JPS6045724B2 - タ−ビン制御系の試験方法 - Google Patents
タ−ビン制御系の試験方法Info
- Publication number
- JPS6045724B2 JPS6045724B2 JP53144106A JP14410678A JPS6045724B2 JP S6045724 B2 JPS6045724 B2 JP S6045724B2 JP 53144106 A JP53144106 A JP 53144106A JP 14410678 A JP14410678 A JP 14410678A JP S6045724 B2 JPS6045724 B2 JP S6045724B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- turbine
- test
- gain
- backlash
- motor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Control Of Turbines (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は蒸気タービンの蒸気流量制御弁を制御すること
により、タービン回転数または発電機出力を制御するタ
ービン制御系の試験方法に関する。
により、タービン回転数または発電機出力を制御するタ
ービン制御系の試験方法に関する。
第１図はタービンバイパス弁によるタービン回転数の制
御ブロック図の一例を示している。
御ブロック図の一例を示している。
目標回転数Ｎｏ及ひ目標加速率α。は制御演算回路１に
与えられ、その制御演算回路１では実際のタービン回転
数Ｎとタービンバイパス弁開度（揚程）θとをフィード
バックしバイパス弁の必要な揚程変化量Δθを算出し変
調器２に伝達しここでバイパス弁モータ（６５ＢＭ）を
駆動する電気信号ａに変換する。これによりバイパス弁
モータ（６山Ｍ）３は信号に応じた動きをする。
与えられ、その制御演算回路１では実際のタービン回転
数Ｎとタービンバイパス弁開度（揚程）θとをフィード
バックしバイパス弁の必要な揚程変化量Δθを算出し変
調器２に伝達しここでバイパス弁モータ（６５ＢＭ）を
駆動する電気信号ａに変換する。これによりバイパス弁
モータ（６山Ｍ）３は信号に応じた動きをする。
そのモータの回転量ｍは油圧機構４によつてバイパス弁
の揚程θとして表われる。ここではタービン回転数Ｎを
タービンバイパス弁で制御する例を述べたが、タービン
バイパス弁による発電機出力を制御する場合も同様な制
御が行なわれる。又、加減弁によつてタービン回転数Ｎ
および発電機出力を制御する場合も、モータ（６５Ｍ又
は７７Ｍ）を用い、油圧機構により増巾し実際の加減弁
を制御している。この様な制御系において、モータ３及
びモータ駆動回路の特性と力の伝達機構であるウォーム
ギヤ及び油圧ピストンの機構のバックラッシュが経年的
に又、定期点検時の調整等により当初設定した値と違つ
てきて、思わぬ制御不良を招いていることが多々ある。
の揚程θとして表われる。ここではタービン回転数Ｎを
タービンバイパス弁で制御する例を述べたが、タービン
バイパス弁による発電機出力を制御する場合も同様な制
御が行なわれる。又、加減弁によつてタービン回転数Ｎ
および発電機出力を制御する場合も、モータ（６５Ｍ又
は７７Ｍ）を用い、油圧機構により増巾し実際の加減弁
を制御している。この様な制御系において、モータ３及
びモータ駆動回路の特性と力の伝達機構であるウォーム
ギヤ及び油圧ピストンの機構のバックラッシュが経年的
に又、定期点検時の調整等により当初設定した値と違つ
てきて、思わぬ制御不良を招いていることが多々ある。
それで現状は定検毎、又長期間の停止後には、必ずこれ
らの特性試験を行い、前回の設定値に調整している。そ
の為これらの調整試験の出来る技術者を派遣したり、又
