JPS6044633B2 - シンチレ−シヨンカメラ - Google Patents
シンチレ−シヨンカメラInfo
- Publication number
- JPS6044633B2 JPS6044633B2 JP14828778A JP14828778A JPS6044633B2 JP S6044633 B2 JPS6044633 B2 JP S6044633B2 JP 14828778 A JP14828778 A JP 14828778A JP 14828778 A JP14828778 A JP 14828778A JP S6044633 B2 JPS6044633 B2 JP S6044633B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- coordinate
- scintillation camera
- resistance matrix
- resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Nuclear Medicine (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、核医学診断に使用されるシンチレーシヨンカ
メラに係り、特にその位置計算回路の改良に関するもの
である。
メラに係り、特にその位置計算回路の改良に関するもの
である。
いわゆるアンカー形シンチレーシヨンカメラは第1図に
示すように構成されており、シンチレータ1に光学的に
結合された複数本の光電子増倍管(以下「ホトマル」と
する)2−1、2−2、・・・の出力信号は適宜なる増
幅率の前置増幅器3−1、3−、・・・を各別に経て信
号の位置計算をするための処理をする抵抗マトリクス4
において各ホトマル2−1、2−2、・・・の幾何学的
位置座標にそれぞれ対応して重みづけされる。
示すように構成されており、シンチレータ1に光学的に
結合された複数本の光電子増倍管(以下「ホトマル」と
する)2−1、2−2、・・・の出力信号は適宜なる増
幅率の前置増幅器3−1、3−、・・・を各別に経て信
号の位置計算をするための処理をする抵抗マトリクス4
において各ホトマル2−1、2−2、・・・の幾何学的
位置座標にそれぞれ対応して重みづけされる。
この重みづけされた信号は、例えば直交座標であれば、
X、Y各方向毎に加算回路5−X、5−Yで加算され、
これら加算回路5−X、5−Yの出力は各ポトマルに対
し均等に重みづけされて加算回路5−Zで合計されたZ
信号を除数としてそれぞれ除算器6)−X、6−Yで各
別に除算されて、入射ガンマ線の入射位置に対応した1
点を表示画面上に表示するための位置信号となり、これ
ら位置信号が、前記Z信号に基づき輝度信号回路7で作
られたアンブランク信号とともに、CRT(陰極線管)
等をフー用いたX−Y表示器8に与えられ前記ガンマ線
の入射位置に対応して例えば輝点が表示される。上述に
おける抵抗マトリクス4の部分をさらに詳細に述べる。
第2図に示すように或るホトマル2−1に対応する前置
増幅器3−1の出力信号はX方向、Y方向それぞれにつ
いて+,一各方向に対応する抵抗を通してすなわちX(
+),X(−),Y(+),Y(−)の各方向にそれぞ
れ対応する4種の抵抗R(X+)I,R(X−)I,R
(Y+)I,R(Y−)iを通して各方向毎の加算(増
幅)回路5−X(+)等に位置情報として伝達されると
同時に、Z信号用に所定の抵抗R,Zを通してZ用加算
(増幅)回路5−Zにエネルギー情報として伝達される
。ここで4方向の抵抗マトリクスからX(+),X(一
)方向だけを抜き出してホトマル、前置増幅器等の関係
を示すと、第3図に示すように、例えばホトマル2−1
の信号は前置増幅器3−1により増幅されX(+)方向
については抵抗R(X+)1を介して(+)方向の加算
回路5−X(+)により加算される。X(−)方向につ
いては抵抗R(X−)1を介してX(−)方向の加算回
路5−X(−)により加算される。同様にホトマル2−
2、前置増幅器3−2を通つた信号も抵抗R(X+)2
,R(X−)2を通してそれぞれ加算される。このとき
、抵抗R(X+)1,(X−)1,R(X+)2,R(
X−)2,・・・の値はホトマル2−1,2一2,・・
・のシンチレータ1に対する幾何学的座標位置に対応し
て決定されるが、ホトマル2−1,2−2,・・の幾何
学的精度と同様に高精度の抵抗値が要求され、同時にそ
の値の安定度が高いことも要求される。このような従来
