JPS61133543A - Electron tube and its adjustment - Google Patents
Electron tube and its adjustmentInfo
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- JPS61133543A JPS61133543A JP25335584A JP25335584A JPS61133543A JP S61133543 A JPS61133543 A JP S61133543A JP 25335584 A JP25335584 A JP 25335584A JP 25335584 A JP25335584 A JP 25335584A JP S61133543 A JPS61133543 A JP S61133543A
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J31/00—Cathode ray tubes; Electron beam tubes
- H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
- H01J31/49—Pick-up adapted for an input of electromagnetic radiation other than visible light and having an electric output, e.g. for an input of X-rays, for an input of infrared radiation
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
この発明に、Ｘ線などの電磁波発生源から被写体を介し
て照射された電磁波を電子像に変換し。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention converts electromagnetic waves emitted from an electromagnetic wave generation source such as X-rays through a subject into an electronic image.
この電子像を電気信号に変換する電子管およびその調整
方法に関する。The present invention relates to an electron tube that converts this electron image into an electric signal and a method for adjusting the same.
［発明の技術的背景］
Ｘ線などの電磁波を被写体に照射して得られる二次元画
像をモニタＴＶに再生して観察するシステムとして、従
来より第４図に示すＸ線ＴＶシステムがある。このＸ線
ＴＶシステムｒａｍ Ｘｆｔｌｐ発生源（１）と、この
Ｘ線発生源（１）の前面に配置されたＸ線イメージイン
テンシファイア（２）と、このｘ＃ｊイメージインテン
シファイア（２）の出力側に配置された光学レンズ（３
）および撮ｙＪｌ管（４）からなるカメラと、カメラか
ら送出される信号を処理する再生回路（５）を介して接
続されたモニタＴＶ（ｆｉｌとから構成され。[Technical Background of the Invention] As a system for reproducing and observing a two-dimensional image obtained by irradiating a subject with electromagnetic waves such as X-rays on a monitor TV, there is an X-ray TV system shown in FIG. 4. This X-ray TV system ram Xftlp source (1), the X-ray image intensifier (2) placed in front of this X-ray source (1), and this The optical lens (3
) and a camera tube (4), and a monitor TV (fil) connected via a reproducing circuit (5) that processes signals sent from the camera.
通常モ二りＴＶｆ６１の画面には、つぎのような画像歪
をもつ画像が再生される。Normally, an image with the following image distortion is reproduced on the screen of the monitor TV f61.
（１）Ｘ線イメージインテンシファイア（２）の入力面
（８）がＸ線発生源（１）側を凸面とする球部状をなし
、Ｘ１１４ｉ！発生源（１）から入力面（８）までの距
離が中央部と周辺部とで異なるために発生する歪
（２） Ｘｍイメージインテンシファイア（２）の電
子レンズ系（９）で発生する歪
（３） カメラの光学レンズ（３）で発生する歪（４）
撮像管（４）で発生する歪
（５）再生回路およびモニタＴＶ１６）で発生する歪な
どである。このうちとりわけ大きな歪は、Ｘ線イメージ
インテンシファイア（２）の構造に起因する（１）およ
び（２）の企である。(1) The input surface (8) of the X-ray image intensifier (2) has a spherical shape with the X-ray source (1) side being a convex surface, and X114i! Distortion (2) that occurs because the distance from the source (1) to the input surface (8) is different between the center and the periphery Distortion that occurs in the electron lens system (9) of the Xm image intensifier (2) (3) Distortion caused by the camera's optical lens (3) (4)
These include distortion generated in the image pickup tube (4), (5) distortion generated in the reproduction circuit and monitor TV 16), and the like. Particularly large distortions among these are the attempts (1) and (2) caused by the structure of the X-ray image intensifier (2).
このＸ線ＴＶシステムにおいて、モニタ’ｒ ｖ （６
）に再生される被写体像の画像歪を取り除くことは、被
写体００の形状、位置などを正しく把握するうえできわ
ぬて重要なことであり、この画像歪を取り除くために、
従来より第５図に示すＸ線イメージインテンシファイア
が開発されている。このＸｍイメージインテンシファイ
ア（２＋ Ｈ、相対向する面が凹面をなすファイバープ
レートで入力面（８）および出力面０１）を構成して、
電子レンズ系（９） ％に入力面（８）および出力面０
１）の形状に基づく画像歪を低減しようとしたものであ
る０
また別の方法として、出力面ａυ上の画像が糸巻状の歪
をもつため、カメラの光学レンズ（３）ヲたる形の弗特
性をもつように構成して、出力面０１）上の画像歪を相
殺するようにしたものもある。In this X-ray TV system, the monitor 'r v (6
) is essential to correctly grasp the shape, position, etc. of the object 00. In order to remove this image distortion,
Conventionally, an X-ray image intensifier shown in FIG. 5 has been developed. This Xm image intensifier (2+H, input surface (8) and output surface 01) is composed of fiber plates whose opposing surfaces are concave,
Electronic lens system (9) % input surface (8) and output surface 0
1) This is an attempt to reduce image distortion based on the shape of Some devices are configured to have characteristics to cancel out image distortion on the output surface 01).
