JPS61107118A - 電子天びん - Google Patents
電子天びんInfo
- Publication number
- JPS61107118A JPS61107118A JP22992984A JP22992984A JPS61107118A JP S61107118 A JPS61107118 A JP S61107118A JP 22992984 A JP22992984 A JP 22992984A JP 22992984 A JP22992984 A JP 22992984A JP S61107118 A JPS61107118 A JP S61107118A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- span
- coefficient
- calibration
- span coefficient
- load
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は電子天びんに関する。
（ロ）従来技術
一般に、電子天びんは、荷重検出部において皿上荷重に
対応する電気信号を発生し、その電気信号を質量に換算
して表示する。従って、純機械式の天びんに比べて経時
的な変化を生ずる要素が必然的に多くなり、厳密に構成
部品を選択して可能な限りの安定化を計っても、長時間
に亘って同一の性能を保持することは困難である。その
為、荷重検出部出力から質量への換算の為の係数（スパ
ン係数）を質量既知の較正用分銅等を用いて算出する、
いわゆるスパン較正を定期的に実施し、性能の維持を計
ることが一般的に行われている。
対応する電気信号を発生し、その電気信号を質量に換算
して表示する。従って、純機械式の天びんに比べて経時
的な変化を生ずる要素が必然的に多くなり、厳密に構成
部品を選択して可能な限りの安定化を計っても、長時間
に亘って同一の性能を保持することは困難である。その
為、荷重検出部出力から質量への換算の為の係数（スパ
ン係数）を質量既知の較正用分銅等を用いて算出する、
いわゆるスパン較正を定期的に実施し、性能の維持を計
ることが一般的に行われている。
ところで、安定度の高い部品は一般に高価であり、また
、初期において発生しやすい比較的大きな性能変化を除
去して出荷することを目的として、製造段階において通
常の使用状態よりも高温度にして“枯し”を行うエイジ
ングも行われているが、これらはいずれもコストアンプ
の要因となっている。
、初期において発生しやすい比較的大きな性能変化を除
去して出荷することを目的として、製造段階において通
常の使用状態よりも高温度にして“枯し”を行うエイジ
ングも行われているが、これらはいずれもコストアンプ
の要因となっている。
また、極めて高精度を要求されφ電子天びんにあっては
、入手可能な最も安定度の高い部品を用いても、スパン
較正と次のスパン較正との間において、充分に安定した
性能を得られていないのが現状である。
、入手可能な最も安定度の高い部品を用いても、スパン
較正と次のスパン較正との間において、充分に安定した
性能を得られていないのが現状である。
（ハ）目的
本発明の目的は、スパン較正後の性能の経時的変化の極
めて少ない電子天びんを安価に提供することにある。
めて少ない電子天びんを安価に提供することにある。
（ニ）構成
本発明の構成を、第１図に示す機能ブロック図に基づい
て説明する。
て説明する。
荷重検出部は皿上荷重に対応した電気信号を出力する。
その出力は、後述する補正−演算手段によって質量に換
算され、表示部に表示される。
算され、表示部に表示される。
火パン較正指令が発生したとき、質量既知の較正用分銅
等を載せた荷重検出部出力から、その出力を質量に換算
する為のスパン係数に′がスパン係数算出手段によって
算出される。同時に、スパン変化率算出・記憶手段によ
り、今回算出されたスパン係数に′と、スパン係数記憶
手段に記憶されている前回のスパン較正時に算出された
スパン係数にとの差、および計時手段によって計測され
