JPS61137242A - 光デイスクおよびアドレス記録再生方法 - Google Patents
光デイスクおよびアドレス記録再生方法Info
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- JPS61137242A JPS61137242A JP59259478A JP25947884A JPS61137242A JP S61137242 A JPS61137242 A JP S61137242A JP 59259478 A JP59259478 A JP 59259478A JP 25947884 A JP25947884 A JP 25947884A JP S61137242 A JPS61137242 A JP S61137242A
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- Japan
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- groove
- signal
- photodetectors
- tracks
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光ディスクおよびこの光ディスクにレーザー
を照射して各種情報を記録再生する方法に関するもので
あり、特に高密度記録に適したアドレスを記録した光デ
ィスクおよびそのアドレスの再生方法に関するものであ
る。
を照射して各種情報を記録再生する方法に関するもので
あり、特に高密度記録に適したアドレスを記録した光デ
ィスクおよびそのアドレスの再生方法に関するものであ
る。
従来の技術
近年、各種情報をディスクにレーザー光を用いて記録再
生する光ディスクメモリが多く提案されている。その中
で、記録密度および転送レートを゛向上させる記録再生
方法として、光ディスクの表面に、ディスク半径方向の
断面が7字形となる溝を形成し、このV溝の斜面をトラ
ックとして信号の記録再生を行なう方法を提案し/ζ。
生する光ディスクメモリが多く提案されている。その中
で、記録密度および転送レートを゛向上させる記録再生
方法として、光ディスクの表面に、ディスク半径方向の
断面が7字形となる溝を形成し、このV溝の斜面をトラ
ックとして信号の記録再生を行なう方法を提案し/ζ。
(特願昭58−175259号)
第2図にV溝を持つ光ディスクの半径方向の断面を示す
。第2図のAとB、或いは、CとD等の互いに隣り合う
2つの斜面に、第3図に示す様に2つのレーザースポッ
ト1および2を照射する。
。第2図のAとB、或いは、CとD等の互いに隣り合う
2つの斜面に、第3図に示す様に2つのレーザースポッ
ト1および2を照射する。
これらのレーザーを互いに独立に駆動することにより、
2つの斜面をトラックとして独立な信号を記録すること
ができる。記録薄膜3は、例えばTeOx (xχ1.
1)を用い、レーザーパワーの変 1化に従って反射
率を変化させること如より信号の記録を行なう。
2つの斜面をトラックとして独立な信号を記録すること
ができる。記録薄膜3は、例えばTeOx (xχ1.
1)を用い、レーザーパワーの変 1化に従って反射
率を変化させること如より信号の記録を行なう。
以上の」:うに記録した信号を再生する場合、記録時と
同様に隣り合う2つの斜面にレーザーを再生パワーとし
て照射し、2トラツクの信号を同時に再生する。この再
生方式については、前記特許出願に詳しく示されている
様に、■溝の形状を最適化すれば、ディスクからの反射
光のうち±1次回折光を中心として受光することに」=
す、隣接斜面からのクロスト−りを十分抑制し、1つの
トラックの信号をそれぞれ再生することができる。
同様に隣り合う2つの斜面にレーザーを再生パワーとし
て照射し、2トラツクの信号を同時に再生する。この再
生方式については、前記特許出願に詳しく示されている
様に、■溝の形状を最適化すれば、ディスクからの反射
光のうち±1次回折光を中心として受光することに」=
す、隣接斜面からのクロスト−りを十分抑制し、1つの
トラックの信号をそれぞれ再生することができる。
1だ、ディスク上の目的とするトランクを検索するだめ
、トランク」−にアドレスを予め記録している。アドレ
ス信号は、第4図に示す様に、溝の深さを変化さぜたピ
ット4を形成することにより記録する。■溝を持つディ
スクは、7字形状を持ツカノティング針で金属原盤をカ
ッティングし、この金属原盤からスタンパをとり、スタ
ンパで基材樹脂を成形して作る。アドレスピットは、金
属原盤のカッティング時にカッティング針をピット位置
に対応して振動させることば」こり作成する。
、トランク」−にアドレスを予め記録している。アドレ
ス信号は、第4図に示す様に、溝の深さを変化さぜたピ
