JPS6067811A - 識別装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 この発明は、表面に複数種類の深さの複数の溝からなる
溝状陥没部を有する物品の識別を行なう識別装置に関す
る。

〔従来技術とその問題点〕

表面に２種類の深さの複数の溝を所定方向に配設する溝
状陥没部を識別する装置において、従来は溝状陥没部の
近傍を溝の配設方向に沿って通過する検出器と、この検
出器の検出情報から溝状陥没部の溝の深さを識別する識
別回路とを具備して構成していた。しかし溝状陥没部と
検出器との距離を一定にして通過させる手段を必要とす
るため装置が複雑になる。また距離の変動による検出器
出力信号を補正しようとする場合には識別回路の構成が
複雑になるという問題があった。

さらに、溝状陥没部の溝の大きさによる識別記号は所定
の配設方向で決まっているため、一定の方向から検出器
あるいは溝状陥没部を通過させる。

そのため逆方向からでは、通過の方向を何んらかの方法
で検知して識別回路に入れないと誤検出するという問題
があった。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、上記の従来技術が有する問題点を解消
し、溝状陥没部の溝の深さを自動的にかつ敏速に識別す
る識別装置を提供することにある。

〔発明の概要〕

表面に複数種類の深さの複数の溝を所定方向に配、設す
る溝状陥没部の溝の深さを接触して通過する検出器で検
出し、この検出情報に基づいて識別回路により溝の深さ
を識別する識別装置である。

まだ溝状陥没部の一端部にざらに別の深さの溝を設ける
ことによって、検出器あるいは溝状陥没部をいずれの配
設方向から接触して通過する場合でも同一の識別結果を
示す識別装置である。

〔発明の効果〕

本発明によれば複数種類の深さの被数の溝と、方向を指
定する溝を２種類の溝の一方の端部に設けている溝状陥
没部において、溝の深でで表わしている符号標識を接触
して通過する検出器の検出信号から溝の符号標識を読取
る識別回路をそなえることによって自動的にかつ敏速に
識別を行なうことができる。

〔発明の実施例〕

以下、この発明の詳細を図に示す実施例によって説明す
る。

第１図はこの発明の一実施例を示す概略構成図である。

図において、１は例えば半導体部品の搬送に使用される
平板状のパレットで、表面には溝状陥没部２が取付いて
いる。この溝状陥没部２は切欠断面が示すように、一定
間隔ｌ毎に３種類の深さの異なる溝２ａ〜２１が設けら
れている。このうち２ａ、２ｃ、２ｆ、２ｇの浅い溝を
「０」表示とし、２１を除（２ｂ、２ｄ、２ｅ、２ｆの
深い溝を「１」表示とする２種類の溝の組合せによる　
２進数の符号標識としている。最も深い溝２１は溝２ａ
側を高位側のデータに、２ｆ側に低位のデータとして設
けた方向指定の溝である。

検出器３は、例えば差動トランスの鉄心の移動により上
下変位を検出するもので、この検出器３を溝状陥没部に
接触させて矢印Ａ方向に移動させると溝状陥没部の溝２
ａ〜２１の深さに応じて出力信号が変化する。す々わち
溝状陥没部２の溝の深さに応じて検出器３の先端が矢印
Ｂ１矢印Ｃに上下する。ここで検出器３が浅い溝２ａ、
２ｃ、２ｆ。

２ｇ上に接触して通過するとき検出信号レベルは小さく
変化し、２ｂ、２ｄ、２ｅ、２ｆの深い溝を通過すると
き検出信号レベルは大きく変化し、最も深い溝の２１を
通過するときは、２ｂ、２ｄ、２ｅ、２ｆの検出信号レ
ベルよりもさらに大きく変化する。

そして、この検出信号は識別回路４に供給される。識別
回路４では検出信号レベルに応じて溝２ａ〜２ｆの２進
の符号標識と方向指定溝２１の位置を読取り、表示する
。かくして、パレット１に設けられた溝状陥没部２の２
進数の符号標識が読取られ、自動的に識別回路４に表示
する。

次に識別回路４について説明する。第２図は識別回路４
の構成を示すものである。

第２図において、３は第１図で示した検出器、５はアン
プ、６，７，８．９はそわそれ比較電圧の異なる電圧比
較回路１０，１１，１２，１５．１７は単安定マルチバ
イブレータ、１３，１４．２４は反転回路、１６．２２
はフリップフロップ、１８，１９．２３はゲート回路、
２０はカウンタ回路、２１はデレー回路、２５はＯＲ回
路、２６はシリアル信号をパラレル信号に変換する回路
、２７．２８は３ステ一タスバスドライバ回路、２９は
ラッチ回路、３０は表示回路を示す。

