JPS6110745A - 発光寿命測定装置 - Google Patents
発光寿命測定装置Info
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- JPS6110745A JPS6110745A JP59132223A JP13222384A JPS6110745A JP S6110745 A JPS6110745 A JP S6110745A JP 59132223 A JP59132223 A JP 59132223A JP 13222384 A JP13222384 A JP 13222384A JP S6110745 A JPS6110745 A JP S6110745A
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- Japan
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- time
- pulse
- excitation light
- voltage
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6408—Fluorescence; Phosphorescence with measurement of decay time, time resolved fluorescence
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、パルス光で励起された試料からの発光過渡波
形測定から、試料の発光寿命を求める装置に関し、殊に
励起光パルス幅に比べて発光寿命がそれ程長くない試料
の発光寿命を測定するための装置に関する。
形測定から、試料の発光寿命を求める装置に関し、殊に
励起光パルス幅に比べて発光寿命がそれ程長くない試料
の発光寿命を測定するための装置に関する。
く背景技術〉
励起光パルス幅に比べて試料の発光寿命があまシ長くな
い場合、発光波形が励起光の影響を受けて変化するので
、螢光波形Ｉ（ｔ）と励起光波形Ｐ（ｔ）の両方を測定
し、デコンボリューション演算によって真の螢光波形Ｇ
（ｔ）を求めて発光寿命を得る必要がある。ここに、デ
コンボリューション演算トは、次式に示すコンボリュー
ション積分の式に基づいてＧ（ｔ）を求める演算をいう
。
い場合、発光波形が励起光の影響を受けて変化するので
、螢光波形Ｉ（ｔ）と励起光波形Ｐ（ｔ）の両方を測定
し、デコンボリューション演算によって真の螢光波形Ｇ
（ｔ）を求めて発光寿命を得る必要がある。ここに、デ
コンボリューション演算トは、次式に示すコンボリュー
ション積分の式に基づいてＧ（ｔ）を求める演算をいう
。
Ｉ （ｔ） ＝む（ｔ）Ｇ （ｔ −ｔ’ ）ｄ ｔ’
・・・・・・（１）ところで、上記Ｉ （ｔ）とＰ
（ｔ）を測定する場合、両者を別の時刻に測定したの
では、励起光波形Ｐ （ｔ）が変化し、Ｉ（１）測定時
のＰ（ｔ）とは異なっているため発光寿命に誤差を生じ
る。従って、Ｐ （ｔ）、Ｉ （ｔ）は同一時刻に測定
することが望ましい。
・・・・・・（１）ところで、上記Ｉ （ｔ）とＰ
（ｔ）を測定する場合、両者を別の時刻に測定したの
では、励起光波形Ｐ （ｔ）が変化し、Ｉ（１）測定時
のＰ（ｔ）とは異なっているため発光寿命に誤差を生じ
る。従って、Ｐ （ｔ）、Ｉ （ｔ）は同一時刻に測定
することが望ましい。
このように、Ｐ （ｔ）、Ｉ （ｔ）を同一時刻に測定
する装置と°して本出願人は特願昭６７年１８８２４４
号に記載のものを提案した。この装置は、励起光波形測
定用の時間−電圧変換器（以下、’Ｌ”ＡＯという。）
と、発光過渡波形測定用のＴＡＯとを備え、この２組の
ＴＡＯがスタートパルスによって同時に動作すると共に
、一方のＴＡＯは試料の励起光に基づく光電子パルスを
ストップパルスとして、また他方のＴＡＯは試料からの
発光に基づく光電子パｌｖヌをストップバ／ｌ／ヌとし
て夫々動作開始時からストップバＩｖヌを受けるまでの
時間に比例した電圧を出力し、もって両’［’ＡＯの出
力を基に励起光波形Ｐ （ｔ）と発光過渡波形Ｉ（１）
を同時に測定するようにしたものである。ところで、こ
のようにＰ（１）とＩ（ｔ）の測定を同時に行なうこと