ット4を形成することにより記録する。■溝を持つディ
スクは、7字形状を持ツカノティング針で金属原盤をカ
ッティングし、この金属原盤からスタンパをとり、スタ
ンパで基材樹脂を成形して作る。アドレスピットは、金
属原盤のカッティング時にカッティング針をピット位置
に対応して振動させることば」こり作成する。
アドレス信号の再生は、ピットによるV溝の深さの変化
で、ディスクから反射した回折光の強度が変化すること
を利用して行なうことができる。
で、ディスクから反射した回折光の強度が変化すること
を利用して行なうことができる。
発明が解決しようとする問題点
以上のような従来のアドレス記録方式では、第4図に示
す様に、1本の■溝にあるトラックC9Dにアドレスピ
ットを記録しても、隣接するトラックBおよびEとそれ
ぞれ共有する山の稜線αおよびβが変調されているため
、トラックBおよびEの再生信号にクロスト−りが発生
する。
す様に、1本の■溝にあるトラックC9Dにアドレスピ
ットを記録しても、隣接するトラックBおよびEとそれ
ぞれ共有する山の稜線αおよびβが変調されているため
、トラックBおよびEの再生信号にクロスト−りが発生
する。
■溝ディスクの断面を第5図に示す。トランクピンチを
pt、v溝の深さをd、V溝の角度をθとする。■溝形
状の一例として次のような形を用いる。
pt、v溝の深さをd、V溝の角度をθとする。■溝形
状の一例として次のような形を用いる。
θ
コノとき、un (−z) −Pt /d = 4 n
ここで、アドレスピットのため、■溝の深さをΔd変化
させた場合、トラックピンチがΔpt変化するとすれば
、上式より、 θ Δpt−−Δd ’n (2) = 2n・Δd ・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・(1)となる。基材の屈折率がn=1.
5の場合、(1)式より、ピントの深さの変化Δdの3
倍、トラックピッチΔptが変化し、稜線はΔptの2
倍変化することになる。例えば、Δd−0,02μmの
場合2・Δpt=0.12μmとなり、トラックピッチ
pt は11zm程度のため、この稜線の変動は、クロ
ストークの大きな要因となる。特に第6図に示す様に隣
接するV溝でアドレスが重なるような場合には、隣接す
るアドレス信号の影響により、アドレス信号を読み誤る
可能性が高くなる。
ここで、アドレスピットのため、■溝の深さをΔd変化
させた場合、トラックピンチがΔpt変化するとすれば
、上式より、 θ Δpt−−Δd ’n (2) = 2n・Δd ・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・(1)となる。基材の屈折率がn=1.
5の場合、(1)式より、ピントの深さの変化Δdの3
倍、トラックピッチΔptが変化し、稜線はΔptの2
倍変化することになる。例えば、Δd−0,02μmの
場合2・Δpt=0.12μmとなり、トラックピッチ
pt は11zm程度のため、この稜線の変動は、クロ
ストークの大きな要因となる。特に第6図に示す様に隣
接するV溝でアドレスが重なるような場合には、隣接す
るアドレス信号の影響により、アドレス信号を読み誤る
可能性が高くなる。
本発明はかかる点に鑑みて表すれたもので、アドレス信
号間のクロストークをなくシ、アドレス信号を誤りなく
再生することができる光ディスクおよびアドレスの記録
再生方法を提供することを目的としている。
号間のクロストークをなくシ、アドレス信号を誤りなく
再生することができる光ディスクおよびアドレスの記録
再生方法を提供することを目的としている。
問題点を解決するための手段
本発明は上記問題点を解決するため、光ディスク上のV
溝の1本おきに溝の深さを変調してアドレス信号を記録
している。まだこの光ディスクのアドレス信号の再生は
、■溝上の隣接するトラックに2つのレーザースポット
をそれぞれ照射し、光ディスクからの反射光を2つの光
検出器でそれぞれ受光し、各光検出器で再生したアドレ
ス信号を用いて、補間を行なう。
溝の1本おきに溝の深さを変調してアドレス信号を記録
している。まだこの光ディスクのアドレス信号の再生は
、■溝上の隣接するトラックに2つのレーザースポット
をそれぞれ照射し、光ディスクからの反射光を2つの光
検出器でそれぞれ受光し、各光検出器で再生したアドレ
ス信号を用いて、補間を行なう。
作 用
本発明による光ディスクでは、上記のように1本おきの
溝にアドレス信号を記録しているため、アドレス信号間
のクロストークは発生しない。
溝にアドレス信号を記録しているため、アドレス信号間
のクロストークは発生しない。
寸だ、この光ディスクのアドレス信号のm生において、
アドレスを記録したV溝のトランクを再生する場合、前
記2つの光検出器は、それぞれ同じアドレス値のアドレ
ス信号を再生し、アドレスを記録してい々いV溝のトラ
