JPS607333A - 偏波保持光フアイバの測定方法および装置 - Google Patents
偏波保持光フアイバの測定方法および装置Info
- Publication number
- JPS607333A JPS607333A JP11667083A JP11667083A JPS607333A JP S607333 A JPS607333 A JP S607333A JP 11667083 A JP11667083 A JP 11667083A JP 11667083 A JP11667083 A JP 11667083A JP S607333 A JPS607333 A JP S607333A
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- polarization
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、通信用光ファイバの測定に関する。
特に、単一モード光ファイバの偏波モード結合係数また
は消光比を非破壊的に測定する方法および装置に関する
ものである。
は消光比を非破壊的に測定する方法および装置に関する
ものである。
現在、単一モード光ファイバを用いてコヒーレント光伝
送を行う、大容量で長距離の光伝送方式の研究が進めら
れている。この方式では、光ファイバの送端から入射す
る信号光の入射偏波方向が、光ファイバを伝播しても保
持されることが必要であり、受端の出射端では出力光が
直線偏光でなければならない。このための光ファイバと
して、楕円コア形、楕円クラッド形、応力伺与形、サイ
トピント形、あるいはねじれ形などが提案されている。
送を行う、大容量で長距離の光伝送方式の研究が進めら
れている。この方式では、光ファイバの送端から入射す
る信号光の入射偏波方向が、光ファイバを伝播しても保
持されることが必要であり、受端の出射端では出力光が
直線偏光でなければならない。このための光ファイバと
して、楕円コア形、楕円クラッド形、応力伺与形、サイ
トピント形、あるいはねじれ形などが提案されている。
これらの光ファイバはいずれも、光弾力性効果により縮
退したH E s1モードを分離し、光ファイバの長手
方向にわたって偏波を保持するように構成されたもので
ある。
退したH E s1モードを分離し、光ファイバの長手
方向にわたって偏波を保持するように構成されたもので
ある。
第1図に、従来から用いられているこのような光ファイ
バの偏波モード結合係数および消光比の測定装置を示す
。この従来例装置は、光源1の出力光(この場合には連
続光)を偏光子2を通過させて直線偏光とし、被測定光
ファイバ3の一端に入射させる。このとき、この光ファ
イバ3の偏光方向の主軸をX軸とすると、入射光の偏光
方向をX軸に合わせる。この光ファイバ3の出射端では
、出力光を検光子4を通過させて、この光ファイノー3
の偏光方向の主軸の方向X方向とこれに直交するy方向
とのそれぞれについて、光電変換器5で検出し、偏波モ
ード結合係数および消光比を計算するものである。
バの偏波モード結合係数および消光比の測定装置を示す
。この従来例装置は、光源1の出力光(この場合には連
続光)を偏光子2を通過させて直線偏光とし、被測定光
ファイバ3の一端に入射させる。このとき、この光ファ
イバ3の偏光方向の主軸をX軸とすると、入射光の偏光
方向をX軸に合わせる。この光ファイバ3の出射端では
、出力光を検光子4を通過させて、この光ファイノー3
の偏光方向の主軸の方向X方向とこれに直交するy方向
とのそれぞれについて、光電変換器5で検出し、偏波モ
ード結合係数および消光比を計算するものである。
ごの従来例方法は、あくまでも被測定光ファイバ3の全
長にわたる偏波モード結合係数および消光比の測定をす
るものであって、被測定光ファイバ3の偏波モード結合
係数および消光比を部分的に測定することはできない。
長にわたる偏波モード結合係数および消光比の測定をす
るものであって、被測定光ファイバ3の偏波モード結合
係数および消光比を部分的に測定することはできない。
かりに、これを部分的に測定するならば、被測定光ファ
イノ\3を途中で切断しなげればならない。また、長尺
の単一モード光ファイバ、あるいは途中に接続点のある