が可能になっても、Ｐ（ｔ）を測定する光路長とＩ （
ｔ）を測定する光路長とが異なるため、次のような理由
から正確な発光寿命の測定ができないことがわかった。
する装置と°して本出願人は特願昭６７年１８８２４４
号に記載のものを提案した。この装置は、励起光波形測
定用の時間−電圧変換器（以下、’Ｌ”ＡＯという。）
と、発光過渡波形測定用のＴＡＯとを備え、この２組の
ＴＡＯがスタートパルスによって同時に動作すると共に
、一方のＴＡＯは試料の励起光に基づく光電子パルスを
ストップパルスとして、また他方のＴＡＯは試料からの
発光に基づく光電子パｌｖヌをストップバ／ｌ／ヌとし
て夫々動作開始時からストップバＩｖヌを受けるまでの
時間に比例した電圧を出力し、もって両’［’ＡＯの出
力を基に励起光波形Ｐ （ｔ）と発光過渡波形Ｉ（１）
を同時に測定するようにしたものである。ところで、こ
のようにＰ（１）とＩ（ｔ）の測定を同時に行なうこと
が可能になっても、Ｐ（ｔ）を測定する光路長とＩ （
ｔ）を測定する光路長とが異なるため、次のような理由
から正確な発光寿命の測定ができないことがわかった。
即ち、励起光波形測定用ＴＡ０のヌトツデバ／Ｌ／ヌは
光源からの光を受ける光検出器で作られ、一方、発光過
渡波形測定用ＴＡＯのストップパルスは試料からの発光
を受ける光検出器で作られるが、通常光源から前者の光
検出器までの光路長と、試料から後者の光検出器までの
光路長とは等しくない。
光源からの光を受ける光検出器で作られ、一方、発光過
渡波形測定用ＴＡＯのストップパルスは試料からの発光
を受ける光検出器で作られるが、通常光源から前者の光
検出器までの光路長と、試料から後者の光検出器までの
光路長とは等しくない。
今、かシに両光路長に１０ｃｍの差があるとすると、時
間にして９．３Ｈａｅｃの差があることになる。この時
間差は、２′）のストップバ／ｌ／ヌがＴＡＯにカロわ
る時刻の差がズレることとなシ、その結果、励起光波形
と螢光波形の時間軸が０．８ｎｓｅｃだ゛けズレ、正確
な発光寿命の測定を不可能にするのである。
間にして９．３Ｈａｅｃの差があることになる。この時
間差は、２′）のストップバ／ｌ／ヌがＴＡＯにカロわ
る時刻の差がズレることとなシ、その結果、励起光波形
と螢光波形の時間軸が０．８ｎｓｅｃだ゛けズレ、正確
な発光寿命の測定を不可能にするのである。
このような時間軸のズレを解消する一般的な手法として
、いずれかのＴＡＣの入力側に可変遅延素子を設け、こ
の素子の遅延時間を調整するという方法が考えられるが
、ストップパルスという高速パルスが通過するところに
用いることのできる遅延素子で可変のものは非常に高価
につくシ、高速パルスが通過する関係上遅延素子の操作
場所に制限があ如、取扱いにくいという欠点がある。
、いずれかのＴＡＣの入力側に可変遅延素子を設け、こ
の素子の遅延時間を調整するという方法が考えられるが
、ストップパルスという高速パルスが通過するところに
用いることのできる遅延素子で可変のものは非常に高価
につくシ、高速パルスが通過する関係上遅延素子の操作
場所に制限があ如、取扱いにくいという欠点がある。
〈発明の目的〉
本発明はこのような点にあって、励起光波形と発光過渡
波形の光路長差に起因した時間軸のズレを、簡単な構成
によって兄事に解決できる新規装置を提供するものであ
る。
波形の光路長差に起因した時間軸のズレを、簡単な構成
によって兄事に解決できる新規装置を提供するものであ
る。
〈発明の構成〉
上記目的を達成するため、本発明は、２つのＴＡＯがス
タートパルスによって同時に動作すると共に、一方のＴ
ＡＯは試料の励起光に基づく光電子パルスをストップパ
ルスとして、他方のＴＡＯは試料からの発光に基づく光
電子パルスをストップパルスとして夫々動作開始時から
ストップパルスを受けるまでの時間に比例した電圧を出
力し、各ＴＡＯの出力電圧を基にして励起光波形と発光
過渡波形を同時に測定するようにした発光寿命測定装置
において、前記２つの’［’ＡＣのうち少なくとも一方
の出力側にレンジ相関を有する可変オフセット電圧を加
算すると共に、励起光波形と発光過渡波形を２画面合成
ディスプレイ上に表示するようにしたことを特徴として
いる。
タートパルスによって同時に動作すると共に、一方のＴ
ＡＯは試料の励起光に基づく光電子パルスをストップパ