ックを再生ずる場合、各光検出器は、隣接する■溝のア
ドレス信号をクロストークにより再生することができ、
この各光検出器の出力から両隣のV溝のアドレス値を求
め、これらのアドレス値から補間することにより該当す
るV溝のアドレス値を得ることができる。
アドレスを記録したV溝のトランクを再生する場合、前
記2つの光検出器は、それぞれ同じアドレス値のアドレ
ス信号を再生し、アドレスを記録してい々いV溝のトラ
ックを再生ずる場合、各光検出器は、隣接する■溝のア
ドレス信号をクロストークにより再生することができ、
この各光検出器の出力から両隣のV溝のアドレス値を求
め、これらのアドレス値から補間することにより該当す
るV溝のアドレス値を得ることができる。
実施例
以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。
明する。
第7図に本実施例におけるディスクのフォーマットを示
す。第7図において、5はディスクの最外周、6はディ
スクの最内周、7は中心穴を衣わず。最外周5と最内周
6に四丑れた部分(図中aで示した範+2U()に■溝
が、同心固状あるいはスパイラル状に形成されている。
す。第7図において、5はディスクの最外周、6はディ
スクの最内周、7は中心穴を衣わず。最外周5と最内周
6に四丑れた部分(図中aで示した範+2U()に■溝
が、同心固状あるいはスパイラル状に形成されている。
寸だ、b部分はアドレス領域を表わしている。アドレス
領域では、■溝の1本卦きに溝の深さを変調してアドレ
ス信号を記録している。アドレス信号に1、各V溝を示
すアドレス値のコード信号、アドレス領域の始点を示す
アドレスマーク信号、コード信号の再生時に発生したエ
ラーを検出、訂正するだめのエラー訂正符号、クロック
同期信号などで構成する。
領域では、■溝の1本卦きに溝の深さを変調してアドレ
ス信号を記録している。アドレス信号に1、各V溝を示
すアドレス値のコード信号、アドレス領域の始点を示す
アドレスマーク信号、コード信号の再生時に発生したエ
ラーを検出、訂正するだめのエラー訂正符号、クロック
同期信号などで構成する。
以上のような光ディスクのアドレス領域の拡大図を第1
図に示す。第1図において、■溝イ(トラックA、B)
お」二びV溝ハ(トラッ/E 、 F )は、■溝の深
さを深くしたアドレスピットP1 でアドレス信号を
記録している。■溝目(トラックC,D)にはアドレス
信号は記録していない。
図に示す。第1図において、■溝イ(トラックA、B)
お」二びV溝ハ(トラッ/E 、 F )は、■溝の深
さを深くしたアドレスピットP1 でアドレス信号を
記録している。■溝目(トラックC,D)にはアドレス
信号は記録していない。
まず、V溝イのアドレス信号を再生する場合について説
明する。レーザースポット1がトラックAに、レーザー
スポット2がトランクBに照射されているとする。各レ
ーザースポットの反射光は、光検出器DI、D2(第8
図に示す)で受光する。
明する。レーザースポット1がトラックAに、レーザー
スポット2がトランクBに照射されているとする。各レ
ーザースポットの反射光は、光検出器DI、D2(第8
図に示す)で受光する。
ディスクからの反射光は、トランク上のアドレスピット
により回折される。そのため、アドレスピントの有無に
より光検出器で受光する反射光の強度が変化する。この
強度変化によりアドレス信号を再生することができる。
により回折される。そのため、アドレスピントの有無に
より光検出器で受光する反射光の強度が変化する。この
強度変化によりアドレス信号を再生することができる。
この場合、2つの光検出器DI、D2から再生したアド
レス信号は同じアドレス値となる。■溝ハのアドレス信
号を再生する場合も同様にして行なうことができる。
レス信号は同じアドレス値となる。■溝ハのアドレス信
号を再生する場合も同様にして行なうことができる。
つぎに、■溝目のアドレス信号を再生する場合について
説明する。第1図のように、トラックCにレーザースボ
ッl−1を、トラックDにレーザースポット2を照射す
る。トラックCは、第1図に示すように■溝イのアドレ
スピットにより稜線aが削られ、トラック巾が狭くなる
。トランク1](トラックピッチpt)の変化は、(1
)式で示したようにアドレスピットの深さΔdに比べて
大きくなる。
説明する。第1図のように、トラックCにレーザースボ
ッl−1を、トラックDにレーザースポット2を照射す
る。トラックCは、第1図に示すように■溝イのアドレ
スピットにより稜線aが削られ、トラック巾が狭くなる
。トランク1](トラックピッチpt)の変化は、(1
)式で示したようにアドレスピットの深さΔdに比べて
大きくなる。
そのため、このアドレスピットの深さΔdをある程度大
きくすれば、トラックC上のレーザースポット1でも隣
