JPS6055260A - 超音波測定方法およびその装置 - Google Patents
超音波測定方法およびその装置Info
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- JPS6055260A JPS6055260A JP58162521A JP16252183A JPS6055260A JP S6055260 A JPS6055260 A JP S6055260A JP 58162521 A JP58162521 A JP 58162521A JP 16252183 A JP16252183 A JP 16252183A JP S6055260 A JPS6055260 A JP S6055260A
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- attenuation
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/11—Analysing solids by measuring attenuation of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
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- G01S7/523—Details of pulse systems
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- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
10発明の背景
A、技術分野
本発明は超音波を物体に送信し物体の内部からの反射超
音波を受信して物体内部の音響特性を測定する超音波測
定方法およびその装置の改良に係り、特に物体内部の超
音波伝播による減衰度を近似的に測定し、物体の超音波
減衰に関する情報全提供する超音波測定方法およびその
装置に関する。
音波を受信して物体内部の音響特性を測定する超音波測
定方法およびその装置の改良に係り、特に物体内部の超
音波伝播による減衰度を近似的に測定し、物体の超音波
減衰に関する情報全提供する超音波測定方法およびその
装置に関する。
B、先行技術とその問題点
超音波測定技術は現在金属探傷、魚群探知、医療診断分
野等広範囲にわたって利用されている。中でも、医療用
の超音波断層装置の最近の発展には目をみはるものがあ
る。この装置は原理的には・ぞシスエコー法を用いてお
9、生体内へ送信された超音波パルスが生体内部の音響
インピーダンスの異なる境界で反射する現象を利用して
おシ、この反射波(エコー)を受信していわゆるBモー
ド法による断層像を表示するものである。従ってこのエ
コーには生体内部での超音波の減衰音響インピーダンス
、音速等の様様々情報が含まれているにもかかわらず、
従来の装置ではこれらの各情報が明確に分離されず、た
だエコーの振幅を表示しているにすぎない。
野等広範囲にわたって利用されている。中でも、医療用
の超音波断層装置の最近の発展には目をみはるものがあ
る。この装置は原理的には・ぞシスエコー法を用いてお
9、生体内へ送信された超音波パルスが生体内部の音響
インピーダンスの異なる境界で反射する現象を利用して
おシ、この反射波(エコー)を受信していわゆるBモー
ド法による断層像を表示するものである。従ってこのエ
コーには生体内部での超音波の減衰音響インピーダンス
、音速等の様様々情報が含まれているにもかかわらず、
従来の装置ではこれらの各情報が明確に分離されず、た
だエコーの振幅を表示しているにすぎない。
具体的には生体内の音速を一定と仮定し、生体内の超音
波伝播による減衰は、いわゆるSTC回路(Sensi
tivity Time Control)あるいはT
GC回路(Time Ga1n Control)と呼
ばれる回路によって任意的に補正をしたエコー振幅値を
輝度変調によってブラウン管に断層像として表示してい
るにすぎない。従って得られた断層像は生体内部の音響
インピーダンスの境界面の2次元的分布を定性的に画像
化しているわけであり、必然的に生体組織の位置や形に
関する形態情報がその利用の中心となっている。しかし
生体組織の特性である減衰情報等は、抽出されていない
のが現状である。
波伝播による減衰は、いわゆるSTC回路(Sensi
tivity Time Control)あるいはT
GC回路(Time Ga1n Control)と呼
ばれる回路によって任意的に補正をしたエコー振幅値を
輝度変調によってブラウン管に断層像として表示してい
るにすぎない。従って得られた断層像は生体内部の音響
インピーダンスの境界面の2次元的分布を定性的に画像
化しているわけであり、必然的に生体組織の位置や形に
関する形態情報がその利用の中心となっている。しかし
生体組織の特性である減衰情報等は、抽出されていない
のが現状である。
生体組織の減衰情報を得ようとする試みがいくつか報告
されているが、後で詳しく述べるようにエコー波形には
、生体組織伝播による吸収と音響インピーダンスの異な
る境界での反射強度の2つの情報が含まれておシ、両者
はいずれも未知であシ、厳密にこの2つの影響を分離す
ることは今のところ極めて困難であると言わざるを得な
い。反射強度が超音波の周波数に依存しないと仮定した
場合には、2つ以上の異なる周波数の超音波を送信し、
同一被測定部分についてそのエコーを受信することによ
って、エコーの各周波数成分の音圧比を測定すれば、反
射強度の影響をなくして吸収係数をめることが可能とな
る。このような仮定は超音波の波長に比べて十分大きな
広がシをもつ例えば平面反射板の場合には成立するが、
実際の生体組織では波長程度あるいはそれ以下の散乱体
が存在することが多いので、この仮定は、生体組織全体
について必ずしも成立するとは考えにくい。
されているが、後で詳しく述べるようにエコー波形には
、生体組織伝播による吸収と音響インピーダンスの異な
る境界での反射強度の2つの情報が含まれておシ、両者
はいずれも未知であシ、厳密にこの2つの影響を分離す
ることは今のところ極めて困難であると言わざるを得な
い。反射強度が超音波の周波数に依存しないと仮定した
場合には、2つ以上の異なる周波数の超音波を送信し、
同一被測定部分についてそのエコーを受信することによ
