JPS6062448A - 倣い制御方法 - Google Patents

倣い制御方法

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JPS6062448A
JPS6062448A JP58170302A JP17030283A JPS6062448A JP S6062448 A JPS6062448 A JP S6062448A JP 58170302 A JP58170302 A JP 58170302A JP 17030283 A JP17030283 A JP 17030283A JP S6062448 A JPS6062448 A JP S6062448A
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23QDETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
    • B23Q35/00Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually
    • B23Q35/04Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually using a feeler or the like travelling along the outline of the pattern, model or drawing; Feelers, patterns, or models therefor
    • B23Q35/08Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work
    • B23Q35/12Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means
    • B23Q35/121Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means using mechanical sensing

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Machine Tool Copy Controls (AREA)
  • Numerical Control (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技14・饅)野 本発明は、倣い制御方式、 ’t!i−にモデルの凹部
を倣うのに適した倣い制御方式に関するものである。
従来技術と問題点 倣い制御方式は、トレーサヘッドでモデル表面を倣いつ
つこの1−レーサヘ・ノ1゛からの変位信号に基づいて
カッタ等の加]二々其位’+1’−eを制御3−ること
により、加工対象(ワーク)をモデルと同一の形状に加
工するだめの制御方式として良く知られζいる。
従来、モデルの凹部を倣う方法として2本出願人の出願
に係わる特願昭54−10228号や同56−1453
30号等に開示されたクランプ倣い制御方式が知られて
いる。このクランプ倣い制御方式は、1−レーザヘッド
の先端(スタイラス)をモデルの上面からその四部の内
壁に沿って所定深さだり下降させた後、この所定深さを
保持(クランプ)さゼつつ(即ちトレーザヘラドの先端
をモデル凹部の底面から離間させた状態で)所定方向に
移動させ、I・レーザヘノ1の先端が11f度モデル四
部の反対側の内壁に接触するとこの内壁に沿って再度モ
デル上面まで引上げ、モデル上面においてピックフィー
ドを行いつつ且つモデル凹部内においては上記所定深さ
くクランプレベル)を保持しつつモデルの全面にわたっ
て上記の動作を繰返すことによりワーク上に上記クラン
プレベルに等しい均一な深さの四部を形成し、これが終
了するとクランプレベルを漸次増加せしめつつ上記の動
作を繰返すものである。
しかしながら、このクランプ倣い制御方式によれば、ク
ランプレベルが増加されるたびに既に加」ニ済みのワー
ク内壁の上部が繰返し加工される(゛ ここにカッタが
繰返し191Qi:される)ため、加工時間に無駄が生
じるだけでなく、カッタが既に加工済みのワーク内壁に
こすられることにより寿命を縮めてしまうと云う問題が
ある。
発明の目的 本発明は上記従来のクランプ倣い制御方式の問題点に鑑
みてなされたものであり、その目的は。
加工時間の無駄とカッタの磨耗を軽減する倣い制御方式
を提供することにある。
発明の(ll)成 上記目的を達成する本発明は、(a)I−レーサヘラ1
−の先端をモデル四部の所定深さのZ軸位置にクランプ
し、 (b)該クランプ状態を保持したままモデル四部
の内壁の全周に沿って輪郭倣いを行いつつ該輪郭倣い径
路上においてX又はY方向の座標が最大及び最小となる
最大点及び最小点の座標を蓄積し、 (C)該輪輪郭い
の終了後前記クランプ状態を保持したままi;」記最大
点又は最小点のうら最寄りのものの内側にトレーサヘッ