［背景技術の問題点］
Ｘ線イメージインテンシファイア（２）を、対向面がそ
れぞれ凹面をなす入力面（８）および出力面ａυで構成
すると、出力面０１）が平面であるＸ線イメージインテ
ンシファイア（２）にくらべて、これら入力面（８）お
よび出力面０１）の構造に基づく画像歪を低減すること
ができる。しかし反面、ファイバープレートが高価であ
ること、とりわけこれを第５図に示したようにＸｍイメ
ージインテンシファイア（２）の外囲器０乃の一部を兼
ねるように構成しようとすると、強度上厚いファイバー
プレートが必要となるため、製造コストが高くなる。ま
た画像の品質も低下する。また出力面０１）を凹面にし
て１画像歪を低減させるようにしても、その形状は固定
的なものとなるため、Ｘ線発生源（１）からＸ線イメー
ジインテンシファイア（２）マでの距離を変化させた場
合や、視野可変のＸ線イメージインテンシファイア（２
）において、その視野サイズを変更する場合にσ、それ
に対応した歪補正をおこなうことができない。[Problems in the Background Art] When the X-ray image intensifier (2) is composed of an input surface (8) and an output surface aυ, each of which has a concave opposing surface, the X-ray image intensifier (2) is Compared to the tensifier (2), image distortion based on the structure of these input surfaces (8) and output surfaces 01) can be reduced. However, on the other hand, the fiber plate is expensive, especially if it is configured to serve as a part of the envelope of the Xm image intensifier (2) as shown in Figure 5. The need for thicker fiber plates increases manufacturing costs. The quality of the image also deteriorates. Furthermore, even if the output surface 01) is made concave to reduce image distortion, its shape remains fixed, so the output surface 01) is concave. X-ray image intensifier with variable field of view (2
), when the field of view size is changed, distortion correction corresponding to σ cannot be performed.
このような欠点に、光学レンズ（３）で歪補正をおこな
う場合も同様であり、Ｘ線発生源（１）からＸ線イメー
ジインテンシファイア（２）壕での距離変化や視野サイ
ズの変更に対して対応させることができない。The same problem occurs when distortion is corrected using the optical lens (3), and due to changes in the distance from the X-ray source (1) to the X-ray image intensifier (2) and changes in the field of view size. It is not possible to respond to this.
［発明の目的］
この発明は、電磁波発生源から被写体を介して照射され
る電磁波により被写体像を形成する電子管において、電
磁波発生源からの距離の変化、視野サイズの変更などに
対応して変動する歪および電子管の電極構造に基づく固
有の歪を適正かつ容易に補正することができる電子管を
構成することにある。[Purpose of the Invention] The present invention provides an electron tube that forms an image of a subject using electromagnetic waves emitted from an electromagnetic wave source through the subject, which changes in response to changes in distance from the electromagnetic wave source, changes in field of view size, etc. The object of the present invention is to construct an electron tube that can appropriately and easily correct distortion and distortion inherent in the electrode structure of the electron tube.
［発明の概要］
電磁波発生源側を凸面とし、この電磁波発生源から被写
体を弁して照射された電磁波を電子（ユ変換する入力面
、この１″１子を集束加速する市、子レンズ、上記集束
加速された電子の入射により上記被写体の電子像が形ｆ
ｉｌれるターゲット、およびこのターゲットを走査して
上記電子像を電気信号に変換する走査手段により電子管
を構成し、特にターゲットを入力面と対向する平板状ま
たは入力面と対向する面が凹面をなす球面状に形成する
とともに、走査手段をターゲット上に形成される電子像
の怪曲線に沿って走査するように構成して、歪の少い画
像を再生できるようにした。[Summary of the Invention] The electromagnetic wave generation source side is a convex surface, the input surface converts the electromagnetic waves irradiated from the electromagnetic wave generation source onto the subject into electrons, the lens that focuses and accelerates this 1″, and the child lens. Due to the incidence of the focused and accelerated electrons, the electron image of the object is shaped like f
An electron tube is constituted by a target that is illuminated, and a scanning means that scans the target and converts the electron image into an electric signal.In particular, the target may be a flat plate facing the input surface or a spherical surface whose surface facing the input surface is concave. In addition, the scanning means is configured to scan along the strange curve of the electronic image formed on the target, so that an image with less distortion can be reproduced.