ルスとして、他方のＴＡＯは試料からの発光に基づく光
電子パルスをストップパルスとして夫々動作開始時から
ストップパルスを受けるまでの時間に比例した電圧を出
力し、各ＴＡＯの出力電圧を基にして励起光波形と発光
過渡波形を同時に測定するようにした発光寿命測定装置
において、前記２つの’［’ＡＣのうち少なくとも一方
の出力側にレンジ相関を有する可変オフセット電圧を加
算すると共に、励起光波形と発光過渡波形を２画面合成
ディスプレイ上に表示するようにしたことを特徴として
いる。
〈実施例〉
第１図は本発明の一実施例を示す発光寿命測定装置で、
（１）はパルス励起光の発光諒、（２）、（３）はこの
ハルレス励起光を２分するビームスプリッタ、（４）は
パルス励起光の基準時間としてのスタートパルスの発生
手段で、フオトマ／Ｌ／（４ａ）とバルヌ整形回路（４
ｂＢ：で構成される。（５）はビームスグリツタ（３）
で２分された励起光を受けて光電子パルスを発する光検
出器として例えばフオトマ＃１（６）はビームスプリッ
タ（３）で２分された残シの励起光を照射される試料、
（７）は該試料（６）から発する螢光を受けて光電子パ
ルスを発する光検出器として例えばフオトマμ、（８）
は励起光測定用ＴＡＯ，（９）は螢光測定用ＴＡＯであ
る。両Ｔ Ａ Ｏ（８）、（９）とも前記スタートパル
ス発生手段（４）から発されるスタートパルスによって
同時に動作すると共に、一方のＴＡＯ（８）は光検出器
（５）からの光電子パルスをストップパルスとして、ま
た他方のＴＡ Ｏ（９）は光検出器（７）からの光電子
パルスをストップパルスとして夫々動作開始時からスト
ップパルスを受けるまでの時間に比例した電圧を出力す
る。
（１）はパルス励起光の発光諒、（２）、（３）はこの
ハルレス励起光を２分するビームスプリッタ、（４）は
パルス励起光の基準時間としてのスタートパルスの発生
手段で、フオトマ／Ｌ／（４ａ）とバルヌ整形回路（４
ｂＢ：で構成される。（５）はビームスグリツタ（３）
で２分された励起光を受けて光電子パルスを発する光検
出器として例えばフオトマ＃１（６）はビームスプリッ
タ（３）で２分された残シの励起光を照射される試料、
（７）は該試料（６）から発する螢光を受けて光電子パ
ルスを発する光検出器として例えばフオトマμ、（８）
は励起光測定用ＴＡＯ，（９）は螢光測定用ＴＡＯであ
る。両Ｔ Ａ Ｏ（８）、（９）とも前記スタートパル
ス発生手段（４）から発されるスタートパルスによって
同時に動作すると共に、一方のＴＡＯ（８）は光検出器
（５）からの光電子パルスをストップパルスとして、ま
た他方のＴＡ Ｏ（９）は光検出器（７）からの光電子
パルスをストップパルスとして夫々動作開始時からスト
ップパルスを受けるまでの時間に比例した電圧を出力す
る。
この場合、１個のＴＡＯは１個の光電子パルスしか計数
できないため、通常、各Ｔ Ａ Ｏ（８）、（９）とも
多チャンネ／Ｌ’構成とし、′１回の発光で光検出器が
順次発する複数個の光電子パルスを各チャンネルのＴＡ
Ｃで１個づつ計数できるよう構成しである、このような
多チャンネＩｖＷｔ成の技術は特開昭５７−１８７８４
８号公報にも開示されておシ公知である。
できないため、通常、各Ｔ Ａ Ｏ（８）、（９）とも
多チャンネ／Ｌ’構成とし、′１回の発光で光検出器が
順次発する複数個の光電子パルスを各チャンネルのＴＡ
Ｃで１個づつ計数できるよう構成しである、このような
多チャンネＩｖＷｔ成の技術は特開昭５７−１８７８４
８号公報にも開示されておシ公知である。
α１は加算器で、’Ｉ’ Ａ Ｏ（８）の出力電圧と可
変オフセット電圧Ｖｏｆｆを加算する。可変オフセット
電圧Ｖｏｆｆはタイムレンジ切換器（ロ）と連動したＤ
Ｃ電圧発生器（２）と、補正ボリューム（２）とによっ
て発生される。この可変オフセラ）［圧Ｖｏｆｆを一方
のＴＡＣの出力側に加算することによシ、２つの波長の
時間軸上のズレを打ち消すことができるのであるが、こ
れはＴＡＯの入力側では時間軸上のズレであったものが
、’Ｉ’ＡＣの出力側では電圧軸上のズレとなってあら
れれるからである。前記タイムレンジ切換器Ｑηは、測
定レンジに合わせてオフセット電圧を変化させるもので
、第２図に示すようにＴＡＯの中の充電コンデンサ０１
，０２を切換えるレンジ切換スイッチ８Ｗ１．８Ｗ２と
