JPS6033346B2 - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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JPS6033346B2
JPS6033346B2 JP54082630A JP8263079A JPS6033346B2 JP S6033346 B2 JPS6033346 B2 JP S6033346B2 JP 54082630 A JP54082630 A JP 54082630A JP 8263079 A JP8263079 A JP 8263079A JP S6033346 B2 JPS6033346 B2 JP S6033346B2
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    • H04N25/67Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、半導体表面に−次元又は二次元的に配置した
複数個の光電変換素子に検出された光情報を読み出す固
体撮像装置の性能向上に関するものである。
従来例の装置としては、例えば第1図に示すようなもの
がある。
第1図は二次元固体撮像装置の原理的な構成の一例Aと
走査パルスBを示すものである。
1,2はそれぞれ水平、垂直用の走査回路であり、通常
2〜4相のクロツクパルスCPx,CPyを印加するこ
とにより入力パルスVsx,Vsyがクロツクのもつ一
定のタイミング時間ずつシフトした出力パルス列、Vo
x,,Vox2・・・,Voy,,Voy2・・・を走
査回路各段の出力線○×,,○均・・・,○y,,○y
2・・・に出力する。
このパルス列によりスイッチング素子5,6を順次開閉
し、2次元状に配列された個々の光電変換素子3からの
信号をビデオ出力線4の上に取り出す。光電変換素子か
らの信号はその投影された光学像に対応するので上記動
作により映像信号を出力端OUT8より取り出すことが
できる。この種の固体撮像装置では高い解像度を得るた
め500×50の固程度の光電変換素子、スイッチング
素子および走査用の単位回路が必要になる。そのため通
常は高集積化が比較的容易でしかも光電変換素子とスイ
ッチング素子が一体化構造でできる絶縁ゲート形電界効
果トランジスタ(MOSトランジスタ)を用いた集積回
路技術(MOS−LSI技術)で用いて製作される。第
2図に固体撮像ICの殆んどの面積を占める光電変換素
子、スイッチング素子の構造を示す。13は半導体(S
i等)基板で、5,6はそれぞれ水平垂直の位置を選択
するための絶縁ゲート形電界効果トランジスタ(MOS
トランジスタ)スイッチで、ドレインおよびソースを作
る基板と反対導電形の拡散層10,15,16と絶縁酸
化膜(Si02等)8を介して設けたゲート電極9,1
4で作られる。
10は垂直MOSトランジスタスイッチのソースを利用
した光ダイオードである。
MOSシフトジスタ等を利用した走査回路の出力パルス
VoxN,VoyNが出力線0戊N,0yNを通してM
OSスイッチのゲートに同時に印加された位置のダイオ
ード10から入射光量に比例して放電していた電荷がビ
デオ電圧11より充電される。その時の充電電流が負荷
抵抗12を通してビデオ信号として出力端子OUT8よ
り読み出される。しかし、このような従来装置では、次
に示すような原因で、固定パターンノイズ(Fixed
PatにrnNoise)が発生し、致命的な欠陥とな
っている。
第3図Aは第2図の構造をさらに簡単に描いたもので、
13としてはたとえばp形シリコン基板、10は1つの
ホトダィオードでN十拡散層から成っている。
第3図Aの16は第1図に示した水平信号出力線4に対
応しており、又、15は第1図に示した垂直信号出力線
7に対応している。第3図15,16はそれぞれアルミ
ニウムなどの金属やN+拡散層などの導電材料から成っ
ている。第3図のBからFはAに対応したチャネル電位
を示してある。いまNチャネル素子を考えているので、
電位は正方向を下にとってある。第3図Bは、ホトダィ
オード10に信号電荷31が蓄積されており、垂直スイ
ッチMOSトランジスタ(以下VTrと略す)6のゲー
ト14と水平スイッチMOSトランジスタ(以下HTr
と略す)5のケー−ト9にはOVが印加されており、両
トランジスタともoffになっている。
第3図CはVTr6がonし、信号電荷がVTr6のゲ
ート14の下の垂直信号線15に広がった状態を示して