りの■溝イのアドレスピントラ十分に検出することがで
きる。同様に、トラックD」このレーザースポット2で
V溝ハのアドレスピントを検出することができる。この
場合、光検出器D1ではV溝イのアドレス信号が、光検
出器D2ではV溝ハのアドレス信号がそれぞれ再生され
、2つの光検出器で再生したアドレス値は一致しない。
きくすれば、トラックC上のレーザースポット1でも隣
りの■溝イのアドレスピントラ十分に検出することがで
きる。同様に、トラックD」このレーザースポット2で
V溝ハのアドレスピントを検出することができる。この
場合、光検出器D1ではV溝イのアドレス信号が、光検
出器D2ではV溝ハのアドレス信号がそれぞれ再生され
、2つの光検出器で再生したアドレス値は一致しない。
■溝目のアドレス値は、再生したV溝イのアドレス値と
V溝ハのアドレス値を用いて、補間により求めることが
できる。
V溝ハのアドレス値を用いて、補間により求めることが
できる。
第8図に本実施例におけるアドレス信号の再生回路のブ
ロック図を示す。第8図において、10は光検出器DI
1,15は光検出器D2.11.16はプリアンプ、1
2.17はアドレス領域検出回路、13.18はアドレ
ス復調回路、14は補間回路、19は出力端子である。
ロック図を示す。第8図において、10は光検出器DI
1,15は光検出器D2.11.16はプリアンプ、1
2.17はアドレス領域検出回路、13.18はアドレ
ス復調回路、14は補間回路、19は出力端子である。
第1図で説明したように、光検出器D1にはレーザース
ポット10反射光が入射する。光検出器D1は、その反
射光を電気信号に変換して出力する。プリアンプ11は
、光検出器D1の出力信号を増幅し再生信号pを得る。
ポット10反射光が入射する。光検出器D1は、その反
射光を電気信号に変換して出力する。プリアンプ11は
、光検出器D1の出力信号を増幅し再生信号pを得る。
アドレス領域検出回路12は再生信号pからアドレス信
号内のアドレスマーク信号を検出し、アドレス領域を示
すアドレスゲート信号qを送出する。アドレス復調回路
13はアドレスゲート信号qに従い、再生信号pからア
ドレスコード信号およびエラー訂正符号を検出し、アド
レスコードのエラーを検出および訂正し、該当するトラ
ックのアドレス値rを再生する。レーザースポット2に
対しても、以」二と同様にして、光検出器D2で反射光
を受光し、プリアンプ16で再生信号Sを得、アドレス
領域検出回路17は再生信号Sからアドレスゲート信号
tを発生し、この信号を用いてアドレス復調回路18は
該当するトラックのアドレス値Uを再生する。補間回路
14は、入力するアドレス値rおよびアドレス値Uが一
致するかどうかを判定する。一致する場合、その値を2
つのレーザービーム1,2で照射しているV溝のアドレ
ス値Vとして出力端19より送出する。
号内のアドレスマーク信号を検出し、アドレス領域を示
すアドレスゲート信号qを送出する。アドレス復調回路
13はアドレスゲート信号qに従い、再生信号pからア
ドレスコード信号およびエラー訂正符号を検出し、アド
レスコードのエラーを検出および訂正し、該当するトラ
ックのアドレス値rを再生する。レーザースポット2に
対しても、以」二と同様にして、光検出器D2で反射光
を受光し、プリアンプ16で再生信号Sを得、アドレス
領域検出回路17は再生信号Sからアドレスゲート信号
tを発生し、この信号を用いてアドレス復調回路18は
該当するトラックのアドレス値Uを再生する。補間回路
14は、入力するアドレス値rおよびアドレス値Uが一
致するかどうかを判定する。一致する場合、その値を2
つのレーザービーム1,2で照射しているV溝のアドレ
ス値Vとして出力端19より送出する。
また、一致しない場合、予め決められた補間方法に従い
、アドレス値rおよびアドレス値Uから該当する■溝の
アドレス値Vを求め、これを出力端19より送出する。
、アドレス値rおよびアドレス値Uから該当する■溝の
アドレス値Vを求め、これを出力端19より送出する。
なお、第8図において、2つのトラックの再生信号pお
よび再生信号Sは、アドレス信号の再生以外に記録した
データ信号の再生にも用いるため、信号再生回路(図示
せず)に送出される。
よび再生信号Sは、アドレス信号の再生以外に記録した
データ信号の再生にも用いるため、信号再生回路(図示
せず)に送出される。
つぎに、アドレスの補間方法について説明する。
補間方法はディスクへのアドレス値の記録方法に依存す
る。−例として、ディスクのV溝ごとに1番地ずつ順に
アドレス値を割り当てるとする。このとき、第1図にお
いて、■溝イのアドレス値をn番地(n:整数)さすれ
ば、V溝ハのアドレス値をn+2番地とし、2番地ずつ
増減させる。この場合の補間回路の実施例を第9図に示
す。第9図において、13.18はアドレス復調回路、
