JPS61120977A - プロ−ブガ−ド取付装置 - Google Patents
プロ−ブガ−ド取付装置Info
- Publication number
- JPS61120977A JPS61120977A JP59243073A JP24307384A JPS61120977A JP S61120977 A JPS61120977 A JP S61120977A JP 59243073 A JP59243073 A JP 59243073A JP 24307384 A JP24307384 A JP 24307384A JP S61120977 A JPS61120977 A JP S61120977A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe guard
- reference pin
- probe
- support frame
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、電子回路の抵抗トリミング装置に用いられ
るプローブガード取付装置に関するものである。
るプローブガード取付装置に関するものである。
従来の技術
従来、電子回路の抵抗トリミング装置として、抵抗の抵
抗値を測定しながら、レーザ光でトリミングする装置が
ある。抵抗値の測定には、各回路基板のパターンに応じ
て多数のプローブを突設したプローブガードが用いられ
る。
抗値を測定しながら、レーザ光でトリミングする装置が
ある。抵抗値の測定には、各回路基板のパターンに応じ
て多数のプローブを突設したプローブガードが用いられ
る。
このプローブガードをトリミング装置の本体に取付ける
プローブガード取付ホルダとして、第7図に示すものが
用いられている。図において40はホルダ本体であり、
その切欠部分41にプローブガード42が差込まれる。
プローブガード取付ホルダとして、第7図に示すものが
用いられている。図において40はホルダ本体であり、
その切欠部分41にプローブガード42が差込まれる。
43はプローブである。プローブガード1は、ホルダ本
体40に螺着されたY、θ調整ねじ44と、X調整ねじ
45と、Z調整ねじ46とで各方向の位置合せが行われ
、ロックねじ47で固定される。前記位置合せは、測定
対象物である電子回路の計測箇所に応じて行ねれる。4
8はプローブガード42の端子部を差込接続するソケッ
ト、49はコネクタである。
体40に螺着されたY、θ調整ねじ44と、X調整ねじ
45と、Z調整ねじ46とで各方向の位置合せが行われ
、ロックねじ47で固定される。前記位置合せは、測定
対象物である電子回路の計測箇所に応じて行ねれる。4
8はプローブガード42の端子部を差込接続するソケッ
ト、49はコネクタである。
発明が解決しようとする問題点
面記従来例は、プローブガード42の測定対象物との位
置合せを、各方向の調整ねし44〜46で行わなければ
ならず、位置合せが困難で手間がかかる。そのため、電
子回路の品種が変わって、プローブガード42を取り替
える際に、大幅な時間の頃失となり、生産生が低いとい
う問題点があった。
置合せを、各方向の調整ねし44〜46で行わなければ
ならず、位置合せが困難で手間がかかる。そのため、電
子回路の品種が変わって、プローブガード42を取り替
える際に、大幅な時間の頃失となり、生産生が低いとい
う問題点があった。
この発明は、プローブガードの取付は時の位置合せが簡
単でかつ迅速に行えるプローブガード取付装置を提供す
ることを目的とする。
単でかつ迅速に行えるプローブガード取付装置を提供す
ることを目的とする。
問題点を解消するための手段
この発明のプローブガード取付装置は、基準ピン嵌入札
と、レーザ光通過用孔を有し裏側にプローブガード本体
が取付けられるカード本体取付板と、表面に前記基準ピ
ン嵌入孔に嵌入する基準ピンを有し前記カード取付板を
載置する支持枠とを備えたものである。
と、レーザ光通過用孔を有し裏側にプローブガード本体
が取付けられるカード本体取付板と、表面に前記基準ピ
ン嵌入孔に嵌入する基準ピンを有し前記カード取付板を
載置する支持枠とを備えたものである。
作用
この構成によると、カード本体取付板の基準ビン嵌大孔
に支持枠の基準ピンを嵌合させるだけで、ブローブガ′
−ドの位置合せが行える。そのため、位置合せ作業が簡
単かつ迅速に行え、生産性が向上する。
に支持枠の基準ピンを嵌合させるだけで、ブローブガ′
−ドの位置合せが行える。そのため、位置合せ作業が簡
単かつ迅速に行え、生産性が向上する。
実施例
この発明の一実施例を第1図ないし第6図に示す。図に
