JPS6110707A - 光ビ−ト測長装置 - Google Patents
光ビ−ト測長装置Info
- Publication number
- JPS6110707A JPS6110707A JP59131612A JP13161284A JPS6110707A JP S6110707 A JPS6110707 A JP S6110707A JP 59131612 A JP59131612 A JP 59131612A JP 13161284 A JP13161284 A JP 13161284A JP S6110707 A JPS6110707 A JP S6110707A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- optical beat
- polarized light
- difference
- beat signal
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02001—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
- G01B9/02007—Two or more frequencies or sources used for interferometric measurement
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2290/00—Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
- G01B2290/45—Multiple detectors for detecting interferometer signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2290/00—Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
- G01B2290/70—Using polarization in the interferometer
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光ビートを用いた干渉測長装置に関する。
二層波レーザを光源としrツブラーシフトを光と一部を
用いて測定し測長を行なう、装置はすでに実用されてい
る(例えばHP −5526A ) 、 ’し
かし在米の装置においては三周波レーず光の周波数差L
!よる被測定物の移動速度の限界が存在した。すなわち
、三周波レーず光の角周波数をそれぞれωいω、としω
0の光が移動している被測定物上の反射鏡イ反射された
光のシフ1角周波数を八〇とするとこの光と周波数ω、
を有する光の間の光じ一部周波数はω、−の。±△ωと
なる。士は被測定物の移動方向によって決る符号である
。ω、〉ωOで、この符号が正に対応した移動方向にお
いては移動速度に限界はない。しかし、その逆の移動方
向においてはω1−ωO−△ω〈0となる速度が存在す
る。つまり光じ一部周波数の値は負となる。
用いて測定し測長を行なう、装置はすでに実用されてい
る(例えばHP −5526A ) 、 ’し
かし在米の装置においては三周波レーず光の周波数差L
!よる被測定物の移動速度の限界が存在した。すなわち
、三周波レーず光の角周波数をそれぞれωいω、としω
0の光が移動している被測定物上の反射鏡イ反射された
光のシフ1角周波数を八〇とするとこの光と周波数ω、
を有する光の間の光じ一部周波数はω、−の。±△ωと
なる。士は被測定物の移動方向によって決る符号である
。ω、〉ωOで、この符号が正に対応した移動方向にお
いては移動速度に限界はない。しかし、その逆の移動方
向においてはω1−ωO−△ω〈0となる速度が存在す
る。つまり光じ一部周波数の値は負となる。
在来の装置はこのような負の光に一部周波数と正の光じ
一1周波数を区別する機能を有しておらず、正の光じ一
部周波数領域でのみ処理が行なわれていたので、二周波
し−丁光の角周波数差ωC−ω。
一1周波数を区別する機能を有しておらず、正の光じ一
部周波数領域でのみ処理が行なわれていたので、二周波
し−丁光の角周波数差ωC−ω。
の値が速度に制限を与えると之になっていた。またこの
周波数差は任意に人為的に選ぶことができない量である
’、 (HP −5526Aは2πx2xlo rad
/secである。) 一方、産業界に招いては測長の高速性に対する要求は高
まっており、以上の速度限界を超える必要が生じて来た
。
周波数差は任意に人為的に選ぶことができない量である
’、 (HP −5526Aは2πx2xlo rad
/secである。) 一方、産業界に招いては測長の高速性に対する要求は高
まっており、以上の速度限界を超える必要が生じて来た
。
本発明は光に一部周波数が負の周波数になることを認め
ることにより二層波レーザ光の周波数差に基づく速度限