た前回のスパン較正時から今回のスパン較正時までの経
過時間とを用いて、スパン係数の時間的変化率、すなわ
ちスパン変化率が算出され記憶される。スパン較正隷冬
了時には、スパン係数記憶手段の内容には今回算出され
たスパン係数に′に更新される（Ｋ−に’）。
等を載せた荷重検出部出力から、その出力を質量に換算
する為のスパン係数に′がスパン係数算出手段によって
算出される。同時に、スパン変化率算出・記憶手段によ
り、今回算出されたスパン係数に′と、スパン係数記憶
手段に記憶されている前回のスパン較正時に算出された
スパン係数にとの差、および計時手段によって計測され
た前回のスパン較正時から今回のスパン較正時までの経
過時間とを用いて、スパン係数の時間的変化率、すなわ
ちスパン変化率が算出され記憶される。スパン較正隷冬
了時には、スパン係数記憶手段の内容には今回算出され
たスパン係数に′に更新される（Ｋ−に’）。
通常の測定時においては、前述した補正・演算手段によ
り荷重検出部出力が質量に換算されるわけであるが、こ
のとき、出力に乗ずべきスパン係数は、スパン係数記憶
手段の内容Ｋを、スパン変化率算出記憶手段の内容と、
計時手段による最新のスパン較正時からの経過時間とを
用いて補正した値が用いられる。
り荷重検出部出力が質量に換算されるわけであるが、こ
のとき、出力に乗ずべきスパン係数は、スパン係数記憶
手段の内容Ｋを、スパン変化率算出記憶手段の内容と、
計時手段による最新のスパン較正時からの経過時間とを
用いて補正した値が用いられる。
（ホ）実施例
本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第２図は本発明実施例の構成を示すブロック図である。
荷重検出部１は皿ｌａ上に載せられた荷重に対応する電
気信号を出力し、そのデジタル変換データは制御部２に
採り込まれる。制御部２はマイクロコンピュータによっ
て構成され、各種演算やプログラムの実行、および各周
辺機器の制御を行うＣＰＵ２ａ、後述するプログラムが
書き込まれたＲＯＭ２ｂ、ＣＰＵ２ａによって算出され
たスパン係数やスパン変化率を記憶するエリアを備えた
不揮発性ＲＡＭ２ｃ、荷重検出部１からのデジタル変換
データやＣＰＵ２ａによる各種演算結果等を記憶するエ
リアを備えたＲＡＭ２ｄ、および外部機器との接続の為
のインターフェイス回路２ｅを備え、これらは互いにパ
スラインによって接続されている。
気信号を出力し、そのデジタル変換データは制御部２に
採り込まれる。制御部２はマイクロコンピュータによっ
て構成され、各種演算やプログラムの実行、および各周
辺機器の制御を行うＣＰＵ２ａ、後述するプログラムが
書き込まれたＲＯＭ２ｂ、ＣＰＵ２ａによって算出され
たスパン係数やスパン変化率を記憶するエリアを備えた
不揮発性ＲＡＭ２ｃ、荷重検出部１からのデジタル変換
データやＣＰＵ２ａによる各種演算結果等を記憶するエ
リアを備えたＲＡＭ２ｄ、および外部機器との接続の為
のインターフェイス回路２ｅを備え、これらは互いにパ
スラインによって接続されている。
荷重検出部１には、温度センサ３が設けられており、そ
のデジタル変換データも制御部１に採り込まれるよう構
成されている。制御部１には更に、較正指令を発して後
述するプログラムのスパン較正ルーチンを実行させる為
の較正スイッチ４．風袋消去指令を与える為の風袋引ス
イッチ５．ＣＰＵ２ｄの指示に基づく計量値を表示する
為の表示器６、およびＣＰＵ２ ａからの指示によって
リセットされるタイマ７が接続されている。なお、この
タイマ７は、当該電子天びんの電源の０Ｎ１０ＦＦに拘
らずＯＮを維持する内蔵電源を有している。
のデジタル変換データも制御部１に採り込まれるよう構
成されている。制御部１には更に、較正指令を発して後
述するプログラムのスパン較正ルーチンを実行させる為
の較正スイッチ４．風袋消去指令を与える為の風袋引ス
イッチ５．ＣＰＵ２ｄの指示に基づく計量値を表示する
為の表示器６、およびＣＰＵ２ ａからの指示によって