単一モード光ファイバを通信路に敷設した場合に、その
光ファイバの途中でなんらかの原因によってモートカッ
プリングが増大し、その位置で消光比特性が劣化した場
合には、その位置を探索することができない。
イノ\3を途中で切断しなげればならない。また、長尺
の単一モード光ファイバ、あるいは途中に接続点のある
単一モード光ファイバを通信路に敷設した場合に、その
光ファイバの途中でなんらかの原因によってモートカッ
プリングが増大し、その位置で消光比特性が劣化した場
合には、その位置を探索することができない。
本発明は、これを改良するもので、長尺の単一モード光
ファイバの途中までの偏波モード結合係数および消光比
を非破壊的に測定することができる方法および装置を提
供することを目的とする。
ファイバの途中までの偏波モード結合係数および消光比
を非破壊的に測定することができる方法および装置を提
供することを目的とする。
また、本発明−1長尺の単一モード光ファイバのl。
途中に、モードカップリングが大きい点があるときに、
その点の位置を入射端から測定する方法および装置を提
供することを目的とする。
その点の位置を入射端から測定する方法および装置を提
供することを目的とする。
本発明は、被測定単一モード光ファイバの入射端から光
パルス信号を入射させ、その光パルス信号によりその光
ファイバに生じる後方散乱光を利用して、その入射端に
戻る後方散乱光を、その光ファイバの偏光方向の主軸と
その主軸の直交方向のそれぞれについて測定し、偏波モ
ード結合係数および消光比を演算することを特徴とする
。
パルス信号を入射させ、その光パルス信号によりその光
ファイバに生じる後方散乱光を利用して、その入射端に
戻る後方散乱光を、その光ファイバの偏光方向の主軸と
その主軸の直交方向のそれぞれについて測定し、偏波モ
ード結合係数および消光比を演算することを特徴とする
。
本発明実施例装置により、本発明の測定方法およびその
原理を詳しく説明する。
原理を詳しく説明する。
第2図は本発明実施例装置の構成図である。光源1は光
パルス信号を発生ずる。この出力光である光パルス信号
は、偏光子2およびビームスプリンタ7を介して、被測
定単一モード光ファイバ3の一端に入射させる。この被
測定単一モード光ファイバ3では、この光パルス信号に
より後方散乱光が生じる。
パルス信号を発生ずる。この出力光である光パルス信号
は、偏光子2およびビームスプリンタ7を介して、被測
定単一モード光ファイバ3の一端に入射させる。この被
測定単一モード光ファイバ3では、この光パルス信号に
より後方散乱光が生じる。
入射端に設けられたビームスプリンタ7は、被測定光フ
ァイバ3から戻る光を反射させて、検光子4に導き、さ
らに超音波偏光器6を通過させて、光電変換器5により
電気信号に変換する。
ァイバ3から戻る光を反射させて、検光子4に導き、さ
らに超音波偏光器6を通過させて、光電変換器5により
電気信号に変換する。
一方、光源lはパルス発生器11の出力信号に同期する
駆動回路12により駆動される。このパルス発生器11
の出力は遅延回路13を介して駆動回路14に与えられ
、その駆動回路14の出力は超音波偏光器6を駆動する
。光電変換器5の出力ば増幅器20で増幅され、演算回
路21人力し、その演算回路21の出力は表示器22に
表示される。
駆動回路12により駆動される。このパルス発生器11
の出力は遅延回路13を介して駆動回路14に与えられ
、その駆動回路14の出力は超音波偏光器6を駆動する
。光電変換器5の出力ば増幅器20で増幅され、演算回
路21人力し、その演算回路21の出力は表示器22に
表示される。
このように構成された装置では、偏光子2の偏光角度を
調節して、入射光が被測定単一モード光ファイバ3の偏
光方向の主軸に一致するようにして、光パルス信号を被
測定光ファイバ3に入射ずる。光ファイバ3の内部では
後方散乱光が発生し、これが入射端に戻る。このとき、
光ファイバ3のモードカップリングが小さければ、後方
散乱光の強度の偏光方向は主軸方向に大きく、主軸の直
交方向には小さい。モードカップリングが大きくなるに
従い、偏光方向が直交方向である後方散乱光が大きくな
る。主軸方向および主軸の直交方向にそれぞれ偏光する
