JPS61122788A - 電子部品リ−ド位置検出装置 - Google Patents
電子部品リ−ド位置検出装置Info
- Publication number
- JPS61122788A JPS61122788A JP59244777A JP24477784A JPS61122788A JP S61122788 A JPS61122788 A JP S61122788A JP 59244777 A JP59244777 A JP 59244777A JP 24477784 A JP24477784 A JP 24477784A JP S61122788 A JPS61122788 A JP S61122788A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、電子部品をプリント基板に実装する場合等に
利用される電子部品リード位置検出装置に関するＬので
ある。
利用される電子部品リード位置検出装置に関するＬので
ある。
従来の技術
近年、電子機器に用いられるプリント基板に高密度実装
するため多リードで小型の電子部品が使われるようにな
り、それらを高精度に位置決めできる電子部品リード位
置検出装置が重要視されてきた。
するため多リードで小型の電子部品が使われるようにな
り、それらを高精度に位置決めできる電子部品リード位
置検出装置が重要視されてきた。
以下、図面を参照しながら、上述したような従来の電子
部品リード位置検出装置について説明を行なう。
部品リード位置検出装置について説明を行なう。
第４図は従来の電子部品位置検出装置の構成を示すもの
である。第１図において、（１）は撮像装置、（２）は
撮像装置（１）で撮像された映像を２値化する２値化回
路、（３）は標準パターンを記憶する標準パターン記憶
回路、（４）はパターンマツチング回路、（５）は対象
物の電子部品である。
である。第１図において、（１）は撮像装置、（２）は
撮像装置（１）で撮像された映像を２値化する２値化回
路、（３）は標準パターンを記憶する標準パターン記憶
回路、（４）はパターンマツチング回路、（５）は対象
物の電子部品である。
以上のように構成された電子部品位置検出装置について
、以下その動作について説明する。
、以下その動作について説明する。
まず、撮像装置ｆｌ）が電子部品（５）を撮像する。撮
像された映像信号は２値化回路（２）へ入力され、２値
化信号に交換される。２値化信号はパターンマツチング
回路（４）に入力され、あらかじめ記憶されている電子
部品（５＋の部分的な標準パターンとパターンマツチン
グを行ない、電子部品（５）の位置を検出し出力する。
像された映像信号は２値化回路（２）へ入力され、２値
化信号に交換される。２値化信号はパターンマツチング
回路（４）に入力され、あらかじめ記憶されている電子
部品（５＋の部分的な標準パターンとパターンマツチン
グを行ない、電子部品（５）の位置を検出し出力する。
この様子を更に第５図で説明する。
撮像装置（１）で撮像され２値化回路（２）で２値化さ
れた撮像画面が（６）のようになっているとき、標準パ
ターン（７）で撮像画面（６）の左上から右下まで１画
素毎に一致度を測定していくと、（８）の個所が最もよ
く一致度が高くなり、その座標が電子部品（５）を代表
する位置として検出し出力する。
れた撮像画面が（６）のようになっているとき、標準パ
ターン（７）で撮像画面（６）の左上から右下まで１画
素毎に一致度を測定していくと、（８）の個所が最もよ
く一致度が高くなり、その座標が電子部品（５）を代表
する位置として検出し出力する。
発明が解決しようとする間頂点
従来のような構成では、例えばフラットパックージエＯ
のようにリードが多くあるような電子部品の場合は、同
じ形状のパターンが複数個存在することになり、かなら
ずしも一致度の最も高い点が認識点とはならず、そのう
ちの特定の１リードの位置を検出することは困難である
という欠点を有していた。
のようにリードが多くあるような電子部品の場合は、同
じ形状のパターンが複数個存在することになり、かなら
ずしも一致度の最も高い点が認識点とはならず、そのう
ちの特定の１リードの位置を検出することは困難である
という欠点を有していた。
発明の構成
本発明は、撮像装置、撮像装置で撮像した電子部品リー
ドの映像を２値化する回路、前記２値化回路の信号の白
又は黒の部分をＸ方向及びｙ方向に投影し投影データを
作成する投影回路、前記投影データから撮像画面上のあ
る点を基準点として算出する基準点算出回路、基準点か
らサーチエリアまでの標準的な距離と角度を記憶する標
準距離角度記憶回路、前記基準点算出回路と標準距離角
度記憶回路からサーチエリアを設定するサーチエリア設
定回路、標準パターンを記憶する標準パターン記憶回路
および前記サーチエリア設定回路のサーチエリア内にお
いて前記標準パターンによりパターンマツチングを行う
パターンマツチング回路からなるものである。
ドの映像を２値化する回路、前記２値化回路の信号の白
又は黒の部分をＸ方向及びｙ方向に投影し投影データを
作成する投影回路、前記投影データから撮像画面上のあ
る点を基準点として算出する基準点算出回路、基準点か
らサーチエリアまでの標準的な距離と角度を記憶する標
準距離角度記憶回路、前記基準点算出回路と標準距離角
度記憶回路からサーチエリアを設定するサーチエリア設
定回路、標準パターンを記憶する標準パターン記憶回路
および前記サーチエリア設定回路のサーチエリア内にお
いて前記標準パターンによりパターンマツチングを行う
パターンマツチング回路からなるものである。
作用