ド最大点まで前記クランプ状態を保持したままモデル凹
部の内壁に対してX−Y平面倣いを行い。
(e)該X−Y平面倣いの終了位置からモデル凹部の内
壁に沿ってトレーザヘラドの先端を更に下降せしめて所
定の深さの新たなZ軸位置にクランプし、該新たなりラ
ンプ状態のもとで、上記(b)から(e)までの一連の
動作を、トレーサヘッドの先端が所定の深さになるまで
繰返すように構成されている。
以下2本発明の更に詳細を実施例によって説明する。
発明の実施例 本発明の一実施例が適用される倣い制御装置は、直行3
軸方向のそれぞれについて設けられたサーボモータによ
って3軸方向に駆動される倣い加工機械、その上に装着
されたモデル、1−レーサヘラド、ワーク及びカッタ、
トレーナヘッドから出力された3軸方向の変位量から合
成変位量を作成する変位合成回路、同じく3軸方向の変
位量から変位方向信号を作成する?1す出回1i1’r
 、合成変位Inと基準変位量の差分から一ノ線方向と
法線方向への送り速度を算出゛」−る速度′6!i ’
t’J、 l+jl路、各軸方向の送り速度と変位方向
信号に基づき3軸方向の各サーボモータに駆動信号を分
配する分配回路、各サーボモータの回転角から1−レー
ザヘッドの位置を検出する位置検出器及びカウンタ、各
種の制御データを蓄積するデータメモリ7制御プログラ
ムを?’7ff!するプログラムメモリ、データの入出
力装置、上記各回路及び装置を制御するプロセツサ、こ
のプロセッサに指令を与える1M作パネル及びキーボー
ド並びに各種のA / I)変換、D/A変換回路を備
えた公知のものである。従っ乙その構成及び動作に関す
る更に詳細な説明を省略するが、必要ならば上記特許出
願等を参11((されたい。
第1図は本発明の一実hifi例に43りるモデルやワ
ークの形状及びこれらとスタイラスS′FやカッタCT
の位;6関係を例示する概念図、第2図及び第3図はそ
の制御力法を説明するだめのフローチャー1−である。
以下これらの図を参照しつつ本発明の一実施例を説明す
る。
第1図Aに示すように、平板上に椀状の凹部を有するモ
デル形状を想定し、また同図に示すような直交3軸を想
定する。
倣い制御装置のプロセッサは制御動作を開始すると、第
1図13及び第2図のステップ】に示すように、トレー
ザヘラド(先端のスタイラスSTで代表する)をモデル
凹部上方の適宜な箇所まで移動させた後これを下降させ
るとにより、スタイラスを凹部内の所定深さの位置にク
ランプ(il’bさを固定)する。このクランプが終−
」′ずイ)と、ステップ2において、スタイラスS′F
をモデル四部の内壁に接触するまで−Y方向に送る。こ
の接触が終了すると、ステップ3において、クランプ状
態を保持したまま反時計回り方向に内壁の輪静倣いを行
う。第1図において、矢印を(=t した実線はスタイ
ラスの中心の移動(¥路を示している。上記各ステップ
l乃至3により、ワーク上には第1図Cに示すような加
工ldt跡が描かれる。
上記の輪郭倣いと並行して、ステップ4において、プロ
セソザシ、1輪9旧〕・1のX座標に関する最大値及び
最小値を検出してこれらの値を蓄積する。即ち、ステッ
プ41におい“ζ、スターfラスのX方向の座標位置が
増加し始めた11.1に“1”、減少し始めた時に“0
”が設定されたフラグの内容が検査される。Xが増加中
であるときは、ステップ42において現時点でXが減少
し始めたか否かが?1′す定される。この判定結果が1
′1定的であれば、現時点のX座標(正6(「には1ザ
イクル1111のX座標)がX座標の最大値X max
とし″Cデータメモリ部に蓄積される。同時に、このX
 i’l<標に苅jIL、するY座標もY座標の最大値
Y maxとし゛ζ蓄積される。一方。
Xが減少中であるときは、ステップ45において現時点
でXが増加し始めたか否かが判定される。
この判定結果が11°定的であれば、現時点のX座標(
正確にば1ザイクル前のX座標)がX IJE標の最小
値X minとしてデータメ′むり部に蓄積される。
同時に、このX座標に対応J゛るY 14E標もY I
JE標の最小値Y minとして蓄積される。−」二連
のようにして、最大値又は最小値のWi積が行われたと
きには、それぞれステップ44及び47においU、 X
座標が減少中又は増加中であることを示すためにフラグ
の内容の反転が行われる。
上述の輪郭倣いとX座標の最大、最小値の蓄積は、ステ
ップ5においてスタイラスSTがモデルの内壁に沿って
1周したことが判定されるまで繰返される。1周し終る
と、ステップ6において。
X座標の最大値X max及び最小値X minがそれ
ぞれ所定量αだり小さな値及び大きな値に変更される。
次にステップ7において、スクイラスの現在の位置(X
座標)が上記X座標の最大値X max及び最小値X 
minのどららに近いかが判定される。
現在位置が最大値Xmaχに近かりれば、第1図り及び
第3図のステップ8,9に示ずように、スタイラスは依
然とし゛ζクランプ状状態保ったままX座標の最大点P