は養成しておく必要がある。本発明はかかるタービン制
御系の試験を円滑に行なうことができる試験方法を得る
ことを目的と’する。
らの特性試験を行い、前回の設定値に調整している。そ
の為これらの調整試験の出来る技術者を派遣したり、又
は養成しておく必要がある。本発明はかかるタービン制
御系の試験を円滑に行なうことができる試験方法を得る
ことを目的と’する。
以下図面に示す実施例を参照して説明する。
第２図は第１図のタービンバイパス弁によるタービン回
転数制御方法に適用した本発明の実施例を示しており、
図から明らかな様に試験設定及び定数・決定を行なう回
路（以下試験演算回路と言う）６が付加されている。ま
ず試験の要求Ｓが試験演算回路６に与えられると制御装
置に対する制御ブロック信号５、が送られ、制御装置か
らの信号Δθが変調器２に入力されない様にする。試験
演算回路６から制御系のモータ駆動回路及びモータのゲ
インを測定するための試験信号及びモータのトルク伝達
機構であるウォームギヤ及び油圧機構のバックラッシュ
を測定する試験信号Ｓ２が変調器２を介して伝達され、
そのフィードバック信号のバイパス弁の揚程０が試験演
算回路６に帰還される。試験信号Ｓ２とフィードバック
信号θから容易に上記のゲイン及びバックラッシュが測
定出来る。当然これらの試験機能はプラントが停止して
おり、ボイラからの蒸気はタービン迄は来ていないか、
又はバイパス弁系統の試験を行なう時はタービンバイパ
ス弁の後にある加減弁を全閉にし、又逆に加減弁系統の
試験を行う時には加減弁の前段にあるタービン主塞止弁
及びバイパス弁を全閉して行う訳でその確認を行う機能
も含まれている。しかし、リークその他で実際に蒸気タ
ービンが動くこともあり得るので、タービン回転数Ｎを
、試験演算回路６にフィードバックして監視している。
もしタービン回転数Ｎに変化があればタービンバイパス
弁を全閉するための全閉信号Ｓ３を変調器３を経由し伝
達しバイパス弁を全閉する。一方測定されたゲイン及び
バックラッシュは前回との比較を行い更に得られた値の
妥当性をチェックし、問題なければゲイン及びバックラ
ッシュの設定変更Ｓ４，Ｓ５を制御系に対して行なう。
ゲイン及びバックラッシュが前回と著しく違う時又は許
容値以上ある時は異常信号Ｓ６を出し警報器７へ伝達し
異常を知られる。第３図は上記試験演算回路６の動作シ
ーケンスのブロック図である。
転数制御方法に適用した本発明の実施例を示しており、
図から明らかな様に試験設定及び定数・決定を行なう回
路（以下試験演算回路と言う）６が付加されている。ま
ず試験の要求Ｓが試験演算回路６に与えられると制御装
置に対する制御ブロック信号５、が送られ、制御装置か
らの信号Δθが変調器２に入力されない様にする。試験
演算回路６から制御系のモータ駆動回路及びモータのゲ
インを測定するための試験信号及びモータのトルク伝達
機構であるウォームギヤ及び油圧機構のバックラッシュ
を測定する試験信号Ｓ２が変調器２を介して伝達され、
そのフィードバック信号のバイパス弁の揚程０が試験演
算回路６に帰還される。試験信号Ｓ２とフィードバック
信号θから容易に上記のゲイン及びバックラッシュが測
定出来る。当然これらの試験機能はプラントが停止して
おり、ボイラからの蒸気はタービン迄は来ていないか、
又はバイパス弁系統の試験を行なう時はタービンバイパ
ス弁の後にある加減弁を全閉にし、又逆に加減弁系統の
試験を行う時には加減弁の前段にあるタービン主塞止弁
及びバイパス弁を全閉して行う訳でその確認を行う機能
も含まれている。しかし、リークその他で実際に蒸気タ
ービンが動くこともあり得るので、タービン回転数Ｎを
、試験演算回路６にフィードバックして監視している。
もしタービン回転数Ｎに変化があればタービンバイパス
弁を全閉するための全閉信号Ｓ３を変調器３を経由し伝
達しバイパス弁を全閉する。一方測定されたゲイン及び
バックラッシュは前回との比較を行い更に得られた値の