の装置においては、抵抗マトリクス4の形成要素てある
抵抗の値は、それぞれ対応するホトマル2−1,2−2
,・・・の幾何学的位置座標に直接的に対応するために
、極めて高精度が要求されていた。
X、Y各方向毎に加算回路5−X、5−Yで加算され、
これら加算回路5−X、5−Yの出力は各ポトマルに対
し均等に重みづけされて加算回路5−Zで合計されたZ
信号を除数としてそれぞれ除算器6)−X、6−Yで各
別に除算されて、入射ガンマ線の入射位置に対応した1
点を表示画面上に表示するための位置信号となり、これ
ら位置信号が、前記Z信号に基づき輝度信号回路7で作
られたアンブランク信号とともに、CRT(陰極線管)
等をフー用いたX−Y表示器8に与えられ前記ガンマ線
の入射位置に対応して例えば輝点が表示される。上述に
おける抵抗マトリクス4の部分をさらに詳細に述べる。
第2図に示すように或るホトマル2−1に対応する前置
増幅器3−1の出力信号はX方向、Y方向それぞれにつ
いて+,一各方向に対応する抵抗を通してすなわちX(
+),X(−),Y(+),Y(−)の各方向にそれぞ
れ対応する4種の抵抗R(X+)I,R(X−)I,R
(Y+)I,R(Y−)iを通して各方向毎の加算(増
幅)回路5−X(+)等に位置情報として伝達されると
同時に、Z信号用に所定の抵抗R,Zを通してZ用加算
(増幅)回路5−Zにエネルギー情報として伝達される
。ここで4方向の抵抗マトリクスからX(+),X(一
)方向だけを抜き出してホトマル、前置増幅器等の関係
を示すと、第3図に示すように、例えばホトマル2−1
の信号は前置増幅器3−1により増幅されX(+)方向
については抵抗R(X+)1を介して(+)方向の加算
回路5−X(+)により加算される。X(−)方向につ
いては抵抗R(X−)1を介してX(−)方向の加算回
路5−X(−)により加算される。同様にホトマル2−
2、前置増幅器3−2を通つた信号も抵抗R(X+)2
,R(X−)2を通してそれぞれ加算される。このとき
、抵抗R(X+)1,(X−)1,R(X+)2,R(
X−)2,・・・の値はホトマル2−1,2一2,・・
・のシンチレータ1に対する幾何学的座標位置に対応し
て決定されるが、ホトマル2−1,2−2,・・の幾何
学的精度と同様に高精度の抵抗値が要求され、同時にそ
の値の安定度が高いことも要求される。このような従来
の装置においては、抵抗マトリクス4の形成要素てある
抵抗の値は、それぞれ対応するホトマル2−1,2−2
,・・・の幾何学的位置座標に直接的に対応するために
、極めて高精度が要求されていた。
本発明は、このような事情に基づいてなされたもので、
抵抗マトリクスを改良し、簡単な構成を−用いて個々の
抵抗の抵抗値精度に比して全体の精度を高精度とするこ
とを可能とし、高精度化を容易にするシンチレーシヨン
カメラを提供することを目白勺としている。
抵抗マトリクスを改良し、簡単な構成を−用いて個々の
抵抗の抵抗値精度に比して全体の精度を高精度とするこ
とを可能とし、高精度化を容易にするシンチレーシヨン
カメラを提供することを目白勺としている。
ずなわち、本発明の特徴とするところは、抵抗一マトリ
クスを、入力信号の入力点間に座標軸方向について直列
接続となされるように抵抗を配設した構成とし、入力信
号を該直列抵抗の中間位置に座標位置に対応させて注入
し該直列抵抗の端部から当該座標方向についての信号を
取り出すようにすることにある。
クスを、入力信号の入力点間に座標軸方向について直列
接続となされるように抵抗を配設した構成とし、入力信
号を該直列抵抗の中間位置に座標位置に対応させて注入
し該直列抵抗の端部から当該座標方向についての信号を
取り出すようにすることにある。
以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する
。
。
本発明の抵抗マトリクスの構成方式の基本となる一実施
例を第3図と同部分に同符号を付して一次元的に示した
ものが第4図である。
例を第3図と同部分に同符号を付して一次元的に示した
ものが第4図である。
第4図において、加算回路5−X(+),5X(−)間
に接続される抵抗群は従来の装置では並)列であつたが
本発明では図示抵抗マトリクス9の各抵抗R,XlR,
X2,・・のように直列に構成する。
に接続される抵抗群は従来の装置では並)列であつたが
本発明では図示抵抗マトリクス9の各抵抗R,XlR,
X2,・・のように直列に構成する。
本構成によると、各ホトマル2−1,2一2・・・から
の信号は、抵抗マトリクス9の抵抗R,Xl,R,X2