「発明の実施例」
以下、図面を参照してこの発明を実施例に基づいて説明
する。"Embodiments of the Invention" The present invention will be described below based on embodiments with reference to the drawings.
第１図にこの発明の一実施例の電子管の構成を示す。こ
の電子管は、外囲器（２（砂の一端部を構成するＸ線入
力窓（２１）の内側に、球面状に構成された入力面（２
湯がその凸面をＸ１Ｉｉ１入力窓（２１）側に向けて設
けられ、また外囲器−の他端部側には、この入力面（２
りと対向してターゲットｅ：→が設けられている。また
この入力面（２２１とターゲラ） （２３１との間の外
囲器（イ）内側には、入力面（２渇側から順次筒状の第
１．第２、第３グリツド電極（２４ａ）〜（２４ｃ）お
よびターゲット（２〜を取り囲む如く筒状のアノード１
１（ト）からなる電子レンズが設けられ、さらにこのタ
ーゲットＱ３）の背面側に汀、このターゲット（２階を
走査する電子銃（２６）が設けられている。FIG. 1 shows the structure of an electron tube according to an embodiment of the present invention. This electron tube has a spherical input surface (2) inside an X-ray input window (21) constituting one end of the sand.
The hot water is provided with its convex surface facing the X1Ii1 input window (21), and the input surface (21) is provided at the other end of the envelope.
A target e:→ is provided opposite to the target e:→. In addition, inside the envelope (A) between this input surface (221 and Targetera 231), there are arranged cylindrical first, second, and third grid electrodes (24a) in order from the input surface (2 side). (24c) and a cylindrical anode 1 surrounding the target (2)
An electron lens consisting of 1 (g) is provided, and an electron gun (26) for scanning the target (2nd floor) is further provided on the back side of this target Q3).
上記入力面（２２１Ｆｉ１球面状に成形されたＸ線透過
基板の凹面側に順次螢光体、光電面を被着させたもので
あって、Ｘ線入力感ＣＩ）の前方に設置されたＸ線発生
源（１１から照射されるＸ線により螢光体が発光し、こ
の螢光体の発光強度に対応して光電面に電子を発生する
構造となっている。グリッド電極（２４ａ）〜（２４ｃ
）には、上記入力面Ｃ４に付与される陰極電位を基準に
して、入力面ｆ２２） （ＩＩ＋の第１グリツド電極（
２４ａ）から第２．第３グリツド電極（２４ｂ）。The X-ray input surface is installed in front of the input surface (X-ray input sensing CI, which has a phosphor and a photocathode sequentially adhered to the concave side of a 221Fi1 spherical X-ray transmitting substrate). The structure is such that a phosphor emits light due to X-rays irradiated from a generation source (11), and electrons are generated on a photocathode corresponding to the emission intensity of the phosphor. Grid electrodes (24a) to (24c)
), the input surface f22) (first grid electrode of II+ (
24a) to 2nd. Third grid electrode (24b).
（２４Ｃ）の順に高い電位が付与され、さらにアノード
電極ｃつに６、この第３グリツド電極（２４Ｃ）より高
いアノード電位が付与される。ターゲットＱ濁は、鉋そ
の他成形しやすい金属のメツシュ捷たは薄板またにそれ
らに適宜メッキなどを施したものに、１２次電子増倍作
用（８ｅｅｏｎｄａｒｙ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｃｏｎ
−ｄｕｃｔｌｏｎ ）あるいは電子１１ｉｉ撃導電作用
（ＥｌｅｃｔｒｏｎＢｏｍｂａｒｄ Ｉｎｄｕｃｅｄ
Ｃｏｎｄｕｃ目ｏｎ ）などをもった誘電体層を形成し
たものであって、この例では、後述する球面形状に形成
されてその凹面を入力面（部側に向けて配設されている
。このターゲラ） （２３１Ｈ。A higher potential is applied in the order of (24C), and an anode potential higher than that of the third grid electrode (24C) is applied to the anode electrodes 6 and 6. Target Q turbidity is made by applying a 12th electron multiplication effect (8eeondary electron multiplier) to a mesh or thin plate of a metal that is easy to shape, such as a plane, or to a plated plate.