妥当性をチェックし、問題なければゲイン及びバックラ
ッシュの設定変更Ｓ４，Ｓ５を制御系に対して行なう。
ゲイン及びバックラッシュが前回と著しく違う時又は許
容値以上ある時は異常信号Ｓ６を出し警報器７へ伝達し
異常を知られる。第３図は上記試験演算回路６の動作シ
ーケンスのブロック図である。
又、第４図はバツクラツシ．ユを測定し決定する動作シ
ーケンスの概略フローである。第５図はゲインを測定す
るための動作シーケンスの概略フローである。第３図の
試験演算回路６の動作シーケンスは、試験演算回路動作
チェック部８とバックラッシュ試験部９とゲイン試！験
部１０とからなる。試験演算回路動作チェック部８は試
験要求の有る事と試験が行なえる状態にある事をチェッ
クし、どちらも各件を満たした時に、以下のバックラッ
シュ試験部９とゲイン試験部１０の実行を行う。バック
ラッシュ試験部９は４バックラッシュの計測を行うため
に、試験信号Ｓ２を変調器２に出力し、バイパス弁の揚
程を、フィードバック信号０として入力しバックラッシ
ュの計測計算を行う。バックラッシュの計測計算が完了
すると、計測結果が前回に較べて規定値以上差があるか
のリーズナブルチェックを行ない、前回と蓄しく異なる
場合は警報を出力する。
ーケンスの概略フローである。第５図はゲインを測定す
るための動作シーケンスの概略フローである。第３図の
試験演算回路６の動作シーケンスは、試験演算回路動作
チェック部８とバックラッシュ試験部９とゲイン試！験
部１０とからなる。試験演算回路動作チェック部８は試
験要求の有る事と試験が行なえる状態にある事をチェッ
クし、どちらも各件を満たした時に、以下のバックラッ
シュ試験部９とゲイン試験部１０の実行を行う。バック
ラッシュ試験部９は４バックラッシュの計測を行うため
に、試験信号Ｓ２を変調器２に出力し、バイパス弁の揚
程を、フィードバック信号０として入力しバックラッシ
ュの計測計算を行う。バックラッシュの計測計算が完了
すると、計測結果が前回に較べて規定値以上差があるか
のリーズナブルチェックを行ない、前回と蓄しく異なる
場合は警報を出力する。
又、計測結果が前回に較べて規定値以内の時は、第２図
の制御演算回路１内のバックラッシュの設定値を計測結
果に設定変更し変更内容の表示を行なう。ゲイン試験部
１０はモータ及びモータ駆動回路部のゲインの計測を行
うため、試験信号変調器２）に出力し、バイパス弁の揚
程をフィードバック信号θとして入力し、ゲインの計測
計算を行う。
の制御演算回路１内のバックラッシュの設定値を計測結
果に設定変更し変更内容の表示を行なう。ゲイン試験部
１０はモータ及びモータ駆動回路部のゲインの計測を行
うため、試験信号変調器２）に出力し、バイパス弁の揚
程をフィードバック信号θとして入力し、ゲインの計測
計算を行う。
ゲインの計測計算が完了すると、計測結果が前回に較べ
て規定値以上差があるかのリーゾナブルチエツクを行な
い、前回と著しく異なる場合は警報を・出力する。又、
計測結果が前回に較べて規定値以内の時は、第２図の制
御演算回路１内のゲイン設定値を計測結果に設定変更し
変更内容の表示を行う。第４図のバックラッシュを測定
し決定する動作シーケンスは、第２図の変調器２に対し
て出力を行うバックラッシュ試験信号出力部１１とバッ
クラッシュ計測計算部１３とタービン回転数監視部１２
とからなる。
て規定値以上差があるかのリーゾナブルチエツクを行な
い、前回と著しく異なる場合は警報を・出力する。又、
計測結果が前回に較べて規定値以内の時は、第２図の制
御演算回路１内のゲイン設定値を計測結果に設定変更し
変更内容の表示を行う。第４図のバックラッシュを測定
し決定する動作シーケンスは、第２図の変調器２に対し
て出力を行うバックラッシュ試験信号出力部１１とバッ
クラッシュ計測計算部１３とタービン回転数監視部１２
とからなる。
バックラッシュ試験信号出力部１１はプログラム変数１
Ｎｊ．．ｋ及びプログラム定数Ｍ．．ｎを用いてモータ