第３図と第４図は、第２図の識別回路４における各部の
波形とタイミングを示した図である。また第３図と第４
図に示す記号は同一である。第３図および第４図におい
て、（ａ）はアンプ５の出力信号、（ｂ）は電圧比較回
路６の出力信号、（Ｃ）は電圧比較回路７の出力信号、
（ｄ）は電圧比較回路８の出力信号、（Ｃ）は電圧比較
回路９の出力信号、（ｆ）は単安定マルチバイブレータ
１２の出力信号、（ロ））は単安定マルチバイブレータ
１１の出力信号、（ｈ）はフリップフロップ１６の出力
信号、（ｉ）はゲート回路１８の出力信号、（ｊ）は単
安定マルチバイブレータ１０の出力信号、（旧は単安定
マルチバイブレータ１５の出力信号、（１）はゲート回
路１９の出力信号、（ハ）は単安定マルチバイブレータ
２１の出力信号、（ｎ）は単安定マルチバイブレータの
出力信号、（Ｏ）はフリップフロップ２２の出力信号、
（ｐ）は反転回路１３の出力信号、（ｑ）はゲート回路
２３の出力信号（ｒ）は反転回路１４の出力信号、（Ｓ
）はＯＲ回路２５の出力信号を示す。

第３図は第１図に示した溝状陥没部２が矢印Ａの方向に
移動したときのタイミングチャートである。また第４図
は第１図に示した溝状陥没部２が矢印りの方行に移動し
たときのタイミングチャ・−トである。

最初に第２図における識別回路４の回路動作を第３図の
タイミングチャートを例にとり説明する。

第２図において検出器３の出力信号はアンプ５で増幅さ
れる。第３図（ａ）の波形はアンプ５の出力波形であり
、Ｊは最初の浅い溝の波形、には深い溝の波形、Ｌは方
向指定の溝の波形をそれぞれ示す。電圧比較回路６，７
，８．９のそれぞれＥ、Ｇ、Ｈの端子には第３図（ａ、
）に示しだ比較基準電圧Ｖｌ　＋Ｖ２　＋Ｖ３　＋Ｖ４
を加えである。

電圧比較回路６は検出器３が溝状陥没部２に接している
間「１」の出力信号、第３図（ｂ）を出力する。単安定
マルチバイブレーク１０には電圧比較回路６の出力信号
が入力されて、入力信号が印」からｒｌＪ　Ｋ変化する
とき、つまり検出器３が溝状陥没部２に接したときに１
つのパルス、第３図（ｊ）を出力する。単安定マルチバ
イブレータ１５には単安定マルチバイブレータ１０の出
力信号が入力されて、入力信号がｒＯＪから「１」にな
ったときに一定時間「１」から１０」に変化する第３図
（１０の出力波形を出力する。そして単安定マルチバイ
ブレータ１７には単安定マルチバイブレーク１５の出力
信号が入力されて、入力信号が「０」から「１」に変化
するときに１つのパルス、第３図（ｎ）を出力する。こ
の出力信号でフリップフロップ２２の出力信号を「０」
から「１」にセットする。

′電圧比較回路９は検出器３が溝状陥没部２のすべての
溝についてパルス第３図（ｅ）を出力する。そしてこの
出力信号（ｄ単安定マルチバイブレータ１２に入力され
る。この単安定マルチパイプレーク］２は、入力信号が
「０」から「１」になるとき１つのパルス、第３図（ｆ
）を出力する。

電圧比較回路７は検出器３が溝状陥没部２のうち最も深
い方向指定溝２１についてパルス、第３図（Ｃ）を出力
する。そしてこの出力信号は単安定マルチバイブレータ
１１に入力される。この単安定マルチバイブレーク１１
は入力信号が「１」から１（）」になるときに一定時間
「１」から「０」の第３図（ｇ）を出力する。そしてフ
リップフロップ１６には単安定マルチバイブレータ１１
の出力信号が入力される。このバイナリ回路１６は入力
信号が最初の「０」から［１］になるときに出力信号は
「０」から「１」に変化して、次に再び入力信号が「０
」から「１」になるとき、出力信号は「１」から１０」
に変化する第３図（ｈ）を出力する。ゲート回路１８の
２つの入力端子には単安定マルチノくイブレータの出力
信号とフリップフロップ１６の出力信号が入力される。