おいて、lはプローブガードであり、カード本体取付板
2と、その下方に4本の取付ピン3で固定したプローブ
ガード本体4とで構成されている。カード本体取付板2
は、レーザ光通過孔5と、リード線挿孔6とを有し、か
つ対向する一対の側縁に基準ピン嵌入孔7と、把手8と
が設けである。また、カード本体取付板2の前記側縁と
直交する側縁の上面に、接片形成板9が設けである。1
0は支持枠であり、雄ねじを形成した一対の基準ピン1
)が上面に突設しである。カード本体取付板2は、基準
ピン嵌入孔7を基準ピン1)に嵌合させて支持枠10に
載せられ、基準ピン1)に螺着したナツト12で固定さ
れる。ナツト12は、カード本体取付板2の固定部材と
なるものである。プローブガード本体4をカード本体取
付板2に取付ける取付ピン3は、両端が小径のねじ部と
なって一端がカード本体取付板2のねじ孔13に螺着さ
れ、かつ他端がプローブガード本体4の取付孔14に挿
通されてナツト15で固定される。
おいて、lはプローブガードであり、カード本体取付板
2と、その下方に4本の取付ピン3で固定したプローブ
ガード本体4とで構成されている。カード本体取付板2
は、レーザ光通過孔5と、リード線挿孔6とを有し、か
つ対向する一対の側縁に基準ピン嵌入孔7と、把手8と
が設けである。また、カード本体取付板2の前記側縁と
直交する側縁の上面に、接片形成板9が設けである。1
0は支持枠であり、雄ねじを形成した一対の基準ピン1
)が上面に突設しである。カード本体取付板2は、基準
ピン嵌入孔7を基準ピン1)に嵌合させて支持枠10に
載せられ、基準ピン1)に螺着したナツト12で固定さ
れる。ナツト12は、カード本体取付板2の固定部材と
なるものである。プローブガード本体4をカード本体取
付板2に取付ける取付ピン3は、両端が小径のねじ部と
なって一端がカード本体取付板2のねじ孔13に螺着さ
れ、かつ他端がプローブガード本体4の取付孔14に挿
通されてナツト15で固定される。
プローブガード本体4は、第4図のように、中央にレー
ザ光通過孔16を有し、多数本のプローブ17を下方に
突出させである。プローブガード本体4は、導体パター
ンを表裏に形成したプリント基板からなり、−側縁にく
し歯状の多数の端子18が形成しである。各端子18は
、導体パターンでプローブ17と接続したものである。
ザ光通過孔16を有し、多数本のプローブ17を下方に
突出させである。プローブガード本体4は、導体パター
ンを表裏に形成したプリント基板からなり、−側縁にく
し歯状の多数の端子18が形成しである。各端子18は
、導体パターンでプローブ17と接続したものである。
端子18はソケット19に差込まれ、ソケット19から
導出したリード線20は、カード本体取付板2のリード
線種通孔6を通り、カード本体取付板2の接片形成板9
の各接片21に接続される。なお、ソケット20を用い
ずに、プローブガード本体4の端子18と接片形成板9
の接片21とを直接にリード線20で接続してもよい。
導出したリード線20は、カード本体取付板2のリード
線種通孔6を通り、カード本体取付板2の接片形成板9
の各接片21に接続される。なお、ソケット20を用い
ずに、プローブガード本体4の端子18と接片形成板9
の接片21とを直接にリード線20で接続してもよい。
接片取付板9は、多数の接片21を上面に2列に配列し
たものであり、片方の列の接片21はプローブガード本
体4の表面の導体パターンと、もう片方の列の接片21
は裏面の導体パターンとそれぞれ接続しである。
たものであり、片方の列の接片21はプローブガード本
体4の表面の導体パターンと、もう片方の列の接片21
は裏面の導体パターンとそれぞれ接続しである。
各接片21には接触ピン昇降部材22 (第1図。
第6図)に固定した接触ピン23の先端が接する。
接触ピン23は、各接片21に対して2本ずつ設けてあ
り、先端面は略球面としである。各接触ピ 1ン23
は、計測ケーブル24により、計測器(図示せず)に接
続される。接触ピン昇降部材22は、立板25に昇降ガ
イド26で支持された昇降枠27に取付けられ、昇降軸
28に連結したシリンダ装置等の昇降駆動装置(図示せ
ず)により昇降させられる。
り、先端面は略球面としである。各接触ピ 1ン23
は、計測ケーブル24により、計測器(図示せず)に接
続される。接触ピン昇降部材22は、立板25に昇降ガ
イド26で支持された昇降枠27に取付けられ、昇降軸
28に連結したシリンダ装置等の昇降駆動装置(図示せ
ず)により昇降させられる。
第6図は、このプローブガード取付装置を装備した抵抗