後方散乱光は、検光子4を回転させることにより識別す
る。
調節して、入射光が被測定単一モード光ファイバ3の偏
光方向の主軸に一致するようにして、光パルス信号を被
測定光ファイバ3に入射ずる。光ファイバ3の内部では
後方散乱光が発生し、これが入射端に戻る。このとき、
光ファイバ3のモードカップリングが小さければ、後方
散乱光の強度の偏光方向は主軸方向に大きく、主軸の直
交方向には小さい。モードカップリングが大きくなるに
従い、偏光方向が直交方向である後方散乱光が大きくな
る。主軸方向および主軸の直交方向にそれぞれ偏光する
後方散乱光は、検光子4を回転させることにより識別す
る。
また、被測定光ファイバ3には後方散乱光のほか、遠端
の端面でフレネル反射が発生する。このフレネル反射に
よる反射光の強度は、後方散乱光の強度の数−FdB以
上も大きいので、この反射光をマスクしないと、後方散
乱光の正確な測定が十分に行えないことがある。そのた
め、超音波偏光器6を用いる。すなわち、遅延回路13
の遅延量を調節して、フレネル反射のタイミングで超音
波偏光器6を偏向させて、その出力光が光電変換器5に
達しないようにマスクする。
の端面でフレネル反射が発生する。このフレネル反射に
よる反射光の強度は、後方散乱光の強度の数−FdB以
上も大きいので、この反射光をマスクしないと、後方散
乱光の正確な測定が十分に行えないことがある。そのた
め、超音波偏光器6を用いる。すなわち、遅延回路13
の遅延量を調節して、フレネル反射のタイミングで超音
波偏光器6を偏向させて、その出力光が光電変換器5に
達しないようにマスクする。
また、増幅器21の出力信号を時間軸上に表示すると、
光ファイバ長に対する後方散乱光の分布を光ファイバ長
に沿って知ることができる。したがって、後方散乱光の
偏光に急激な変化点があれば、時間軸上でその入射端か
らの距離あるいは位置を知ることができる。
光ファイバ長に対する後方散乱光の分布を光ファイバ長
に沿って知ることができる。したがって、後方散乱光の
偏光に急激な変化点があれば、時間軸上でその入射端か
らの距離あるいは位置を知ることができる。
両信号光の強度P bsxおよびP bsyは演算回路
2Iによりその比率が演算される。その結果は、表示器
22に表示される。ここで、演算回路21でめられる比
率ηI]5(L)は、 ηbs (L) −2h I−+ K −[まただし、
hL<<1 と表わすことができる。hは偏波モード結合係数、Lは
ファイバ長であり、I(はモード結合を生じるゆらぎの
大きさとレイリー散乱のゆらぎの大きさとの比率を表わ
す定数である。式(1ンばファイバ長しについての1次
関数であり、その傾きの2として長手方向にわたっての
偏波モード結合係数りが測定できることになる。またフ
ァイバ全長での消光比をER(L)とすると、 ER(L) =101ogtohL (dB) =(2
1で与えられる。
2Iによりその比率が演算される。その結果は、表示器
22に表示される。ここで、演算回路21でめられる比
率ηI]5(L)は、 ηbs (L) −2h I−+ K −[まただし、
hL<<1 と表わすことができる。hは偏波モード結合係数、Lは
ファイバ長であり、I(はモード結合を生じるゆらぎの
大きさとレイリー散乱のゆらぎの大きさとの比率を表わ
す定数である。式(1ンばファイバ長しについての1次
関数であり、その傾きの2として長手方向にわたっての
偏波モード結合係数りが測定できることになる。またフ
ァイバ全長での消光比をER(L)とすると、 ER(L) =101ogtohL (dB) =(2
1で与えられる。
つぎに結合パワ一方程式を用いて上記式(11および式
(2)を論理的に導出する。偏波保持光ファイノλの各
主軸方向でのパワーをPx (Z) 、Py (Z)と
すると、それらは次の連立方程式を満足する。
(2)を論理的に導出する。偏波保持光ファイノλの各
主軸方向でのパワーをPx (Z) 、Py (Z)と
すると、それらは次の連立方程式を満足する。
dPx (Z)
□=−αz十h (Px−Py)
Z
・・・・・・(3,1’)
ctpy (Z)
□=−αZ−h (Px−Py)
Z
・・・・・・(3,2)
ここで、αはファイバの光損失、hは偏波モード結合係
数である。上述の測定ではX方向偏波の光パルスをファ