,・・・により分流されて加算回路5.−X(+),5
−X(−)に入る。この場合の各抵抗値に要求される精
度は、ホトマルの数1により変化するが、約1/i倍て
従来装置と同程度の結果(つまり精度)が得られる。す
なわち、抵抗マトリクスの後段において各方・向の加算
回路の出力を同じ方向〔例えはX(+),X(一)〕に
ついて差分をとつて位置信号を得ているため、個別に抵
抗を介して分配する従来装置においては、位置に応じた
重みづけの精度は各抵抗の精度と同じレベルとなり誤差
1%の抵抗を使えば重みづけ精度も誤差1%のレベルで
ある。
の信号は、抵抗マトリクス9の抵抗R,Xl,R,X2
,・・・により分流されて加算回路5.−X(+),5
−X(−)に入る。この場合の各抵抗値に要求される精
度は、ホトマルの数1により変化するが、約1/i倍て
従来装置と同程度の結果(つまり精度)が得られる。す
なわち、抵抗マトリクスの後段において各方・向の加算
回路の出力を同じ方向〔例えはX(+),X(一)〕に
ついて差分をとつて位置信号を得ているため、個別に抵
抗を介して分配する従来装置においては、位置に応じた
重みづけの精度は各抵抗の精度と同じレベルとなり誤差
1%の抵抗を使えば重みづけ精度も誤差1%のレベルで
ある。
したがつて、隣りのホトマルとの重みづけの差は抵抗値
の差になるが、差の精度は誤差の絶対値が1%のレベル
のため差が全抵抗に比べて少なければ少ない程相対誤差
が増大する。このため上”述したように非常に精度の高
い抵抗が要求される。ところが本発明では隣りのホトマ
ルの信号との重みづけの差は各抵抗値そのものであるか
らその相対誤差は抵抗値そのものの誤差となる。
の差になるが、差の精度は誤差の絶対値が1%のレベル
のため差が全抵抗に比べて少なければ少ない程相対誤差
が増大する。このため上”述したように非常に精度の高
い抵抗が要求される。ところが本発明では隣りのホトマ
ルの信号との重みづけの差は各抵抗値そのものであるか
らその相対誤差は抵抗値そのものの誤差となる。
すなわち、隣り合つたホトマル信号相互間の重みづけの
差はその間に入る抵抗値の誤差そのものであり、重みづ
けレベルの差においては従来装置に比して(1次近似で
は)1桁位精度が向上することになる。なお、直列抵抗
R,Xl,R,X2,・・の間に各前置増幅器3−1,
3−2,・・の出力を接続するがこれら前置増幅器3の
出力には、経験的には直列に抵抗Rl,R2・・・を挿
入することが望ましい。本実施例は、実際には第5図の
ようにX方向、Y方向の2次元に拡張して実用に供する
。
差はその間に入る抵抗値の誤差そのものであり、重みづ
けレベルの差においては従来装置に比して(1次近似で
は)1桁位精度が向上することになる。なお、直列抵抗
R,Xl,R,X2,・・の間に各前置増幅器3−1,
3−2,・・の出力を接続するがこれら前置増幅器3の
出力には、経験的には直列に抵抗Rl,R2・・・を挿
入することが望ましい。本実施例は、実際には第5図の
ようにX方向、Y方向の2次元に拡張して実用に供する
。
すなわち同図において2−,1,1,2−1,2,・・
・はホトマル、3−,1,1,3−,1,2,・・・は
前置増幅器、5−X(+),5−Y(+)は加算回路て
あり、抵抗マトリクス9は抵抗R,l,lRl,2,・
・,R,X,ll,R,X,l2,・・,R,Y,ll
,R,Y,l2,・・・で構成されている。ただし、同
図において各方向のマトリクスの終端が加算回路に入力
されている個所に太線があるが、これは加算される入力
がある事を概念的にしているので、この太線が必ずしも
電気的な短絡を意味している訳ではない。以上詳述した
ように、本発明によれば、抵抗マトリクスを改良し、簡
単な構成を用いて個々の抵抗の抵抗値精度に比して全体
の精度を高精度とすることを可能とした、容易に高精度
化できるシンチレーシヨンカメラを提供することができ
る。
・はホトマル、3−,1,1,3−,1,2,・・・は
前置増幅器、5−X(+),5−Y(+)は加算回路て
あり、抵抗マトリクス9は抵抗R,l,lRl,2,・
・,R,X,ll,R,X,l2,・・,R,Y,ll
,R,Y,l2,・・・で構成されている。ただし、同
図において各方向のマトリクスの終端が加算回路に入力
されている個所に太線があるが、これは加算される入力
がある事を概念的にしているので、この太線が必ずしも
電気的な短絡を意味している訳ではない。以上詳述した
ように、本発明によれば、抵抗マトリクスを改良し、簡
単な構成を用いて個々の抵抗の抵抗値精度に比して全体