って、エコーの各周波数成分の音圧比を測定すれば、反
射強度の影響をなくして吸収係数をめることが可能とな
る。このような仮定は超音波の波長に比べて十分大きな
広がシをもつ例えば平面反射板の場合には成立するが、
実際の生体組織では波長程度あるいはそれ以下の散乱体
が存在することが多いので、この仮定は、生体組織全体
について必ずしも成立するとは考えにくい。
また生体組織のある部分で、反射強度がほぼ一定である
という仮定をすれば、組織のその部分の前後におけるエ
コー音圧の比はそのまま吸収係数に比例すると考えられ
る。
という仮定をすれば、組織のその部分の前後におけるエ
コー音圧の比はそのまま吸収係数に比例すると考えられ
る。
また反射強度の周波数依存性の関数を仮定し、3つ以上
の複数周波数によって超音波エコーを、同一部分につい
て送受信することによって、エコーの各周波数成分の音
圧から吸収係数をめるという試みも報告されている(特
開昭56−147082)。
の複数周波数によって超音波エコーを、同一部分につい
て送受信することによって、エコーの各周波数成分の音
圧から吸収係数をめるという試みも報告されている(特
開昭56−147082)。
以上のように、いずれの場合も反射強度についである仮
定をし、単数あるいは複数の周波数成分をもつ超音波を
送受信することで吸収係数を分離して測定するという方
法をとっている。
定をし、単数あるいは複数の周波数成分をもつ超音波を
送受信することで吸収係数を分離して測定するという方
法をとっている。
■・ 発明の目的
本発明は、従来技術のようにある仮定を設けて超音波の
吸収と反射ないしは散乱とを分離するのではなく、両者
の複合による生体組織からの相対的減衰情報を得ること
ができる超音波測定方法およびその装置を提供すること
を目的とする。
吸収と反射ないしは散乱とを分離するのではなく、両者
の複合による生体組織からの相対的減衰情報を得ること
ができる超音波測定方法およびその装置を提供すること
を目的とする。
本発明によれば、吸収と反射(散乱)を合わせて、その
生体組織における減衰情報として取シ扱い、少なくとも
極端に大きい反射強度をもつエコー成分を以下に述べる
ような所定の処理によってとシ除いた上で組織のある部
分のエコー振幅の減衰度を測定し、生体組織の減衰情報
を提供する。
生体組織における減衰情報として取シ扱い、少なくとも
極端に大きい反射強度をもつエコー成分を以下に述べる
ような所定の処理によってとシ除いた上で組織のある部
分のエコー振幅の減衰度を測定し、生体組織の減衰情報
を提供する。
本発明によれば、超音波ノ4ルスを被測定物体に送信し
、被測定物体から反射された超音波エコー信号を検出す
ることによってその物体における超音波の減衰度を測定
する超音波測定方法において、この方法は、超音波パル
スを送信後、少なくとも2つの時点における超音波エコ
ー信号の振幅の減少をめる工程と請求めた振幅の減少か
ら前記少なくとも2つの時点に対応する被測定物体の領
域における超音波の減衰度を算出する工程とを含む。
、被測定物体から反射された超音波エコー信号を検出す
ることによってその物体における超音波の減衰度を測定
する超音波測定方法において、この方法は、超音波パル
スを送信後、少なくとも2つの時点における超音波エコ
ー信号の振幅の減少をめる工程と請求めた振幅の減少か
ら前記少なくとも2つの時点に対応する被測定物体の領
域における超音波の減衰度を算出する工程とを含む。
本発明の1つの態様によれば、振幅の減少をめる工程は
、超音波エコー信号を対数圧縮する段階と、対数圧縮さ
れた信号を平滑化する段階と、平滑化された信号を少な
くとも2つの時点について直線近似する段階とを含み、
減衰度を算出する工程は、直線近似によシ得られた直線
の傾斜から少なくとも2つの時点に対応する被測定物体
の領域における超音波の減衰度を算出する。
、超音波エコー信号を対数圧縮する段階と、対数圧縮さ
れた信号を平滑化する段階と、平滑化された信号を少な
くとも2つの時点について直線近似する段階とを含み、
減衰度を算出する工程は、直線近似によシ得られた直線
の傾斜から少なくとも2つの時点に対応する被測定物体
の領域における超音波の減衰度を算出する。
本発明の他の態様によれば、減衰度を算出する工程は、
直線近似における少なくとも2つの時点についてめた信
号を所定の媒質における所定の反射による超音波エコー
信号によって規格化する段階を含み、規格化した信号か
ら減衰度をめる。
直線近似における少なくとも2つの時点についてめた信
号を所定の媒質における所定の反射による超音波エコー
信号によって規格化する段階を含み、規格化した信号か
ら減衰度をめる。
また本発明によれば、超音波パルスを被測定物体に送信
する送信手段と、被測定物体から反射された超音波エコ
ー信号を検出する検出手段とを含み、これによって物体
における超音波の減衰度を測定する超音波測定装置にお
いて、検出手段は、超音波・ぐルスの送信後における少
なくとも2つの時点に対応した被測定物体における領域
を設定する領域設定手段と、超音波エコー信号を蓄積す
る蓄積手段と、演算手段とを含み、演算手段は、蓄積手
段に蓄積されたエコー信号から少なくとも2つの時点に
ついての振幅の減少をめ、このめた振幅の減少から、設
定された領域における超音波の減衰度を算出する。
する送信手段と、被測定物体から反射された超音波エコ
ー信号を検出する検出手段とを含み、これによって物体
における超音波の減衰度を測定する超音波測定装置にお
いて、検出手段は、超音波・ぐルスの送信後における少
なくとも2つの時点に対応した被測定物体における領域
を設定する領域設定手段と、超音波エコー信号を蓄積す
る蓄積手段と、演算手段とを含み、演算手段は、蓄積手
段に蓄積されたエコー信号から少なくとも2つの時点に
ついての振幅の減少をめ、このめた振幅の減少から、設
定された領域における超音波の減衰度を算出する。
本発明の他の態様によれば、検出手段は超音波エコー信
号を対数圧縮する対数増幅器を含み、演算手段は、対数
圧縮された信号を平滑化し、平滑化された信号を前記少
なくとも2つの時点について直線近似し、直線近似によ
p得られた直線の傾斜から前記設定された領域における
超音波の減衰度を算出する。
号を対数圧縮する対数増幅器を含み、演算手段は、対数
圧縮された信号を平滑化し、平滑化された信号を前記少
なくとも2つの時点について直線近似し、直線近似によ
p得られた直線の傾斜から前記設定された領域における