イバに入射させるのでPx (0)=Po 、Py (
’0)=Oのもとで解くと、Px (L) =Po e
xp (−hL)・cosh (h L) exp (
−tx L)・・・・・・(4,1) Py (L) =Po exp (−hL)・5inh
(11L) exp (cyL)・・・・・・(4,
2) を得る。式(4,1)および式(4,2)によりZ=L
における消光比ηば ただしhL<<1 となる。各主軸方向からの後方散乱信号Pl+5x(L
)およびPL+sy (L)はレイリー散乱k乱および
偏波モード結合の後方伝1般成分を8府して、次のよう
になる。
数である。上述の測定ではX方向偏波の光パルスをファ
イバに入射させるのでPx (0)=Po 、Py (
’0)=Oのもとで解くと、Px (L) =Po e
xp (−hL)・cosh (h L) exp (
−tx L)・・・・・・(4,1) Py (L) =Po exp (−hL)・5inh
(11L) exp (cyL)・・・・・・(4,
2) を得る。式(4,1)および式(4,2)によりZ=L
における消光比ηば ただしhL<<1 となる。各主軸方向からの後方散乱信号Pl+5x(L
)およびPL+sy (L)はレイリー散乱k乱および
偏波モード結合の後方伝1般成分を8府して、次のよう
になる。
ここで、Sはレイリー散乱による後方散乱係数、〈1「
(2k)12〉は誘電率テンソルの非対角要素の自己
相関関数R(Zcl)のフーリエ変換である。
(2k)12〉は誘電率テンソルの非対角要素の自己
相関関数R(Zcl)のフーリエ変換である。
<lp (2k) 12 >
= SR(Zd) exp (−42kZd) d Z
d −−−1’?)ここで、ZdはX軸に沿っての2点
間の距離の差である。またVgはファイバ中の光の群速
度、Wは光のパルス幅、αPばレイリー散乱係数である
。
d −−−1’?)ここで、ZdはX軸に沿っての2点
間の距離の差である。またVgはファイバ中の光の群速
度、Wは光のパルス幅、αPばレイリー散乱係数である
。
これらの後方散乱信号が再び入射方向に伝搬して入射端
において観測される後方散乱信号P bsx、Pb5y
は + 2 Kexp (−2h L) cosb (h
L)・5inh (h L) ) −−(8,1)+2
Kexp (2hL) ・cosb2(h L) l −−(8,2)となる。
において観測される後方散乱信号P bsx、Pb5y
は + 2 Kexp (−2h L) cosb (h
L)・5inh (h L) ) −−(8,1)+2
Kexp (2hL) ・cosb2(h L) l −−(8,2)となる。
ここてKは次のように表わすことができる。
SαP
Bn (rd) exp (−i2kZd) d Vd
・・・・・・・・・(9) ただし、WoxおよびWoyはX軸およびY軸方向のス
ポットサイズであり、Bn(rd)は誘電率テンソルの
対角要素の自己相関関数である。ここで、rdば任意の
2点間の距離である。式(8,1)および式(8,2)
からその比率ηbs(L)はhL〈〈1の条件ものとで #2hL+K ・・・・・・・・・00)となる。この
式は式(1)と同一であり、この方法により長平方向で
のhの変化が測定できることがわかる。もし、偏波モー
ド結合量を電界で取り扱い、それをamc(L)とおく
と、ηbs(L)はηbs(L)=2〈1amc(L)
)2〉→−K・・・・・・(11) となることが証明でき、hが定数でない場合にも局所的
な偏波モード結合係数を< 1amc’(L) 12〉
からめることができる。
・・・・・・・・・(9) ただし、WoxおよびWoyはX軸およびY軸方向のス
ポットサイズであり、Bn(rd)は誘電率テンソルの
対角要素の自己相関関数である。ここで、rdば任意の
2点間の距離である。式(8,1)および式(8,2)
からその比率ηbs(L)はhL〈〈1の条件ものとで #2hL+K ・・・・・・・・・00)となる。この
式は式(1)と同一であり、この方法により長平方向で
のhの変化が測定できることがわかる。もし、偏波モー
ド結合量を電界で取り扱い、それをamc(L)とおく
と、ηbs(L)はηbs(L)=2〈1amc(L)