駆動に対する駆動方向、駆動速度を決定し、バックラッ
シュ試験信号を出力する。尚、前記プログラム変数１は
駆動速度を切替える為に用い、プログラム変数ｊはｊ＝
０の時、開方向のバックラッシュ計測、ｊ＝１の時閉方
向のバックラッシュ計測を行う事を示す。
Ｎｊ．．ｋ及びプログラム定数Ｍ．．ｎを用いてモータ
駆動に対する駆動方向、駆動速度を決定し、バックラッ
シュ試験信号を出力する。尚、前記プログラム変数１は
駆動速度を切替える為に用い、プログラム変数ｊはｊ＝
０の時、開方向のバックラッシュ計測、ｊ＝１の時閉方
向のバックラッシュ計測を行う事を示す。
プログラム変数ｋは１回のバックラッシュ計測にて出力
する駆動信号数をカウントすると共に駆動方向を切替え
る為に用いる。又、前記プログラム定数ｍは１回のバッ
クラッシュ計測にて出力する駆動信号数を設定しプログ
ラム定数ｎはバックラッシュを計測する際の駆動速度の
種類の数を設定している。閉方向のバックラッシュ試験
信号出力例としては、初期開度に設定→開方向の駆動→
開方向の駆動開閉方向の駆動→閉方向の駆動の様になる
。バックラッシュ計測計算部１３は前記バックラッシュ
試験信号出力部１１により試験信号が出力される毎にバ
イパス弁揚程のフィードバック信号を計測する。試験信
号の出力操作が完了すると、バックラッシュの計算を行
なう。バックラッシュ値ＢＲＵＳＨｉｊの計算は、開方
向のバイパス弁揚程移動量と、閉方向のバイパス弁揚程
移動量の差を「バイパス弁を１秒駆動すると移動するバ
イパス弁揚程量」Ｔ１で割り求める。又、閉方向のバッ
クラッシュ値と開方向のバックラッシュ値の平均を求め
バックラッシュ平均値ＢＲＵＳＨｉも求める。タービン
回転数監視部１２は前記バックラッシュ測定信号出力部
１１により試験信号が出力される毎に、タービン回転数
を入力し、リークその他で実際に蒸気タービンの回転数
が上昇した場合は警報を出力すると共に蒸気流量制御弁
を急速て全閉し、機器の損傷を防ぐ為にある。第５図の
ゲインを測定するための動作シーケンスは、第２図の変
調器２に対して出力を行うゲイン試験信号出力部１４と
ゲイン計測計算部１５とタービン回転数監視部１２とか
らなる。
する駆動信号数をカウントすると共に駆動方向を切替え
る為に用いる。又、前記プログラム定数ｍは１回のバッ
クラッシュ計測にて出力する駆動信号数を設定しプログ
ラム定数ｎはバックラッシュを計測する際の駆動速度の
種類の数を設定している。閉方向のバックラッシュ試験
信号出力例としては、初期開度に設定→開方向の駆動→
開方向の駆動開閉方向の駆動→閉方向の駆動の様になる
。バックラッシュ計測計算部１３は前記バックラッシュ
試験信号出力部１１により試験信号が出力される毎にバ
イパス弁揚程のフィードバック信号を計測する。試験信
号の出力操作が完了すると、バックラッシュの計算を行
なう。バックラッシュ値ＢＲＵＳＨｉｊの計算は、開方
向のバイパス弁揚程移動量と、閉方向のバイパス弁揚程
移動量の差を「バイパス弁を１秒駆動すると移動するバ
イパス弁揚程量」Ｔ１で割り求める。又、閉方向のバッ
クラッシュ値と開方向のバックラッシュ値の平均を求め
バックラッシュ平均値ＢＲＵＳＨｉも求める。タービン
回転数監視部１２は前記バックラッシュ測定信号出力部
１１により試験信号が出力される毎に、タービン回転数
を入力し、リークその他で実際に蒸気タービンの回転数
が上昇した場合は警報を出力すると共に蒸気流量制御弁
を急速て全閉し、機器の損傷を防ぐ為にある。第５図の
ゲインを測定するための動作シーケンスは、第２図の変
調器２に対して出力を行うゲイン試験信号出力部１４と
ゲイン計測計算部１５とタービン回転数監視部１２とか
らなる。
ゲイン試験信号出力部１４は、プログラム変数１，．ｊ
．．ｋ及びプログラム定数Ｍ，．ｎ．．ｌを用いてモー
タの駆動方向、駆動速度を決定しゲイン試験信号を出力
する。尚、前記プログラム変数１は駆動速度を切替える