界を取り除いたもので、本発明により光じ一部を用いた
レーザ千渉潤長が高速で行なわれることとなワた。
ることにより二層波レーザ光の周波数差に基づく速度限
界を取り除いたもので、本発明により光じ一部を用いた
レーザ千渉潤長が高速で行なわれることとなワた。
以下図面を用いて本発明の説明を行なう。
第1図は本発明の実施例である。第1図に詔いて二層波
レーザ発振器1から出たレープ光のうち一方の偏光、例
えば方位が90°の偏光は偏光に−へ分離器2を通過し
、さらにじ−Δ分割器6を通過して移動反射鏡3で反射
されてど−ム分割器6に返される。また、レープ光のう
ち他方の偏光例えば方位0°の偏光は偏光じ−ム分1器
2イ反射された後、固定反射fi4f反射され方位が4
5°リターデーシヨンが90°の位相子5を通過し、ど
−ム分割器6に入り、先の移動鏡で反、射された光と重
ねられた後、必要な場合には旋光子7で旋光し偏光に一
Δ分111a8により前記の位相子の進相軸の方向に対
応した偏光成分と遅相軸の方向に対応した偏光成分に分
離され、それぞれの偏光成分がそれぞれ別個の検知器1
1ど12で検知される。
レーザ発振器1から出たレープ光のうち一方の偏光、例
えば方位が90°の偏光は偏光に−へ分離器2を通過し
、さらにじ−Δ分割器6を通過して移動反射鏡3で反射
されてど−ム分割器6に返される。また、レープ光のう
ち他方の偏光例えば方位0°の偏光は偏光じ−ム分1器
2イ反射された後、固定反射fi4f反射され方位が4
5°リターデーシヨンが90°の位相子5を通過し、ど
−ム分割器6に入り、先の移動鏡で反、射された光と重
ねられた後、必要な場合には旋光子7で旋光し偏光に一
Δ分111a8により前記の位相子の進相軸の方向に対
応した偏光成分と遅相軸の方向に対応した偏光成分に分
離され、それぞれの偏光成分がそれぞれ別個の検知器1
1ど12で検知される。
今二周波し−ず光のうち、方位90°の偏光の角周波数
をω。、方位o0の偏光の角周波数をω1、移動反射鏡
の運動による角周波数シフトを△ωとし、検知器コ−1
、12で検知される光ご一1信号をそれぞれχ考とする
と X =C09< CL)I (ωO士△w)it
−1)ンヒ= sin (C+)1− (
ω。±/〉ωンF、 −2)となる。そ
の理由の説明を第3図によって行なう。
をω。、方位o0の偏光の角周波数をω1、移動反射鏡
の運動による角周波数シフトを△ωとし、検知器コ−1
、12で検知される光ご一1信号をそれぞれχ考とする
と X =C09< CL)I (ωO士△w)it
−1)ンヒ= sin (C+)1− (
ω。±/〉ωンF、 −2)となる。そ
の理由の説明を第3図によって行なう。
Aは移動反射#I!テ反射して返された方位が90°の
偏光である。一方方位が00の偏光が、方位が4ダリ4
−チーショシが90″の位相子を通過することにより、
方位が 45 ’でそれぞれの間で位相差が90°であ
る二つの偏光に分解される。分解されたニつの偏光B、
Cと先の偏光Aが方位が 45°の偏光こ−ム分離器に
より重ねられると、偏光Aの偏光Bの方向成分の干渉に
よる光じ一部と、偏光Aの偏光Cの方向成分の光じ−1
が分離して検出されることになり、しかも、位相子によ
る90°のリターデーションのため、二つの光に一部の
開に90°の位相差が存在するので、光j−1信号とし
て906の位相差を有する二つの信号として正弦。
偏光である。一方方位が00の偏光が、方位が4ダリ4
−チーショシが90″の位相子を通過することにより、
方位が 45 ’でそれぞれの間で位相差が90°であ
る二つの偏光に分解される。分解されたニつの偏光B、
Cと先の偏光Aが方位が 45°の偏光こ−ム分離器に
より重ねられると、偏光Aの偏光Bの方向成分の干渉に
よる光じ一部と、偏光Aの偏光Cの方向成分の光じ−1
が分離して検出されることになり、しかも、位相子によ
る90°のリターデーションのため、二つの光に一部の
開に90°の位相差が存在するので、光j−1信号とし
て906の位相差を有する二つの信号として正弦。
余弦の信号が得られるわけである。以上の信号は光じ一
部信号の正負の判定に用いる。
部信号の正負の判定に用いる。
再び第1図の説明を続ける。三周波レーず1のレープ光
の一部を方位45°の偏光子9を通して検知器12で検
知するとω1−ω。なる角周波数を有する光に一部信号
が検出される。三周波レー+!1が周波数安定化レーザ
であると、ω、−ω。二00の値は一定であるので、電
気的位相シフ513により90゜位相のシフトを行なう
ことにより二つの信号工′=C05D、。t
−3)’j’= sinΩ。t
−4)をつくることができる。前記の光に−
ト角周波数゛ω自−(ω。± ΔcA3 ) =Q は移動反射鏡の移動方向が帖)uo、でΔωが十のとき
、移動反射鏡の移動速度が大となるとΩくOとなる。つ
まり移動速度が大となると光に一部嘉周波数立は正から
負に変る。しかし光ビートを観測するだけではこの正負