超音波の減衰度を算出する。
本発明の他の態様によれば、演算手段は、直線近似にお
ける少なくとも2つの時点についてめた信号を所定の媒
質における所定の反射による超音波エコー信号によって
規格化し、この本発明の他の態様によれば、検出手段は
、前記求められた減衰度を可視表示する表示手段を含む
。
ける少なくとも2つの時点についてめた信号を所定の媒
質における所定の反射による超音波エコー信号によって
規格化し、この本発明の他の態様によれば、検出手段は
、前記求められた減衰度を可視表示する表示手段を含む
。
本発明の他の態様によれば、演算手段は、超音波・ぞル
スを送信した被測定物体について拒位領域当シの減衰度
を算出し、表示手段は、算出した減衰度km測定物体に
おける分布像として輝度変調により表示する。
スを送信した被測定物体について拒位領域当シの減衰度
を算出し、表示手段は、算出した減衰度km測定物体に
おける分布像として輝度変調により表示する。
本発明の他の態様によれば、検出手段は超音波エコー信
号をSTC補正するSTC補正手段を含み、演算手段は
、超音波・ぐルスを送信した被測定物体について超音波
エコー信号の振幅の減少をめ請求めた振幅の減少と所定
のしベルとの差分をとシ、STC補正手段は、算出した
差分に応じてエコー信号のSTC補正を行なう。
号をSTC補正するSTC補正手段を含み、演算手段は
、超音波・ぐルスを送信した被測定物体について超音波
エコー信号の振幅の減少をめ請求めた振幅の減少と所定
のしベルとの差分をとシ、STC補正手段は、算出した
差分に応じてエコー信号のSTC補正を行なう。
■3発明の詳細な説明および作用
次に添付図面を参照して本発明による超音波測定方法お
よびその装置の実施例を詳細に説明する。
よびその装置の実施例を詳細に説明する。
第1図に示す実施例では、生体14などの被測定物の表
面に設定された電気信号と超音波の相互変換を行なう超
音波トランスジューサ2に送信回路lが接続されて送信
系が構成され、また受信回路3、対数増幅器4、検波回
路5およびSTC回路6によって受信系が構成されてい
る。
面に設定された電気信号と超音波の相互変換を行なう超
音波トランスジューサ2に送信回路lが接続されて送信
系が構成され、また受信回路3、対数増幅器4、検波回
路5およびSTC回路6によって受信系が構成されてい
る。
トランスジー−サ2による走査は走査回路16によって
制御回路8の制御のもとに行左われる。
制御回路8の制御のもとに行左われる。
生体14の内部で反射された超音波エコーはモニタディ
スプレイ7に可視像として表示される。モニタ7に表示
されるのは、本発明に従って算出された、たとえばエコ
ー振幅の減衰度であるが、これは、受信した超音波エコ
ーから2つのメモリ回路9および10を使用して演算回
路11によって得られる。
スプレイ7に可視像として表示される。モニタ7に表示
されるのは、本発明に従って算出された、たとえばエコ
ー振幅の減衰度であるが、これは、受信した超音波エコ
ーから2つのメモリ回路9および10を使用して演算回
路11によって得られる。
本発明の基本的な原理を説明する。第1図において送信
回路1によって超音波トランスジューサ2は所定の駆動
電圧および周波数で駆動され生体14内に超音波tJ?
ルス1フが、第2図のように送信される。このノ9ルス
は生体内を伝播し、散乱体15によって一部が、反射(
散乱)され、再び生体内を伝播し、トランスジー−サ2
に受信エコー18として受信される。一部の超音波・ぞ
ルス18aは、散乱体15を透過しさらに生体の奥へと
伝播して行く。
回路1によって超音波トランスジューサ2は所定の駆動
電圧および周波数で駆動され生体14内に超音波tJ?
ルス1フが、第2図のように送信される。このノ9ルス
は生体内を伝播し、散乱体15によって一部が、反射(
散乱)され、再び生体内を伝播し、トランスジー−サ2
に受信エコー18として受信される。一部の超音波・ぞ
ルス18aは、散乱体15を透過しさらに生体の奥へと
伝播して行く。
反射波18の振幅V(f、x)は次式のように表わされ
る。
る。
但しここでV。(f)は送信波17の振幅fは周波数、
R(f、x)は、生体表面から、距離Xにある散乱体1
50反射強度、α(f、x)は散乱体15と生体表面の
間の組織の収吸係数である。
R(f、x)は、生体表面から、距離Xにある散乱体1
50反射強度、α(f、x)は散乱体15と生体表面の
間の組織の収吸係数である。
(1)式の両辺の自然対数をとり変形をすると次のよう
になる。
になる。
tn[V(f、x)//vo(f))=tn[R(f、
x)] 2F)α(f、x)dx (2)生体の組織の
収吸係数は骨等を除けばほぼ周波数に比例する。すなわ
ちα(f、x)−α(、、)f とおける。従って(2
)式は次のようになる。ただしく1 (、)−f。コ(
x)dxである。
x)] 2F)α(f、x)dx (2)生体の組織の
収吸係数は骨等を除けばほぼ周波数に比例する。すなわ
ちα(f、x)−α(、、)f とおける。従って(2
)式は次のようになる。ただしく1 (、)−f。コ(
x)dxである。
Cm(x)=−7荏[tn[V(f−x)/vo(f)
:l 7n[R(f、x)]) (3)よって反射強度
R(f、x)がめられれば+12(、)が測定できる。
:l 7n[R(f、x)]) (3)よって反射強度
R(f、x)がめられれば+12(、)が測定できる。
しかしながらR(f、x)は未知であシ純粋に(1(、
)を分離してめることは極めて難しい。
)を分離してめることは極めて難しい。
再び(2)式に戻り、それぞれ距離X、+ X2(X□
〉え、)にある2つの散乱体からのエコーV (f *
X 1 ) av(r、x2)について式をたてると
次のようになる。
〉え、)にある2つの散乱体からのエコーV (f *
X 1 ) av(r、x2)について式をたてると
次のようになる。
An(:V(f、x、)/Vo(f)]=tn[:R(
f、x、)、)−2Jl、”(Z(f、x)dx (4
)、i!、n[:V(f、x2)/Vo(f):]=z
n[:R(f、x2)]−2J、”CF(f、x)dx
(5)(4)式と(5)式の差分をとると次のように
なる。
f、x、)、)−2Jl、”(Z(f、x)dx (4
)、i!、n[:V(f、x2)/Vo(f):]=z
n[:R(f、x2)]−2J、”CF(f、x)dx
(5)(4)式と(5)式の差分をとると次のように