リセットされるタイマ７が接続されている。なお、この
タイマ７は、当該電子天びんの電源の０Ｎ１０ＦＦに拘
らずＯＮを維持する内蔵電源を有している。
また、上述の不揮発性ＲＡＭ２Ｃは、Ｃ−ＭＯ３ＲＡＭ
を電池でバックアンプするか、又はＥＥ−ＦＲＯＭが用
いられる。
を電池でバックアンプするか、又はＥＥ−ＦＲＯＭが用
いられる。
次に作用を述べる前に、一般的な電子天びんにおけるス
パンの変化について説明する。第３図は電磁力平衡式の
荷重検出部を用いた場合のスパン変化率の一例を示すグ
ラフである。すなわち、製造完了時をＴｏとして、Ｔ１
〜Ｔｓに示す如きスパイ変化を示す、この説明を簡単に
行うと、電磁力平衡式の天びんは磁界中に挿入したコイ
ルと永久磁石の吸引又は反発力を用いて荷重に見合う電
磁力を発生せしめこれによって皿上荷重を測定する為、
磁界の変化がスパンの変化となる。この為、通常は製造
時において磁界を安定させることを目的として、逆方向
の磁界を一時的に加えて永久磁石の減磁を行う。これに
より、初期には減磁の反作用として、磁界が徐々に回復
して増加し、その結果、少ない電流で同じ力が発生され
ることになり、天びんのスパンとしては減少する。これ
はＴ。
パンの変化について説明する。第３図は電磁力平衡式の
荷重検出部を用いた場合のスパン変化率の一例を示すグ
ラフである。すなわち、製造完了時をＴｏとして、Ｔ１
〜Ｔｓに示す如きスパイ変化を示す、この説明を簡単に
行うと、電磁力平衡式の天びんは磁界中に挿入したコイ
ルと永久磁石の吸引又は反発力を用いて荷重に見合う電
磁力を発生せしめこれによって皿上荷重を測定する為、
磁界の変化がスパンの変化となる。この為、通常は製造
時において磁界を安定させることを目的として、逆方向
の磁界を一時的に加えて永久磁石の減磁を行う。これに
より、初期には減磁の反作用として、磁界が徐々に回復
して増加し、その結果、少ない電流で同じ力が発生され
ることになり、天びんのスパンとしては減少する。これ
はＴ。
〜Ｔ３の期間に相当する。そしてこの現象が完了すると
、時間とともに自然に減磁をし始め、従ってＴ４〜Ｔｓ
の期間に示す如くスパンは増加する。
、時間とともに自然に減磁をし始め、従ってＴ４〜Ｔｓ
の期間に示す如くスパンは増加する。
さて、以上のような経時的スパン変化を示す荷重検出部
１の出力は、以下に示す如き本発明実施例の作用によっ
て、質量に換算される。
１の出力は、以下に示す如き本発明実施例の作用によっ
て、質量に換算される。
第４図はＲＯＭ２ｂに書き込まれたプログラムを示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
通常の測定ルーチンにおいては、荷重検出部１からの荷
重データＷ、温度センサ３からの温度データｔ、および
タイマ７出力Ｔを採取し、次の（１１式によって皿上荷
重に対応する質量りを算出する（ＳＴＩ、５Ｔ２）。
重データＷ、温度センサ３からの温度データｔ、および
タイマ７出力Ｔを採取し、次の（１１式によって皿上荷
重に対応する質量りを算出する（ＳＴＩ、５Ｔ２）。
Ｄ−Ｗ・ （（Ｋ＋Δに−Ｔ） ・ （１＋α１））
・・−（ｌ） ここでＫは不揮発性ＲＡＭ２ｃに格納されたスパン係数
、Δには同じ（不揮発性ＲＡＭ２ｃに格納されたスパン
変化率で、またαは温度係数である。
・・−（ｌ） ここでＫは不揮発性ＲＡＭ２ｃに格納されたスパン係数
、Δには同じ（不揮発性ＲＡＭ２ｃに格納されたスパン
変化率で、またαは温度係数である。
（１）式において従来の質量演算式と異るところは、荷
重データＷに乗するべきスパン係数Ｋが、スパン変化率
Δにとタイマ出力Ｔとの積によって補正されている点に
ある。このΔに−Ｔ項による補正により、表示値はより
真の質量に近い値となるが、その詳細は後述する。
重データＷに乗するべきスパン係数Ｋが、スパン変化率
Δにとタイマ出力Ｔとの積によって補正されている点に
ある。このΔに−Ｔ項による補正により、表示値はより
真の質量に近い値となるが、その詳細は後述する。
（１）式により算出された質量りは、風袋引演算が施さ