の判定はできない。つまりわれわれは周波数nの絶対値
Uしか知ることが出来ない。そこで本発明においては次
のような手続きを採る。1)、2)式は χ= cos jρIt 1′
)’l=s″、n1Ql七
2′)と書かれるが、χは検知器10の出力、1は検知
器11の出力信号であるとみなす。(現実は直流成分を
持っているが後述の、方法で直流成分は除去する。)さ
らにに′は検知器12の出力信号、)′はX′の信号を
電気的に90°位相シフトを行なったものである。ここ
イx4.χ′、ν′という4つの信号が得られたわけで
あるが、これらの4つの信号について4個の掛算回路1
4.15.16.17と2個の加算回路19.21と2
個の減算回路18.20を図の実施例のごとく結ぶこと
により次のような演算を行なうことができる。
の一部を方位45°の偏光子9を通して検知器12で検
知するとω1−ω。なる角周波数を有する光に一部信号
が検出される。三周波レー+!1が周波数安定化レーザ
であると、ω、−ω。二00の値は一定であるので、電
気的位相シフ513により90゜位相のシフトを行なう
ことにより二つの信号工′=C05D、。t
−3)’j’= sinΩ。t
−4)をつくることができる。前記の光に−
ト角周波数゛ω自−(ω。± ΔcA3 ) =Q は移動反射鏡の移動方向が帖)uo、でΔωが十のとき
、移動反射鏡の移動速度が大となるとΩくOとなる。つ
まり移動速度が大となると光に一部嘉周波数立は正から
負に変る。しかし光ビートを観測するだけではこの正負
の判定はできない。つまりわれわれは周波数nの絶対値
Uしか知ることが出来ない。そこで本発明においては次
のような手続きを採る。1)、2)式は χ= cos jρIt 1′
)’l=s″、n1Ql七
2′)と書かれるが、χは検知器10の出力、1は検知
器11の出力信号であるとみなす。(現実は直流成分を
持っているが後述の、方法で直流成分は除去する。)さ
らにに′は検知器12の出力信号、)′はX′の信号を
電気的に90°位相シフトを行なったものである。ここ
イx4.χ′、ν′という4つの信号が得られたわけで
あるが、これらの4つの信号について4個の掛算回路1
4.15.16.17と2個の加算回路19.21と2
個の減算回路18.20を図の実施例のごとく結ぶこと
により次のような演算を行なうことができる。
)′×X+χ’x ) = 5in(no旧(11)(
: −5))′xχ−χ′X″l= 5in(11,
−1nl )t−6)χ′×χ−)’X ) = co
s(n、+lユI)t −7)χ’XX + )’
X ) = cos(n、−107)t −8)こ
のようにして得られた信号は信号切換回路23の2組の
入力端子f、nおよび省、rにそれぞれ5in(j’l
o IJLI)t 、 cos(no−1fll
)t の組詔よび5in(fla+1Ql)t、 co
s(几+1ΩI)tの組として入力される。一方、前記
の信号χを横軸、信号)を縦軸にとってリュージュを求
めると(第4図)立が正から負に変るとりサージュの回
転方向は逆転する。との逆転を後述する符号判定回路2
2で検知して、角周波数qの正負の判定を行ないΩが正
のときには信号切換回路のJL、vaの信号すなわち
5in(fl、 lΩl)t 、cos(Ω。−
1Ω1)七 を 1.Ω。
: −5))′xχ−χ′X″l= 5in(11,
−1nl )t−6)χ′×χ−)’X ) = co
s(n、+lユI)t −7)χ’XX + )’
X ) = cos(n、−107)t −8)こ
のようにして得られた信号は信号切換回路23の2組の
入力端子f、nおよび省、rにそれぞれ5in(j’l
o IJLI)t 、 cos(no−1fll
)t の組詔よび5in(fla+1Ql)t、 co
s(几+1ΩI)tの組として入力される。一方、前記
の信号χを横軸、信号)を縦軸にとってリュージュを求
めると(第4図)立が正から負に変るとりサージュの回
転方向は逆転する。との逆転を後述する符号判定回路2
2で検知して、角周波数qの正負の判定を行ないΩが正
のときには信号切換回路のJL、vaの信号すなわち
5in(fl、 lΩl)t 、cos(Ω。−
1Ω1)七 を 1.Ω。
する。このようにして得られた例えば
cos(L Ifll)t 、 cos(Ω。刊Q
t )tは実質的には絶対値11の除かれた C05(
0,4)t (但シΩは正から負に変化)と同じであ
り coscQe Q)4−の周波数あるいは位相を
測定することにより二周波し−ずの周波数差Ω。の大小
には無関係に高速での測長が可能となる。本実施例にお
いては信号切換回路の出力 cos(Q、 −Q )t
、 5in(A。一旦)Lを用い符号判定回路22と
同様な他の符号判定回路24を用い、移動反射鏡の移動
方向の判定を行なっており、例えば cos(Ω。−Ω
)tをカウシ525の計数端子に入力すると共に加減端
子に符号判定回路24の出力を入力せしめている。
t )tは実質的には絶対値11の除かれた C05(