なる。
1ncvcf、Xl’)/’(f、x2)]−/−rf
R(f、XIY(f、x2):]+2i”a(t、x)
dx(6)y An(:R(f 、xl)/R(f、x
2))+2(x2−X1%(x) f (7)ここでR
(f、X)に周波数依存性がなければ、すなわちR(f
、りがR(、)であれば、(7)式を周波数で微分する
と47−0より となる。つまシ2つの周波数について差分をとれば(1
(、)は次式で測定できる。
R(f、XIY(f、x2):]+2i”a(t、x)
dx(6)y An(:R(f 、xl)/R(f、x
2))+2(x2−X1%(x) f (7)ここでR
(f、X)に周波数依存性がなければ、すなわちR(f
、りがR(、)であれば、(7)式を周波数で微分する
と47−0より となる。つまシ2つの周波数について差分をとれば(1
(、)は次式で測定できる。
捷たR(f、x、)ThR(f、x2)であれば(7)
式よシ次のように ”yi)=西国CAn (V(f +3CI )/v(
f、X2)))・’ 01d(x)がめられる。しかし
力から前にも述べたように生体組織では一般にR(f、
x)の形で反射強度が与えられるので必ずしも(9)あ
るいは00式によってarx)が測定できるとは言えな
い。
式よシ次のように ”yi)=西国CAn (V(f +3CI )/v(
f、X2)))・’ 01d(x)がめられる。しかし
力から前にも述べたように生体組織では一般にR(f、
x)の形で反射強度が与えられるので必ずしも(9)あ
るいは00式によってarx)が測定できるとは言えな
い。
よって本発明では(6)式を基本式として減衰度β(X
)’を次式のように定義する。
)’を次式のように定義する。
β(dx)==znCv(f、xl)/V(f、x2)
)−ニー (12)(X2’−Xl ) ただしβ(ΔX)はX、からX2までの区間における単
位長さ当りの減衰度である。つまυβ(ΔX)はX、と
X2からのエコー振幅の比の自然対数をとったものtx
+とX2の距離(X2 Xl)で割ったものすなわちエ
コー信号19の減衰度に対応しているわけである。
)−ニー (12)(X2’−Xl ) ただしβ(ΔX)はX、からX2までの区間における単
位長さ当りの減衰度である。つまυβ(ΔX)はX、と
X2からのエコー振幅の比の自然対数をとったものtx
+とX2の距離(X2 Xl)で割ったものすなわちエ
コー信号19の減衰度に対応しているわけである。
ところで現実には、超音波グローブ2から、例えば減衰
の極めて小さい水中に向けて送信された超音波ビームは
、そのプローf2の開口、あるいは、中心周波数によっ
てその音場が変化する。音場は、近似的には、第3口伝
)のようになり、また中心軸上の強度は超音波グローブ
2からの距離Xによって同の)に示すように変化する。
の極めて小さい水中に向けて送信された超音波ビームは
、そのプローf2の開口、あるいは、中心周波数によっ
てその音場が変化する。音場は、近似的には、第3口伝
)のようになり、また中心軸上の強度は超音波グローブ
2からの距離Xによって同の)に示すように変化する。
なお同(B)の縦軸は、最大強度I に対する距離Xに
おける強度を示している。
おける強度を示している。
そこで装置の実用上はこれを較正しておかなければ正し
い測定が行なえない。すなわち、音圧の変動をあらかじ
め標準媒質で測定し、被測定物体からのエコー振幅(音
圧)を標準音圧で割り算し規格化することで、超音波グ
ローブの音場特性の影響を除き、測定された減衰度を、
より普遍的な値とすることが可能となる。
い測定が行なえない。すなわち、音圧の変動をあらかじ
め標準媒質で測定し、被測定物体からのエコー振幅(音
圧)を標準音圧で割り算し規格化することで、超音波グ
ローブの音場特性の影響を除き、測定された減衰度を、
より普遍的な値とすることが可能となる。
標準媒質による測定は次のようにして行なうのが適当で
ある。第4図のように、脱気水100中にたとえばステ
ンレスの完全反射体102を、設け、この完全反射体1
02からのエコー振幅を標準音圧とする。超音波ゾロー
ブ2と完全反射体102の距離を相対的に変化させ、各
距離からのエコー振幅を測定すれば、標準音圧曲線が第
5図のようにめられる。さらに好ましくは第6図のよう
に生体とほぼ同じ減衰特性をもつ例えばひまし油100
aを脱気水100の代わシに、媒質として使用すれば、
減衰により超音波の平均周波数が低くなっていく影響も
除くことが可能となり、より実際的(生体に近い)な標
準音圧曲線を得ることができる。
ある。第4図のように、脱気水100中にたとえばステ
ンレスの完全反射体102を、設け、この完全反射体1
02からのエコー振幅を標準音圧とする。超音波ゾロー
ブ2と完全反射体102の距離を相対的に変化させ、各
距離からのエコー振幅を測定すれば、標準音圧曲線が第
5図のようにめられる。さらに好ましくは第6図のよう
に生体とほぼ同じ減衰特性をもつ例えばひまし油100
aを脱気水100の代わシに、媒質として使用すれば、
減衰により超音波の平均周波数が低くなっていく影響も
除くことが可能となり、より実際的(生体に近い)な標
準音圧曲線を得ることができる。
但しとこで2.注意しなければならない点がいくつかあ
る。1つは完全反射体102の裏面からのエコーと表面
からのエコーが時間的に重複しないように、完全反射体
102の厚さを、選択する必要がある。2つにはひまし
油100aの減衰特性は温度依存性があるので、温度管
理する必要がある。生体の減衰に近づけるためには温度
はほぼ20℃〜30℃の間が適当である。
る。1つは完全反射体102の裏面からのエコーと表面
からのエコーが時間的に重複しないように、完全反射体
102の厚さを、選択する必要がある。2つにはひまし
油100aの減衰特性は温度依存性があるので、温度管
理する必要がある。生体の減衰に近づけるためには温度
はほぼ20℃〜30℃の間が適当である。
実用に適した装置としては、標準音圧曲線をあらかじめ
測定し、装置内に記憶させておくことが有利である。又
再度標準音圧曲線を測定したい場合には、第7図のよう
に階段状の完全反射体102aを有する装置を作成すれ
ばよい。
測定し、装置内に記憶させておくことが有利である。又
再度標準音圧曲線を測定したい場合には、第7図のよう
に階段状の完全反射体102aを有する装置を作成すれ
ばよい。
す女わち超音波グローブ2を走査機構104で水平走査
