JPS6110707A - 光ビ−ト測長装置 - Google Patents

光ビ−ト測長装置

Info

Publication number
JPS6110707A
JPS6110707A JP59131612A JP13161284A JPS6110707A JP S6110707 A JPS6110707 A JP S6110707A JP 59131612 A JP59131612 A JP 59131612A JP 13161284 A JP13161284 A JP 13161284A JP S6110707 A JPS6110707 A JP S6110707A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
optical beat
polarized light
difference
beat signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59131612A
Other languages
English (en)
Inventor
Norito Suzuki
範人 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP59131612A priority Critical patent/JPS6110707A/ja
Publication of JPS6110707A publication Critical patent/JPS6110707A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02001Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
    • G01B9/02007Two or more frequencies or sources used for interferometric measurement
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/45Multiple detectors for detecting interferometer signals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/70Using polarization in the interferometer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光ビートを用いた干渉測長装置に関する。
二層波レーザを光源としrツブラーシフトを光と一部を
用いて測定し測長を行なう、装置はすでに実用されてい
る(例えばHP −5526A ) 、     ’し
かし在米の装置においては三周波レーず光の周波数差L
!よる被測定物の移動速度の限界が存在した。すなわち
、三周波レーず光の角周波数をそれぞれωいω、としω
0の光が移動している被測定物上の反射鏡イ反射された
光のシフ1角周波数を八〇とするとこの光と周波数ω、
を有する光の間の光じ一部周波数はω、−の。±△ωと
なる。士は被測定物の移動方向によって決る符号である
。ω、〉ωOで、この符号が正に対応した移動方向にお
いては移動速度に限界はない。しかし、その逆の移動方
向においてはω1−ωO−△ω〈0となる速度が存在す
る。つまり光じ一部周波数の値は負となる。
在来の装置はこのような負の光に一部周波数と正の光じ
一1周波数を区別する機能を有しておらず、正の光じ一
部周波数領域でのみ処理が行なわれていたので、二周波
し−丁光の角周波数差ωC−ω。
の値が速度に制限を与えると之になっていた。またこの
周波数差は任意に人為的に選ぶことができない量である
’、 (HP −5526Aは2πx2xlo rad
/secである。) 一方、産業界に招いては測長の高速性に対する要求は高
まっており、以上の速度限界を超える必要が生じて来た
本発明は光に一部周波数が負の周波数になることを認め
ることにより二層波レーザ光の周波数差に基づく速度限
界を取り除いたもので、本発明により光じ一部を用いた
レーザ千渉潤長が高速で行なわれることとなワた。
以下図面を用いて本発明の説明を行なう。
第1図は本発明の実施例である。第1図に詔いて二層波
レーザ発振器1から出たレープ光のうち一方の偏光、例
えば方位が90°の偏光は偏光に−へ分離器2を通過し
、さらにじ−Δ分割器6を通過して移動反射鏡3で反射
されてど−ム分割器6に返される。また、レープ光のう
ち他方の偏光例えば方位0°の偏光は偏光じ−ム分1器
2イ反射された後、固定反射fi4f反射され方位が4
5°リターデーシヨンが90°の位相子5を通過し、ど
−ム分割器6に入り、先の移動鏡で反、射された光と重
ねられた後、必要な場合には旋光子7で旋光し偏光に一
Δ分111a8により前記の位相子の進相軸の方向に対
応した偏光成分と遅相軸の方向に対応した偏光成分に分
