，２で照射しているＶ溝のアドレ
ス値Ｖとして出力端１９より送出する。
号内のアドレスマーク信号を検出し、アドレス領域を示
すアドレスゲート信号ｑを送出する。アドレス復調回路
１３はアドレスゲート信号ｑに従い、再生信号ｐからア
ドレスコード信号およびエラー訂正符号を検出し、アド
レスコードのエラーを検出および訂正し、該当するトラ
ックのアドレス値ｒを再生する。レーザースポット２に
対しても、以」二と同様にして、光検出器Ｄ２で反射光
を受光し、プリアンプ１６で再生信号Ｓを得、アドレス
領域検出回路１７は再生信号Ｓからアドレスゲート信号
ｔを発生し、この信号を用いてアドレス復調回路１８は
該当するトラックのアドレス値Ｕを再生する。補間回路
１４は、入力するアドレス値ｒおよびアドレス値Ｕが一
致するかどうかを判定する。一致する場合、その値を２
つのレーザービーム１，２で照射しているＶ溝のアドレ
ス値Ｖとして出力端１９より送出する。
また、一致しない場合、予め決められた補間方法に従い
、アドレス値ｒおよびアドレス値Ｕから該当する■溝の
アドレス値Ｖを求め、これを出力端１９より送出する。
、アドレス値ｒおよびアドレス値Ｕから該当する■溝の
アドレス値Ｖを求め、これを出力端１９より送出する。
なお、第８図において、２つのトラックの再生信号ｐお
よび再生信号Ｓは、アドレス信号の再生以外に記録した
データ信号の再生にも用いるため、信号再生回路（図示
せず）に送出される。
よび再生信号Ｓは、アドレス信号の再生以外に記録した
データ信号の再生にも用いるため、信号再生回路（図示
せず）に送出される。
つぎに、アドレスの補間方法について説明する。
補間方法はディスクへのアドレス値の記録方法に依存す
る。−例として、ディスクのＶ溝ごとに１番地ずつ順に
アドレス値を割り当てるとする。このとき、第１図にお
いて、■溝イのアドレス値をｎ番地（ｎ：整数）さすれ
ば、Ｖ溝ハのアドレス値をｎ＋２番地とし、２番地ずつ
増減させる。この場合の補間回路の実施例を第９図に示
す。第９図において、１３．１８はアドレス復調回路、
１４は補間回路、１９は出力端子であり、これらは第８
図で説明した回路と同じものである。２ｏは加算回路、
２１は除算回路である。第８図で説明したように、アド
レス復調回路１３は、レーザースポット１が照射するト
ラックのアドレス値ｒを再生し、アドレス復調回路１８
は、レーザービームト２が照射するトラックのアドレス
値Ｕを再生する。加算回路２０ば、アドレス値ｒとアド
レス値Ｕの加算を行なう。除算回路２１は、この加算結
果を２で割り、その値を求めるＶ溝のアドレス値Ｖとし
て出力端子１９よシ送出する。一般に、これらの演算は
２進コードで行なうだめ、除算回路２１は、加算結果を
１ピツ）ＬＳＢ側へシフトするだけでよい。この補間回
路で、■溝イのアドレス信号を再生した場合は、アドレ
ス値ｒ、アドレス値Ｕともｎ番地となる。そのため、補
間処理後のアドレス値Ｖもｎ番地となる。■溝ハを再生
する場合も同様にしてアドレス値Ｖはｎ＋２番地となる
。つぎに、■溝目を再生する場合は、アドレス値Ｔはｎ
番地となり、アドレス値Ｕはｎ＋２番地となる。補間回
路１４で、これらのアドレス値の加算平均をとることに
より、■溝目のアドレス値Ｖはｎ＋１番地として求める
ことができる。
る。−例として、ディスクのＶ溝ごとに１番地ずつ順に
アドレス値を割り当てるとする。このとき、第１図にお
いて、■溝イのアドレス値をｎ番地（ｎ：整数）さすれ
ば、Ｖ溝ハのアドレス値をｎ＋２番地とし、２番地ずつ
増減させる。この場合の補間回路の実施例を第９図に示
す。第９図において、１３．１８はアドレス復調回路、
１４は補間回路、１９は出力端子であり、これらは第８
図で説明した回路と同じものである。２ｏは加算回路、
２１は除算回路である。第８図で説明したように、アド
レス復調回路１３は、レーザースポット１が照射するト
ラックのアドレス値ｒを再生し、アドレス復調回路１８
は、レーザービームト２が照射するトラックのアドレス
値Ｕを再生する。加算回路２０ば、アドレス値ｒとアド
レス値Ｕの加算を行なう。除算回路２１は、この加算結
果を２で割り、その値を求めるＶ溝のアドレス値Ｖとし
て出力端子１９よシ送出する。一般に、これらの演算は
２進コードで行なうだめ、除算回路２１は、加算結果を
１ピツ）ＬＳＢ側へシフトするだけでよい。この補間回
路で、■溝イのアドレス信号を再生した場合は、アドレ
ス値ｒ、アドレス値Ｕともｎ番地となる。そのため、補
間処理後のアドレス値Ｖもｎ番地となる。■溝ハを再生
する場合も同様にしてアドレス値Ｖはｎ＋２番地となる
。つぎに、■溝目を再生する場合は、アドレス値Ｔはｎ
番地となり、アドレス値Ｕはｎ＋２番地となる。補間回
路１４で、これらのアドレス値の加算平均をとることに
より、■溝目のアドレス値Ｖはｎ＋１番地として求める
ことができる。
アドレス値の記録方法は、ディスクのフォーマットによ
り変化する。第１０図にディスクフォーマットの他の例
を示す。第１０図において、５はディスクの最外周、６
はディスクの最内周、７は中心穴であり、これらは第７
図に示したものと同じである。第１０図に示すように、
ディスクはに個（図ではに−８）のセクタに分割されて
いる。
り変化する。第１０図にディスクフォーマットの他の例
を示す。第１０図において、５はディスクの最外周、６
はディスクの最内周、７は中心穴であり、これらは第７
図に示したものと同じである。第１０図に示すように、
ディスクはに個（図ではに−８）のセクタに分割されて
いる。
Ｃｉ はｉ番目のセクタセパレータである。データ信