いる。
第3図DはHTr5もonし、信号電荷が水平出力線1
6にも広がり、出力されている途中の電位を示している
。そして第3図Eは、信号電荷が一応読み出され、各電
位がVoにリセットされている状態を示している。第3
図FではHTr5がoffし、次の絵素の信号が読み出
されている。さて、この第3図EとFから分るように、
水平スイッチMOSトランジスタHTr5のゲート9の
下に信号電荷の一部32が取り残されて、それが水平パ
ルスがoffする時にゲート下から水平信号出力線へ出
力されることになる。
第4図Aはィンバータ41と転送MOSトランジスタ4
2とからなる従釆よく知られているシフトレジスタの一
例である。
第4図Bのパルスチャートで示したが、従来の装置にお
いては、第n番目の水平走査パルスVo均がoHする時
間と次の第n+1番目の水平走査パルスVoxn+,が
onする時間とは水平同期パルスめ梅の同じトリガで決
められている。
つまり、水平走査パルスVoら十,がonする時間は第
n+1列目の信号が出力される時間であるが、同時に第
n列目の水平走査パルスVoムがoffする時間でもあ
る。
第3図より、要するに、従釆例では、第n十1列目の信
号が出力される時間に、第n列目の水平スイッチMOS
トランジスタ5のゲート9の下にトラップされていた第
n列目の信号電荷の一部QR32が出力されることにな
るのである。この残留電荷QRが全列において等しいな
らば問題はないが、それがパラツクと、固定パターンノ
イズの原因となる。そこで本発明者等は、上述してきた
従来技術の問題を解消し、固体撮像装置の性能向上を達
成するため、第n+1列目の水平走査パルスVoxn+
,をonして第n十1列目の信号を読みとる前に、第n
列目の水平走査パルスVoxnをoffしておく走査方
式を先に提案した〔特願昭52−91364(侍関昭5
4−27313号公報参照)〕。
以下この走査方式について説明する 第5図Aにおいて、51は、たとえば第4図Aに示した
ようなシフトレジスタである。
その出力線52には、第5図BのVx,[・,Vx,V
x’n+,で示したようなパルスが出力されている。本
例の本質は、このシフトレジスタの出力線52と水平ス
イッチMOSトランジスタの間に別のゲートト,ランジ
スタ53を設け、水平スイッチMOSトランジスタのゲ
ートに印加するパルスを、ゲートトランジスタ53のド
レイン線54から供給する事である。第5図Aに示した
走査回路のVoxnは、第5図Bの様になり、シフトレ
ジスタの出力V柳とめ.3とのANDのとれた期間がパ
ルス幅となったパルスとなる。
本実施例では、Voxnがoffした後に改めてVo〜
+,がonする。
また、第5図の実施例において、0x3の高レベル電圧
VxH、シフトレジスタ51の出力の高レベルVsH、
ゲートトランジスタ53のしきし、電圧V山の間にVS
H一V山とVXH となるようにすれば、ゲートトランジスタは非飽和領域
で動作することになる。
つまり、走査回路の出力Vo櫓,Voxn十.・・・の
出力波形、特に出力振幅をそろえる事が出来、本走査方
式の効果はさらに増大する。又、信号読み出し時間はV
oxnのパルス幅、すなわち、めx3の幅となり、この
幅を適宜調節する事も可能である。
固体撮像装置で、固定パターンノイズを防ぐために、先
述の様に水平スイッチ走査パルスが「歯抜け」状パルス
(不連続パルス)になっているシフトレジスタが内蔵さ
れている装置の信号処理回路では、その「歯抜け」状水
平走査パルス(第6図aの61)による出力信号(第6
図bの62、信号電荷があるときを破線で、ないときは
実線で示す)のパルス変位電流によるノイズ63(HT
rのゲートドレイン間の寄生容量による)と位相をずら
して、微小信号64のみを取り出さねばならない。
第7図aは本発明者等が先に提案した信号処理方式を示
すものであり、71は水平信号線4と出力端子8との間
に設けられたスイッチ素子であり、この場合形成が容易
なMOSトランジスタを用いている。
第7図bは水平走査パルス波形72、第7図cはMOS
トランジスタ71のゲート73に印加する電圧パルス波
形74、第7図dは水平信号線4の電圧変化の波形75
、および第7図eは出力端子8に得られる信号波形76
を示すタイムチャート図である。波線77,78は信号
電荷がある場合である。又、7川まプリァンプ、79は
雑音低減のための帰還回路を構成する帰還抵抗、8′は
増幅信号出力端子、702は水平信号線容量(寄生容量
又は付加容量)703は容量である。