そしてこのゲート回路は２つの入力信号が同時に「１」
のときに限り「１」、第３図（ｉ）を出力する。

ゲート回路１９０２つの入力端子には、単安定マルチバ
イブレータ１５の出力信号と単安定マルチバイブレータ
１２の出力信号が入力される。そ１７てこのゲート回路
１９は２つの入力信号が同時に「１」のときに限り「１
」、第３図（Ｉｆ）を出力する。

カウンタ回路２０にはカウント動作をイニシャライズす
るだめのクリア入力端子に単安定マルチノ（イブレータ
１５の出力信号が入力される。カウンタ回路２０の計数
入力端子にはゲート回路１９の出力信号が入力てれる。

そして溝状陥没部２０８個の溝の信号第３図（ｉｌ）が
入力されると出力端子にひとつのパルスを出力し、そし
てこのノ（ルスはデレー回路２１に入力される。デレー
回路２１はカウンタ回路２０から出力されるパルスを遅
延してパルス、第３図（ホ）を出力する。このパルスは
フリップフロップ２２のリセント端子に入力されるため
、いま１で「１」を出力していたフリップフロップ２２
は「０」を出力する。フリップフロップ２２の出力信号
波形を第３図（０）に示す。

電圧比較回路８は検出器３が溝状陥没部の深い溝と方向
指定の溝についてパルス、第３図（ａ）を出力する。反
転回路１４は電圧比較回路８の出力信号を入力して、こ
の信号を反転して第３図（ｒ）を出力する。

ゲート回路２３には、フリップフロップ２２の出力信号
と、ゲート回路１８の出力信号と反転回路１３の出力信
号が入力さ些る。このうち反転回路１３には電圧比較回
路９の出力信号が入力されて、反転したのちゲート回路
２３のひとつの入力信号となる。ゲート回路２３は３つ
の入力信号すべてが「１」のときに限り「１」、第３図
（ｑ）を出方する。この出方信号は変換回路２６のクロ
ックパルス入力端子に入力される。また変換回路２６の
データパルス入力端子には反転回路１４の出力信号が入
力する。

変換回路２６は２進数のデータパルス、第３図（ｒ）を
クロックパルス、第３図（ｑ）で読取り８ピツトのパラ
レル信号に変換して出方する。そして８ピツトのパラレ
ル信号は３ステ一タスバスドライバ回路２７．２８に入
力する。この３ステ一タスバスドライバ回路は３ステー
タスつまり、通電状態の「１」まだはｒＯＪを出方する
かまだけ出力信号を非通電状態の′１ゝイインピーダン
スにするかは、ステータス入力端子の入力信号がｒＯＪ
が「１」かで決まる。そして、デレー回路２１のパルス
、第３図（ハ）を出方しているとき、３ステ一タスバス
ドライバ回路２７のステータス入力端子にはゲート回路
１８の出力信号、第３図（ｉ）のｒＯＪが入力している
。したがって、８ピツトの入力信号は３ステ一タスバス
ドライバ回路２７０入力信号がそのまま出力信号となる
通電状態であり、ラッチ回路２９に入力される。一方、
３ステ一タスバスドライバ回路２８のステータス入力端
子には、ゲート回路１８の出力信号が反転回路２４によ
って反転された「ｌ」が入力している。そのため３ステ
一タスバスドライバ回路２８の出力信号は非通電のノ・
イインピーダンスとなシ、ラッチ回路２９には入力され
ない状態となる。

ラッチ回路２９は３ステ一タスバスドライバ回路２７の
出力信号をラッチするものであり、そのタイミングパル
スは単安定マルチバイブレータ１０の出力信号とデレー
回路２１の出方イロ号である。ＯＲ回路２５は単安定マ
ルチバイブレータ１０とデレー回路２１の出力信号を入
力していずれかの入力が「１」となったときに「１」、
第３図（ｓ）を出力する。ＯＲ回路２５の出力信号はラ
ッチ回路２９のラッチパルス入力端子に入力される。単
安定マルチバイブレータ１０からのラッチタイミングパ
ルスのときにはラッチ回路２９の８ピツトの入力信号は
全て「０」である。しかしデレー回路２１からのラッチ
タイミングパルスのときはすでに８ピツトのデータがラ
ッチ回路２９に入力されている。したがってラッチする
ことによって８ピツトのデータは次のラッチタイミング
パルスが入力されるまで保持して表示回路３０にデータ
を表示する。