の精度を高精度とすることを可能とした、容易に高精度
化できるシンチレーシヨンカメラを提供することができ
る。
なお、本発明は上記し且つ図面に示す実施例にのみ限定
されることなく、その要旨を変更しない範囲内て種々変
形して実施することがてきる。例えばX方向、Y方向の
抵抗マトリクス9を個別抵抗て構成する代りに面状、綿
状等の連続抵抗体て構成することもできる。例えば第6
図のように面状抵抗体RSを使用し、この面状抵抗体R
Sの周辺にX方向、Y方向の加算回路用出力信号電極を
つける。各ホトマル2−,1,1,2−,1,2,・・
の信号はそれぞれ前置増幅器3−,1,1,3−,1,
2,・・・を通つてから、面状抵抗体RSの1点1点の
電極Pに注入される。注入された信号が各方向の加算回
路5−X(+)等に入りそれぞれ差分をとつて位置信号
をつくる過程は上述と同様である。また上述の面状抵抗
体RSを使用した場合において、面状抵抗体RSへの信
号注入点を固定された電極でなく、接触位置可変な接点
とし抵抗値調整を可能とすれば一層高精度とすることが
できる。
されることなく、その要旨を変更しない範囲内て種々変
形して実施することがてきる。例えばX方向、Y方向の
抵抗マトリクス9を個別抵抗て構成する代りに面状、綿
状等の連続抵抗体て構成することもできる。例えば第6
図のように面状抵抗体RSを使用し、この面状抵抗体R
Sの周辺にX方向、Y方向の加算回路用出力信号電極を
つける。各ホトマル2−,1,1,2−,1,2,・・
の信号はそれぞれ前置増幅器3−,1,1,3−,1,
2,・・・を通つてから、面状抵抗体RSの1点1点の
電極Pに注入される。注入された信号が各方向の加算回
路5−X(+)等に入りそれぞれ差分をとつて位置信号
をつくる過程は上述と同様である。また上述の面状抵抗
体RSを使用した場合において、面状抵抗体RSへの信
号注入点を固定された電極でなく、接触位置可変な接点
とし抵抗値調整を可能とすれば一層高精度とすることが
できる。
さらに上述の面状抵抗体RSを用いた例において第7図
A,bのように面状抵抗体RSへの各方向について信号
注入量の補正をするために、電極Pの周辺に導電体また
は絶縁体で島(ランド)Lあるいはリング、線分などを
形成したり、電極Pを円状電極Dとするなど電極Pその
ものの形状寸法を適宜調整するようにしたりしてもよい
。
A,bのように面状抵抗体RSへの各方向について信号
注入量の補正をするために、電極Pの周辺に導電体また
は絶縁体で島(ランド)Lあるいはリング、線分などを
形成したり、電極Pを円状電極Dとするなど電極Pその
ものの形状寸法を適宜調整するようにしたりしてもよい
。
この場合、エッチング等にり適宜不導体部分等を形成し
てもよい。
てもよい。
第1図はシンチレーシヨンカメラの一例の構成を示すブ
ロックダイアグラム、第2図、第3図は従来装置におけ
る抵抗マトリクスの構成を説明するための回路構成図、
第4図は本発明の一実施例の構成を説明するため回路構
成図、第5図は同実施例の実際の使用状態の構成を示す
回路構成図、第6図は本発明の他の実施例の構成を示す
構成図、第7図aおよびbは本発明のその他のそれぞれ
異なる実施例の構成を説明するための図てある。 2−1〜2−12−,1,1,2−,1,2,・・光電
子増倍管(ホトマル)、3−1〜3一i;3−,1,1
,3−,1,2,・・・・前置増幅器、9・・・・・抵
抗マトリクス、R1〜Ri;R,l,l,R,l,2・
・・;R,X,l〜R,X,ノi;R,X,ll,R,
X,l2・・・ ・;R,Y,ll,R,Y,l2,・
・抵抗、RS・・・・面状抵抗体、5−X(+),5−
X(−),5−Y(+)・・・・加算回路。
ロックダイアグラム、第2図、第3図は従来装置におけ
る抵抗マトリクスの構成を説明するための回路構成図、
第4図は本発明の一実施例の構成を説明するため回路構
成図、第5図は同実施例の実際の使用状態の構成を示す
回路構成図、第6図は本発明の他の実施例の構成を示す
構成図、第7図aおよびbは本発明のその他のそれぞれ
異なる実施例の構成を説明するための図てある。 2−1〜2−12−,1,1,2−,1,2,・・光電
子増倍管(ホトマル)、3−1〜3一i;3−,1,1
,3−,1,2,・・・・前置増幅器、9・・・・・抵
抗マトリクス、R1〜Ri;R,l,l,R,l,2・
・・;R,X,l〜R,X,ノi;R,X,ll,R,
X,l2・・・ ・;R,Y,ll,R,Y,l2,・
・抵抗、RS・・・・面状抵抗体、5−X(+),5−
