JPS61120977A - プロ−ブガ−ド取付装置 - Google Patents
プロ−ブガ−ド取付装置Info
- Publication number
- JPS61120977A JPS61120977A JP59243073A JP24307384A JPS61120977A JP S61120977 A JPS61120977 A JP S61120977A JP 59243073 A JP59243073 A JP 59243073A JP 24307384 A JP24307384 A JP 24307384A JP S61120977 A JPS61120977 A JP S61120977A
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- Japan
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- probe
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、電子回路の抵抗トリミング装置に用いられ
るプローブガード取付装置に関するものである。
るプローブガード取付装置に関するものである。
従来の技術
従来、電子回路の抵抗トリミング装置として、抵抗の抵
抗値を測定しながら、レーザ光でトリミングする装置が
ある。抵抗値の測定には、各回路基板のパターンに応じ
て多数のプローブを突設したプローブガードが用いられ
る。
抗値を測定しながら、レーザ光でトリミングする装置が
ある。抵抗値の測定には、各回路基板のパターンに応じ
て多数のプローブを突設したプローブガードが用いられ
る。
このプローブガードをトリミング装置の本体に取付ける
プローブガード取付ホルダとして、第７図に示すものが
用いられている。図において４０はホルダ本体であり、
その切欠部分４１にプローブガード４２が差込まれる。
プローブガード取付ホルダとして、第７図に示すものが
用いられている。図において４０はホルダ本体であり、
その切欠部分４１にプローブガード４２が差込まれる。
４３はプローブである。プローブガード１は、ホルダ本
体４０に螺着されたＹ、θ調整ねじ４４と、Ｘ調整ねじ
４５と、Ｚ調整ねじ４６とで各方向の位置合せが行われ
、ロックねじ４７で固定される。前記位置合せは、測定
対象物である電子回路の計測箇所に応じて行ねれる。４
８はプローブガード４２の端子部を差込接続するソケッ
ト、４９はコネクタである。
体４０に螺着されたＹ、θ調整ねじ４４と、Ｘ調整ねじ
４５と、Ｚ調整ねじ４６とで各方向の位置合せが行われ
、ロックねじ４７で固定される。前記位置合せは、測定
対象物である電子回路の計測箇所に応じて行ねれる。４
８はプローブガード４２の端子部を差込接続するソケッ
ト、４９はコネクタである。
発明が解決しようとする問題点
面記従来例は、プローブガード４２の測定対象物との位
置合せを、各方向の調整ねし４４〜４６で行わなければ
ならず、位置合せが困難で手間がかかる。そのため、電
子回路の品種が変わって、プローブガード４２を取り替
える際に、大幅な時間の頃失となり、生産生が低いとい
う問題点があった。
置合せを、各方向の調整ねし４４〜４６で行わなければ
ならず、位置合せが困難で手間がかかる。そのため、電
子回路の品種が変わって、プローブガード４２を取り替
える際に、大幅な時間の頃失となり、生産生が低いとい
う問題点があった。
この発明は、プローブガードの取付は時の位置合せが簡
単でかつ迅速に行えるプローブガード取付装置を提供す
ることを目的とする。
単でかつ迅速に行えるプローブガード取付装置を提供す
ることを目的とする。
問題点を解消するための手段
この発明のプローブガード取付装置は、基準ピン嵌入札
と、レーザ光通過用孔を有し裏側にプローブガード本体
が取付けられるカード本体取付板と、表面に前記基準ピ
ン嵌入孔に嵌入する基準ピンを有し前記カード取付板を
載置する支持枠とを備えたものである。
と、レーザ光通過用孔を有し裏側にプローブガード本体