れて計量表示値Ｄｓとして表示器６に表示される（Ｓｒ
３．５Ｔ４）。なお、風袋量Ｆは、風袋荷重が皿ｌａ上
に載せられたときに風袋引スイッチ５を操作することに
より、そのときの質量りをＦとすることによって決定さ
れる（Ｓｒ５．５Ｔ６）。なお、ＦはＲＡＭ２ｄ内に設
定された風袋メモリに格納される。
れて計量表示値Ｄｓとして表示器６に表示される（Ｓｒ
３．５Ｔ４）。なお、風袋量Ｆは、風袋荷重が皿ｌａ上
に載せられたときに風袋引スイッチ５を操作することに
より、そのときの質量りをＦとすることによって決定さ
れる（Ｓｒ５．５Ｔ６）。なお、ＦはＲＡＭ２ｄ内に設
定された風袋メモリに格納される。
較正スイッチ４を操作すると、ＳＴ８以下のスパン較正
ルーチンが実行される（Ｓｒ７）。すなわち、まず皿ｌ
ａ上に何も載せない状態、いわゆるゼロ荷重時の荷重デ
ータＷ１が採り込まれ（Ｓｒ１）、その後、例えば表示
器６による所定のメツセージに従い、皿１ａ上に質量既
知の較正用分銅を載せると（Ｓｒ９） 、荷重データの
増大又は較正スイ、ツチ４の再操作に基づき、そのとき
の荷重データＷ２が採り込まれる（ＳＴＩＯ）。そして
Ｗｌ 、ｗ２および当該分銅の既知質量、更に温度デー
タｔを用いて、公知の手法である次の′（２）式によっ
てスパン係数に′が算出される（ＳＴＩＩ）。
ルーチンが実行される（Ｓｒ７）。すなわち、まず皿ｌ
ａ上に何も載せない状態、いわゆるゼロ荷重時の荷重デ
ータＷ１が採り込まれ（Ｓｒ１）、その後、例えば表示
器６による所定のメツセージに従い、皿１ａ上に質量既
知の較正用分銅を載せると（Ｓｒ９） 、荷重データの
増大又は較正スイ、ツチ４の再操作に基づき、そのとき
の荷重データＷ２が採り込まれる（ＳＴＩＯ）。そして
Ｗｌ 、ｗ２および当該分銅の既知質量、更に温度デー
タｔを用いて、公知の手法である次の′（２）式によっ
てスパン係数に′が算出される（ＳＴＩＩ）。
また、この今回算出されたスパン係数に′と、不揮発性
ＲＡＭＺＣ内に格納されている前回転正時のスパン係数
Ｋ、およびタイマ７の出力たる前回転正時からの経過時
間Ｔを用いて、スパン係数の時間的変化率すなわちスパ
ン変化率Δに′が次の（３）式よって算出される（ＳＴ
Ｉ ２）。
ＲＡＭＺＣ内に格納されている前回転正時のスパン係数
Ｋ、およびタイマ７の出力たる前回転正時からの経過時
間Ｔを用いて、スパン係数の時間的変化率すなわちスパ
ン変化率Δに′が次の（３）式よって算出される（ＳＴ
Ｉ ２）。
このようにして算出されたスパン係数に′およびスパン
変化率Δに′は、不揮発性ＲＡ Ｍ ２− ｃ内に、前
回転正時のスパン係数におよびスパン変化率ΔＫに換え
て格納される（ＳＴ１３）。同時にタイマ７かリセツト
され、新たにこの時点からの計時を開始する（ＳＴ１４
）。
変化率Δに′は、不揮発性ＲＡ Ｍ ２− ｃ内に、前
回転正時のスパン係数におよびスパン変化率ΔＫに換え
て格納される（ＳＴ１３）。同時にタイマ７かリセツト
され、新たにこの時点からの計時を開始する（ＳＴ１４
）。
以上のスパン較正ルーチンが完了すると、前述の測定ル
ーチンに戻るが、（１）式におけるΔに−Ｔなる補正項
は次のような意味を持つ。すなわち、第３図において例
えばＴ７の時点で今回の較正を行い、Ｔ６の時点で前回
の較正を行ったとする。
ーチンに戻るが、（１）式におけるΔに−Ｔなる補正項
は次のような意味を持つ。すなわち、第３図において例
えばＴ７の時点で今回の較正を行い、Ｔ６の時点で前回
の較正を行ったとする。
Ｔ７直後における測定にあっては、不揮発性ＲＡＭ２Ｃ
内のスパン係数Ｋを用いて従来通りの質量演算を施して
もスパンの変化はないから０、正しい質量が得られる。
内のスパン係数Ｋを用いて従来通りの質量演算を施して
もスパンの変化はないから０、正しい質量が得られる。
しかし、図の如くスパンは経過時間Ｔとともに変化する
から、Ｔ−７から相当の時間が経過した時点では、スパ
ン係数にのみを用いて換算すると正しい質量を得ること
はできない。ΔにはＴ６〜Ｔ７間のスパンを示すグラフ