トリミング装置を示す。プローブガード1を取付ける支
持枠10は、2台が互いに連結され、水平なガイド軸2
9および立板25のガイド面に、ガイドローラ30を介
して図の左右に往復移動自在に支持されている。2台の
支持枠IOは、切換装置31の駆動により、レーザ装置
のスキャン光学系ユニット32に対応する位置に入れ換
えられる。33はレーザ発振器である。スキャン光学系
ユニット32と対応して、支持枠10よりも下方にXY
テーブル34が配置してあり、その上に昇降措置35を
介して電子回路36が位置決め保持される。XYテーブ
ル34は、水平な直交する2方向に移動するものである
。
トリミング装置を示す。プローブガード1を取付ける支
持枠10は、2台が互いに連結され、水平なガイド軸2
9および立板25のガイド面に、ガイドローラ30を介
して図の左右に往復移動自在に支持されている。2台の
支持枠IOは、切換装置31の駆動により、レーザ装置
のスキャン光学系ユニット32に対応する位置に入れ換
えられる。33はレーザ発振器である。スキャン光学系
ユニット32と対応して、支持枠10よりも下方にXY
テーブル34が配置してあり、その上に昇降措置35を
介して電子回路36が位置決め保持される。XYテーブ
ル34は、水平な直交する2方向に移動するものである
。
上記構成の動作を説明する。XYテーブル34上の測定
対象物となる電子回路30は、プローブガードlのプロ
ーブ17に接して抵抗値の測定を行いながら、抵抗体の
レーザ光によるトリミングが行われる。2台の支持枠1
0には異なる品種の電子回路36に対応したプローブガ
ート川が取付けられ、電子回路36の品種の切換えに際
して、切換装置31でスライドさせることにより、迅速
にプローブガード1の切換えが行われる。支持枠10を
移動させるときに、接触ピン23は昇降枠27とともに
上昇させ、支持枠10が所定位置に停止した後に、下降
させる。
対象物となる電子回路30は、プローブガードlのプロ
ーブ17に接して抵抗値の測定を行いながら、抵抗体の
レーザ光によるトリミングが行われる。2台の支持枠1
0には異なる品種の電子回路36に対応したプローブガ
ート川が取付けられ、電子回路36の品種の切換えに際
して、切換装置31でスライドさせることにより、迅速
にプローブガード1の切換えが行われる。支持枠10を
移動させるときに、接触ピン23は昇降枠27とともに
上昇させ、支持枠10が所定位置に停止した後に、下降
させる。
プローブガード1の支持枠lOに対する取替えは、支持
枠10をスキャン光学系ユニット32から外れる位置に
移動させた時に行う。ブローブガ □−ド1の取外
しは、ナツト12を緩めて外し、把手8で持ち上げるこ
とにより行う。プローブガード1の取付に際しては、カ
ード本体取付板2の基準ピン嵌入孔゛lを、支持枠10
の基準ピン1)に嵌合させて、カード本体取付板2を支
持枠10に載せ、ナツト12を基準ピン1)に螺着する
。
枠10をスキャン光学系ユニット32から外れる位置に
移動させた時に行う。ブローブガ □−ド1の取外
しは、ナツト12を緩めて外し、把手8で持ち上げるこ
とにより行う。プローブガード1の取付に際しては、カ
ード本体取付板2の基準ピン嵌入孔゛lを、支持枠10
の基準ピン1)に嵌合させて、カード本体取付板2を支
持枠10に載せ、ナツト12を基準ピン1)に螺着する
。
このように、基準ピン1)に基準ピン嵌合孔7を嵌合さ
せるので、従来のように複雑な調整を行わなくても、プ
ローブ17の位置が電子回路36の計測箇所に対して正
確に定まる。そのため、プローブガードlの取り替えが
迅速かつPM’4に行え、生産性が向上する。
せるので、従来のように複雑な調整を行わなくても、プ
ローブ17の位置が電子回路36の計測箇所に対して正
確に定まる。そのため、プローブガードlの取り替えが
迅速かつPM’4に行え、生産性が向上する。
また、カード本体取付板2の接片21と、計測器側の端
子ピン23とは、プローブガード1を支持枠10により
移動させるごとに接離させるが、接触ビン23を昇降さ
せてその先端を接片21に押し付けるものであるため、
接触不良が生じ難い。
子ピン23とは、プローブガード1を支持枠10により
移動させるごとに接離させるが、接触ビン23を昇降さ
せてその先端を接片21に押し付けるものであるため、
接触不良が生じ難い。
例えば、抜き差し式のコネクタであると、抜き差しの回
数が多くなると、摩耗等により接触不良が生じ易いが、
上記の接触ビン23の押付けによると、接離回数が多く
ても、接触不良が生じ難い。
数が多くなると、摩耗等により接触不良が生じ易いが、