号等の記録再生や検索などにはセクタごとに管理するの
が便利である。そのため、各セクタにアドレスを割り当
てる。この場合、１つのセクタセパレータ内で隣接する
Ｖ溝のアドレス値は、ｋ番地ずつ変化している。このと
き、アドレス信号を記録するＶ溝には２に番地ごと、つ
捷り、ｎ番地のつぎはｎ＋２に番地となるようにアドレ
ス信号を記録すれば、第９図で示した補間回路により、
各Ｖ溝のアドレス値を同様にして求めることができる。
号等の記録再生や検索などにはセクタごとに管理するの
が便利である。そのため、各セクタにアドレスを割り当
てる。この場合、１つのセクタセパレータ内で隣接する
Ｖ溝のアドレス値は、ｋ番地ずつ変化している。このと
き、アドレス信号を記録するＶ溝には２に番地ごと、つ
捷り、ｎ番地のつぎはｎ＋２に番地となるようにアドレ
ス信号を記録すれば、第９図で示した補間回路により、
各Ｖ溝のアドレス値を同様にして求めることができる。
まだ、各Ｖ溝のアドレス値が以上のような等差数列にな
っていない場合には、第９図に示した補間回路は使用で
きない。一般的には、第８図において補間回路１４をＲ
ＯＭで構成することができる。予め決められたアドレス
値をこのＲＯＭに書１５ ″・ き込んでおく。アドレス再生時には、再生したアドレス
値ｒおよびアドレス値ＵをＲＯＭのアドレスとして、書
き込んだテークを読み出し、これを求めるべきＶ溝のア
ドレス値Ｖとすればよい。
っていない場合には、第９図に示した補間回路は使用で
きない。一般的には、第８図において補間回路１４をＲ
ＯＭで構成することができる。予め決められたアドレス
値をこのＲＯＭに書１５ ″・ き込んでおく。アドレス再生時には、再生したアドレス
値ｒおよびアドレス値ＵをＲＯＭのアドレスとして、書
き込んだテークを読み出し、これを求めるべきＶ溝のア
ドレス値Ｖとすればよい。
発明の効果
以上述べてきたように、本発明に」：れば、■溝の１本
おきにアドレス信号を記録することにより、■溝間のア
ドレス信号の干渉を無くすることができる。丑だ、アド
レス信号の再生時には、隣接するトラックからのアドレ
ス信号のクロスト−りを積極的に利用することにより、
アドレス信号を記録していないＶ溝のアドレス値を補間
により求めることができる。このような光ディスクおよ
びアドレスの再生方法を用いることにより、各溝のアド
レス値をより正確に再生することが可能となり、実用的
にきわめて有用である。
おきにアドレス信号を記録することにより、■溝間のア
ドレス信号の干渉を無くすることができる。丑だ、アド
レス信号の再生時には、隣接するトラックからのアドレ
ス信号のクロスト−りを積極的に利用することにより、
アドレス信号を記録していないＶ溝のアドレス値を補間
により求めることができる。このような光ディスクおよ
びアドレスの再生方法を用いることにより、各溝のアド
レス値をより正確に再生することが可能となり、実用的
にきわめて有用である。
第１図は本発明の一実施例における光ディスクのアドレ
ス領域を示す図、第２図はＶ溝を持つ光ディスクの断面
を示す図、第３図ばＶ溝ティスクへのレーザースポット
の照射方法を示す図、第４図および第６図は従来の光テ
ィスフのアドレス領域を示す図、第５図ばＶ溝の断面を
示す図、第７図は本発明の一実施例における光ディスク
のフォーマットを示す図、第８図は本発明の一実施例に
おけるアドレス再生回路を示すブロック図、第９図は本
発明の一実施例におけるアドレスの補間回路を示すブロ
ック図、第１０図は本発明の他の実施例における光ディ
スクのフォーマットを示す図である。 イ、 ｏ 、 パー−Ｖ溝、Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄ、Ｅ、Ｆ・
・・トラック、Ｐｌ ・・・・アドレスピット、１，
２・・・・・・レーザースポット、１０，１５・・・・
光検出器、１３．１８・・・・・アドレス復調回路、１
４・・・・・・補間回路、２０−・加算回路、２１ ・
・・・除算回路。
ス領域を示す図、第２図はＶ溝を持つ光ディスクの断面
を示す図、第３図ばＶ溝ティスクへのレーザースポット
の照射方法を示す図、第４図および第６図は従来の光テ
ィスフのアドレス領域を示す図、第５図ばＶ溝の断面を
示す図、第７図は本発明の一実施例における光ディスク
のフォーマットを示す図、第８図は本発明の一実施例に
おけるアドレス再生回路を示すブロック図、第９図は本
発明の一実施例におけるアドレスの補間回路を示すブロ
ック図、第１０図は本発明の他の実施例における光ディ
スクのフォーマットを示す図である。 イ、 ｏ 、 パー−Ｖ溝、Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄ、Ｅ、Ｆ・
・・トラック、Ｐｌ ・・・・アドレスピット、１，
２・・・・・・レーザースポット、１０，１５・・・・
光検出器、１３．１８・・・・・アドレス復調回路、１
４・・・・・・補間回路、２０−・加算回路、２１ ・
・・・除算回路。
Claims (4)
- （１）ディスク半径方向の断面がＶ字状となるＶ溝を有
し、Ｖ溝の一本おきの溝にＶ溝の深さを変調してアドレ
スを記録してなる光ディスク。 - （２）光ディスクのＶ溝に記録されるアドレス値が偶数
番地ずつ変化して記録されていることを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の光ディスク。 - （３）ディスク半径方向の断面がＶ字状となるＶ溝を有
し、Ｖ溝の一本おきの溝にＶ溝の深さを変調してアドレ
スを記録してなる光ディスク上のＶ溝の斜面をトラック
