JPS604845A - フレ−ムレス原子化装置 - Google Patents

フレ−ムレス原子化装置

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JPS604845A
JPS604845A JP11256483A JP11256483A JPS604845A JP S604845 A JPS604845 A JP S604845A JP 11256483 A JP11256483 A JP 11256483A JP 11256483 A JP11256483 A JP 11256483A JP S604845 A JPS604845 A JP S604845A
Authority
JP
Japan
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container
specimen
high frequency
coil
frequency power
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Pending
Application number
JP11256483A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshito Funato
船渡　好人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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Publication date
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Publication of JPS604845A publication Critical patent/JPS604845A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
    • G01N21/74—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using flameless atomising, e.g. graphite furnaces

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  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本発明は、原子吸光分析に使用する原子化装置に関する
。
（ロ）従来技術 従来、フレームレス原子化装置は、グラファイトにより
作られた管体に大電流を流して３０００　’Ｏ近い温度
に発熱させ、この熱エネルギーで試料を原子化していた
が、管体の比抵抗分布が不均一なため加熱ムラが生じて
感度の低下や、高温状態の管体と試料が接触して管体の
消耗が激しいという問題があった。
（ハ）発明のｌ」的 本発明は、このような問題に鑑み、検出感度が高く、し
かも炉体の消耗を抑えることができる新規な原子化装置
を提供することを目的とする。
（ニ）発明の構成 ）ｒ：、発明の特徴とするところは、試料に高周波エネ
ルギーを作用させて試料を直接原子化するようにした点
にある。
（ホ）実施例 そこで、以下に本発明の詳細を図示した実施例に基づい
て説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示す装置の斜視断面図で
あって、周面に通気孔１．１・・・・を穿設したグラフ
ァイト製チューブからなる試料容器２の外周に数十ＭＨ
ｚの高周波電源３に接続した数ターンの高周波コイル４
を配設し、外周をグラファイト製チューブ５により囲繞
して構成されている。なお、図中符号６は、試料容器支
持台を、７は、高周波コイル４と高周波電源３を接続す
るブッシングをそれぞれ示している。
この実施例において、試料容器２にサンプルを入れて原
子吸光分析装置に接続し、高周波コイル４に高周波電力
を供給すると、容器２内のサンプルは、その拡散状態に
かかわりなく高周波電磁界の作用を万遍なく受けて均一
に高周波加熱されて原子化し、分析装置により高い感度
で検出される。他方、試料容器２自体は、表皮効果によ
り高周波電磁界の作用を受けず、昇温することはない。
（へ）効果 以」二、説明したように本発明によれば、試料容器内の
サンプルを高周波電力により直接に加熱するようにした
ので、試料容器の比抵抗分布やサンプルの拡散状態の如
何にかかわりなく常に一定の条件により原子化でき、サ
ンプルを高い感度により安定に分析することができるば
かりでなく、サンプルだけを加熱でき、試料容器の醇化
腐食を防止して試ネ；ｌ容器の消耗を抑えることができ
る。
【図面の簡単な説明】
図は、本発明の一実施例を示す装置の刺視断面■・・・
・通気口　２・・・・試料容器３・・・・高周波電源　
４・・・・高周波コイル出願人　株式会社　島津製作所 代理人　弁理士　西　川　慶　治 同　木　村　勝　彦

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 両端に検出手段が接続される試料容器の外周に高周波コ
    イルを配Ｊジし、該コイルに高周波電源からの高周波電
    力を供給してなるフレームレス原子化装置。
JP11256483A 1983-06-22 1983-06-22 フレ−ムレス原子化装置 Pending JPS604845A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61161750U (ja) * 1985-03-29 1986-10-07

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4885293A (ja) * 1972-02-17 1973-11-12
JPS53121677A (en) * 1977-01-20 1978-10-24 Philips Nv Cuvettes

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