が取付けられるカード本体取付板と、表面に前記基準ピ
ン嵌入孔に嵌入する基準ピンを有し前記カード取付板を
載置する支持枠とを備えたものである。
作用
この構成によると、カード本体取付板の基準ビン嵌大孔
に支持枠の基準ピンを嵌合させるだけで、ブローブガ′
−ドの位置合せが行える。そのため、位置合せ作業が簡
単かつ迅速に行え、生産性が向上する。
に支持枠の基準ピンを嵌合させるだけで、ブローブガ′
−ドの位置合せが行える。そのため、位置合せ作業が簡
単かつ迅速に行え、生産性が向上する。
実施例
この発明の一実施例を第１図ないし第６図に示す。図に
おいて、ｌはプローブガードであり、カード本体取付板
２と、その下方に４本の取付ピン３で固定したプローブ
ガード本体４とで構成されている。カード本体取付板２
は、レーザ光通過孔５と、リード線挿孔６とを有し、か
つ対向する一対の側縁に基準ピン嵌入孔７と、把手８と
が設けである。また、カード本体取付板２の前記側縁と
直交する側縁の上面に、接片形成板９が設けである。１
０は支持枠であり、雄ねじを形成した一対の基準ピン１
）が上面に突設しである。カード本体取付板２は、基準
ピン嵌入孔７を基準ピン１）に嵌合させて支持枠１０に
載せられ、基準ピン１）に螺着したナツト１２で固定さ
れる。ナツト１２は、カード本体取付板２の固定部材と
なるものである。プローブガード本体４をカード本体取
付板２に取付ける取付ピン３は、両端が小径のねじ部と
なって一端がカード本体取付板２のねじ孔１３に螺着さ
れ、かつ他端がプローブガード本体４の取付孔１４に挿
通されてナツト１５で固定される。
おいて、ｌはプローブガードであり、カード本体取付板
２と、その下方に４本の取付ピン３で固定したプローブ
ガード本体４とで構成されている。カード本体取付板２
は、レーザ光通過孔５と、リード線挿孔６とを有し、か
つ対向する一対の側縁に基準ピン嵌入孔７と、把手８と
が設けである。また、カード本体取付板２の前記側縁と
直交する側縁の上面に、接片形成板９が設けである。１
０は支持枠であり、雄ねじを形成した一対の基準ピン１
）が上面に突設しである。カード本体取付板２は、基準
ピン嵌入孔７を基準ピン１）に嵌合させて支持枠１０に
載せられ、基準ピン１）に螺着したナツト１２で固定さ
れる。ナツト１２は、カード本体取付板２の固定部材と
なるものである。プローブガード本体４をカード本体取
付板２に取付ける取付ピン３は、両端が小径のねじ部と
なって一端がカード本体取付板２のねじ孔１３に螺着さ
れ、かつ他端がプローブガード本体４の取付孔１４に挿
通されてナツト１５で固定される。
プローブガード本体４は、第４図のように、中央にレー
ザ光通過孔１６を有し、多数本のプローブ１７を下方に
突出させである。プローブガード本体４は、導体パター
ンを表裏に形成したプリント基板からなり、−側縁にく
し歯状の多数の端子１８が形成しである。各端子１８は
、導体パターンでプローブ１７と接続したものである。
ザ光通過孔１６を有し、多数本のプローブ１７を下方に
突出させである。プローブガード本体４は、導体パター
ンを表裏に形成したプリント基板からなり、−側縁にく
し歯状の多数の端子１８が形成しである。各端子１８は
、導体パターンでプローブ１７と接続したものである。
端子１８はソケット１９に差込まれ、ソケット１９から
導出したリード線２０は、カード本体取付板２のリード
線種通孔６を通り、カード本体取付板２の接片形成板９
の各接片２１に接続される。なお、ソケット２０を用い
ずに、プローブガード本体４の端子１８と接片形成板９
の接片２１とを直接にリード線２０で接続してもよい。
導出したリード線２０は、カード本体取付板２のリード
線種通孔６を通り、カード本体取付板２の接片形成板９
の各接片２１に接続される。なお、ソケット２０を用い
ずに、プローブガード本体４の端子１８と接片形成板９
の接片２１とを直接にリード線２０で接続してもよい。
接片取付板９は、多数の接片２１を上面に２列に配列し
たものであり、片方の列の接片２１はプローブガード本
体４の表面の導体パターンと、もう片方の列の接片２１
は裏面の導体パターンとそれぞれ接続しである。