-ductlon) or Electron Bombard Induced
In this example, the dielectric layer is formed into a spherical shape, which will be described later, with its concave surface facing the input surface. ) (231H.
アノード電極（２５１と同電位に保持され、上ｈ１グリ
ッドを極（２４ａ）〜（２４Ｃ）およびアノード電極Ｑ
■により集束加速された入力ｎ−からの電、子の入射に
より電子像を形成する。この電子像は、電子銃シｂ）か
ら放出さハる′…；子ビームの走査により電気信号に変
換され、再生回路を介してモニタＴＶ上に画像として再
生される。It is held at the same potential as the anode electrode (251, and the upper h1 grid is connected to the electrodes (24a) to (24C) and the anode electrode Q.
An electron image is formed by the incidence of electrons and electrons from the input n- which are focused and accelerated by (2). This electron image is converted into an electric signal by scanning with a child beam emitted from the electron gun b), and is reproduced as an image on a monitor TV via a reproduction circuit.
この電子管げ、第３グリツド電極（２４ｅ）の電位を段
階的に変更することにより、この電子管の前方に配置さ
れた被写体００１の視野サイズを複数段階に変更するこ
とができる。すなわち、第３グリツド笥、極（２４Ｃ）
に比較的低い所足の電位を付与すると、ターゲラ） ２
３）に辿常の視野サイズとして用いられるノは大の視野
サイズの電子像が形成さｎ％それより高い所定の電位を
付与すると、視野サイズは縮小して、上記最大の視野サ
イズの電子像の中央部分を拡大した電子像が形成される
。By changing the potential of the electron tube and the third grid electrode (24e) in stages, the field of view size of the subject 001 placed in front of the electron tube can be changed in multiple stages. Namely, the third grid box, pole (24C)
When a relatively low potential is applied to
3) When a predetermined potential higher than n% is applied, the field of view size is reduced and an electron image of the maximum field of view size is formed. An electronic image is formed that enlarges the central portion of the image.
このターゲラ） （２５）上に形成される電子像は、入
力面（２力が球面状であるために、入力面０邊からター
ゲット（ハ）までの電子の走行距離が入力面（社）の中
央部と周辺部とで異なり、また有限の大きさのグリッド
電極（２４ａ）〜（２４Ｃ）で形成される集束電界も管
軸＋２８１上と周辺部とで異なるため１通常糸巻状の歪
をもっている。この電子管における土肥ターゲツ） ｃ
！ｉの凹面形状は、本質的には上記電極構造に基づくこ
の電子管固有の固定的な歪を低減するように、入力面（
２湯側を凹面とする球面状であればよいが、好ましくは
、上記電極構造に基づく固定的なφを解消する形状にす
るとよい。さらに詳しくけ、上記電極構造に基づく歪に
、最大の視野サイズにおいて最も大きく現われるので、
最大の視野サイズまたＦｉ最大の視野サイズとつぎに大
きな視野サイズの中間部における歪を最適に補正する形
状にするとよい。その具体的形状は、この種の電子管の
蓄積されたデータと、若干の試行錯誤的な試験により容
易に決定することができる。Since the electron image formed on the input surface (25) is spherical, the distance traveled by the electrons from the input surface 0 to the target (c) is It is different between the center and the periphery, and the focused electric field formed by the finite size grid electrodes (24a) to (24C) is also different between the tube axis +281 and the periphery, so it usually has pincushion-like distortion. . Doi target in this electron tube) c
! The concave shape of i is such that the input surface (
It may have a spherical shape with a concave surface on the second hot water side, but it is preferably a shape that eliminates the fixed φ based on the electrode structure. In more detail, the distortion caused by the electrode structure is most pronounced at the maximum field of view, so
It is preferable to use a shape that optimally corrects distortion in the intermediate area between the largest visual field size or Fi maximum visual field size and the next largest visual field size. Its specific shape can be easily determined based on accumulated data on this type of electron tube and some trial-and-error tests.