n+axから所定量αだり内側の点まで送られる。一方
、現在位置が最小値Xm1nに近かげれば、第3図のス
テップ18.19に示すように、スクイラスは依然とし
てクランプ状態を保ったままX座標の最小点Pm1nか
ら所定量αだけ内側の点まで送らA1.る。
第1図りに示すように、スタ・fラスが最大点Pmax
側に送られたものとすれば、第1図ILに示すように、
第3図の一連のステ・メゾ10乃至17から成るX−Y
平面倣いが行われる。1111ら、まず。
スタイラスS Tがモデル四(+Bの内壁に田触するま
で+Y方向に送られ(ステップ10)、接触後は反時計
回り方1iiJ Lこ所定量輪郭倣いが行われ(ステッ
プ11)、所定■の倣いが終了すると、今度はスタイラ
スがモデル四部の反対側の内壁に接触するまで−Y力力
面送られ(ステップ14)、接吊;後は時計回り方向に
所定量の輪郭倣いが行われた1&(ステップl 5 )
 、1lFIJシーIY方向に送られるという動作が繰
返される。−に記一連のステップ10乃至17から成る
クランプ状態を保ったままのX−Y平面(Mいは、ステ
ン7.■z又は1Gにおいて最小点Pm1nから所定量
αだり内側にスクイラスが移動したことが゛「り定され
るまで繰返される。
ステップ3において輪郭倣いが開始されてからX−Y平
面倣いによっ°Cスタイラスが最小点Pminの内側に
到達するまで、スタイラスの高さは一貫して固定(クラ
ンプ)されているので、この到達時点において、ワーク
の表面には第1図Fに示ずような均−l輩さの凹部が形
成されることになる。
この際、x−y平面倣いは最大点から最小点まで行われ
るので2重複像い箇所を生しることもなく必要な全面を
倣うことができる。
なお、前述のようにステップ7からステップ1Bに移行
した場合にも、既に説明したステップ8からステップ1
7までそれぞれの動作に対応したステップ18からステ
ップ27までの動作が行われる。但し、この場合には、
最小点Pm1nから最大点P maxに向う方向にX−
Y平面倣いが行われる。
このようにし”乙スタイラスが最小点Pmjn又は最大
点P maxの内側に到達すると、ステップ28におい
てこの終了したばかりのX−Y平面倣いが最終回のもの
であるか否かを示すフラグが検査される。最終回のもの
でなければ、ステップ29乃至31からなる一連の制御
ゾ1」ツクに移11シ。
ここにおいζ、これまでのクランプヵ鴨1看され。
スタイラスがX−Z倣いで、IIIbx−z面内でモデ
ル凹部の内壁を倣いながら、所定量だの−Z方向に送ら
れる。この−Zカ向への送りループ内のステップ30に
おいて、スタイラスの高さくZ)が加工の終了位置に達
したこと、即しスタイラスがモデル凹部の底面に接M4
: シたごと又はスタイラスの高さが予めデータとし゛
(’/77積され−ζいる所定値になりたことが判定さ
れると、送り量がこの値にクランプされ、更に)、フー
ソプ32において次回のX−Y平面倣いが最終回のらの
であることを示すフラグが設定されたi&、前)ホし人
ニスう″−ツブ3に移行しめられ、ここから増加されゾ
こクランプ値の下に」二連したと同様のX Y 、l1
iil+i倣いが繰返される。
新たなりランプ値に辻するフ1ンCにスタイラスがモデ
ル底面に接触しなりれば、ステップ3o、31からステ
・7プ3に移行し、この新たなりランプ値の下にX−Y
平面倣いが繰返され、ワークの表面には、第itg+c
に示す、j、・)な、均一な深さを有する新たな凹81
;が形成されるごとになる。最後には、ステップ12,
16.22又は26において終了したばかりのX−Y平
面倣いが最終回のものであることがステップ28で検出
され、ステップ33において全動作が完了する。
上記一連の動作における深さ方向へのクランプ量の間隔
は、モデル凹部の内壁面の勾配、必要な倣い精度等に応
じて適宜な値に設定すればよく。
従ってクランプ量の間隔は各x −y 1Hz面倣いご
とにそれぞれ異なるものであってもよい。
また、上記X−Y平面倣いを所定量の輪郭倣いとY及び
−Y方向への送りとの組合せにより行ったが、これに代
えて、所定量の輪郭倣いとX及び−X方向への送りとの
組合わせにより行ってもよいことは勿論である。
発明の9ノ果 以上詳細に説明したように1本発明は、クランプ量を漸
次増加させつつ各クランプ段階において全周にわたる輪
郭倣いとX−Y平面倣いを行う構成であるから、従来例
のようにワーク上に既に形成されている内壁の上部が各
クランプ1々階において繰返し加工されることがなくな
り、従ゲζ加工時間の無駄やカッタの磨耗が軽j+li
 iきれるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例におりるモデルやワークの形
状及びこれらとスタイラスやカッタの位置関係を例示す
る概念図、第2図及び第3図はその制ga11方法を説
明するためのノII−チャー1−である。 S′F・・スタイラス、にi′・・カッタ。 特許出願人 ファナソク株式会r( 代 理 人 弁理士 カ、犠久五I’、I+1 (外2
名)第1図 A 3