の傾きに相当し、Ｔ７〜Ｔ日間におけるスパンを示すグ
ラフの傾きと近似している。従って一１測定時における
Ｔ７からの経過時間ＴとΔにとの積を、Ｔ７で算出され
たスパン係数Ｋに加算すれば、その測定時点におけるよ
り真値に近いスパン係数を求めることができる。このよ
うに補正されたスパン係数（Ｋ＋Δに−Ｔ）を用いるこ
とにより、得られた質量りは、スパン較正後の経過時間
に相当するスパン変化量を補正した、より真の質量に近
い値となる。
から、Ｔ−７から相当の時間が経過した時点では、スパ
ン係数にのみを用いて換算すると正しい質量を得ること
はできない。ΔにはＴ６〜Ｔ７間のスパンを示すグラフ
の傾きに相当し、Ｔ７〜Ｔ日間におけるスパンを示すグ
ラフの傾きと近似している。従って一１測定時における
Ｔ７からの経過時間ＴとΔにとの積を、Ｔ７で算出され
たスパン係数Ｋに加算すれば、その測定時点におけるよ
り真値に近いスパン係数を求めることができる。このよ
うに補正されたスパン係数（Ｋ＋Δに−Ｔ）を用いるこ
とにより、得られた質量りは、スパン較正後の経過時間
に相当するスパン変化量を補正した、より真の質量に近
い値となる。
以上の本発明実施例においては、製造完了時点をＴｏと
すると、例えばＴｏおよびＴ１の時点においてスパン較
正を実施して、ΔＫを格納した状態で出荷する。ユーザ
ーに納入後も、スパン較正の度毎にＫおよびΔＫが更新
されるから、第３図に示す如きスパン変化に対応して、
常により正しい質量を得ることができる。
すると、例えばＴｏおよびＴ１の時点においてスパン較
正を実施して、ΔＫを格納した状態で出荷する。ユーザ
ーに納入後も、スパン較正の度毎にＫおよびΔＫが更新
されるから、第３図に示す如きスパン変化に対応して、
常により正しい質量を得ることができる。
なお、以上の実施例では、経過時間Ｔの測定をタイマ７
で行い、較正の実行ごとにリセットした例を示したが、
タイマ７に替えて時計を用いてもよい。この場合、前回
のスパン較正時間と今回の較正時間との差で経過時間Ｔ
を求めるとよく、リセットは不要となる。
で行い、較正の実行ごとにリセットした例を示したが、
タイマ７に替えて時計を用いてもよい。この場合、前回
のスパン較正時間と今回の較正時間との差で経過時間Ｔ
を求めるとよく、リセットは不要となる。
また、温度補正は上述の実施例の如くソフトウェアで実
行する以外に、荷重検出部１の出力をハードウェア的に
温度補正することも可能で、この場合、温度センサ３の
出力は温度補正回路に導入されるとともに、ＲＯ，Ｍ２
ｂのプログラムの（１）式および（２）式から、（１＋
αｔ）の項が除去される。
行する以外に、荷重検出部１の出力をハードウェア的に
温度補正することも可能で、この場合、温度センサ３の
出力は温度補正回路に導入されるとともに、ＲＯ，Ｍ２
ｂのプログラムの（１）式および（２）式から、（１＋
αｔ）の項が除去される。
更に、スパン較正のスタートを、較正スイッチ４の操作
によらず、自動化した天びんにも通用することができる
。この場合、較正用分銅を内蔵して、その加除機構を設
けるとともに、較正指令は制御部２から自動的に、一定
時間（日数）ごとに発生したり、あるいは、第３図に示
すごときスパン変化のパターンに対応させて、初期には
短時間間隔で、時間経過とともに徐々に長時間間隔で発
生するよう構成することができる。また、求めたスパン
変化率ΔＫが大きい場合には、次回の較正までの間隔を
短くし、ΔＫが小さくなるとその間隔を長くするよう構
成することもできる。更には、前回と今回のスパン変化
率ΔにとΔに′の差に応じて、次回のスパン較正までの
間隔を変化させる等、通用すべき電子天びんのスパン変
化のパターンに合わせたものとすることが望ましい。
によらず、自動化した天びんにも通用することができる
。この場合、較正用分銅を内蔵して、その加除機構を設
けるとともに、較正指令は制御部２から自動的に、一定
時間（日数）ごとに発生したり、あるいは、第３図に示
すごときスパン変化のパターンに対応させて、初期には
短時間間隔で、時間経過とともに徐々に長時間間隔で発