上記のようにターゲラ） （２３）を形成しても、ター
ゲット（ハ）上に形成される電子像には、なお視野サイ
ズを変更したとき、あるいはこの電子管とＸ線発生源（
１）との距離を変化させたときなどに可変的な歪を生ず
る。特にターゲット（２邊が電極構造に基づく固定的な
歪を完全に解消しない任童形状であるときＦｉ、この可
変的な歪に上記固定的な歪が付加された糸巻状の歪が生
ずる。このような歪は。Even if the target (23) is formed as described above, the electron image formed on the target (c) will still be affected when the field of view size is changed or between this electron tube and the X-ray source (23).
1) Variable distortion occurs when the distance from the In particular, when the target (2 sides Fi) has a shape that does not completely eliminate the fixed distortion based on the electrode structure, a pincushion-like distortion is generated in which the above-mentioned fixed distortion is added to this variable distortion. Such distortion.
第２図に複数本の曲線（２）で示すように、宵１子銃（
２Ｑから放出される電子ビームをターゲットＱ漕上の電
子像の糸巻状の歪曲線（７）に沿って走査するように偏
向することにより補正される。この電子ビームの偏向は
、上記電子像の糸巻状の歪と相似形状の偏向電界または
磁界を形成するように偏向板または偏向コイルを設計す
ることにより、静電的または！、磁的におこなうことが
できる。またこハら偏向板または偏向コイルに接続され
た偏向制御部で制御することでもおこカうことができる
。またターゲラ） ０１と電子銃（２［Ｉｌの先端の電
極との間の電界が管軸Ｑ樽から周辺に行くにしたがって
弱くなるように上記先端の電極を構成し、かつこの電極
の電位を電子ビームが歪曲線に沿って走査するように調
整することでもおこなうことができる。さらに捷たこ力
ら方法を２以上組合せれば、より最適に電子ビームの走
査を調整することができる。As shown by multiple curves (2) in Figure 2, Yoiichiko Gun (
Correction is made by deflecting the electron beam emitted from 2Q so as to scan along the pincushion-shaped distortion curve (7) of the electron image on the target Q row. This electron beam can be deflected electrostatically or by designing a deflection plate or a deflection coil to form a deflection electric or magnetic field having a similar shape to the pincushion-like distortion of the electron image. , can be done magnetically. This can also be achieved by controlling with a deflection control unit connected to a deflection plate or a deflection coil. In addition, the electrode at the tip is configured so that the electric field between the electrode at the tip of the electron gun (Tagera) 01 and the electron gun (Il) becomes weaker as it goes from the tube axis Q barrel to the periphery, and the potential of this electrode This can also be done by adjusting the beam so that it scans along the distortion curve.Furthermore, by combining two or more of the methods, the scanning of the electron beam can be adjusted more optimally.
上記電子ビームの走査の調整は、第３図（Ｎ図に示すよ
うに、この電子管の前面にＸ線に対して不透明すなわち
Ｘ線を透過しない鉛などの細い線で構成され大格子縞部
材０３を配置し、Ｘ線発生源（１）からＸ線を照射して
、（Ｂ）図に示すようにターゲット（２禿上に上記格子
縞部材０２の電子像Ｇ３’ｌを形成する。To adjust the scanning of the electron beam, as shown in Fig. 3 (Fig. By irradiating X-rays from the X-ray generation source (1), an electron image G3'l of the checkered striped member 02 is formed on the target (2) as shown in FIG.
そして電子銃（イ）によりこの電子像＜３３）を走査し
て、モニタＴＶにこの電子像（酒を画像として再生し。Then, this electronic image <33) is scanned by an electron gun (a), and this electronic image (alcohol) is reproduced as an image on a monitor TV.
この画像を観察しながら、正しい格子縞模様の画像が得
られる壕で電子ビームの偏向を調整する。While observing this image, adjust the deflection of the electron beam at the trench that will give you the correct checkered pattern image.
歪をもたない正しい画像は、電子ビームが格子縞模様の
電子像の歪曲Ｉｖ４１！に沿って走査するように調整さ
れたとき得られる。この歪補正を正確におこなう必要が
ない場合１またとえばＸ線発生源（１）までの距離を一
定として視野サイズ切換えによって生ずる異なる。歪を
補正するようにし、制御部にその補正回路を設けておけ
ば、制御部のスイッチ操作のみで所要の歪補正をおこな
うようにすることができる。またこのような歪補正をお
こなえば、その後精密な調整をおこなうことも容易とな
る。A correct image without distortion is the distortion Iv41 of an electron image in which the electron beam has a checkered pattern! obtained when adjusted to scan along. If it is not necessary to perform this distortion correction accurately, for example, the distance to the X-ray source (1) may be kept constant, and the difference may be caused by switching the field of view size. By correcting the distortion and providing a correction circuit in the control section, it is possible to perform the necessary distortion correction simply by operating a switch on the control section. Moreover, if such distortion correction is performed, it becomes easy to perform precise adjustment afterwards.