上記の接触ビン23の押付けによると、接離回数が多く
ても、接触不良が生じ難い。
また、接触ビン23を押付ける構造であるため、抜き差
しするものと異なり、接離に時間を要さず、支持枠10
の移動が迅速に行える。さらに、接触ピン23は1個の
接片21に対して2本設けているため、いずれかの接触
ピン23が接すれば良く、より一層接触不良が生じ難い
。また、片方の接触ピン23が損傷しても、接触不良が
防止できる。
しするものと異なり、接離に時間を要さず、支持枠10
の移動が迅速に行える。さらに、接触ピン23は1個の
接片21に対して2本設けているため、いずれかの接触
ピン23が接すれば良く、より一層接触不良が生じ難い
。また、片方の接触ピン23が損傷しても、接触不良が
防止できる。
なお、前記実施例では基準ピン1)を雄ねじとしてナソ
)12を螺着するようにしたが、基準ピン1)を単なる
丸軸とし、基準ピン1)と別の箇所で、カード本体取付
板2を支持枠10にねじ等で固定する構造としてもよい
。
)12を螺着するようにしたが、基準ピン1)を単なる
丸軸とし、基準ピン1)と別の箇所で、カード本体取付
板2を支持枠10にねじ等で固定する構造としてもよい
。
またこの発明とは異なるが、カード本体取付枠2を設け
ずに、プローブガード1をプローブガード本体4のみで
構成し、そのプローブガード本体4に基準ビン嵌合札を
設けて支持枠10に取付ける構成とすることもできる。
ずに、プローブガード1をプローブガード本体4のみで
構成し、そのプローブガード本体4に基準ビン嵌合札を
設けて支持枠10に取付ける構成とすることもできる。
その場合、プローブガード本体4に接片形成板9を設け
る。
る。
発明の効果
この発明のプローブガード取付装置は、プローブガード
の取付時の位置合わせが簡単かつ迅速に行えるという効
果がある。
の取付時の位置合わせが簡単かつ迅速に行えるという効
果がある。
第1図はこの発明の一実施例の斜視図、第2図はその要
部破断側面図、第3図は同じくそのプローブガードの破
断側面図、第4図は同じくそのプローブガード本体とソ
ケットを示す斜視図、第5図は同じくその接触ピンによ
る接続手段の断面図、第6図はこの実施例のプローブガ
ード取付装置を装備した抵抗トリミング装置の斜視図、
第7図は従来例の平面図である。 1・・・プローブガード、2・・・カード本体取付板、
4・・・プローブガード、5・・・レーザ光通過孔、7
・・・基準ピン挿入孔、10・・・支持枠、1)・・・
基準ピン、12・・・ナツト(固定部材)、21・・・
接片、23・・・接触ビン 1 ・・・アローブ°カート 第2図
部破断側面図、第3図は同じくそのプローブガードの破
断側面図、第4図は同じくそのプローブガード本体とソ
ケットを示す斜視図、第5図は同じくその接触ピンによ
る接続手段の断面図、第6図はこの実施例のプローブガ
ード取付装置を装備した抵抗トリミング装置の斜視図、
第7図は従来例の平面図である。 1・・・プローブガード、2・・・カード本体取付板、
4・・・プローブガード、5・・・レーザ光通過孔、7
・・・基準ピン挿入孔、10・・・支持枠、1)・・・
基準ピン、12・・・ナツト(固定部材)、21・・・
接片、23・・・接触ビン 1 ・・・アローブ°カート 第2図
Claims (2)
- (1)基準ピン嵌入孔とレーザ光通過用孔を有し裏側に
プローブガード本体が取付けられるカード本体取付板と
、表面に前記基準ピン嵌入孔に嵌入する基準ピンを有し
前記カード本体取付板を載置する支持枠と、前記プロー
ブガード本体を前記支持枠に固定する固定部材と、前記
プローブガードの端子を計測器に接続する接続手段とを
備えたプローブガード取付装置。 - (2)前記接続手段が、前記カード取付板の表面に形成
されて前記プローブガード本体の各端子に接続された複
数個の接片と、この接片に対向して昇降可能な接触ピン
昇降部材に取付けられて前記計測器と接続され前記各接
片に先端が接する複数本の接触ピンとを有するものとし
た特許請求の範囲第(1)構成記載のプローブガード取
付装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59243073A JPS61120977A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | プロ−ブガ−ド取付装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59243073A JPS61120977A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | プロ−ブガ−ド取付装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61120977A true JPS61120977A (ja) | 1986-06-09 |