すると、超音波10−ブ2と反射体102aの反射面と
の距離力S段階的に変化する。
すると、超音波10−ブ2と反射体102aの反射面と
の距離力S段階的に変化する。
そこで完全反射体102aからのエコー振幅を測定し、
順次記憶すれば標準音圧曲線を得ることが可能となる。
順次記憶すれば標準音圧曲線を得ることが可能となる。
以下この減衰度の具体的測定法について述べる。第2図
に戻って、トシンスノユーサ2で受信されたエコー列1
9(第8図)は生体での減衰のため受信時間の経過に伴
って指数関数的に減少していく傾向にある。信号19の
局部的な凹凸は生体組織の音響インピーダンスの異なる
界面からのエコーの大少((関連している。エコー列1
9は受信回路3で増幅され、対数増幅回路4で対数増幅
されると20のような信号となる。この信号20は検波
回路5.で検波さ〕L、同図の21の出力信号を得る。
に戻って、トシンスノユーサ2で受信されたエコー列1
9(第8図)は生体での減衰のため受信時間の経過に伴
って指数関数的に減少していく傾向にある。信号19の
局部的な凹凸は生体組織の音響インピーダンスの異なる
界面からのエコーの大少((関連している。エコー列1
9は受信回路3で増幅され、対数増幅回路4で対数増幅
されると20のような信号となる。この信号20は検波
回路5.で検波さ〕L、同図の21の出力信号を得る。
この信号21は適宜のφ変換回路(図示していない)に
よってディジタル信号に変換され、メモリ回路9にディ
ノタルデータとして入力され、記憶される。
よってディジタル信号に変換され、メモリ回路9にディ
ノタルデータとして入力され、記憶される。
この信号を基に次に述べるような処理を演算回路11で
行うことで減衰度に関する情報を得る。
行うことで減衰度に関する情報を得る。
本実施例では3つの表示モードをとることができる。以
下各表示モードについて詳細説明を、行う。
下各表示モードについて詳細説明を、行う。
第1のモードは従来のBモード像上の指定された2点間
の減衰度を測定し表示するモードである。
の減衰度を測定し表示するモードである。
従来のBモード像は、生体14内の減衰情報が含壕れて
いる信号21をSTC回路6で処理して減衰を補正し、
切替回路12かも直接モニタディスグレイ7上に、輝度
変調像として表示される。しかし本実施例では、後に第
1(−ドとして説明するように、従来のようなオはレー
タの主観的判断でSTC回路6を調整するのではなく、
減衰度に応じたSTC補正を行なっている。
いる信号21をSTC回路6で処理して減衰を補正し、
切替回路12かも直接モニタディスグレイ7上に、輝度
変調像として表示される。しかし本実施例では、後に第
1(−ドとして説明するように、従来のようなオはレー
タの主観的判断でSTC回路6を調整するのではなく、
減衰度に応じたSTC補正を行なっている。
本実施例ではBモード像表示の他に、次のようにして2
点間の減衰度を算出して表示することができる。オペレ
ータは関心領域設定回路13を操作し、モニタ7の表示
画像上において減衰度を測定したい区間(2点間)ある
いは部分を第8図のようにマーカ22で指定する。演算
回路11は、との区間あるいは部分の信号をメモリ回路
9から読み出し、たとえば区間指定の場合には第9図の
フローチャートに従って減衰度を算出し、結果をモニタ
ディスフ0レイ7上に画像とともに表示する。
点間の減衰度を算出して表示することができる。オペレ
ータは関心領域設定回路13を操作し、モニタ7の表示
画像上において減衰度を測定したい区間(2点間)ある
いは部分を第8図のようにマーカ22で指定する。演算
回路11は、との区間あるいは部分の信号をメモリ回路
9から読み出し、たとえば区間指定の場合には第9図の
フローチャートに従って減衰度を算出し、結果をモニタ
ディスフ0レイ7上に画像とともに表示する。
第9図の左側のフローに対応して右側のグラフにその処
理結果が示されている。壕だ、演算回路11の機能ブー
ワクが第16図に示されている。まず、平滑処理部50
ではメモリ9から読み出した受信信号レベルを区間t、
〜1.について平滑化する(200)。後述のように生
体14内の音速C,を一定としているので、指定区間X
1〜Xn は受信信号の時間t1〜tnで表わす仁とが
できる。つぎに平均値算出部52ではこの区間t1〜t
nを単位区間ΔTに分けて各区間の平均値VΔTj を
める(202)。
理結果が示されている。壕だ、演算回路11の機能ブー
ワクが第16図に示されている。まず、平滑処理部50
ではメモリ9から読み出した受信信号レベルを区間t、
〜1.について平滑化する(200)。後述のように生
体14内の音速C,を一定としているので、指定区間X
1〜Xn は受信信号の時間t1〜tnで表わす仁とが
できる。つぎに平均値算出部52ではこの区間t1〜t
nを単位区間ΔTに分けて各区間の平均値VΔTj を
める(202)。
次に、近似直線算出部54はこれらの平均値VΔTiを
1本の近似直線で代表するような傾斜線V=mt技とえ
ば最小自乗法によってめ、この直線においてtlおよび
t における値V(tI)およびV(tn)をめる(2
04)。
1本の近似直線で代表するような傾斜線V=mt技とえ
ば最小自乗法によってめ、この直線においてtlおよび
t における値V(tI)およびV(tn)をめる(2
04)。
そこで、トランスジー−サ2にょる音圧特性を校正する
ため、規格化部56では前述のようにして標準媒質10
0または100aなどでめたtIおよびt2における受
信レベルU (tI )およびU(t2)でV(tI)
およびV(tn)をそれぞれ規格化する(206)。こ
れがV’(tI )およびV’(tn)である。
ため、規格化部56では前述のようにして標準媒質10
0または100aなどでめたtIおよびt2における受
信レベルU (tI )およびU(t2)でV(tI)
およびV(tn)をそれぞれ規格化する(206)。こ
れがV’(tI )およびV’(tn)である。
生体14内の音速C,を一定、たとえばco−1,53
0メ一トル/秒と仮定しているので、区間XI”−Xn
の長さtは指定区間距離算出部58においてCo(tn
−t、)よシ得られる(208)。
0メ一トル/秒と仮定しているので、区間XI”−Xn
の長さtは指定区間距離算出部58においてCo(tn
−t、)よシ得られる(208)。
したがってこの区間X1〜Xn における単位長さ当シ