として用い、隣り合う２つのトラック上に２つのレーザ
ーを絞ったスポットをそれぞれ照射し、光ディスクから
の反射光を２つの光検出器でそれぞれ受光してＶ溝の２
斜面上に独立に信号を再生するに際して、アドレスを記
録していないＶ溝では、隣接する２つのＶ溝のアドレス
を前記光検出器で検出し、検出した２つのアドレス値か
ら補間することにより該当するＶ溝のアドレス値を得る
ことを特徴とする光ディスクのアドレス再生方法。 - （４）２つの光検出器で検出したそれぞれのアドレス値
を加算して２で除算することにより、各Ｖ溝のアドレス
値を検出することを特徴とする特許請求の範囲第３項記
載の光ディスクのアドレス再生方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59259478A JPS61137242A (ja) | 1984-12-07 | 1984-12-07 | 光デイスクおよびアドレス記録再生方法 |
| US06/768,843 US4712204A (en) | 1984-08-31 | 1985-08-23 | Optical disk and method for reproducing reference signal therefrom |
| EP85110716A EP0176755B1 (en) | 1984-08-31 | 1985-08-26 | Optical disk and method for reproducing reference signal therefrom |
| DE8585110716T DE3574644D1 (de) | 1984-08-31 | 1985-08-26 | Optische platte und verfahren zur erzeugung eines signals davon. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59259478A JPS61137242A (ja) | 1984-12-07 | 1984-12-07 | 光デイスクおよびアドレス記録再生方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61137242A true JPS61137242A (ja) | 1986-06-24 |
| JPH0368457B2 JPH0368457B2 (ja) | 1991-10-28 |
Family
ID=17334635
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59259478A Granted JPS61137242A (ja) | 1984-08-31 | 1984-12-07 | 光デイスクおよびアドレス記録再生方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61137242A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01134727A (ja) * | 1987-11-19 | 1989-05-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスクおよびそのアドレス記録再生回路 |
| JPH06333237A (ja) * | 1993-05-19 | 1994-12-02 | Nec Corp | 光学情報記録媒体及び光学情報の記録・消去・再生方法 |
| US6591683B1 (en) | 2000-07-13 | 2003-07-15 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Pressure sensor |
| US6619130B1 (en) | 2000-07-31 | 2003-09-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Pressure sensor |
-
1984
- 1984-12-07 JP JP59259478A patent/JPS61137242A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01134727A (ja) * | 1987-11-19 | 1989-05-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスクおよびそのアドレス記録再生回路 |
| JPH06333237A (ja) * | 1993-05-19 | 1994-12-02 | Nec Corp | 光学情報記録媒体及び光学情報の記録・消去・再生方法 |
| US6591683B1 (en) | 2000-07-13 | 2003-07-15 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Pressure sensor |
| US6619130B1 (en) | 2000-07-31 | 2003-09-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Pressure sensor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0368457B2 (ja) | 1991-10-28 |
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