14は補間回路、19は出力端子であり、これらは第8
図で説明した回路と同じものである。2oは加算回路、
21は除算回路である。第8図で説明したように、アド
レス復調回路13は、レーザースポット1が照射するト
ラックのアドレス値rを再生し、アドレス復調回路18
は、レーザービームト2が照射するトラックのアドレス
値Uを再生する。加算回路20ば、アドレス値rとアド
レス値Uの加算を行なう。除算回路21は、この加算結
果を2で割り、その値を求めるV溝のアドレス値Vとし
て出力端子19よシ送出する。一般に、これらの演算は
2進コードで行なうだめ、除算回路21は、加算結果を
1ピツ)LSB側へシフトするだけでよい。この補間回
路で、■溝イのアドレス信号を再生した場合は、アドレ
ス値r、アドレス値Uともn番地となる。そのため、補
間処理後のアドレス値Vもn番地となる。■溝ハを再生
する場合も同様にしてアドレス値Vはn+2番地となる
。つぎに、■溝目を再生する場合は、アドレス値Tはn
番地となり、アドレス値Uはn+2番地となる。補間回
路14で、これらのアドレス値の加算平均をとることに
より、■溝目のアドレス値Vはn+1番地として求める
ことができる。
る。−例として、ディスクのV溝ごとに1番地ずつ順に
アドレス値を割り当てるとする。このとき、第1図にお
いて、■溝イのアドレス値をn番地(n:整数)さすれ
ば、V溝ハのアドレス値をn+2番地とし、2番地ずつ
増減させる。この場合の補間回路の実施例を第9図に示
す。第9図において、13.18はアドレス復調回路、
14は補間回路、19は出力端子であり、これらは第8
図で説明した回路と同じものである。2oは加算回路、
21は除算回路である。第8図で説明したように、アド
レス復調回路13は、レーザースポット1が照射するト
ラックのアドレス値rを再生し、アドレス復調回路18
は、レーザービームト2が照射するトラックのアドレス
値Uを再生する。加算回路20ば、アドレス値rとアド
レス値Uの加算を行なう。除算回路21は、この加算結
果を2で割り、その値を求めるV溝のアドレス値Vとし
て出力端子19よシ送出する。一般に、これらの演算は
2進コードで行なうだめ、除算回路21は、加算結果を
1ピツ)LSB側へシフトするだけでよい。この補間回
路で、■溝イのアドレス信号を再生した場合は、アドレ
ス値r、アドレス値Uともn番地となる。そのため、補
間処理後のアドレス値Vもn番地となる。■溝ハを再生
する場合も同様にしてアドレス値Vはn+2番地となる
。つぎに、■溝目を再生する場合は、アドレス値Tはn
番地となり、アドレス値Uはn+2番地となる。補間回
路14で、これらのアドレス値の加算平均をとることに
より、■溝目のアドレス値Vはn+1番地として求める
ことができる。
アドレス値の記録方法は、ディスクのフォーマットによ
り変化する。第10図にディスクフォーマットの他の例
を示す。第10図において、5はディスクの最外周、6
はディスクの最内周、7は中心穴であり、これらは第7
図に示したものと同じである。第10図に示すように、
ディスクはに個(図ではに−8)のセクタに分割されて
いる。
り変化する。第10図にディスクフォーマットの他の例
を示す。第10図において、5はディスクの最外周、6
はディスクの最内周、7は中心穴であり、これらは第7
図に示したものと同じである。第10図に示すように、
ディスクはに個(図ではに−8)のセクタに分割されて
いる。
Ci はi番目のセクタセパレータである。データ信
号等の記録再生や検索などにはセクタごとに管理するの
が便利である。そのため、各セクタにアドレスを割り当
てる。この場合、1つのセクタセパレータ内で隣接する
V溝のアドレス値は、k番地ずつ変化している。このと
き、アドレス信号を記録するV溝には2に番地ごと、つ
捷り、n番地のつぎはn+2に番地となるようにアドレ
ス信号を記録すれば、第9図で示した補間回路により、
各V溝のアドレス値を同様にして求めることができる。
号等の記録再生や検索などにはセクタごとに管理するの
が便利である。そのため、各セクタにアドレスを割り当
てる。この場合、1つのセクタセパレータ内で隣接する
V溝のアドレス値は、k番地ずつ変化している。このと
き、アドレス信号を記録するV溝には2に番地ごと、つ
捷り、n番地のつぎはn+2に番地となるようにアドレ
ス信号を記録すれば、第9図で示した補間回路により、
各V溝のアドレス値を同様にして求めることができる。
まだ、各V溝のアドレス値が以上のような等差数列にな
っていない場合には、第9図に示した補間回路は使用で
きない。一般的には、第8図において補間回路14をR
OMで構成することができる。予め決められたアドレス
値をこのROMに書15 ″・ き込んでおく。アドレス再生時には、再生したアドレス
値rおよびアドレス値UをROMのアドレスとして、書