生するよう構成することができる。また、求めたスパン
変化率ΔＫが大きい場合には、次回の較正までの間隔を
短くし、ΔＫが小さくなるとその間隔を長くするよう構
成することもできる。更には、前回と今回のスパン変化
率ΔにとΔに′の差に応じて、次回のスパン較正までの
間隔を変化させる等、通用すべき電子天びんのスパン変
化のパターンに合わせたものとすることが望ましい。
なお、更に、工場出荷時にはスパン変化率を０と仮定し
ておき、ユーザー納入後におけるスパン較正によってス
パン変化率を算出するよう構成してもよい。
ておき、ユーザー納入後におけるスパン較正によってス
パン変化率を算出するよう構成してもよい。
また、スパン較正指令を較正スイッチ等で手動で与える
場合において、較正の間隔が短かすぎるときには天びん
の再現性の誤差に起因してスパン変化率の算出値に大き
な誤差が含まれる可能性があり、較正間隔が例えば１週
間以上、あるいは１箇月以上の場合に限り、スパン変化
率の算出、更新を行い、それ以外の較正時にはスパン係
数のみの更新とすることが望ましい。
場合において、較正の間隔が短かすぎるときには天びん
の再現性の誤差に起因してスパン変化率の算出値に大き
な誤差が含まれる可能性があり、較正間隔が例えば１週
間以上、あるいは１箇月以上の場合に限り、スパン変化
率の算出、更新を行い、それ以外の較正時にはスパン係
数のみの更新とすることが望ましい。
更に、設置場所の重力加速度の違いによるスパン変化を
、経時変化としてΔにの算出を行うことを防止する為に
、設置場所の変更後にはΔに、更新を禁止するモードを
設は同一場所で２回以上校正したのちにΔＫを更新する
ことができるようにするのが望ましい。
、経時変化としてΔにの算出を行うことを防止する為に
、設置場所の変更後にはΔに、更新を禁止するモードを
設は同一場所で２回以上校正したのちにΔＫを更新する
ことができるようにするのが望ましい。
（へ）効果
、以上説明したように、本発明によれば、スパンの経時
変化が自動的に補正されることになるから、従来のよう
なエージングが不要となるばかりでなく、構成部品も安
価なものを用いて高性能の電子天びんを提供することが
できる。また、スパン較正ごとに又はスパン較正の適宜
時に、スパン変化率が算出、更新されるから、スパン変
化の複雑な天びんについても適用可能である。例えば希
土類磁石のように、減磁による安定化が困難な磁石を用
いた電磁力平衡型の天びんでも、性能の安定化が可能と
なる。
変化が自動的に補正されることになるから、従来のよう
なエージングが不要となるばかりでなく、構成部品も安
価なものを用いて高性能の電子天びんを提供することが
できる。また、スパン較正ごとに又はスパン較正の適宜
時に、スパン変化率が算出、更新されるから、スパン変
化の複雑な天びんについても適用可能である。例えば希
土類磁石のように、減磁による安定化が困難な磁石を用
いた電磁力平衡型の天びんでも、性能の安定化が可能と
なる。
更に、ボリューム操作等のハード的調整を必要としない
から、調整時の人為的誤差の生じる虞れがない。
から、調整時の人為的誤差の生じる虞れがない。
第１図は本発明の構成を示す機能ブロック図、第２図は
本発明実施例の構成を示すブロック図、第３図は電磁力
平衡型の天びんのスパン変化の一例を示すグラフ、第４
図は本発明実施例のＲＯＭ２ｂに書き込まれたプログラ
ムを示すフローチャートである。
本発明実施例の構成を示すブロック図、第３図は電磁力
平衡型の天びんのスパン変化の一例を示すグラフ、第４
図は本発明実施例のＲＯＭ２ｂに書き込まれたプログラ
ムを示すフローチャートである。
Claims (2)
- （１）皿上荷重に応じた電気信号を発生する荷重検出部
の出力を、質量に換算して計量値として表示するよう構
成された天びんにおいて、較正指令の発生時の上記荷重
検出部出力から、上記換算の為のスパン係数を算出する
手段と、そのスパン係数を記憶する手段と、上記スパン
係数算出後の経過時間を計測する手段と、上記スパン係