為に用い、プログラム変数ｊはゲイン測定の繰返しカウ
ンタとして用いる。プログラム変数ｋは１回のゲイン計
測にて出力する駆動信号をカウントすると共に、駆動方
向の切替える為に用いる。又、プログラム定数ｍは、１
回のゲイン計測にて出力する駆動信号数を設定し、プロ
グラム定数ｎは一種類の駆動速度におけるゲイン計測の
繰返し回数を設定している。プログラム定数１はゲイン
計測を行う際の駆動速度の種類の数を設定している。例
えば、１回のゲイン計測の出力形式は、初期開度設定一
閉方向の駆動をｗ回出カー開方向の駆動をｗ回出力の様
になる。
．．ｋ及びプログラム定数Ｍ，．ｎ．．ｌを用いてモー
タの駆動方向、駆動速度を決定しゲイン試験信号を出力
する。尚、前記プログラム変数１は駆動速度を切替える
為に用い、プログラム変数ｊはゲイン測定の繰返しカウ
ンタとして用いる。プログラム変数ｋは１回のゲイン計
測にて出力する駆動信号をカウントすると共に、駆動方
向の切替える為に用いる。又、プログラム定数ｍは、１
回のゲイン計測にて出力する駆動信号数を設定し、プロ
グラム定数ｎは一種類の駆動速度におけるゲイン計測の
繰返し回数を設定している。プログラム定数１はゲイン
計測を行う際の駆動速度の種類の数を設定している。例
えば、１回のゲイン計測の出力形式は、初期開度設定一
閉方向の駆動をｗ回出カー開方向の駆動をｗ回出力の様
になる。
ゲイン計測計算部１５は前記ゲイン試験信号出力部１４
により試験信号が出力される毎に、バイパス弁揚程のフ
ィードバック信号を計測する。出力操作が完了するとゲ
インの計算を行う。ゲイン計算は、閉方向のゲインＭＧ
Ａｉｊと開方向のゲインＭＧＢｉｊと開●閉の平均ゲイ
ンＭＧｉｊと開閉の平りゲインＭＧｉｊをｎ回繰返して
平均をとつた駆動速度１における開閉の平均ゲインＭＧ
ｉを計算する。タービン回転数監視部１２は、前記ゲイ
ン試験信号出力部１４により試験信号が出力される毎に
、タービン回転数を入力し、リークその他で実際に蒸気
タービンの回転数が上昇した楊合、警報を出力すると共
に、蒸気流量制御弁を急速に全閉し機器の損傷を防ぐた
めにある。
により試験信号が出力される毎に、バイパス弁揚程のフ
ィードバック信号を計測する。出力操作が完了するとゲ
インの計算を行う。ゲイン計算は、閉方向のゲインＭＧ
Ａｉｊと開方向のゲインＭＧＢｉｊと開●閉の平均ゲイ
ンＭＧｉｊと開閉の平りゲインＭＧｉｊをｎ回繰返して
平均をとつた駆動速度１における開閉の平均ゲインＭＧ
ｉを計算する。タービン回転数監視部１２は、前記ゲイ
ン試験信号出力部１４により試験信号が出力される毎に
、タービン回転数を入力し、リークその他で実際に蒸気
タービンの回転数が上昇した楊合、警報を出力すると共
に、蒸気流量制御弁を急速に全閉し機器の損傷を防ぐた
めにある。
ここては、タービンバイパス弁によるタービン回転数制
御装置への適用例で説明したが、当然タービン加減弁に
よる回転数、負荷制御装置への適用も同じである。本発
明により、従来手動にていちいち測定し、調整していた
ものを、自動的にかつ安全に確実に行え、制御装置の一
部を使用するので全体制御系の事前確認も合せて行うこ
とが出来る。更にデータの設定で特殊技術者の必要もな
い。図面の簡単な説明第１図は従来のタービンバイパス
弁を用いたタービン回転数制御系のブロック図、第２図
は本発明のゲイン及びバックラッシュの試験、測定機能
を付加したタービン回転数制御系のブロック図、ノ第３
図は上記試験演算回路の動作ブロック図、第４図はバッ
クラッシュを測定する動作シーケンスのフロー、第５図
はゲイン測定のための動作シーケンスのフローである。
御装置への適用例で説明したが、当然タービン加減弁に
よる回転数、負荷制御装置への適用も同じである。本発
明により、従来手動にていちいち測定し、調整していた
ものを、自動的にかつ安全に確実に行え、制御装置の一
部を使用するので全体制御系の事前確認も合せて行うこ