)2〉→−K・・・・・・(11) となることが証明でき、hが定数でない場合にも局所的
な偏波モード結合係数を< 1amc’(L) 12〉
からめることができる。
実際に、本発明の有用性を長さlkmの応力付耳形偏波
保持ファイバを用いて測定した。光源1は1.34μm
YAGレーザ、超音波偏光器6ばPbM。
保持ファイバを用いて測定した。光源1は1.34μm
YAGレーザ、超音波偏光器6ばPbM。
o4結晶を用いた。
第3図はX方向およびY方向の後方散乱光P bsxお
よびP bsyを示す。両者の比をとることにより、η
bs(L)をめたものが第4図である。第4図の波形は
右上りの波形であり、予測とよく一致する。左端END
Iから右端END2までの消光比をめると15.1dB
であり、その波形に対して直線を引くことにより偏波モ
ード結合係数りをめると約1.6 XIOm’であった
。
よびP bsyを示す。両者の比をとることにより、η
bs(L)をめたものが第4図である。第4図の波形は
右上りの波形であり、予測とよく一致する。左端END
Iから右端END2までの消光比をめると15.1dB
であり、その波形に対して直線を引くことにより偏波モ
ード結合係数りをめると約1.6 XIOm’であった
。
同様の実験をファイバの逆方向から光パルスを入射して
行った結果を第5図および第6図に示す。
行った結果を第5図および第6図に示す。
第5図は後方散乱光P bsxおよびP bsyの強度
を示し、第6図は両者の比をとり、ηl+5(L)をめ
た結果である。第6図の波形は180°回転させると第
4図に重なり一致することがわかる。
を示し、第6図は両者の比をとり、ηl+5(L)をめ
た結果である。第6図の波形は180°回転させると第
4図に重なり一致することがわかる。
このことば本発明による測定は入射方向に依存しないこ
とを実験的に示している。第4図と同様にしてEND2
’ とENDI’ との間の消光比をめると15.0d
Bであり、またh =1.7 XIOm−1が得られた
。これば往復での消光比を測定していることを名産して
、第4図および第6図から全長としての消光比をめると
17.4±0.5dBとなる。
とを実験的に示している。第4図と同様にしてEND2
’ とENDI’ との間の消光比をめると15.0d
Bであり、またh =1.7 XIOm−1が得られた
。これば往復での消光比を測定していることを名産して
、第4図および第6図から全長としての消光比をめると
17.4±0.5dBとなる。
一方、従来の透過法(第1図の方法)により得られた消
光比は17.5±0.5 dBであり、両者はよく一致
することがわかった。
光比は17.5±0.5 dBであり、両者はよく一致
することがわかった。
以上説明したように、本発明によれば、被測定光ファイ
バの一端のみから、偏波モード結合係数および消光比を
正確に測定することができる。本発明の方法および装置
は被測定光ファイノ\の途中の偏波モード結合係数およ
び消光比を、被測定光ファイバを切断することなく測定
することができる。被測定光ファイバの途中に接続点が
ある場合にも、その接続を考慮することなく測定するこ
とができる。さらに、本発明の方法および装置を光ファ
イバの製造工程において実施すれば、製造中の光ファイ
バの適切な監視を行うことができる。
バの一端のみから、偏波モード結合係数および消光比を
正確に測定することができる。本発明の方法および装置
は被測定光ファイノ\の途中の偏波モード結合係数およ
び消光比を、被測定光ファイバを切断することなく測定
することができる。被測定光ファイバの途中に接続点が
ある場合にも、その接続を考慮することなく測定するこ
とができる。さらに、本発明の方法および装置を光ファ
イバの製造工程において実施すれば、製造中の光ファイ
バの適切な監視を行うことができる。
第1図は従来例測定装置の構成図。
第2図は本発明実施例測定装置の構成図。
第3図、第4図、第5図および第6図は本発明実施例装
置により測定した結果を示す図。 ■・・・光源、2・・・偏光子、3・・・被測定光ファ
イバ、4・・・検光子、5・・・光電変換器、6・・・
超音波偏光器、7・・・ビームスプリッタ、11・・・
パルス発生器、12・・・光源の駆動回路、13・・・
遅延回路、14・・・超音波偏光器の駆動回路、20・