Family
ID=17098381
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59243073A Pending JPS61120977A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | プロ−ブガ−ド取付装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61120977A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8034505B2 (en) | 2003-11-11 | 2011-10-11 | Nitta Corporation | Fuel cell separator that is excellent in workability and corrosion resistance |
-
1984
- 1984-11-16 JP JP59243073A patent/JPS61120977A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8034505B2 (en) | 2003-11-11 | 2011-10-11 | Nitta Corporation | Fuel cell separator that is excellent in workability and corrosion resistance |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6160412A (en) | Impedance-matched interconnection device for connecting a vertical-pin integrated circuit probing device to integrated circuit test equipment | |
CN110108909B (zh) | 一种ict测试治具 | |
KR102042923B1 (ko) | 비젼 정렬을 위한 디스플레이 모듈 검사용 프로브 블록 | |
JPH075071A (ja) | 液晶ディスプレイパネル用試験プロ−ブ | |
JPH09191066A (ja) | Icソケット | |
US7471095B2 (en) | Electrical connecting apparatus and method for use thereof | |
JP2002164136A (ja) | Bga用icソケット | |
JPS61120977A (ja) | プロ−ブガ−ド取付装置 | |
KR0155573B1 (ko) | 반도체 디바이스의 검사장치 | |
EP0233884B1 (en) | Device for surface mounting of components | |
US4987364A (en) | Electrical testing probe | |
JPH0719812B2 (ja) | 検査装置 | |
CN109813530B (zh) | 一种多功能光学模组测试台座 | |
JP2002139547A (ja) | 電気的特性検査装置におけるプロービング装置およびプロービングシート構造並びに角錐バンプ付プリント配線基板の製造方法 | |
JP2001041975A (ja) | コンタクトプローブ装置および回路基板検査装置 | |
JP3005496U (ja) | 電気特性検査用プローブ | |
JP3614003B2 (ja) | プローブカードの位置決め機構 | |
JP3307166B2 (ja) | 回路基板の検査装置 | |
JPH0623977Y2 (ja) | プローブカード | |
CN218272450U (zh) | 一种电路板测试装置 | |
JPH0438299Y2 (ja) | ||
JPH0697241A (ja) | プローブ装置 | |
JP4074677B2 (ja) | 検査用ヘッド | |
JP2511256Y2 (ja) | レ―ザトリマ | |
JPH05172899A (ja) | 回路基板検査装置の上部位置決め方法 |