X(−),5−Y(+)・・・・加算回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 入射放射線により発光するシンチレータと、このシ
ンチレータに対応して複数個設けられ前記発光を検出し
て電気信号に変換する光電変換素子と、この光電変換素
子で得た信号に対しその座標位置に対応して重み付けを
行なう抵抗マトリクスとこの抵抗マトリクスから出力さ
れる信号を座標軸毎に加算する加算器と、この加算器出
力を前記光電変換素子から得た信号の総和に対応する値
により除算して座標位置信号を得る除算器と、この除算
器で得た座標位置信号に応じた座標位置に輝点を表示す
る表示装置とを具備したシンチレーシヨンカメラにおい
て、前記抵抗マトリクスを、入力信号の入力点間に座標
軸方向について直列接続となるように抵抗を配設した構
成とし、入力信号を該直列抵抗の中間位置に座標位置に
対応させて注入し、該直列抵抗の端部から当該座標方向
についての信号を取り出すようにしたシンチレーシヨン
カメラ。 2 抵抗マトリクスは、個別の抵抗素子を網目状に接続
して構成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載のシンチレーシヨンカメラ。 3 抵抗マトリクスは、座標位置に応じた個所に信号が
注入される連続抵抗体で構成したことを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載のシンチレーシヨンカメラ。 4 抵抗マトリクスの連続抵抗体に対する信号注入電極
位置可変の可動接点により構成した特許請求の範囲第3
項記載のシンチレーシヨンカメラ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14828778A JPS6044633B2 (ja) | 1978-11-30 | 1978-11-30 | シンチレ−シヨンカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14828778A JPS6044633B2 (ja) | 1978-11-30 | 1978-11-30 | シンチレ−シヨンカメラ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5574478A JPS5574478A (en) | 1980-06-05 |
JPS6044633B2 true JPS6044633B2 (ja) | 1985-10-04 |
Family
ID=15449387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14828778A Expired JPS6044633B2 (ja) | 1978-11-30 | 1978-11-30 | シンチレ−シヨンカメラ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6044633B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6073484A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-25 | Shimadzu Corp | 半導体放射線位置検出装置 |
JP4178232B2 (ja) * | 2003-02-28 | 2008-11-12 | 独立行政法人放射線医学総合研究所 | 入射位置検出装置 |
JP5649044B2 (ja) * | 2010-08-31 | 2015-01-07 | 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構 | 放射線検出装置 |
US11269088B2 (en) * | 2017-07-31 | 2022-03-08 | Shimadzu Corporation | Radiation detector and nuclear medicine diagnosis device |
-
1978
- 1978-11-30 JP JP14828778A patent/JPS6044633B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5574478A (en) | 1980-06-05 |
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