このように溝状陥没部を第１図に示す矢印への方向に移
動させた場合には嬉３図に示すタイミングで溝状陥没部
の溝を識別装置で読取り、表示することができる。しか
し溝状陥没部２の移動が矢印への方向ばかりとは限らな
い。例えば矢印りの方向に溝状陥没部が移動する場合も
ある。本発明はこの点も考慮しである。すなわち、矢印
Ａおよび矢印りのいずれの方向からでも第２図に示した
回路構成でかつ外部からの方向信号を必要とせずに同じ
表示する。以下に矢印りの方向に移動した場合について
説明する。

第４図に第１図に示した溝状陥没部２と同じであり、こ
の溝状陥没部２の移動方向は矢印りとしたときのタイミ
ングチャートを示す。

溝状陥没部２の最初に検出する清は方向指定溝２１であ
る。したがって、ゲート回路１８は方向指定溝２１が通
過したのち第４図（ト）が示すように、「０」からｒｌ
Ｊになる。そしてすべての溝が通過したのちデレー回路
２１から出力されるラッチタイミングパルス、第４図（
ハ）でラッチ回路２９の入力信号を出力信号に保持する
。このとき変換回路２６の８ピツトのデータは３ステ一
タスバスドライバ回路２７．２８に入力される。３ステ
一タスバスドライバ回路２７のステータス入力信号、第
４図（ｈ）は「１」である。このため３ステ一タスバス
ドライバ回路２７の出力状態は非通電のノ・イインピー
ダンスとなる。一方、３ステ一タスバスドライバ回路２
８のステータス入力端子には「０」が入力される。この
ため３ステ一タスバスドライバ回路２８の出力状態は通
電されることになり、この８ピツトのデータがラッチ回
路２９に入力される。

そして３ステ一タスバスドライバ回路２８の８ビットの
出力信号の高位ビットは、ラッチ回路の低位ビットに、
３ステ一タスバスドライバ回路２８の低位ビットはラッ
チ回路２９の高位ビットの入力端子に接続されている。

すなわち、３ステ一タＸスバスドライバ回路２８の１ビ
ツト目の出力信号はラッチ回路２９の８ビツト目の入力
に、同様に２ビツト目が７ビツト目に、３ビツト目が６
ビツト目に、４ビツト目が５ビツト目に、５ビツト目が
４ビツト目に、６ビツト目が３ビツト目に、７ビツト目
が２ビツト目に、８ビツト目が１ビツト目にそれぞれ接
続されている。

このように溝状陥没部２が第１図に示す矢印り方向に移
動して、検出器３・が接触して通過する場合でも、最高
位のビットに相当する溝は２ａであり順次２ｂ、２ｃ、
２ｄ、２ｅ、２ｆ、２ｇとなり最低位のビットが２ｈで
ある。したがってラッチ回路２９の入力端子でビットを
逆にする必要があり、これを３ステ一タスバスドライバ
回路２８で行なっている。

以上述べたように、例えば３種類の深さの複数の溝と、
方向を指定する溝を２種類の溝の一方の端部に設けてい
る溝状陥没部２において、溝の深さで表わしている符号
標識を一接触して通過する検出器３の検出信号から溝の
符号標識を読取る識別回路４をそなえることによって自
動的にかつ敏速に識別を行なうことができる。

なお、この発明は前述した実施例に限定されるわけでは
ない。例えば検出器は距離の変位を検出できるものであ
ればよい。また溝の形状はＶ形としているが、Ｕ形ある
いは突出していてもよい。

さらに溝の深さは２種類以上にしてもよく、溝の数は仕
様に応じて定めればよい。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の要部拡大断面図。 第２図は実施例に用いる識別回路の概略構成図、第３図
と第４図は識別回路の作用を説明するだめの信号波形図
である。 ２・・・溝状陥没部、２ａ〜２１・・・溝、２ｊ・・・
方向指定溝、３・・検出器、４・・・識別回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 表面に所定の方向に沿って設けられた少なくとも複数種
   類の深ざの複数の溝からなる溝状陥没部と、この溝状陥
   没部に接触して溝の配設方向に沿って通過し前記溝の深
   さを検出する検出器と、この検出器の検出信号から前記
   溝状陥没部の溝の深さを識別する識別回路とを具備して
   いることを特徴とする識別装置。