JPS61113746A - シヤドウマスク材 - Google Patents
シヤドウマスク材Info
- Publication number
- JPS61113746A JPS61113746A JP23335184A JP23335184A JPS61113746A JP S61113746 A JPS61113746 A JP S61113746A JP 23335184 A JP23335184 A JP 23335184A JP 23335184 A JP23335184 A JP 23335184A JP S61113746 A JPS61113746 A JP S61113746A
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- Japan
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- shadow mask
- etching
- less
- alloy
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- Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、カラーテレビ用受像管に用いられるシャドウ
マスク材に関する。
マスク材に関する。
従来カラーテレビ受像管用シャドウマスクとしては低炭
素リムド冷延鋼板が用いられていたが、非金属介在物に
よるエツチング穿孔欠陥やプレス成形時のストレッチャ
ーストレインの問題があるため、その多くは低炭素易キ
ルド冷延鋼板に代っている。しかし、この低炭素Mキル
ド鋼においても、いくつかの問題を有しており。
素リムド冷延鋼板が用いられていたが、非金属介在物に
よるエツチング穿孔欠陥やプレス成形時のストレッチャ
ーストレインの問題があるため、その多くは低炭素易キ
ルド冷延鋼板に代っている。しかし、この低炭素Mキル
ド鋼においても、いくつかの問題を有しており。
その一つがシャドウマスクの温度上昇に伴う加熱膨張の
問題である。即ち、カラー受像管を動作させた場合、シ
ャドウマスクの開孔を通過する電子ビームは全体のi以
下であり、残部の電子ビームはシャドウマスクに射突し
、シャドウマスクは時として80℃にも達する程に加熱
される。この結果、シャドウマスクは熱膨張を生じ色純
度を劣化させる。このためシャドウマスク材自体の熱膨
張係数の小さい、 Fe−Ni系インバー合金の使用
が考えられているが、未だ工業的問題点がすべて克服さ
れたわけではない6その一つく通常のインバー合金では
エツチング穿孔時に孔づまシや孔形状不良等の穿孔欠陥
を生じ易く、さらにプレス成形前の焼鈍において十分な
降伏点(この場合[12%耐力)の低下が得られずプレ
ス成形性が劣ることが挙げられる。
問題である。即ち、カラー受像管を動作させた場合、シ
ャドウマスクの開孔を通過する電子ビームは全体のi以
下であり、残部の電子ビームはシャドウマスクに射突し
、シャドウマスクは時として80℃にも達する程に加熱
される。この結果、シャドウマスクは熱膨張を生じ色純
度を劣化させる。このためシャドウマスク材自体の熱膨
張係数の小さい、 Fe−Ni系インバー合金の使用
が考えられているが、未だ工業的問題点がすべて克服さ
れたわけではない6その一つく通常のインバー合金では
エツチング穿孔時に孔づまシや孔形状不良等の穿孔欠陥
を生じ易く、さらにプレス成形前の焼鈍において十分な
降伏点(この場合[12%耐力)の低下が得られずプレ
ス成形性が劣ることが挙げられる。
本発明者らはかかる点に鑑み、S々の研究を行った結果
、低Cのインバー合金のS、O,Nを制御することでエ
ツチング穿孔性、プレス成形性とも良好になることを見
いだしたものでちゃ。
、低Cのインバー合金のS、O,Nを制御することでエ
ツチング穿孔性、プレス成形性とも良好になることを見
いだしたものでちゃ。
その要旨とするところは重量−で○; [LO.030
%以下、Sl:101〜[150s、 Mn:CLl
〜1.0 %。
%以下、Sl:101〜[150s、 Mn:CLl
〜1.0 %。
N1:35.0〜37.0%、8 : (1005%以
下、0:0.010%以下、N:(LOO5−以下、残
部Fe及びその他年可避不純物からなるエツチング穿孔
性及びプレス成形性に優れたシャドウマスク材にある。
下、0:0.010%以下、N:(LOO5−以下、残
部Fe及びその他年可避不純物からなるエツチング穿孔
性及びプレス成形性に優れたシャドウマスク材にある。
次に本発明における成分の限定理由を述べる。
O;0がα0.030%を超えると鉄炭化物の生成が著
しく、これがエツチング穿孔性を阻害し穿孔欠陥の原因
となる。また、焼鈍後の耐力の低下も十分でない。よっ
てOは(LO30%以下とする。
しく、これがエツチング穿孔性を阻害し穿孔欠陥の原因
となる。また、焼鈍後の耐力の低下も十分でない。よっ
てOは(LO30%以下とする。
Eli : Siは脱酸剤として添加する。Slがα0
1慢よシ少ないと脱酸効果が少なく、非金属介在物が多
くなるためエツチング穿孔時欠陥を生じ易い。またα3
0チを超えて含有すると合金の硬さを増し焼鈍後の耐力
の低下が十分でない。よって、その成分範囲を101〜
030饅とする。
1慢よシ少ないと脱酸効果が少なく、非金属介在物が多
くなるためエツチング穿孔時欠陥を生じ易い。またα3
0チを超えて含有すると合金の硬さを増し焼鈍後の耐力
の低下が十分でない。よって、その成分範囲を101〜
030饅とする。
Mn:Mnは脱酸及び熱間加工性を付与するため含有す
るが、α1−より少ないと脱酸効果少なく、また熱間加
工性に劣る。1.0噂を超えて含有すると合金の硬さを
増し焼鈍後の耐力の低下が十分でない。よって、その成
分範囲を(L1〜1.0−とする。
るが、α1−より少ないと脱酸効果少なく、また熱間加
工性に劣る。1.0噂を超えて含有すると合金の硬さを
増し焼鈍後の耐力の低下が十分でない。よって、その成