とが出来る。更にデータの設定で特殊技術者の必要もな
い。図面の簡単な説明第１図は従来のタービンバイパス
弁を用いたタービン回転数制御系のブロック図、第２図
は本発明のゲイン及びバックラッシュの試験、測定機能
を付加したタービン回転数制御系のブロック図、ノ第３
図は上記試験演算回路の動作ブロック図、第４図はバッ
クラッシュを測定する動作シーケンスのフロー、第５図
はゲイン測定のための動作シーケンスのフローである。
１・・・・・・制御演算回路、２・・・・・・変調器、
３・・・・・・バ７イパス弁モータ、４・・・・・・油
圧機構、５・・・・・・蒸気タービン、６・・・・・・
試験演算回路、７・・・・・・警報器。
３・・・・・・バ７イパス弁モータ、４・・・・・・油
圧機構、５・・・・・・蒸気タービン、６・・・・・・
試験演算回路、７・・・・・・警報器。
Claims (1)
- １ 蒸気流量制御弁の揚程をフィードバックし、タービ
ン油圧制御機構のモータの回転角により前記蒸気流量制
御弁を制御する電子計算機によるタービン直接制御系に
おいて、前記モータの駆動回路に試験演算回路より試験
信号を与え、この試験信号により動作した蒸気流量弁の
揚程をフィードバックし、このフィードバック信号に基
いて前記モータ駆動回路と前記モータのゲインおよび前
記モータの回転角の伝達機構のバックラッシュを測定し
、それらの測定値が正常であるかどうかを判断するター
ビン制御系の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53144106A JPS6045724B2 (ja) | 1978-11-24 | 1978-11-24 | タ−ビン制御系の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53144106A JPS6045724B2 (ja) | 1978-11-24 | 1978-11-24 | タ−ビン制御系の試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5572609A JPS5572609A (en) | 1980-05-31 |
| JPS6045724B2 true JPS6045724B2 (ja) | 1985-10-11 |
Family
ID=15354318
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53144106A Expired JPS6045724B2 (ja) | 1978-11-24 | 1978-11-24 | タ−ビン制御系の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6045724B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61188613U (ja) * | 1985-05-17 | 1986-11-25 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0755603Y2 (ja) * | 1986-03-18 | 1995-12-20 | ソニー株式会社 | 光ディスク装置のサーボ利得測定装置 |
-
1978
- 1978-11-24 JP JP53144106A patent/JPS6045724B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61188613U (ja) * | 1985-05-17 | 1986-11-25 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5572609A (en) | 1980-05-31 |
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