MOSトランジスタ7 1は、水平スイッチ用MOSト
ランジスタ5がオフ(信号線4の電圧が寄生容量701
の影響から開放され、原状に戻る)となって後、オンと
し、次の水平スイッチ用MOSトランジスタがオンとな
る前にオフとする。
水平走査パルスが印加されている間は、水平信号線4と
出力端子8あるいは負荷抵抗11との間は電気的に切れ
ているため、電流は全く流れず、走査パルス波形、MO
Sトランジスタ5の特性のバラ付などの影響はなくなる
。第7図dで示すように、スパイク雑音は発生するが、
これは単一のMOSトランジスタ71のスイッチ動作に
よるものであり、常に一定形状となり、低域フィル夕で
容易に除去でき、画像信号への害はない。しかしながら
、第7図の信号処理方式で固定パターンノイズは完全に
消えるが、プリアンプ70の前段にスイッチ素子が挿入
されるので、ランダム雑音の増加は避けられず、十分な
S/Nが得られない。本発明は以上に述べた従来技術に
基づき、先述の「歯抜け」状走査パルスを利用した固体
縁像装置の従来の信号処理回路の欠点を改善し、高性能
の固定パターンノイズ除去回路を提供するものである。
本発明の信号処理回路では、信号増幅器(例えばプリア
ンプ)の帰還回路と信号増幅器(例えばブリアンプ)の
出力端にスイッチ素子を挿入することにより、FPNを
抑圧し高いS/Nを得ることができる。
以下、実施例により本発明の固体撮像装置の信号処理回
路の詳細を説明する。
第8図は本発明の実施例を示す。
図中81,82はそれぞれ固体撮像装置のセンサ部と出
力線容量Co(寄生容量又は付加容量)である。又、8
川ま容量である。83はプリアンプ、84は帰還抵抗R
fであり、85と86はスイッチ素子である。
ここではスイッチ素子としてMOSトランジスタが用い
られている。いま、第1図の水平スイッチMOS5の1
つが開いていて、MOSトランジスタ85,86のゲー
ト87に印加されるリセットパルスORが低レベルの時
を考えると、スイッチ85,86がoffであるから信
号電荷は出力線容量Coに蓄積されたままである。
この時プリアンプは動作しているがその出力および帰還
回路はスイッチ85,86により遮断されている。その
後、水平スイッチMOSトランジスタ(第1図5)がo
ffしてFPNの発生原因がなくなってから、リセット
パルスJRが高レベルになると、スイッチ85がonと
なり、帰還回路が作動し、またスイッチ86もonする
ので^FPNの影響なくして信号が正常に読み出される
ことになる。スイッチ85,86はプリアンプの入力端
に直接挿入されている訳ではないので、FPNを抑圧す
る上に、ランダム雑音の増加も少なく、高いS/Nが得
られる事になる。一般にMOSトランジスタは1/f雑
音が多いため、第8図においてランダム雑音の影響を小
さくするためにはRr>Rmであることが望ましい。
ここでRfは帰還抵抗84でRmはスイッチ85の等価
抵抗である。第8図においてスイッチ85と86はそれ
ぞれ別の、オーバラツプ時間のあるパルスで開閉しても
かまわない事は言うまでもない。第9図に他の実施例を
示す。
プリアンプ83の出力部の結線が多少異なるだけで、第
8図と動作原理は全く同じである。第10図の別の実施
例では、帰還回路の抵抗とスイッチの位置を変えたもの
である。
ここでもRf>Rmである事が望ましいのは言うまでも
ない。
第1 1図の実施例では、他のMOSトランジスタ88
の抵抗(89:ゲートバイアス電源)を利用したもので
ある。
これらは、プリアンプ系をMOS系のセンサに集積化す
る際にさらに有効となる。この場合、スイッチングする
MOSトランジスタからは多くのランダム雑音が発生す
るので、スイッチに用いるMOSトランジスタの抵抗は
極力小さくして、帰還抵抗の代りに用いるMOSトラン
ジスタの抵抗より4・さし、事が望ましい。また、第1
1図の実施例では、リセットパルスによる飛び込み雑音
が帰還抵抗の代りに用いているMOSトランジスタのシ
ールド効果により、著しく小さくなる。
以上の実施例では、スイッチ素子としてMOSトランジ
スタを例にして説明したが、もちろんこれに限定される
ものではない。
他に接合形電界効果トランジスタ(JFET)やバィポ
ーラトランジス夕、p−nダイオード等あるいはMOS
トランジスタを含めたこれらの組み合わせ等によりスイ
ッチ動作と等価な事を行なえ得るものは何であっても良
い。又、本発明では、帰還回路は抵抗以外の他の素子に
よって構成されて良いことは明らかである。
【図面の簡単な説明】