き込んだテークを読み出し、これを求めるべきV溝のア
ドレス値Vとすればよい。
っていない場合には、第9図に示した補間回路は使用で
きない。一般的には、第8図において補間回路14をR
OMで構成することができる。予め決められたアドレス
値をこのROMに書15 ″・ き込んでおく。アドレス再生時には、再生したアドレス
値rおよびアドレス値UをROMのアドレスとして、書
き込んだテークを読み出し、これを求めるべきV溝のア
ドレス値Vとすればよい。
発明の効果
以上述べてきたように、本発明に」:れば、■溝の1本
おきにアドレス信号を記録することにより、■溝間のア
ドレス信号の干渉を無くすることができる。丑だ、アド
レス信号の再生時には、隣接するトラックからのアドレ
ス信号のクロスト−りを積極的に利用することにより、
アドレス信号を記録していないV溝のアドレス値を補間
により求めることができる。このような光ディスクおよ
びアドレスの再生方法を用いることにより、各溝のアド
レス値をより正確に再生することが可能となり、実用的
にきわめて有用である。
おきにアドレス信号を記録することにより、■溝間のア
ドレス信号の干渉を無くすることができる。丑だ、アド
レス信号の再生時には、隣接するトラックからのアドレ
ス信号のクロスト−りを積極的に利用することにより、
アドレス信号を記録していないV溝のアドレス値を補間
により求めることができる。このような光ディスクおよ
びアドレスの再生方法を用いることにより、各溝のアド
レス値をより正確に再生することが可能となり、実用的
にきわめて有用である。
第1図は本発明の一実施例における光ディスクのアドレ
ス領域を示す図、第2図はV溝を持つ光ディスクの断面
を示す図、第3図ばV溝ティスクへのレーザースポット
の照射方法を示す図、第4図および第6図は従来の光テ
ィスフのアドレス領域を示す図、第5図ばV溝の断面を
示す図、第7図は本発明の一実施例における光ディスク
のフォーマットを示す図、第8図は本発明の一実施例に
おけるアドレス再生回路を示すブロック図、第9図は本
発明の一実施例におけるアドレスの補間回路を示すブロ
ック図、第10図は本発明の他の実施例における光ディ
スクのフォーマットを示す図である。 イ、 o 、 パー−V溝、A、B、C,D、E、F・
・・トラック、Pl ・・・・アドレスピット、1,
2・・・・・・レーザースポット、10,15・・・・
光検出器、13.18・・・・・アドレス復調回路、1
4・・・・・・補間回路、20−・加算回路、21 ・
・・・除算回路。
ス領域を示す図、第2図はV溝を持つ光ディスクの断面
を示す図、第3図ばV溝ティスクへのレーザースポット
の照射方法を示す図、第4図および第6図は従来の光テ
ィスフのアドレス領域を示す図、第5図ばV溝の断面を
示す図、第7図は本発明の一実施例における光ディスク
のフォーマットを示す図、第8図は本発明の一実施例に
おけるアドレス再生回路を示すブロック図、第9図は本
発明の一実施例におけるアドレスの補間回路を示すブロ
ック図、第10図は本発明の他の実施例における光ディ
スクのフォーマットを示す図である。 イ、 o 、 パー−V溝、A、B、C,D、E、F・
・・トラック、Pl ・・・・アドレスピット、1,
2・・・・・・レーザースポット、10,15・・・・
光検出器、13.18・・・・・アドレス復調回路、1
4・・・・・・補間回路、20−・加算回路、21 ・
・・・除算回路。
Claims (4)
- (1)ディスク半径方向の断面がV字状となるV溝を有
し、V溝の一本おきの溝にV溝の深さを変調してアドレ
スを記録してなる光ディスク。 - (2)光ディスクのV溝に記録されるアドレス値が偶数
番地ずつ変化して記録されていることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の光ディスク。 - (3)ディスク半径方向の断面がV字状となるV溝を有
し、V溝の一本おきの溝にV溝の深さを変調してアドレ
スを記録してなる光ディスク上のV溝の斜面をトラック
として用い、隣り合う2つのトラック上に2つのレーザ
ーを絞ったスポットをそれぞれ照射し、光ディスクから
の反射光を2つの光検出器でそれぞれ受光してV溝の2
斜面上に独立に信号を再生するに際して、アドレスを記
録していないV溝では、隣接する2つのV溝のアドレス
を前記光検出器で検出し、検出した2つのアドレス値か
ら補間することにより該当するV溝のアドレス値を得る
ことを特徴とする光ディスクのアドレス再生方法。 - (4)2つの光検出器で検出したそれぞれのアドレス値
を加算して2で除算することにより、各V溝のアドレス
値を検出することを特徴とする特許請求の範囲第3項記