かくして上記ターゲット（２増の凹面形状と、上記特定
の偏向装置をもつ電子銃（支））からなる走査手段との
組合せにより、この電子管固有の同定的な歪および可変
的な歪を補正して、正しい画像を再生することができる
。Thus, by the combination of the scanning means consisting of the above-mentioned target (an electron gun (branch) having a double concave shape and the above-mentioned specific deflection device), the specific distortion and variable distortion inherent in this electron tube can be corrected. , the correct image can be played.
つぎに他の実施例について述べる。Next, other embodiments will be described.
上記実施例でｉｊ％走査手段として電子銃を用い。In the above embodiment, an electron gun is used as the ij% scanning means.
この電子銃から放出される電子ビームを偏向してターゲ
ットを走査するようにしたが、この電子銃のかわりに複
数個の半導体走査素子Ｖ第２図または第３図０３）図に
示した電子像の歪曲線Ｏｉ妙に沿ってターゲットの背面
に密に配列して、ターゲットな走査するように構成して
もよい。この場合、半導体走査素子の配列は、ターゲッ
トに対して固だ的なものとなるため、最も大きな糸巻状
の歪が生ずる最大の視野サイズまたはこの最大の視野サ
イズとつぎに大きい視野サイズとの中間において発生す
る歪曲線に沿って配列するとよい。オた糸巻状の歪曲線
は５間隔がターゲットの中央部から周辺部に行くにし、
たがって粗になるので、半導体走査素子の配列をターゲ
ットの中央部で密にし、周辺部に行くにしたがって相に
してよく、またターゲットの中央部に配置する半導体走
査素子を小さくし５周辺部に配置する半導体走査素子を
大きくするとよい。The electron beam emitted from this electron gun was deflected to scan the target, but instead of this electron gun, a plurality of semiconductor scanning elements V were used to scan the electron image shown in Figure 2 or Figure 3. They may be arranged closely on the back side of the target along the distortion curve Oi to scan the target. In this case, the semiconductor scanning element array is rigid with respect to the target, so it is either the largest field size that produces the greatest pincushion distortion, or an intermediate field size between this largest field size and the next largest field size. It is preferable to arrange them along the distortion curve that occurs in . The spool-shaped distortion curve has 5 intervals going from the center to the periphery of the target,
Therefore, the array of semiconductor scanning elements can be made denser in the center of the target and arranged in layers toward the periphery, or the semiconductor scanning elements arranged in the center of the target can be made smaller and arranged closer to the periphery. It is preferable to increase the size of the semiconductor scanning element to be arranged.
また上記他の実施例では、半導体走査素子を電子像の歪
曲線に沿って配列したが、複数個の半導体走査素子を直
線に沿ってマトリックス状にターゲットの背面（二取り
付けてこの半導体走査素子の走査制御部で各半導体走査
素子が電子像の歪曲線に沿って動作するように制御して
もよい。In addition, in the other embodiments described above, the semiconductor scanning elements are arranged along the distortion curve of the electronic image, but a plurality of semiconductor scanning elements are arranged along a straight line in a matrix shape on the back side of the target (2). The scanning control section may control each semiconductor scanning element to operate along the distortion curve of the electronic image.
この走査手段に、上記実施例にくらべて走査制御部が高
級化するが、走査をターゲット上に形成される電子像の
帝の変化に合うように調整することができ、常に正しい
画像を再生することができるＯ
なお上記実施例では、ターゲットを入力面側を凹面とす
る球面状に形成したが、この発明は、ターゲットが平板
状の場合にも適用することができる０
なおまた上記実施例では、３個のグリッドｔ＆をもつ視
野可変の電子管（二ついて述べたが、この発明は、視野
固定の電子管にも適用することができる。Although this scanning means has a more sophisticated scanning control section than the above embodiment, the scanning can be adjusted to match the variations in the electronic image formed on the target, and a correct image is always reproduced. In the above embodiment, the target is formed into a spherical shape with a concave surface on the input surface side, but the present invention can also be applied to a case where the target is flat. , a variable field of view electron tube with three grids t& (although the present invention has been described with reference to two electron tubes), the present invention can also be applied to an electron tube with a fixed field of view.