・・増幅器、21・・・演算回路、22・・・表示器。 ゛Jlノ′
置により測定した結果を示す図。 ■・・・光源、2・・・偏光子、3・・・被測定光ファ
イバ、4・・・検光子、5・・・光電変換器、6・・・
超音波偏光器、7・・・ビームスプリッタ、11・・・
パルス発生器、12・・・光源の駆動回路、13・・・
遅延回路、14・・・超音波偏光器の駆動回路、20・
・・増幅器、21・・・演算回路、22・・・表示器。 ゛Jlノ′
Claims (3)
- (1)被測定光ファイバの一端から光パルス信号を入射
し、 その光パルス信号によりその光ファイバの内部に後方散
乱光を生じさせて上記一端でこの後方散乱光の強度をそ
の光ファイバの偏向方向の主軸方向と主軸の直交方向の
それぞれについて検出し、その後方散乱光の強度から偏
波モード結合係数およびまたは消光比を演算する 偏波保持光ファイバの測定方法。 - (2)被測定偏波保持光ファイバの一端から光パルス信
号を入射する手段と、 上記一端に設けられその光パルス信号によりその光ファ
イバに生じる後方散乱光の強度をその光ファイバの偏向
方向の主軸方向およびその主軸の直交方向のそれぞれに
ついて検出する手段と、この手段により検出された後方
散乱光の強度からその光ファイバの偏波モード結合係数
およびまたは消光比を演算する手段と を備えた偏波保持光ファイバの測定装置。 - (3)検出する手段には、 その入射光パルス信号によりその光ファイバで生じるフ
レネル反射を時分割的にマスクする手段を含む 特許請求の範囲第(2)項に記載の偏波保持光ファイバ
の測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11667083A JPS607333A (ja) | 1983-06-27 | 1983-06-27 | 偏波保持光フアイバの測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11667083A JPS607333A (ja) | 1983-06-27 | 1983-06-27 | 偏波保持光フアイバの測定方法および装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS607333A true JPS607333A (ja) | 1985-01-16 |
JPS6157567B2 JPS6157567B2 (ja) | 1986-12-08 |
Family
ID=14692983
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11667083A Granted JPS607333A (ja) | 1983-06-27 | 1983-06-27 | 偏波保持光フアイバの測定方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS607333A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8167489B2 (en) | 2010-06-25 | 2012-05-01 | Sugiyama-Gen Co., Ltd. | Packaging bag for secondary packaging configured to transport infectious substances |
CN103293606A (zh) * | 2013-05-13 | 2013-09-11 | 光库通讯(珠海)有限公司 | 光纤适配器和光纤连接器消光比测量方法 |
CN104897368A (zh) * | 2015-05-05 | 2015-09-09 | 上海大学 | 保偏光纤消光比实时测试装置 |
-
1983
- 1983-06-27 JP JP11667083A patent/JPS607333A/ja active Granted
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS6157567B2 (ja) | 1986-12-08 |
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