連動させてＤＯ電圧１８１．１！１８２を切換える構成
としである。
変オフセット電圧Ｖｏｆｆを加算する。可変オフセット
電圧Ｖｏｆｆはタイムレンジ切換器（ロ）と連動したＤ
Ｃ電圧発生器（２）と、補正ボリューム（２）とによっ
て発生される。この可変オフセラ）［圧Ｖｏｆｆを一方
のＴＡＣの出力側に加算することによシ、２つの波長の
時間軸上のズレを打ち消すことができるのであるが、こ
れはＴＡＯの入力側では時間軸上のズレであったものが
、’Ｉ’ＡＣの出力側では電圧軸上のズレとなってあら
れれるからである。前記タイムレンジ切換器Ｑηは、測
定レンジに合わせてオフセット電圧を変化させるもので
、第２図に示すようにＴＡＯの中の充電コンデンサ０１
，０２を切換えるレンジ切換スイッチ８Ｗ１．８Ｗ２と
連動させてＤＯ電圧１８１．１！１８２を切換える構成
としである。
この場合、例えばコンデンサｏｌ、ｏ２が０２÷１００
１ならば、１８２−−１１８１ の関係かわるようＥ
８１．Ｅ８２を設定しである。このようにしておけば、
おる１つのレンジで時間軸上のズレを補正しておくと、
他のレンジに切換えても再調整する必要がなく、大変使
い勝手が良い。尚、この実施例では、オフセット電圧Ｖ
ｏｆｆを励起光測定用’Ｉ’ Ａ Ｏ（８）の出力に加
算しているが、他方のＴＡＯの出力に加算するようにし
ても、或いは双方のＴＡＯの出力側に加算するようにし
てもよい。
１ならば、１８２−−１１８１ の関係かわるようＥ
８１．Ｅ８２を設定しである。このようにしておけば、
おる１つのレンジで時間軸上のズレを補正しておくと、
他のレンジに切換えても再調整する必要がなく、大変使
い勝手が良い。尚、この実施例では、オフセット電圧Ｖ
ｏｆｆを励起光測定用’Ｉ’ Ａ Ｏ（８）の出力に加
算しているが、他方のＴＡＯの出力に加算するようにし
ても、或いは双方のＴＡＯの出力側に加算するようにし
てもよい。
α→、（ト）は多重チャンネμパルス波高分析器で、一
方の波高分析器α◆ではＴ Ａ Ｏ（８）の出力電圧を
受けて励起光波形を作る。また、他方の波高分析器（ト
）ではＴＡＯ（９）ＩＺ）出力電圧を受けて発光過渡波
形を作る。α時は２１４面合成ディスプレイで、前記両
波高分析器ａ４．（ト）で作られた励起光波形と発光過
渡波形とを同時に表示する。２画面合成デイヌデレイα
Ｑとしては、２つの波形を同時に表示するので、各波形
が識別できるものであることが必要であシ、例えばカラ
ーブラウン管等が使用できる。
方の波高分析器α◆ではＴ Ａ Ｏ（８）の出力電圧を
受けて励起光波形を作る。また、他方の波高分析器（ト
）ではＴＡＯ（９）ＩＺ）出力電圧を受けて発光過渡波
形を作る。α時は２１４面合成ディスプレイで、前記両
波高分析器ａ４．（ト）で作られた励起光波形と発光過
渡波形とを同時に表示する。２画面合成デイヌデレイα
Ｑとしては、２つの波形を同時に表示するので、各波形
が識別できるものであることが必要であシ、例えばカラ
ーブラウン管等が使用できる。
図中、αη、（ハ）は分光手段（例えば、光学フイｐり
又は分光＃）、０Ｉ・・・はパルス整形回路である。
又は分光＃）、０Ｉ・・・はパルス整形回路である。
次に、２つの波形の時間軸上のズレを打ち消す手順を説
明する。先ず、試料（６）を光学的散乱体と置きかえて
測定を行なう。このとき、多重チャンネルパルス波高分
析器ａ→、（２）から得られる波形は同じ励起光波形で
あるから、２画面合成ディスプレイＱｆ９上では第８図
（イ）に実線と破線で示すように時間軸がズＶた同一波
形となってあられれる。ここで、補正ボリューム（２）
を操作すると、オフセット電圧Ｖｏｆｆが変化するから
、前記ディスプレイａＱ上の一方の波形が時間軸に沿っ
て右若しくは左に移動する。そこで、ディスプレイα時
をみながら補正ボリューム＠を操作して、第８図（切に
示すように２つの波形を一致させる。これによシ時間軸
上のヌ°しの補正が終了する。その後は、光学的散乱体
を試料（６）と置きかえて測定を行なえば、光路長の違
いの影響を受けない励起光波形Ｐ（１）と発光過渡波形
Ｉ（ｔ）とが得られる。尚、第８図（ハ）は、第８図（
ロ）のように２つの波形を一致させた後、タイムレンジ
を切換えた場合の２つの波形の相対位置を示す図である
。