［発明の効果［［
ｍ Ｘ線などの電磁波を被写体に照射して得られる像
を観察するシステムに用いられる電子管の出力部を、入
力面と対向する面が平板状または凹面をなす球面状のタ
ーゲットで構成するとともに、このターゲットを走査す
る走査手段を、このターゲット上１：形成される電子像
の歪曲線に沿って走査するように構成したので、この電
子管固有の固定的な歪とともに、視野サイズの変更や電
子管から電磁波発生源捷での距離の変化かどじよって発
生する可変的な歪も容易に補正することができ、歪の少
い正しい画像を再生することができる。[Effects of the Invention] The output section of an electron tube used in a system for observing an image obtained by irradiating an object with electromagnetic waves such as X-rays can be made into a spherical shape in which the surface facing the input surface is flat or concave. It consists of a target, and the scanning means for scanning this target is configured to scan along the distortion curve of the electron image formed on this target. Variable distortions caused by changes in size or distance from the electron tube to the electromagnetic wave source can be easily corrected, and correct images with less distortion can be reproduced.
（２１ｍ、磁波に対して不透明な格子縞部材を介して電
磁波を照射することによりターゲット上に得られる電子
像に基づいて、この電子像の歪曲線に沿って走査するよ
うに走査手段を調整するので、ターゲット上に形成され
電子像の歪補正を容易にかつ正しくおこなうことができ
る。(21m, based on the electron image obtained on the target by irradiating electromagnetic waves through a checkered member that is opaque to magnetic waves, the scanning means is adjusted to scan along the distortion curve of this electron image. , it is possible to easily and correctly correct the distortion of the electronic image formed on the target.
第１図にこの発明の一実施例の電子管の構成を示す図、
第２図は第１図示電子管に組み込まれた電子銃のターゲ
ット走査を示す図、第３図（５）および（Ｈ）図は第１
図示電子管の調整方法を説明するための図、第４図は被
写体にＸ線を照射して得られる二次元画像をモニタＴＶ
Ｉ＝再生し７て観察する従来のシステムの構成図、第５
図は従来のＸ線イメージインテンシファイアの図である
。
（１）・・・Ｘ線発生源 α１・・・被写体＠・・
・入力面 （ハ）・−ターゲット（２４ａ）・
・・第１グリツド電極
（２４ｂ）・・・第２グリツド電極
（２４Ｃ）・・・第３グリツド電極
（ハ）・・・アノード電極 （２６１・・・電子銃０
乃・・・格子縞部材FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an electron tube according to an embodiment of the present invention.
Figure 2 is a diagram showing the target scanning of the electron gun incorporated in the first illustrated electron tube, and Figures 3 (5) and (H) are the first
Figure 4 is a diagram for explaining the adjustment method of the electron tube, and the two-dimensional image obtained by irradiating the subject with X-rays is
I = Configuration diagram of a conventional system for reproducing and observing, 5th
The figure is a diagram of a conventional X-ray image intensifier. (1)...X-ray source α1...Subject@...
・Input surface (c)・-Target (24a)・
...First grid electrode (24b)...Second grid electrode (24C)...Third grid electrode (c)...Anode electrode (261...Electron gun 0
No... Plaid member
Claims (10)
ら被写体を介して照射された電磁波を電子に変換する入
力面と、この電子を集束加速する電子レンズと、上記入
力面と対向する面が平板状または凹面をなす球面状に形
成され、上記集束加速された電子の入射により上記被写
体の電子像が形成されるターゲットと、このターゲット
を糸巻状の曲線に沿って走査して上記電子像を電気信号
に変換する走査手段とを具備することを特徴とする電子
管。(1) An input surface with a convex surface facing the electromagnetic wave source side, which converts the electromagnetic waves emitted from the electromagnetic wave source through the subject into electrons, an electron lens that focuses and accelerates the electrons, and a surface facing the input surface. is formed into a flat or concave spherical shape, and an electronic image of the object is formed by the incidence of the focused and accelerated electrons, and the target is scanned along a pincushion curve to form the electronic image. An electron tube characterized in that it is equipped with a scanning means for converting an electric signal into an electric signal.