たものであり、片方の列の接片２１はプローブガード本
体４の表面の導体パターンと、もう片方の列の接片２１
は裏面の導体パターンとそれぞれ接続しである。
各接片２１には接触ピン昇降部材２２ （第１図。
第６図）に固定した接触ピン２３の先端が接する。
接触ピン２３は、各接片２１に対して２本ずつ設けてあ
り、先端面は略球面としである。各接触ピ １ン２３
は、計測ケーブル２４により、計測器（図示せず）に接
続される。接触ピン昇降部材２２は、立板２５に昇降ガ
イド２６で支持された昇降枠２７に取付けられ、昇降軸
２８に連結したシリンダ装置等の昇降駆動装置（図示せ
ず）により昇降させられる。
り、先端面は略球面としである。各接触ピ １ン２３
は、計測ケーブル２４により、計測器（図示せず）に接
続される。接触ピン昇降部材２２は、立板２５に昇降ガ
イド２６で支持された昇降枠２７に取付けられ、昇降軸
２８に連結したシリンダ装置等の昇降駆動装置（図示せ
ず）により昇降させられる。
第６図は、このプローブガード取付装置を装備した抵抗
トリミング装置を示す。プローブガード１を取付ける支
持枠１０は、２台が互いに連結され、水平なガイド軸２
９および立板２５のガイド面に、ガイドローラ３０を介
して図の左右に往復移動自在に支持されている。２台の
支持枠ＩＯは、切換装置３１の駆動により、レーザ装置
のスキャン光学系ユニット３２に対応する位置に入れ換
えられる。３３はレーザ発振器である。スキャン光学系
ユニット３２と対応して、支持枠１０よりも下方にＸＹ
テーブル３４が配置してあり、その上に昇降措置３５を
介して電子回路３６が位置決め保持される。ＸＹテーブ
ル３４は、水平な直交する２方向に移動するものである
。
トリミング装置を示す。プローブガード１を取付ける支
持枠１０は、２台が互いに連結され、水平なガイド軸２
９および立板２５のガイド面に、ガイドローラ３０を介
して図の左右に往復移動自在に支持されている。２台の
支持枠ＩＯは、切換装置３１の駆動により、レーザ装置
のスキャン光学系ユニット３２に対応する位置に入れ換
えられる。３３はレーザ発振器である。スキャン光学系
ユニット３２と対応して、支持枠１０よりも下方にＸＹ
テーブル３４が配置してあり、その上に昇降措置３５を
介して電子回路３６が位置決め保持される。ＸＹテーブ
ル３４は、水平な直交する２方向に移動するものである
。
上記構成の動作を説明する。ＸＹテーブル３４上の測定
対象物となる電子回路３０は、プローブガードｌのプロ
ーブ１７に接して抵抗値の測定を行いながら、抵抗体の
レーザ光によるトリミングが行われる。２台の支持枠１
０には異なる品種の電子回路３６に対応したプローブガ
ート川が取付けられ、電子回路３６の品種の切換えに際
して、切換装置３１でスライドさせることにより、迅速
にプローブガード１の切換えが行われる。支持枠１０を
移動させるときに、接触ピン２３は昇降枠２７とともに
上昇させ、支持枠１０が所定位置に停止した後に、下降
させる。
対象物となる電子回路３０は、プローブガードｌのプロ
ーブ１７に接して抵抗値の測定を行いながら、抵抗体の
レーザ光によるトリミングが行われる。２台の支持枠１
０には異なる品種の電子回路３６に対応したプローブガ
ート川が取付けられ、電子回路３６の品種の切換えに際
して、切換装置３１でスライドさせることにより、迅速
にプローブガード１の切換えが行われる。支持枠１０を
移動させるときに、接触ピン２３は昇降枠２７とともに
上昇させ、支持枠１０が所定位置に停止した後に、下降
させる。
プローブガード１の支持枠ｌＯに対する取替えは、支持
枠１０をスキャン光学系ユニット３２から外れる位置に
移動させた時に行う。ブローブガ □−ド１の取外
しは、ナツト１２を緩めて外し、把手８で持ち上げるこ
とにより行う。プローブガード１の取付に際しては、カ
ード本体取付板２の基準ピン嵌入孔゛ｌを、支持枠１０
の基準ピン１）に嵌合させて、カード本体取付板２を支
持枠１０に載せ、ナツト１２を基準ピン１）に螺着する
。
枠１０をスキャン光学系ユニット３２から外れる位置に