明する。先ず、試料（６）を光学的散乱体と置きかえて
測定を行なう。このとき、多重チャンネルパルス波高分
析器ａ→、（２）から得られる波形は同じ励起光波形で
あるから、２画面合成ディスプレイＱｆ９上では第８図
（イ）に実線と破線で示すように時間軸がズＶた同一波
形となってあられれる。ここで、補正ボリューム（２）
を操作すると、オフセット電圧Ｖｏｆｆが変化するから
、前記ディスプレイａＱ上の一方の波形が時間軸に沿っ
て右若しくは左に移動する。そこで、ディスプレイα時
をみながら補正ボリューム＠を操作して、第８図（切に
示すように２つの波形を一致させる。これによシ時間軸
上のヌ°しの補正が終了する。その後は、光学的散乱体
を試料（６）と置きかえて測定を行なえば、光路長の違
いの影響を受けない励起光波形Ｐ（１）と発光過渡波形
Ｉ（ｔ）とが得られる。尚、第８図（ハ）は、第８図（
ロ）のように２つの波形を一致させた後、タイムレンジ
を切換えた場合の２つの波形の相対位置を示す図である
。
〈発明の効果〉
本発明に係る発光寿命測定装置は上述の如く構成したの
で次のような効果がある。
で次のような効果がある。
■ 分光器の変更や、取シ付け、取シ外し等によって光
路長が変わっても、簡単に補正できる。
路長が変わっても、簡単に補正できる。
■ 時間軸合せを行なうのはオフセット電圧という直流
電圧で足るから、高価な遅延素子が不要で安価に構成で
きるし、可変幅も遅延素子よシはるかに大きくとれる。
電圧で足るから、高価な遅延素子が不要で安価に構成で
きるし、可変幅も遅延素子よシはるかに大きくとれる。
特に負の電圧まで変化するようにすれば、遅延素子では
不可能な範囲まで調整することができる。
不可能な範囲まで調整することができる。
■ レンジ相関のあるオフセット電圧を加えているので
、測定レンジを変えても再調整の必要がない。
、測定レンジを変えても再調整の必要がない。
４）オフセット電圧が直流電圧で足るので、延長線で引
き廻しても遅延素子のように゛電気的に影昏を受けるこ
とがなく、そのため設置場所に制約を受けない。またそ
れ故、既存の装置にも本発明を簡単に追加して実施でき
る。
き廻しても遅延素子のように゛電気的に影昏を受けるこ
とがなく、そのため設置場所に制約を受けない。またそ
れ故、既存の装置にも本発明を簡単に追加して実施でき
る。
図は本発明の一実施例を示し、第１図は全体構成を示す
図、第２図はレンジ相関のあるオフセラの波形を示す図
である。 （６）・・・試料、（８）・・・励起光測定用ＴＡＯ，
（９）・・・螢光測定用ＴＡＯ，＜１・・・・２画面合
成ディスプレイ、Ｖｏｆｆ・・・再開オフセット電圧。 第１図 第２図 第３図
図、第２図はレンジ相関のあるオフセラの波形を示す図
である。 （６）・・・試料、（８）・・・励起光測定用ＴＡＯ，
（９）・・・螢光測定用ＴＡＯ，＜１・・・・２画面合
成ディスプレイ、Ｖｏｆｆ・・・再開オフセット電圧。 第１図 第２図 第３図
Claims (1)
- ２組の時間−電圧変換器がスタートパルスによつて同時
に動作すると共に、一方の時間−電圧変換器は試料の励
起光に基づく光電子パルスをストップパルスとして、他
方の時間−電圧変換器は試料からの螢光に基づく光電子
パルスをストップパルスとして夫々動作開始時からスト
ップパルスを受けるまでの時間に比例した電圧を出力し
、各時間−電圧変換器の出力電圧を基にして励起光波形
と発光波形を同時に測定するようにした発光寿命測定装
置において、前記２組の時間−電圧変換器のうち少なく
とも一方の出力側にレンジ相関を有する可変オフセット
電圧を加算すると共に、励起光波形と発光過渡波形を２
画面合成ディスプレイ上に表示するようにしたことを特
徴とする発光寿命測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59132223A JPS6110745A (ja) | 1984-06-26 | 1984-06-26 | 発光寿命測定装置 |