数算出時に、前回算出されたスパン係数との差、および
前回のスパン係数算出時からの経過時間とから、スパン
係数の時間的変化率を算出して記憶する手段と、上記換
算時において、上記記憶されたスパン係数を、当該スパ
ン係数が算出されてからの経過時間と上記時間的変化率
とを用いて補正する手段を備えたことを特徴とする電子
天びん。 - （２）上記スパン係数の算出の為の較正用分銅と、その
較正用分銅の上記荷重検出部への加除機構を内蔵すると
ともに、上記較正指令が当該天びんにあらかじめ設定さ
れたプログラムに基づいて発生し、自動的に上記スパン
係数および上記時間的変化率の算出を実行するよう構成
したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の電子
天びん。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22992984A JPS61107118A (ja) | 1984-10-30 | 1984-10-30 | 電子天びん |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22992984A JPS61107118A (ja) | 1984-10-30 | 1984-10-30 | 電子天びん |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61107118A true JPS61107118A (ja) | 1986-05-26 |
| JPH0582532B2 JPH0582532B2 (ja) | 1993-11-19 |
Family
ID=16899943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22992984A Granted JPS61107118A (ja) | 1984-10-30 | 1984-10-30 | 電子天びん |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61107118A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009068984A (ja) * | 2007-09-13 | 2009-04-02 | Tanita Corp | 重量測定装置 |
| US8198559B2 (en) | 2008-08-14 | 2012-06-12 | Alps Electric Co., Ltd. | Illuminated push button switch |
| JP2016102716A (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 大和製衡株式会社 | 計量装置及び物品搬送システム |
-
1984
- 1984-10-30 JP JP22992984A patent/JPS61107118A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009068984A (ja) * | 2007-09-13 | 2009-04-02 | Tanita Corp | 重量測定装置 |
| US8198559B2 (en) | 2008-08-14 | 2012-06-12 | Alps Electric Co., Ltd. | Illuminated push button switch |
| JP2016102716A (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 大和製衡株式会社 | 計量装置及び物品搬送システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0582532B2 (ja) | 1993-11-19 |
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