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 トレーサヘッドからの変位信号にJンづき倣い方向、倣
    い速度を算出してモデル四部の倣いを制御する倣い制御
    方式におい°C2 (a)トレーサヘッドの売品1を−eデル凹部の所定深
    さのZ軸位置にクランプし。 (b)該クランプ状態を保持したままモデル凹部ISの
    内壁の全周に沿って輪郭倣いを行いつつ該輪郭倣い1イ
    路上においてX又はY方向の座標が最大及び最小となる
    最大点及び最小点の座を蓄積し。 (C)該輪郭倣いの終了後前記クランプ状態を保持した
    まま前記最大点又は最小点のうし最寄りのものの内側に
    1−レーザヘッドを送り。 (d)該送られた点から反対側の最小点又は最大点まで
    前記クランプ状態を保持したままモデル四部の内壁に対
    してX−Y平面倣いを行い。 (e)該x−Y平面倣いの終了位置からモデル四部の内
    壁に沿ゲi(+−レージ・ヘラ1′の先6):jを更に
    下降せしめ”C所定7A:さの新たなZ軸位置にクラン
    プし。 該新たなりランプ状態のもとで、上記(b)から(e)
    までの一連の動作を、トレージ′へ・ノドの先α1j、
    1が所定の深さになるまで繰返すことを1・h徴とする
    倣い制御方式。
JP58170302A 1983-09-14 1983-09-14 倣い制御方法 Granted JPS6062448A (ja)

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US06/734,262 US4688179A (en) 1983-09-14 1984-09-13 Tracer control system
EP84903449A EP0156920B1 (en) 1983-09-14 1984-09-13 Profiling control method
DE8484903449T DE3481898D1 (de) 1983-09-14 1984-09-13 Verfahren zum regeln der profilierung.
PCT/JP1984/000443 WO1985001234A1 (en) 1983-09-14 1984-09-13 Profiling control method

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JPS6317583B2 JPS6317583B2 (ja) 1988-04-14

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ID=15902445

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EP (1) EP0156920B1 (ja)
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DE (1) DE3481898D1 (ja)
WO (1) WO1985001234A1 (ja)

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WO1985001234A1 (en) 1985-03-28
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EP0156920B1 (en) 1990-04-11
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