移動させた時に行う。ブローブガ □−ド１の取外
しは、ナツト１２を緩めて外し、把手８で持ち上げるこ
とにより行う。プローブガード１の取付に際しては、カ
ード本体取付板２の基準ピン嵌入孔゛ｌを、支持枠１０
の基準ピン１）に嵌合させて、カード本体取付板２を支
持枠１０に載せ、ナツト１２を基準ピン１）に螺着する
。
このように、基準ピン１）に基準ピン嵌合孔７を嵌合さ
せるので、従来のように複雑な調整を行わなくても、プ
ローブ１７の位置が電子回路３６の計測箇所に対して正
確に定まる。そのため、プローブガードｌの取り替えが
迅速かつＰＭ’４に行え、生産性が向上する。
せるので、従来のように複雑な調整を行わなくても、プ
ローブ１７の位置が電子回路３６の計測箇所に対して正
確に定まる。そのため、プローブガードｌの取り替えが
迅速かつＰＭ’４に行え、生産性が向上する。
また、カード本体取付板２の接片２１と、計測器側の端
子ピン２３とは、プローブガード１を支持枠１０により
移動させるごとに接離させるが、接触ビン２３を昇降さ
せてその先端を接片２１に押し付けるものであるため、
接触不良が生じ難い。
子ピン２３とは、プローブガード１を支持枠１０により
移動させるごとに接離させるが、接触ビン２３を昇降さ
せてその先端を接片２１に押し付けるものであるため、
接触不良が生じ難い。
例えば、抜き差し式のコネクタであると、抜き差しの回
数が多くなると、摩耗等により接触不良が生じ易いが、
上記の接触ビン２３の押付けによると、接離回数が多く
ても、接触不良が生じ難い。
数が多くなると、摩耗等により接触不良が生じ易いが、
上記の接触ビン２３の押付けによると、接離回数が多く
ても、接触不良が生じ難い。
また、接触ビン２３を押付ける構造であるため、抜き差
しするものと異なり、接離に時間を要さず、支持枠１０
の移動が迅速に行える。さらに、接触ピン２３は１個の
接片２１に対して２本設けているため、いずれかの接触
ピン２３が接すれば良く、より一層接触不良が生じ難い
。また、片方の接触ピン２３が損傷しても、接触不良が
防止できる。
しするものと異なり、接離に時間を要さず、支持枠１０
の移動が迅速に行える。さらに、接触ピン２３は１個の
接片２１に対して２本設けているため、いずれかの接触
ピン２３が接すれば良く、より一層接触不良が生じ難い
。また、片方の接触ピン２３が損傷しても、接触不良が
防止できる。
なお、前記実施例では基準ピン１）を雄ねじとしてナソ
）１２を螺着するようにしたが、基準ピン１）を単なる
丸軸とし、基準ピン１）と別の箇所で、カード本体取付
板２を支持枠１０にねじ等で固定する構造としてもよい
。
）１２を螺着するようにしたが、基準ピン１）を単なる
丸軸とし、基準ピン１）と別の箇所で、カード本体取付
板２を支持枠１０にねじ等で固定する構造としてもよい
。
またこの発明とは異なるが、カード本体取付枠２を設け
ずに、プローブガード１をプローブガード本体４のみで
構成し、そのプローブガード本体４に基準ビン嵌合札を
設けて支持枠１０に取付ける構成とすることもできる。
ずに、プローブガード１をプローブガード本体４のみで
構成し、そのプローブガード本体４に基準ビン嵌合札を
設けて支持枠１０に取付ける構成とすることもできる。
その場合、プローブガード本体４に接片形成板９を設け
る。
る。
発明の効果
この発明のプローブガード取付装置は、プローブガード
の取付時の位置合わせが簡単かつ迅速に行えるという効
果がある。
の取付時の位置合わせが簡単かつ迅速に行えるという効
果がある。
第１図はこの発明の一実施例の斜視図、第２図はその要
部破断側面図、第３図は同じくそのプローブガードの破
断側面図、第４図は同じくそのプローブガード本体とソ
ケットを示す斜視図、第５図は同じくその接触ピンによ
る接続手段の断面図、第６図はこの実施例のプローブガ
ード取付装置を装備した抵抗トリミング装置の斜視図、
第７図は従来例の平面図である。 １・・・プローブガード、２・・・カード本体取付板、
４・・・プローブガード、５・・・レーザ光通過孔、７
・・・基準ピン挿入孔、１０・・・支持枠、１）・・・