本発明は、従来の２値化回路とパターンマツチング回路
間に、２値化信号をＸ方向への投影データＱυとｙ方向
への投影データ（至）が作られる投影回路、投影データ
Ｑυ、■の端点から基準点Ａ点の座標を算出する基準点
算出回路、あらかじめ検出したいリードを含み、他のリ
ードは含まないよう標準的な距離ｒと角度θを登録した
標準距離角度記憶回路、および前記基準点算出回路と標
準距離角度記憶回路からサーチエリアを設定するサーチ
エリア設定回路を設け、標準パターンを記憶する標準パ
ターン記憶回路の標準パターンによりサーチエリア内に
おいてパターンマツチングを行い、同一形状のリードパ
ターンのうち一つのリード位置を検出することができる
。
間に、２値化信号をＸ方向への投影データＱυとｙ方向
への投影データ（至）が作られる投影回路、投影データ
Ｑυ、■の端点から基準点Ａ点の座標を算出する基準点
算出回路、あらかじめ検出したいリードを含み、他のリ
ードは含まないよう標準的な距離ｒと角度θを登録した
標準距離角度記憶回路、および前記基準点算出回路と標
準距離角度記憶回路からサーチエリアを設定するサーチ
エリア設定回路を設け、標準パターンを記憶する標準パ
ターン記憶回路の標準パターンによりサーチエリア内に
おいてパターンマツチングを行い、同一形状のリードパ
ターンのうち一つのリード位置を検出することができる
。
実施例
第１図は本発明の電子部品位置検出装置の一実図
施例の構成をブロック ° °−で示す。
図において、第４図、第５図と同一符号は同一部品、同
一部分を示す。
一部分を示す。
αυはＸ方向及びｙ゛方向２値化データを投影する投影
回路、α２は投影データがら撮像画面内のある基準点を
算出する基準点算出回路、α１はパターンマツチングを
行なうサーチエリアを設定するサーチエリア設定回路、
Ｉは基準点からサーチエリアまでの標準的な距離と角度
を記憶している標準距離角度記憶回路、を示す。
回路、α２は投影データがら撮像画面内のある基準点を
算出する基準点算出回路、α１はパターンマツチングを
行なうサーチエリアを設定するサーチエリア設定回路、
Ｉは基準点からサーチエリアまでの標準的な距離と角度
を記憶している標準距離角度記憶回路、を示す。
本発明の電子部品リード位置検出装置の動作について説
明する。まず撮像装置（１）で電子部品（５）が撮像さ
れる。撮像された映像は２値化回路（２）で２値化され
、２値化信号が投影回路αυへ入力される。
明する。まず撮像装置（１）で電子部品（５）が撮像さ
れる。撮像された映像は２値化回路（２）で２値化され
、２値化信号が投影回路αυへ入力される。
投影回路αυでは第２図に示すようにＸ方向への投影デ
ータ０１１とｙ方向への投影データ（２）が作られる。
ータ０１１とｙ方向への投影データ（２）が作られる。
この図で翰は撮像画の２値画像を示している。基準点算
出回路α２では、投影データｃ！〃と（２）の端点から
図のように基準点Ａ点の座標を算出する。
出回路α２では、投影データｃ！〃と（２）の端点から
図のように基準点Ａ点の座標を算出する。
次にサーチエリア設定回路α３では、標準距離角度記憶
回路にあらかじめ検出したいリードを含み、他のリード
は含まないように登録されている標準的な距離ｒと角度
θを読み出して、Ａ点を基準にサーチエリア（ハ）を設
定する。そして第３図（イ）のサーチエリア＠において
第３図（ロ）に示す標準パターンでパターンマツチング
を行なうとこの電子部品の１本目のリードを代表する位
置Ｑ４を検出することができる。
回路にあらかじめ検出したいリードを含み、他のリード
は含まないように登録されている標準的な距離ｒと角度
θを読み出して、Ａ点を基準にサーチエリア（ハ）を設
定する。そして第３図（イ）のサーチエリア＠において
第３図（ロ）に示す標準パターンでパターンマツチング
を行なうとこの電子部品の１本目のリードを代表する位
置Ｑ４を検出することができる。
以上のように本実施例によれば、投影データから電子部
品の基準点を検出し、その基準点を基準にして、標準的
な距離と角度から複数の同一形状を有している電子部品
のリードのうち検出したいリードのみを含むようにサー
チエリアを設定し、サーチエリア内においてパターンマ
ツチングを行なうことにより正確に電子部品のリードの
うち検出したいリードの位置を検出することができる。
品の基準点を検出し、その基準点を基準にして、標準的
な距離と角度から複数の同一形状を有している電子部品
のリードのうち検出したいリードのみを含むようにサー
チエリアを設定し、サーチエリア内においてパターンマ
ツチングを行なうことにより正確に電子部品のリードの
うち検出したいリードの位置を検出することができる。
なお、本実施例ではサーチエリアを固定の大きさとした
が、対象物にあわせて大きさを設定し、標準距離角度記
憶回路に登録しておいて、位置検出を行なう時にその値
を読み出してサーチエリアを設定してもよい。
が、対象物にあわせて大きさを設定し、標準距離角度記
憶回路に登録しておいて、位置検出を行なう時にその値
を読み出してサーチエリアを設定してもよい。
発明の効果
本発明は、撮像装置により撮像した映像を２値化し、２
値化された信号からＸ方向及びｙ方向の投影データを作
る手段と投影データから撮像画面上の基準点を算出する
手段と基準点を基準にして標準的な距離と角度からサー
チエリアを設定する手段とサーチエリア内においてパタ
ーンマツチングする手段とにより、同一形状のリードが
複数個存在する電子部品の特定のリード位置を容易に検
出することができる実用的効果を生ずる。
値化された信号からＸ方向及びｙ方向の投影データを作