の減衰度βは減衰度算出部6oにおいてCV’(tI
) V’(tn) 〕/ tなる演算によってめること
かできる(210)。これは前述の00式を実行したこ
とに他ならない。結果の減衰度はたとえば(crn−1
)の次元で表示される。又必要ならばdB換算によって
(dB/cm)として表示してもよい。
の減衰度βは減衰度算出部6oにおいてCV’(tI
) V’(tn) 〕/ tなる演算によってめること
かできる(210)。これは前述の00式を実行したこ
とに他ならない。結果の減衰度はたとえば(crn−1
)の次元で表示される。又必要ならばdB換算によって
(dB/cm)として表示してもよい。
部分指定の場合には超音波の進行に対する横方向につい
ても同様な処理を行う。すなわち、走査毎に平均値V、
(tl)〜v、(tn) 、 v、、(tl)〜なる
演算によって平均値V (tm)をめる。次にとのV(
tm)から区間指定の場合と同様にして傾斜線V=mt
をめ、これにょシ得られたv(t、)およびVCtn)
とこの部分の面積(S)(S = tX−(k−1)・
d、但しdは走査線の間隔)とからこの部分の単位面積
当9の減衰度v(tl) −V(tn) / S−β(
cm−2)を算出する。
ても同様な処理を行う。すなわち、走査毎に平均値V、
(tl)〜v、(tn) 、 v、、(tl)〜なる
演算によって平均値V (tm)をめる。次にとのV(
tm)から区間指定の場合と同様にして傾斜線V=mt
をめ、これにょシ得られたv(t、)およびVCtn)
とこの部分の面積(S)(S = tX−(k−1)・
d、但しdは走査線の間隔)とからこの部分の単位面積
当9の減衰度v(tl) −V(tn) / S−β(
cm−2)を算出する。
第2のモードでは、全画面に対して単位面積当りの減衰
度β=ΔV/ΔSを上記と同様の処理によってめ(第1
0図)、この値をメモリ回路10に入力して記憶させ(
第11図)、次に切替回路12を切り換えて、メモリ回
路lOの内容モニタ7に読み出し、これを従来のBモー
ド像の代わりに減衰度分布像として表示させることがで
きる。乙の分布像は当然、従来のBモード像に比べて空
間分解能はかなシ悪い、モザイク状の像となってしまう
が、表示されている内容としては単位面積内での減衰度
であるので、いわゆるコントラスト分解能の良い像であ
ると考えられる。
度β=ΔV/ΔSを上記と同様の処理によってめ(第1
0図)、この値をメモリ回路10に入力して記憶させ(
第11図)、次に切替回路12を切り換えて、メモリ回
路lOの内容モニタ7に読み出し、これを従来のBモー
ド像の代わりに減衰度分布像として表示させることがで
きる。乙の分布像は当然、従来のBモード像に比べて空
間分解能はかなシ悪い、モザイク状の像となってしまう
が、表示されている内容としては単位面積内での減衰度
であるので、いわゆるコントラスト分解能の良い像であ
ると考えられる。
なお、実際のオペレーションはたとえば次のように行わ
れる。従来のBモード断層像を、観察中に、目的の断層
像が得られたときに通常のいわゆる映像凍結のためのフ
リーズ・スイッチ(図示していない)を操作し画像をメ
モリ回路lO内でフリーズさせる。メモリ回路lOはい
わゆるフリーズメモリであシ、フリーズスイッチに応動
してたとえば1画面の静止画情報を記憶する。これは切
替回路12を通してモニタディスプレイ7に静止画像と
して再生することができる。メモリ回路10に画像がフ
リーズされると、制御回路8はとの画像に対応する信号
21をメモリ回路9に記憶させ、演算回路iiはすでに
、説明した方法で単位面積当pの減衰度を演算し、結果
をメモリ回路lOに記憶する。
れる。従来のBモード断層像を、観察中に、目的の断層
像が得られたときに通常のいわゆる映像凍結のためのフ
リーズ・スイッチ(図示していない)を操作し画像をメ
モリ回路lO内でフリーズさせる。メモリ回路lOはい
わゆるフリーズメモリであシ、フリーズスイッチに応動
してたとえば1画面の静止画情報を記憶する。これは切
替回路12を通してモニタディスプレイ7に静止画像と
して再生することができる。メモリ回路10に画像がフ
リーズされると、制御回路8はとの画像に対応する信号
21をメモリ回路9に記憶させ、演算回路iiはすでに
、説明した方法で単位面積当pの減衰度を演算し、結果
をメモリ回路lOに記憶する。
なお、従来のBモーr像も、同時に記憶させたい場合に
はメモリ回路lOの記憶容量を2画面分とすればよい。
はメモリ回路lOの記憶容量を2画面分とすればよい。
第3のモードは、第2のモードで得られた減衰度をST
C回路6に帰還させ、これに応じて正確なSTC補正を
エコー信号について行なうものである。より詳細には、
第12図に示すように、Bモード像の走査方向yに単位
幅Δyをもった深さ方向Xの斜線部分220の超音波伝
播区間X、IXnの減衰度傾斜Ak(第10図)をST
C補正に使用する。すなわち、第13図に示すように、
まず演算回路11において切替スイッチ62がレベル比
較部64側に接続され、レベル比較部64において端子
66から与えられる所定の基準レベルVrefと減衰度
傾斜Akによる振幅Vとを比較し、その差分ΔV =
Vref −VをX1〜Xnについて計算する。そこで
STC回路6においてこの差分ΔVを、原信号21に加
えてやれば適切にSTQ補正された信号21aがSTC
回路6から出力され、モニタ7に表示される。この基準
レベルVre fは、あらかじめ固定しておいてもよい
し、外部から設定可能にしてもよい。
C回路6に帰還させ、これに応じて正確なSTC補正を
エコー信号について行なうものである。より詳細には、
第12図に示すように、Bモード像の走査方向yに単位
幅Δyをもった深さ方向Xの斜線部分220の超音波伝
播区間X、IXnの減衰度傾斜Ak(第10図)をST
C補正に使用する。すなわち、第13図に示すように、
まず演算回路11において切替スイッチ62がレベル比
較部64側に接続され、レベル比較部64において端子
66から与えられる所定の基準レベルVrefと減衰度
傾斜Akによる振幅Vとを比較し、その差分ΔV =
Vref −VをX1〜Xnについて計算する。そこで
STC回路6においてこの差分ΔVを、原信号21に加
えてやれば適切にSTQ補正された信号21aがSTC
回路6から出力され、モニタ7に表示される。この基準
レベルVre fは、あらかじめ固定しておいてもよい
し、外部から設定可能にしてもよい。