| US06/746,565 US4662748A (en) | 1984-06-26 | 1985-06-19 | Apparatus for measuring luminescence lifetime |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59132223A JPS6110745A (ja) | 1984-06-26 | 1984-06-26 | 発光寿命測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6110745A true JPS6110745A (ja) | 1986-01-18 |
| JPH0260263B2 JPH0260263B2 (ja) | 1990-12-14 |
Family
ID=15076261
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59132223A Granted JPS6110745A (ja) | 1984-06-26 | 1984-06-26 | 発光寿命測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4662748A (ja) |
| JP (1) | JPS6110745A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4789992A (en) * | 1985-10-15 | 1988-12-06 | Luxtron Corporation | Optical temperature measurement techniques |
| US5206699A (en) * | 1988-05-06 | 1993-04-27 | Gersan Establishment | Sensing a narrow frequency band of radiation and gemstones |
| JPH0670613B2 (ja) * | 1989-04-03 | 1994-09-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光波形測定装置 |
| EP0519092A1 (de) * | 1991-06-18 | 1992-12-23 | Sovetsko- Amerikanskoe Sovmestnoe Predpriyatie " Dialog" | Einrichtung zur Bestimmung von Raum- und Zeitkennlinien der schwachen optischen Emission eines Objektes |
| DE19920158A1 (de) * | 1999-04-29 | 2000-11-02 | Univ Schiller Jena | Verfahren und Anordnung zur Bestimmung von Fluorophoren an Objekten, insbesondere am lebenden Augenhintergrund |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57137843A (en) * | 1981-02-20 | 1982-08-25 | Hokkaido Daigaku | Measuring apparatus of luminescence life of sample |
| JPS5972049A (ja) * | 1982-10-19 | 1984-04-23 | Horiba Ltd | 試料の発光寿命測定装置 |
| JPS59108261U (ja) * | 1983-01-08 | 1984-07-21 | 株式会社堀場製作所 | 試料の発光寿命測定装置 |
-
1984
- 1984-06-26 JP JP59132223A patent/JPS6110745A/ja active Granted
-
1985
- 1985-06-19 US US06/746,565 patent/US4662748A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4662748A (en) | 1987-05-05 |
| JPH0260263B2 (ja) | 1990-12-14 |
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