0,4)t (但シΩは正から負に変化)と同じであ
り coscQe Q)4−の周波数あるいは位相を
測定することにより二周波し−ずの周波数差Ω。の大小
には無関係に高速での測長が可能となる。本実施例にお
いては信号切換回路の出力 cos(Q、 −Q )t
、 5in(A。一旦)Lを用い符号判定回路22と
同様な他の符号判定回路24を用い、移動反射鏡の移動
方向の判定を行なっており、例えば cos(Ω。−Ω
)tをカウシ525の計数端子に入力すると共に加減端
子に符号判定回路24の出力を入力せしめている。
また検知a26は検知610に入射する光と位相がxa
o 0興なる光を検知しており、その出方を加算増幅器
27によって検知器10の出力に加算す号ならびに検知
器11の出力信号と基準電位の差を求めることにより、
直流成分を除き正、負に変化するχ、′l−信号1をつ
くり、前記のリサージュが原点を中心に回転するように
なされている。
o 0興なる光を検知しており、その出方を加算増幅器
27によって検知器10の出力に加算す号ならびに検知
器11の出力信号と基準電位の差を求めることにより、
直流成分を除き正、負に変化するχ、′l−信号1をつ
くり、前記のリサージュが原点を中心に回転するように
なされている。
なお、本実施例においては5)、6)、?)、8)式で
示される信号すべてを用いてl/′Iるが、必ずしもそ
の必要はなく、符号判定回路24を省略し計数器に入力
する信号として、5)、6)式あるい、は?)、8)式
で示される信号だけを用いて測長装置を構成してもよい
。
示される信号すべてを用いてl/′Iるが、必ずしもそ
の必要はなく、符号判定回路24を省略し計数器に入力
する信号として、5)、6)式あるい、は?)、8)式
で示される信号だけを用いて測長装置を構成してもよい
。
第2図は符号判定回路の一例である。前記の光じ=ト信
号χ、)゛および信号Jが反転増幅器31で反転された
信号がコシパレータ32.33、および34に入力され
、コンパレータ33とコンパレータ32の出力がプンr
ゲート36に、コシパレータ32の出力がインバータ3
5で反転された出力とコンパレータ34の出力がプシ「
ゲート37に入力される。つまり、す9−シュが1′軸
を横切るごとにリサージュの回転方向がチェックされ、
回転方向が変化しなければプシrゲー136.37のど
ちらかからのみパルスが出ているが、回転方向が変化す
ればパルスを出すゲートが変化する。
号χ、)゛および信号Jが反転増幅器31で反転された
信号がコシパレータ32.33、および34に入力され
、コンパレータ33とコンパレータ32の出力がプンr
ゲート36に、コシパレータ32の出力がインバータ3
5で反転された出力とコンパレータ34の出力がプシ「
ゲート37に入力される。つまり、す9−シュが1′軸
を横切るごとにリサージュの回転方向がチェックされ、
回転方向が変化しなければプシrゲー136.37のど
ちらかからのみパルスが出ているが、回転方向が変化す
ればパルスを出すゲートが変化する。
フリップフロツブ3日はパルスを出すゲートが変化した
ことを知ると同時に雑音によってリリ〜ジュが不必要に
χ軸を横切ったときそれに応答しないためにもうけたも
のである。
ことを知ると同時に雑音によってリリ〜ジュが不必要に
χ軸を横切ったときそれに応答しないためにもうけたも
のである。
第1図は本発明の実施例、第2図は符号判定回路0゛例
、第3図は説明図、第4図は他の説明図である。 1・・・・・・・・・・二層波レーず 2.8・・・・・・偏光じ一ム分睡器 3・・・・・・・・・・移動反射鏡 4・・・・・・・・・・固定反射鏡 5・・・・・・・・・・位相子 6・・・・・・・・・・じ−ム分割器 7・・・・・・・・・・旋光子 9・・・・・・・・・・偏光子 10.11.12.26・・・・・検知器13・・・・
・・・・電気的位相シフタ14.15.16.17・・
・・・掛算回路18.20・・・・・減算回路 19.21・・・・・加算回路 22.24・・・・・符号判定回路 23・・・・・・・・信号切換回路 25・・・・・・・・カラシタ
、第3図は説明図、第4図は他の説明図である。 1・・・・・・・・・・二層波レーず 2.8・・・・・・偏光じ一ム分睡器 3・・・・・・・・・・移動反射鏡 4・・・・・・・・・・固定反射鏡 5・・・・・・・・・・位相子 6・・・・・・・・・・じ−ム分割器 7・・・・・・・・・・旋光子 9・・・・・・・・・・偏光子 10.11.12.26・・・・・検知器13・・・・
・・・・電気的位相シフタ14.15.16.17・・
・・・掛算回路18.20・・・・・減算回路 19.21・・・・・加算回路 22.24・・・・・符号判定回路 23・・・・・・・・信号切換回路 25・・・・・・・・カラシタ
Claims (1)
- 周波数の異なる直交した第1と第2の偏光を放出する二
周波レーザを光源とし、該第1の偏光と第2の偏光を偏
光分離器によって分離し、該第1の偏光を移動反射鏡に
入射せしめると共に該第2の偏光を、該第2の偏光の方