離され、それぞれの偏光成分がそれぞれ別個の検知器1
1ど12で検知される。
今二周波し−ず光のうち、方位90°の偏光の角周波数
をω。、方位o0の偏光の角周波数をω1、移動反射鏡
の運動による角周波数シフトを△ωとし、検知器コ−1
、12で検知される光ご一1信号をそれぞれχ考とする
と X =C09< CL)I  (ωO士△w)it  
     −1)ンヒ= sin  (C+)1− (
ω。±/〉ωンF、        −2)となる。そ
の理由の説明を第3図によって行なう。
Aは移動反射#I!テ反射して返された方位が90°の
偏光である。一方方位が00の偏光が、方位が4ダリ4
−チーショシが90″の位相子を通過することにより、
方位が 45 ’でそれぞれの間で位相差が90°であ
る二つの偏光に分解される。分解されたニつの偏光B、
Cと先の偏光Aが方位が 45°の偏光こ−ム分離器に
より重ねられると、偏光Aの偏光Bの方向成分の干渉に
よる光じ一部と、偏光Aの偏光Cの方向成分の光じ−1
が分離して検出されることになり、しかも、位相子によ
る90°のリターデーションのため、二つの光に一部の
開に90°の位相差が存在するので、光j−1信号とし
て906の位相差を有する二つの信号として正弦。
余弦の信号が得られるわけである。以上の信号は光じ一
部信号の正負の判定に用いる。
再び第1図の説明を続ける。三周波レーず1のレープ光
の一部を方位45°の偏光子9を通して検知器12で検
知するとω1−ω。なる角周波数を有する光に一部信号
が検出される。三周波レー+!1が周波数安定化レーザ
であると、ω、−ω。二00の値は一定であるので、電
気的位相シフ513により90゜位相のシフトを行なう
ことにより二つの信号工′=C05D、。t     
       −3)’j’= sinΩ。t    
     −4)をつくることができる。前記の光に−
ト角周波数゛ω自−(ω。± ΔcA3 ) =Q は移動反射鏡の移動方向が帖)uo、でΔωが十のとき
、移動反射鏡の移動速度が大となるとΩくOとなる。つ
まり移動速度が大となると光に一部嘉周波数立は正から
負に変る。しかし光ビートを観測するだけではこの正負
の判定はできない。つまりわれわれは周波数nの絶対値
Uしか知ることが出来ない。そこで本発明においては次
のような手続きを採る。1)、2)式は χ= cos jρIt            1′
)’l=s″、n1Ql七             
2′)と書かれるが、χは検知器10の出力、1は検知
器11の出力信号であるとみなす。(現実は直流成分を
持っているが後述の、方法で直流成分は除去する。)さ
らにに′は検知器12の出力信号、)′はX′の信号を
電気的に90°位相シフトを行なったものである。ここ
イx4.χ′、ν′という4つの信号が得られたわけで
あるが、これらの4つの信号について4個の掛算回路1
4.15.16.17と2個の加算回路19.21と2
個の減算回路18.20を図の実施例のごとく結ぶこと
により次のような演算を行なうことができる。
)′×X+χ’x ) = 5in(no旧(11)(
:  −5))′xχ−χ′X″l= 5in(11,
−1nl )t−6)χ′×χ−)’X ) = co
s(n、+lユI)t   −7)χ’XX + )’
X ) = cos(n、−107)t   −8)こ
のようにして得られた信号は信号切換回路23の2組の
入力端子f、nおよび省、rにそれぞれ5in(j’l
o  IJLI)t  、 cos(no−1fll 
)t の組詔よび5in(fla+1Ql)t、 co
s(几+1ΩI)tの組として入力される。一方、前記
の信号χを横軸、信号)を縦軸にとってリュージュを求
めると(第4図)立が正から負に変るとりサージュの回
転方向は逆転する。との逆転を後述する符号判定回路2
2で検知して、角周波数qの正負の判定を行ないΩが正
のときには信号切換回路のJL、vaの信号すなわち 
 5in(fl、   lΩl)t 、cos(Ω。−
1Ω1)七 を 1.Ω。
する。このようにして得られた例えば cos(L  Ifll)t  、 cos(Ω。刊Q
t )tは実質的には絶対値11の除かれた C05(
0,4)t  (但シΩは正から負に変化)と同じであ
り coscQe  Q)4−の周波数あるいは位相を
測定することにより二周波し−ずの周波数差Ω。の大小
には無関係に高速での測長が可能となる。本実施例にお
いては信号切換回路の出力 cos(Q、 −Q )t
 、 5in(A。一旦)Lを用い符号判定回路22と
同様な他の符号判定回路24を用い、移動反射鏡の移動
方向の判定を行なっており、例えば cos(Ω。−Ω
)tをカウシ525の計数端子に入力すると共に加減端
子に符号判定回路24の出力を入力せしめている。
また検知a26は検知610に入射する光と位相がxa
o 0興なる光を検知しており、その出方を加算増幅器
27によって検知器10の出力に加算す号ならびに検知
器11の出力信号と基準電位の差を求めることにより、