分範囲を(L1〜1.0−とする。
Ni:Niは熱膨張係数を決定する重要な成分でおる。
N1が3aO%より少ない又は37.0−を超えると熱
膨張係数が高くなシ色ずれの問題が生じる。よって、そ
の成分範囲を350〜57、 O%とする。
膨張係数が高くなシ色ずれの問題が生じる。よって、そ
の成分範囲を350〜57、 O%とする。
S:Sが[Loossを超えると合金内に硫化物系介在
物の生成が著しく、エツチング穿孔時の穿孔ムラ等の欠
陥を生じ易い。よって日は(LOO5−以下とする。
物の生成が著しく、エツチング穿孔時の穿孔ムラ等の欠
陥を生じ易い。よって日は(LOO5−以下とする。
。2oカ、(Lolo(it−ffiえ、6&、*I’
3゜□* ’系介在物の生成が著しく、エツチング穿
孔時の欠陥発生の原因になる他、焼鈍による結晶粒成長
が阻害され耐力の低下が十分でない。
3゜□* ’系介在物の生成が著しく、エツチング穿
孔時の欠陥発生の原因になる他、焼鈍による結晶粒成長
が阻害され耐力の低下が十分でない。
よって0はα010s以下とする。
NUNがrl、oos*を超えると焼鈍中の結晶粒成長
が阻害され耐力の低下が十分でない。よってNはα00
5チ以下とする。
が阻害され耐力の低下が十分でない。よってNはα00
5チ以下とする。
以上のような成分のインバー合金を製造する方法として
AOD(アルゴン−酸素脱炭法)。
AOD(アルゴン−酸素脱炭法)。
VOD(真空−酸素脱炭法)等の炉外精錬による方法又
1d Fi日R(エレクトロスラブ溶解法)等の2次鞘
錬を行う方法などを採用できる。鋳造は造塊法を用いる
か又は連続鋳造で行う。
1d Fi日R(エレクトロスラブ溶解法)等の2次鞘
錬を行う方法などを採用できる。鋳造は造塊法を用いる
か又は連続鋳造で行う。
合金中に含まれる脱酸成分として、 At、 Or。
CO等をLL10%以下含有することはさしつかえない
。
。
このようにして製造されたシャドウマスク材は、その目
的とするところの低熱膨張性をそこなうことなく、より
エツチング穿孔性にすぐれプレス成形性も良好であシ、
その改善効果は大きい。
的とするところの低熱膨張性をそこなうことなく、より
エツチング穿孔性にすぐれプレス成形性も良好であシ、
その改善効果は大きい。
実施例
供試材はVOD炉外精錬後鋳造−熱間加工−酸洗一冷間
圧延一焼鈍一冷間圧延の工程で製造し板厚[0.5mの
冷延板としたものである。このインバー合金の成分を第
1表に示す。
圧延一焼鈍一冷間圧延の工程で製造し板厚[0.5mの
冷延板としたものである。このインバー合金の成分を第
1表に示す。
この供試材を塩化第2鉄を主成分とするエツチング液に
て穿孔し、穿孔ムラ等の欠陥の発生状況を調査した。ま
た、さらに純H8露点−30〜−40℃の雰囲気中で0
.50℃X15分間の焼鈍を施し、焼鈍後の[L2−耐
力を測定した。
て穿孔し、穿孔ムラ等の欠陥の発生状況を調査した。ま
た、さらに純H8露点−30〜−40℃の雰囲気中で0
.50℃X15分間の焼鈍を施し、焼鈍後の[L2−耐
力を測定した。
エツチング穿孔欠陥の発生率および焼鈍後の(12%耐
力の測定結果を第1表に併記した。この第1表から明ら
かなように本発明合金A−Fは、エツチング穿孔欠陥の
発生率が1チ以下であシ、シかも焼鈍後の(L2%耐力
が204/J以下となっており、比較合金のエツチング
穿孔欠陥発生率α、2チ耐力にくらべ良好な結果を得た
。
力の測定結果を第1表に併記した。この第1表から明ら
かなように本発明合金A−Fは、エツチング穿孔欠陥の
発生率が1チ以下であシ、シかも焼鈍後の(L2%耐力
が204/J以下となっており、比較合金のエツチング
穿孔欠陥発生率α、2チ耐力にくらべ良好な結果を得た
。
Claims (1)
- (1)重量%でC:0.030%以下、Si:0.01
〜0.30%、Mn:0.1〜1.0%、Ni;35.
0〜37.0%、S:0.005%以下、0;0.01
0%以下、N;0.005%以下、残部Fe及び不可避
不純物からなるエッチング穿孔性及びプレス成形性に優
れたシヤドウマスク材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23335184A JPS61113746A (ja) | 1984-11-07 | 1984-11-07 | シヤドウマスク材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23335184A JPS61113746A (ja) | 1984-11-07 | 1984-11-07 | シヤドウマスク材 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61113746A true JPS61113746A (ja) | 1986-05-31 |
JPS6411095B2 JPS6411095B2 (ja) | 1989-02-23 |
Family
ID=16953783
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23335184A Granted JPS61113746A (ja) | 1984-11-07 | 1984-11-07 | シヤドウマスク材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61113746A (ja) |
Cited By (12)
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---|---|---|---|---|
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-
1984
- 1984-11-07 JP JP23335184A patent/JPS61113746A/ja active Granted
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