ここで本発明によるSTC補正の優れた点をより明確に
するために従来のSTC補正方式との比較を行う。第1
4図は従来の方式の模式図であるが、xkyxeの区間
に吸収の少ない組織(例えば水がたまっている組織)が
あった場合受信信号のレベルがおまシ変化しない領域2
30が生ずる。そこで、これに点線232で示されたS
TC補正を加えてやるとこのxe以降の部分は、実は、
xk以前の区間と減衰度が同じにもかかわらず、STC
補正後は高い振幅レベルに補正されてしまう。つまり表
示上吸収が小さく、あるいは反射強度が強く表現されて
しまう欠点があった。
するために従来のSTC補正方式との比較を行う。第1
4図は従来の方式の模式図であるが、xkyxeの区間
に吸収の少ない組織(例えば水がたまっている組織)が
あった場合受信信号のレベルがおまシ変化しない領域2
30が生ずる。そこで、これに点線232で示されたS
TC補正を加えてやるとこのxe以降の部分は、実は、
xk以前の区間と減衰度が同じにもかかわらず、STC
補正後は高い振幅レベルに補正されてしまう。つまり表
示上吸収が小さく、あるいは反射強度が強く表現されて
しまう欠点があった。
しかし、第15図のように本発明によるSTC分を補正
する方式なので、xt LJ、降の振幅レベルが不当に
強調されることなく、正確に減衰度の補正ができ、反射
強度の分布をより忠実に表現することが可能である。
する方式なので、xt LJ、降の振幅レベルが不当に
強調されることなく、正確に減衰度の補正ができ、反射
強度の分布をより忠実に表現することが可能である。
々お実施例は・やルスエコー法による超音波測定法であ
るが、リニア電子スキャン、セクタ電子スキャン、メカ
ニカル・セクタ・スキャン。
るが、リニア電子スキャン、セクタ電子スキャン、メカ
ニカル・セクタ・スキャン。
コンパウンドスキャン等の各種スキャン方式に適用でき
ることは言うまでもない。
ることは言うまでもない。
■・発明の具体的効果
以上のように本発明によれば、受信信号の減衰度を演算
することで、従来得られなかった組織における超音波の
減衰度が測定できる。また、Bモード画像における任意
部分の減衰度の測定、画像全体の単位面積毎の減衰度の
分布像、およびこの減衰度によって正確にSTC補正さ
れたBモード像を、得ることができる。したがって従来
のBモード像による生体組織の形態的情報に加えて、従
来のパルスエコー法によるSTC補正前のAモード信号
を処理することで近似的な減衰情報を提供することがで
き、超音波診断がより有用なものとなる。
することで、従来得られなかった組織における超音波の
減衰度が測定できる。また、Bモード画像における任意
部分の減衰度の測定、画像全体の単位面積毎の減衰度の
分布像、およびこの減衰度によって正確にSTC補正さ
れたBモード像を、得ることができる。したがって従来
のBモード像による生体組織の形態的情報に加えて、従
来のパルスエコー法によるSTC補正前のAモード信号
を処理することで近似的な減衰情報を提供することがで
き、超音波診断がより有用なものとなる。
さらに、減衰度と所定の基準レベルとの差分をとり、こ
れに応じて原信号のSTC補正を行なうことで、従来(
比べて正確な減衰補正が実現される。
れに応じて原信号のSTC補正を行なうことで、従来(
比べて正確な減衰補正が実現される。
第1図は本発明による超音波測定方法を実現する装置の
実施例を示すブロック図、 基2図は本発明の原理説明に使用する説明図、第3図な
いし第7図は、第1図の実施例に使用する超音波トラン
スジューサの較正を説明するための説明図、 第8図は本発明の詳細な説明する説明図、第9図は、第
1図に示す実施例の1つの動作モードをそれに対応する
演算のグラフとともに示すフロー図、 第10図ないし第13図は、第1図に示す実施例の他の
動作モードを説明する説明口、第14図および第15図
は本発明の実施例におけるSTC補正の効果を従来の方
式と比較して説明するだめのグラフ、 第16図は第1図の実施例における演算回路の構成例を
示す機能ブロック図である。 主要部分の符号の説明 l・・・送信回路 2・・・超音波トランスジューサ 3・・・受信回路 4・・・対数増幅回路 6・・・検波回路 6・・・370回路 7・・・モニタディスプレイ 8・・・制御回路 9・・・メモリ回路 10・・・メモリ回路 11・・・演算回路 12・・・切替回路 13・・・関心領域設定回路 14・・・生体 l5・・・散乱体 1G・・・走査回路 22・・・マーカ 52・・・平均値算出部 54・・・近似直線算出部 5G・・・規格化部 60・・・減衰度算出部 64・・・レベル比較部 V(f、り・・・反射波の振幅 β(、)・・・減衰度 第2図 第3図 )ランスジ≧−サ2つ”う−計1叡)+(am)第4図 第5図 第6図 第10図 第11図 第12図 第14図 o xkxJ’ 第15図 xk xZ oxkx才
実施例を示すブロック図、 基2図は本発明の原理説明に使用する説明図、第3図な
いし第7図は、第1図の実施例に使用する超音波トラン
スジューサの較正を説明するための説明図、 第8図は本発明の詳細な説明する説明図、第9図は、第
1図に示す実施例の1つの動作モードをそれに対応する
演算のグラフとともに示すフロー図、 第10図ないし第13図は、第1図に示す実施例の他の
動作モードを説明する説明口、第14図および第15図
は本発明の実施例におけるSTC補正の効果を従来の方
式と比較して説明するだめのグラフ、 第16図は第1図の実施例における演算回路の構成例を
示す機能ブロック図である。 主要部分の符号の説明 l・・・送信回路 2・・・超音波トランスジューサ 3・・・受信回路 4・・・対数増幅回路 6・・・検波回路 6・・・370回路 7・・・モニタディスプレイ 8・・・制御回路 9・・・メモリ回路 10・・・メモリ回路 11・・・演算回路 12・・・切替回路 13・・・関心領域設定回路 14・・・生体 l5・・・散乱体 1G・・・走査回路 22・・・マーカ 52・・・平均値算出部 54・・・近似直線算出部 5G・・・規格化部 60・・・減衰度算出部 64・・・レベル比較部 V(f、り・・・反射波の振幅 β(、)・・・減衰度 第2図 第3図 )ランスジ≧−サ2つ”う−計1叡)+(am)第4図 第5図 第6図 第10図 第11図 第12図 第14図 o xkxJ’ 第15図 xk xZ oxkx才