位に対しほぼ45°の方位を有しかつほぼ90°のリタ
ーデーションを有する位相子を通過せしめた後、前記第
1の偏光の前記移動反射鏡による反射光と重ね合わせ、
該重ねられた光を、前記位相子の進相軸ならびに遅相軸
の方向に対応した方位を有する2つの偏光に分離して、
該2つの偏光をそれぞれ別個に第1および第2の検知器
で検知して第1および第2の光ビート信号を得ると共に
、前記第1の偏光と第2の偏光を重ね合わせて第3の検
知器で検知して第3の光ビート信号を求めさらに該第3
の光ビート信号に対しほぼ90°の位相差を持つ第4の
光ビート信号をつくり、第3の光ビート信号と第2の光
ビート信号の積と第4の光ビート信号と第1の光ビート
信号の積の和および差よりなる1組の和信号と差信号、
あるいは第4の光ビート信号と第2の光ビート信号の積
と第3の光ビート信号と第1の光ビート信号の積の和お
よび差よりなる他の1組の和信号と差信号、あるいは前
記の組すべてから成る2組の和信号と差信号をつくると
共に、前記第1の光ビート信号の値と前記第2の光ビー
ト信号の値の間の相対的な変化ならびに変化方向をしら
べ、該変化ならびに変化方向によって前記第1および第
2の光ビート周波数の正負信号を発生せしめ該正負信号
に応じて前記の1組あるいは2組の和信号と差信号のう
ち、和信号、差信号いづれを採るかの決定ならびに切換
を行ない、該切換えられた和信号あるいは差信号を計数
することを特徴とする光ビート測長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59131612A JPS6110707A (ja) | 1984-06-26 | 1984-06-26 | 光ビ−ト測長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59131612A JPS6110707A (ja) | 1984-06-26 | 1984-06-26 | 光ビ−ト測長装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6110707A true JPS6110707A (ja) | 1986-01-18 |
Family
ID=15062133
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59131612A Pending JPS6110707A (ja) | 1984-06-26 | 1984-06-26 | 光ビ−ト測長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6110707A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0408747A1 (en) * | 1988-02-19 | 1991-01-23 | Kitamura Machinery Co., Ltd. | Length measuring method by using laser beams |
US5025625A (en) * | 1988-11-10 | 1991-06-25 | Hitachi Construction Machinery Co., Ltd. | Commonly housed directional and pressure compensation valves for load sensing control system |
US5038671A (en) * | 1988-04-14 | 1991-08-13 | Diesel Kiki Co., Ltd. | Control valve |
-
1984
- 1984-06-26 JP JP59131612A patent/JPS6110707A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0408747A1 (en) * | 1988-02-19 | 1991-01-23 | Kitamura Machinery Co., Ltd. | Length measuring method by using laser beams |
US5038671A (en) * | 1988-04-14 | 1991-08-13 | Diesel Kiki Co., Ltd. | Control valve |
US5025625A (en) * | 1988-11-10 | 1991-06-25 | Hitachi Construction Machinery Co., Ltd. | Commonly housed directional and pressure compensation valves for load sensing control system |
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