直流成分を除き正、負に変化するχ、′l−信号1をつ
くり、前記のリサージュが原点を中心に回転するように
なされている。
なお、本実施例においては5)、6)、?)、8)式で
示される信号すべてを用いてl/′Iるが、必ずしもそ
の必要はなく、符号判定回路24を省略し計数器に入力
する信号として、5)、6)式あるい、は?)、8)式
で示される信号だけを用いて測長装置を構成してもよい
第2図は符号判定回路の一例である。前記の光じ=ト信
号χ、)゛および信号Jが反転増幅器31で反転された
信号がコシパレータ32.33、および34に入力され
、コンパレータ33とコンパレータ32の出力がプンr
ゲート36に、コシパレータ32の出力がインバータ3
5で反転された出力とコンパレータ34の出力がプシ「
ゲート37に入力される。つまり、す9−シュが1′軸
を横切るごとにリサージュの回転方向がチェックされ、
回転方向が変化しなければプシrゲー136.37のど
ちらかからのみパルスが出ているが、回転方向が変化す
ればパルスを出すゲートが変化する。
フリップフロツブ3日はパルスを出すゲートが変化した
ことを知ると同時に雑音によってリリ〜ジュが不必要に
χ軸を横切ったときそれに応答しないためにもうけたも
のである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例、第2図は符号判定回路0゛例
、第3図は説明図、第4図は他の説明図である。 1・・・・・・・・・・二層波レーず 2.8・・・・・・偏光じ一ム分睡器 3・・・・・・・・・・移動反射鏡 4・・・・・・・・・・固定反射鏡 5・・・・・・・・・・位相子 6・・・・・・・・・・じ−ム分割器 7・・・・・・・・・・旋光子 9・・・・・・・・・・偏光子 10.11.12.26・・・・・検知器13・・・・
・・・・電気的位相シフタ14.15.16.17・・
・・・掛算回路18.20・・・・・減算回路 19.21・・・・・加算回路 22.24・・・・・符号判定回路 23・・・・・・・・信号切換回路 25・・・・・・・・カラシタ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 周波数の異なる直交した第1と第2の偏光を放出する二
    周波レーザを光源とし、該第1の偏光と第2の偏光を偏
    光分離器によって分離し、該第1の偏光を移動反射鏡に
    入射せしめると共に該第2の偏光を、該第2の偏光の方
    位に対しほぼ45°の方位を有しかつほぼ90°のリタ
    ーデーションを有する位相子を通過せしめた後、前記第
    1の偏光の前記移動反射鏡による反射光と重ね合わせ、
    該重ねられた光を、前記位相子の進相軸ならびに遅相軸
    の方向に対応した方位を有する2つの偏光に分離して、
    該2つの偏光をそれぞれ別個に第1および第2の検知器
    で検知して第1および第2の光ビート信号を得ると共に
    、前記第1の偏光と第2の偏光を重ね合わせて第3の検
    知器で検知して第3の光ビート信号を求めさらに該第3
    の光ビート信号に対しほぼ90°の位相差を持つ第4の
    光ビート信号をつくり、第3の光ビート信号と第2の光
    ビート信号の積と第4の光ビート信号と第1の光ビート
    信号の積の和および差よりなる1組の和信号と差信号、
    あるいは第4の光ビート信号と第2の光ビート信号の積
    と第3の光ビート信号と第1の光ビート信号の積の和お
    よび差よりなる他の1組の和信号と差信号、あるいは前
    記の組すべてから成る2組の和信号と差信号をつくると
    共に、前記第1の光ビート信号の値と前記第2の光ビー
    ト信号の値の間の相対的な変化ならびに変化方向をしら
    べ、該変化ならびに変化方向によって前記第1および第
    2の光ビート周波数の正負信号を発生せしめ該正負信号
    に応じて前記の1組あるいは2組の和信号と差信号のう
    ち、和信号、差信号いづれを採るかの決定ならびに切換
    を行ない、該切換えられた和信号あるいは差信号を計数
    することを特徴とする光ビート測長装置。
JP59131612A 1984-06-26 1984-06-26 光ビ−ト測長装置 Pending JPS6110707A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59131612A JPS6110707A (ja) 1984-06-26 1984-06-26 光ビ−ト測長装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59131612A JPS6110707A (ja) 1984-06-26 1984-06-26 光ビ−ト測長装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6110707A true JPS6110707A (ja) 1986-01-18