極を有し、ターゲットの凹面形状は最小の視野サイズよ
り大きい視野サイズにおいて電子像の糸巻状の歪を最適
に補正する曲面をなすことを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載の電子管。(2) The electron lens has an electrode that changes the field of view size in multiple stages, and the concave shape of the target forms a curved surface that optimally corrects the pincushion distortion of the electronic image in a field of view size larger than the minimum field of view size. An electron tube according to claim 1, characterized in that:
しかつこの電子ビームを磁界によって糸巻状に走査する
電子銃を有することを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の電子管。(3) The electron tube according to claim 1, wherein the scanning means includes an electron gun that emits an electron beam toward the target and scans the electron beam in a pincushion shape using a magnetic field.
しかつこの電子ビームを電界によって糸巻状に走査する
電子銃を有することを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の電子管。(4) Scanning means 1 An electron tube according to claim 1, further comprising an electron gun that emits an electron beam toward a target and scans the electron beam in a pincushion shape using an electric field.
トの中央部から周辺部に行くにしたがって弱くする電極
を有することを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の
電子管。(5) The electron tube according to claim 3, wherein the electron gun has an electrode that weakens the electric field between the electron gun and the target as it goes from the center to the periphery of the target.
マトリックス状に配列された複数個の半導体走査素子を
有することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の電
子管。(6) The electron tube according to claim 1, wherein the scanning means has a plurality of semiconductor scanning elements arranged in a matrix on the target along a pincushion-shaped curve.
央部から周辺部に行くにしたがって粗になっていること
を特徴とする特許請求の範囲第６項記載の電子管。(7) The electron tube according to claim 6, wherein the plurality of semiconductor scanning elements are spaced apart from each other as they go from the center to the periphery of the target.
小さくターゲットの周辺部で大きいことを特徴とする特
許請求の範囲第６項記載の電子管。(8) The electron tube according to claim 6, wherein the plurality of semiconductor scanning elements are small at the center of the target and large at the periphery of the target.
クス状に配列された複数個の半導体走査素子と、これら
半導体走査素子の作動を糸巻状の曲線に沿って制御する
制御装置とを有することを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載の電子管。(9) The scanning means has a plurality of semiconductor scanning elements arranged in a matrix on the target along a straight line, and a control device that controls the operation of these semiconductor scanning elements along a pincushion-shaped curve. An electron tube according to claim 1, characterized in that:
ら照射された電磁波を電子に変換する入力面、この電子
を集束加速する電子レンズ、この集束加速された電子の
入射により電子像を形成するターゲット、およびこのタ
ーゲットを走査して上記電子像を電気信号に変換する走
査手段を有する電子管の前面に上記電磁波に対して不透
明な格子縞部材を配置し、この格子縞部材を介して上記
電磁波発生源から電磁波を照射して上記ターゲットに上
記格子縞部材の電子像を形成する方法と、この電子像の
歪曲線に沿って走査をするように上記走査手段を調整す
る方法とを有することを特徴とする電子管の調整方法。(10) An input surface that has a convex surface facing the electromagnetic wave source and converts the electromagnetic waves emitted from the electromagnetic wave source into electrons, an electron lens that focuses and accelerates the electrons, and an electron image is formed by the incidence of the focused and accelerated electrons. A plaid member opaque to the electromagnetic waves is disposed in front of an electron tube having a target and a scanning means for scanning the target and converting the electron image into an electrical signal, and the electromagnetic waves are transmitted from the electromagnetic wave generation source through the plaid member. An electron tube comprising: a method of irradiating electromagnetic waves to form an electron image of the checkered member on the target; and a method of adjusting the scanning means so as to scan along a distortion curve of the electron image. How to adjust.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25335584A JPS61133543A (en) | 1984-11-30 | 1984-11-30 | Electron tube and its adjustment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25335584A JPS61133543A (en) | 1984-11-30 | 1984-11-30 | Electron tube and its adjustment |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61133543A true JPS61133543A (en) | 1986-06-20 |
Family
ID=17250179
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25335584A Pending JPS61133543A (en) | 1984-11-30 | 1984-11-30 | Electron tube and its adjustment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61133543A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02126600A (en) * | 1988-11-04 | 1990-05-15 | Hitachi Medical Corp | Inverter type x-ray generating power source |
| EP0760525A1 (en) * | 1995-08-31 | 1997-03-05 | Hamamatsu Photonics K.K. | Electron tube |
-
1984
- 1984-11-30 JP JP25335584A patent/JPS61133543A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02126600A (en) * | 1988-11-04 | 1990-05-15 | Hitachi Medical Corp | Inverter type x-ray generating power source |
| EP0760525A1 (en) * | 1995-08-31 | 1997-03-05 | Hamamatsu Photonics K.K. | Electron tube |
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