る手段と投影データから撮像画面上の基準点を算出する
手段と基準点を基準にして標準的な距離と角度からサー
チエリアを設定する手段とサーチエリア内においてパタ
ーンマツチングする手段とにより、同一形状のリードが
複数個存在する電子部品の特定のリード位置を容易に検
出することができる実用的効果を生ずる。
第１図は本発明の電子部品リード位置検出装置の一実施
例の構成のブロック図、第２図は投影データを説明する
図、第３図はサーチエリアを説明する図、（イ）はサー
チエリア、（ロ）は標準パターン、第４図は従来の電子
部品検出装置の構成図、第５図は従来例の説明のための
図、ピ）は撮像画面、（ロ）は標準パターン、を示す。 に撮像装置 ２：２値化回路 ３：標準パターン記
憶回路 ４：パターンマッチング回路５：電子部品
６：撮像画面 ７：標準パターン ８：最もよく
一致度の画素部分 １１：投影回路 【２：基準点
算出回路 １３：サーチエリア設定回路 １４：標
準距離角度記憶回路特許出願人 松下電器産業株
式会社代理人弁理士 阿 部 功（イ） 第３図 ｆ） 第５図
例の構成のブロック図、第２図は投影データを説明する
図、第３図はサーチエリアを説明する図、（イ）はサー
チエリア、（ロ）は標準パターン、第４図は従来の電子
部品検出装置の構成図、第５図は従来例の説明のための
図、ピ）は撮像画面、（ロ）は標準パターン、を示す。 に撮像装置 ２：２値化回路 ３：標準パターン記
憶回路 ４：パターンマッチング回路５：電子部品
６：撮像画面 ７：標準パターン ８：最もよく
一致度の画素部分 １１：投影回路 【２：基準点
算出回路 １３：サーチエリア設定回路 １４：標
準距離角度記憶回路特許出願人 松下電器産業株
式会社代理人弁理士 阿 部 功（イ） 第３図 ｆ） 第５図
Claims (1)
- 撮像装置、撮像装置で撮像した電子部品リードの映像を
２値化する回路、前記２値化回路の信号の白又は黒の部
分をｘ方向及びｙ方向に投影し投影データを作成する投
影回路、前記投影データから撮像画面上のある点を基準
点として算出する基準点算出回路、基準点からサーチエ
リアまでの標準的な距離と角度を記憶する標準距離角度
記憶回路、前記基準点算出回路と標準距離角度記憶回路
からサーチエリアを設定するサーチエリア設定回路、標
準パターンを記憶する標準パターン記憶回路および前記
サーチエリア設定回路のサーチエリア内において前記標
準パターンによりパターンマッチングを行うパターンマ
ッチング回路からなる電子部品リード位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59244777A JPS61122788A (ja) | 1984-11-20 | 1984-11-20 | 電子部品リ−ド位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59244777A JPS61122788A (ja) | 1984-11-20 | 1984-11-20 | 電子部品リ−ド位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61122788A true JPS61122788A (ja) | 1986-06-10 |
Family
ID=17123760
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59244777A Pending JPS61122788A (ja) | 1984-11-20 | 1984-11-20 | 電子部品リ−ド位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61122788A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01111281A (ja) * | 1987-10-23 | 1989-04-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品認識方法 |
| JPH02118885A (ja) * | 1988-10-28 | 1990-05-07 | Pfu Ltd | 画像処理によるｓｍｄの極性識別検査方式 |
| EP1481727A3 (en) * | 2003-05-30 | 2005-01-12 | Agilent Technologies Inc | Feature extraction methods and systems |
-
1984
- 1984-11-20 JP JP59244777A patent/JPS61122788A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01111281A (ja) * | 1987-10-23 | 1989-04-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品認識方法 |
| JPH02118885A (ja) * | 1988-10-28 | 1990-05-07 | Pfu Ltd | 画像処理によるｓｍｄの極性識別検査方式 |
| EP1481727A3 (en) * | 2003-05-30 | 2005-01-12 | Agilent Technologies Inc | Feature extraction methods and systems |
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