Family

ID=15062133

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59131612A Pending JPS6110707A (ja) 1984-06-26 1984-06-26 光ビ−ト測長装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6110707A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0408747A1 (en) * 1988-02-19 1991-01-23 Kitamura Machinery Co., Ltd. Length measuring method by using laser beams
US5025625A (en) * 1988-11-10 1991-06-25 Hitachi Construction Machinery Co., Ltd. Commonly housed directional and pressure compensation valves for load sensing control system
US5038671A (en) * 1988-04-14 1991-08-13 Diesel Kiki Co., Ltd. Control valve

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0408747A1 (en) * 1988-02-19 1991-01-23 Kitamura Machinery Co., Ltd. Length measuring method by using laser beams
US5038671A (en) * 1988-04-14 1991-08-13 Diesel Kiki Co., Ltd. Control valve
US5025625A (en) * 1988-11-10 1991-06-25 Hitachi Construction Machinery Co., Ltd. Commonly housed directional and pressure compensation valves for load sensing control system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3788746A (en) Optical dilatometer
US4702603A (en) Optical phase decoder for interferometers
US4180328A (en) Interferometer which corrects for spurious vibrations
JPS6110707A (ja) 光ビ−ト測長装置
US4585347A (en) Rotation rate measuring instrument
JP3413945B2 (ja) 縞計数変位干渉計
JPH11125503A (ja) ヘテロダイン干渉計
JPH0612333B2 (ja) 自動複屈折測定装置
GB1437119A (en) Device for measuring the phase shift of radiation
RU2709428C1 (ru) Оптический смеситель излучения четырехчастотного лазерного гироскопа зеемановского типа
JPS60135816A (ja) 光フアイバジヤイロ
JPH08278202A (ja) 偏光解析用光学系装置及びこれを用いた偏光解析装置
JPH04155260A (ja) 回転速度測定装置
JP3382644B2 (ja) 直交偏光ヘテロダイン干渉計
JPH06167304A (ja) 変位計
JPH0310045B2 (ja)
JPS6385302A (ja) 光路長差測定装置
JPH045122B2 (ja)
JPH0674964B2 (ja) 2周波偏光ヘテロダイン干渉測定における信号光ビート検出装置
JPS58225301A (ja) 光学式変位測定装置
JPS61162714A (ja) 高速度レ−ザ−測長装置
JPH06241718A (ja) 屈折率変動を補正した干渉測長装置
RU1841279C (ru) Способ измерения угловых скоростей объектов с помощью кольцевого оптического квантового генератора
JP2723977B2 (ja) 回転速度測定方法
JP2792129B2 (ja) 光学角度検出装置