載の光ディスクのアドレス再生方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59259478A JPS61137242A (ja) | 1984-12-07 | 1984-12-07 | 光デイスクおよびアドレス記録再生方法 |
US06/768,843 US4712204A (en) | 1984-08-31 | 1985-08-23 | Optical disk and method for reproducing reference signal therefrom |
EP85110716A EP0176755B1 (en) | 1984-08-31 | 1985-08-26 | Optical disk and method for reproducing reference signal therefrom |
DE8585110716T DE3574644D1 (de) | 1984-08-31 | 1985-08-26 | Optische platte und verfahren zur erzeugung eines signals davon. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59259478A JPS61137242A (ja) | 1984-12-07 | 1984-12-07 | 光デイスクおよびアドレス記録再生方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61137242A true JPS61137242A (ja) | 1986-06-24 |
JPH0368457B2 JPH0368457B2 (ja) | 1991-10-28 |
Family
ID=17334635
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59259478A Granted JPS61137242A (ja) | 1984-08-31 | 1984-12-07 | 光デイスクおよびアドレス記録再生方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61137242A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01134727A (ja) * | 1987-11-19 | 1989-05-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスクおよびそのアドレス記録再生回路 |
JPH06333237A (ja) * | 1993-05-19 | 1994-12-02 | Nec Corp | 光学情報記録媒体及び光学情報の記録・消去・再生方法 |
US6591683B1 (en) | 2000-07-13 | 2003-07-15 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Pressure sensor |
US6619130B1 (en) | 2000-07-31 | 2003-09-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Pressure sensor |
-
1984
- 1984-12-07 JP JP59259478A patent/JPS61137242A/ja active Granted
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01134727A (ja) * | 1987-11-19 | 1989-05-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスクおよびそのアドレス記録再生回路 |
JPH06333237A (ja) * | 1993-05-19 | 1994-12-02 | Nec Corp | 光学情報記録媒体及び光学情報の記録・消去・再生方法 |
US6591683B1 (en) | 2000-07-13 | 2003-07-15 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Pressure sensor |
US6619130B1 (en) | 2000-07-31 | 2003-09-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Pressure sensor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0368457B2 (ja) | 1991-10-28 |
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