第1図は固体撮像装置の概略と走査パルスを示す図、第
2図は固体撮像装置の面素部の構成を示す断面図、第3
図は固体撮像装置の面素部の信号電荷の動きを設明する
略断面図、第4図は固体撮像装置の走査回路と入出力パ
ルスを示す図、第5図は「歯抜け」状走査パルスを発生
する走査回路と入力パルスを示す図、第6図は固体撮像
装置の水平走査パルスと出力信号を示す図、第7図は固
体撮像装置の従来の信号処理回路と各種パルスを示す図
、第8図、第9図、第10図、第11図は本発明の固体
撮像装置の信号処理回路の実施例を示す図である。 1:水平走査回路、2:垂直走査回路、3:光ダイオー
ド、4:水平信号出力線、5:水平スイッチMOSトラ
ンジスタ、6:垂直スイッチMOSトランジスタ、7:
垂直信号出力線、8:信号出力端子、81:固体撮像装
置のセンサ部、82:信号出力線容量、83:増幅器(
プリアンプ)84:帰還抵抗、85,86:スイッチ素
子(MOSトランジスタ)、87:リセツトパルス印加
端子。 群ー図 群2図 第3図 X4図 嫌ふ図 群夕図 努7図 弟8図 孫?図 東 ′o 図 弟′′図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 半導体基板の表面領域に設けられた複数の光電変換
    素子に蓄積された光情報を不連続走査パルスによつて開
    閉される第1のスイツチング素子を通して読み出すセン
    サ部と、該センサ部の出力信号を増幅する増幅器を有す
    る固体撮像装置において、前記増幅器の出力を入力に還
    元する帰還回路を設けるとともに、該帰還回路の中途に
    設けられた第2のスイツチング素子と、前記増幅器出力
    と増幅信号出力端子との間に設けられた第3のスイツチ
    ング素子とを設けてなり、該第2、第3のスイツチング
    素子を、前記第1のスイツチング素子の非導通時に導通
    させることを特徴とする固体撮像装置。 2 上記帰還回路は上記増幅器の出力を抵抗を介して入
    力に還元する回路であることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の固体撮像装置。 3 上記抵抗はMOSトランジスタのソース、ドレイン
    間抵抗であることを特徴とする特許請求の範囲第2項記
    載の固体撮像装置。 4 上記抵抗の抵抗値は上記第2のスイツチング素子の
    等価抵抗値より大きいことを特徴とする特許請求の範囲
    第2項又は第3項記載の固体撮像装置。 5 上記第1、第2、第3のスイツチング素子はMOS
    トランジスタであることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項又は第2項記載の固体撮像装置。 6 上記センサ部は、二次元状に配列された光ダイオー
    ドと、該光ダイオードに蓄積された光情報を伝達する垂
    直スイツチ用MOSトランジスタ、水平スイツチ用MO
    Sトランジスタと、該垂直、水平スイツチ用MOSトラ
    ンジスタのおのおののゲート電極に順次走査パルスを印
    加する垂直走査回路、水平走査回路とを有してなり、前
    記水平スイツチ用MOSトランジスタを上記第1のスイ
    ツチング素子とし、前記水平走査回路より出力される水
    平走査パルスを上記不連続走査パルスとすることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項又は第2項記載の固体撮像
    装置。
JP54082630A 1979-07-02 1979-07-02 固体撮像装置 Expired JPS6033346B2 (ja)

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DE8080302084T DE3062124D1 (en) 1979-07-02 1980-06-20 Solid-state imaging device
EP80302084A EP0022323B1 (en) 1979-07-02 1980-06-20 Solid-state imaging device
CA000354740A CA1146265A (en) 1979-07-02 1980-06-25 Solid-state imaging device
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