基準ピン、１２・・・ナツト（固定部材）、２１・・・
接片、２３・・・接触ビン １ ・・・アローブ°カート 第２図
部破断側面図、第３図は同じくそのプローブガードの破
断側面図、第４図は同じくそのプローブガード本体とソ
ケットを示す斜視図、第５図は同じくその接触ピンによ
る接続手段の断面図、第６図はこの実施例のプローブガ
ード取付装置を装備した抵抗トリミング装置の斜視図、
第７図は従来例の平面図である。 １・・・プローブガード、２・・・カード本体取付板、
４・・・プローブガード、５・・・レーザ光通過孔、７
・・・基準ピン挿入孔、１０・・・支持枠、１）・・・
基準ピン、１２・・・ナツト（固定部材）、２１・・・
接片、２３・・・接触ビン １ ・・・アローブ°カート 第２図
Claims (2)
- （１）基準ピン嵌入孔とレーザ光通過用孔を有し裏側に
プローブガード本体が取付けられるカード本体取付板と
、表面に前記基準ピン嵌入孔に嵌入する基準ピンを有し
前記カード本体取付板を載置する支持枠と、前記プロー
ブガード本体を前記支持枠に固定する固定部材と、前記
プローブガードの端子を計測器に接続する接続手段とを
備えたプローブガード取付装置。 - （２）前記接続手段が、前記カード取付板の表面に形成
されて前記プローブガード本体の各端子に接続された複
数個の接片と、この接片に対向して昇降可能な接触ピン
昇降部材に取付けられて前記計測器と接続され前記各接
片に先端が接する複数本の接触ピンとを有するものとし
た特許請求の範囲第（１）構成記載のプローブガード取
付装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59243073A JPS61120977A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | プロ−ブガ−ド取付装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59243073A JPS61120977A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | プロ−ブガ−ド取付装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61120977A true JPS61120977A (ja) | 1986-06-09 |
Family
ID=17098381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59243073A Pending JPS61120977A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | プロ−ブガ−ド取付装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61120977A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8034505B2 (en) | 2003-11-11 | 2011-10-11 | Nitta Corporation | Fuel cell separator that is excellent in workability and corrosion resistance |
-
1984
- 1984-11-16 JP JP59243073A patent/JPS61120977A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8034505B2 (en) | 2003-11-11 | 2011-10-11 | Nitta Corporation | Fuel cell separator that is excellent in workability and corrosion resistance |
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