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、超音波・ぐルスを被測定物体に送信し、該被測定物
体から反射された超音波エコー信号を検出することによ
って該物体における超音波の減衰度を測定する超音波測
定方法において、該方法は、 前記超音波パルスを送信後、少なくとも2つの時点にお
ける超音波エコー信号の振幅の減少をめる工程と、 該求めた振幅の減少から、前記少なくとも2つの時点に
対応する前記被測定物体の領域における超音波の減衰度
を算出する工程とを含むことを特徴とする超音波測定方
法。 2、前記振幅の減少をめる工程は、 前記超音波エコー信号を対数圧縮する段階と、該対数圧
縮された信号を平滑化する段階と、該平滑化された信号
を前記少なくとも2つの時点について直線近似する段階
とを含み、前記減衰度を算出する工程は、前記直線近似
によシ得られた直線の傾斜から前記少なくとも2つの時
点に対応する前記被測定物体の領域における超音波の減
衰度を算出することを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の超音波測定方法0 3、前記減衰度を算出する工程は、前記直線近似におけ
る前記少なくとも2つの時点についてめた信号を所定の
媒質における所定の反射による超音波エコー信号によっ
て規格化する段階を含み、該規格化した信号から前記減
衰度をめることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載
の超音波測定方法。 4、超音波・母ルスを被測定物体に送信する送信手段と
、 該被測定物体から反射された超音波エコー信号を検出す
る検出手段とを含み、これによって該物体における超音
波の減衰度を測定する超音波測定装置において、該検出
手段は、 前記超音波・ぐルスの送信後における少なくとも2つの
時点に対応した前記被測定物体における領域を設定する
領域設定手段と、 前記超音波エコー信号を蓄積する蓄積手段と、演算手段
とを含み、 該演算手段は、前記蓄積手段に蓄積されたエコー信号か
ら前記少なくとも2つの時点についての振幅の減少をめ
、該求めた振幅の減少から、前記設定された領域におけ
る超音波の減衰度を算出することを特徴とする超音波測
定装置。 5、前記検出手段は、前記超音波エコー信号を対数圧縮
する対数増幅器を含み、 前記演算手段は、該対数圧縮された信号を平滑化し、該
平滑化された信号を前記少なくとも2つの時点について
直線近似し、該直線近似により得られた直線の傾斜から
前記設定された領域における超音波の減衰度を算出する
ことを特徴とする特許請求の範囲第4項記載の超音波測
定装置。 6、前記演算手段は、前記直線近似におけるを所定の媒
質における所定の反射による超音波エコー信号によって
規格化し、該規格化した信号から前記減衰度をめること
を特徴とする特許請求の範囲第5項記載の超音波測定装
置。 7、 前記検出手段は、前記求められた減衰度を可視表
示する表示手段を含むこと全特徴とする特許請求の範囲
第6項記載の超音波測定装置。 8 前記演算手段は、前記超音波・ぐルスを送信した被
測定物体について単位領域当シの減衰度を算出し、 前記表示手段は、該算出した減衰度を前記被測定物体に
おける分布像として輝度変調により表示することを特徴
とする特許請求の範囲第7項記載の超音波測定装置。 9、 前記検出手段は前記超音波エコー信号をSTC補
正するSTC補正手段を含み、前記演算手段は、前記超
音波・ぞルスを送信した被測定物体につbて前記超音波
エフ−信号の振幅の減少をめ、該求めた振幅の減少と所
定のレベルとの差分をとシ、 前記STC補正手段は、該算出した差分に応じて前記エ
コー信号のS’!’C補正を行なうことを特徴とする特
許請求の範囲第7項記載の超音波測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58162521A JPS6055260A (ja) | 1983-09-06 | 1983-09-06 | 超音波測定方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58162521A JPS6055260A (ja) | 1983-09-06 | 1983-09-06 | 超音波測定方法およびその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6055260A true JPS6055260A (ja) | 1985-03-30 |
JPH0478298B2 JPH0478298B2 (ja) | 1992-12-10 |
Family
ID=15756199
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58162521A Granted JPS6055260A (ja) | 1983-09-06 | 1983-09-06 | 超音波測定方法およびその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6055260A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016195748A (ja) * | 2015-04-06 | 2016-11-24 | 国立大学法人 熊本大学 | 診断装置及び診断方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4938490A (ja) * | 1972-08-16 | 1974-04-10 | ||
JPS56147082A (en) * | 1980-04-17 | 1981-11-14 | Yoshinori Hayakawa | Method and device for quantitative ultrasonic inspection using plural frequencies |
JPS6036038A (ja) * | 1983-08-08 | 1985-02-25 | アロカ株式会社 | 超音波診断装置 |
-
1983
- 1983-09-06 JP JP58162521A patent/JPS6055260A/ja active Granted
Patent Citations (3)
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