JPS60257232A - 包装袋の製造方法 - Google Patents

包装袋の製造方法

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JPS60257232A
JPS60257232A JP59114331A JP11433184A JPS60257232A JP S60257232 A JPS60257232 A JP S60257232A JP 59114331 A JP59114331 A JP 59114331A JP 11433184 A JP11433184 A JP 11433184A JP S60257232 A JPS60257232 A JP S60257232A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は包装袋の製造方法に関するものである。詳しく
は線状低密度ポリエチレンを用すたヒートシール強度及
び胴部強度の大きい包装袋を製造する方法に関するもの
である。
〔従来技術〕
通常、線状低密度ポリエチレンを用いてインフレーショ
ン成形シ、ヒートシールによル包装用の袋を製造した場
合1袋の胴部強度は強−が。
ヒートシール部の強度が極めて低くなシ実用上問題があ
った。
〔発明が解決し、ようとする問題点〕
これは後述する線状低密度ポリエチレンの分子構造上、
線状低密度ポリエチレンは溶融延伸等によ多分子配向を
付与して熱収縮性を持たせようとしても強い収縮性を持
たせることができないため、ヒートシールを行なった際
ヒートシール部が熱収縮を起、さす、フィルム肉厚が減
少してしまい、ヒートシール強度が出な−ものである。
そこで本発明者等は、線状低密度ポリエチレンを用すて
良好なヒートシール強度を有する包装袋を得るべく種々
検討の結果、特定の線状低密度ポリエチレンに特定の分
岐状低密度ポリエチレンを特定量配合し、4f一定の条
件下にイン7v−”’aン成形及びヒートシール強度な
うことによ)良好なヒートシール強度を有する包装袋が
得られることを見出し、先に特願昭jr−J′3/7r
号に提案した。さらに、上記の線状低密度ポリエチレン
及び分岐状低密度ポリエチレンの配合物をラジカル発生
剤と反応せしめたものを特定の条件下にインフレーショ
ン成形及びヒートシールヲ行ナウことKよシヒートシー
ル強度が大幅に改善された包装袋が得られることを知得
し、特願昭69−370!/号に提案した。
しかしながら、上記の提案方法では包装袋のヒートシー
ル部の強度が大幅に改善されてはいるが、一方袋の胴部
強度は逆に低下する傾向が見られ、包装袋が縦に裂けや
す込(縦裂しやす込)という問題につながることが見出
された。
〔問題点を解決するだめの手段〕
本発明者等はこれらの状況に鑑み、包装袋のヒートシー
ル強度及び胴部強度の両面において。
充分満足できる包装袋を線状低密度ポリエチレンを用い
て製造すべく鋭意検討を重ねた結果。
上記の提案方法において、特定の線状低密度ポリエチレ
ンに配合する分岐状低密度ポリエチレンの物性及びその
配合量をさらに選択し、且つ。
ラジカル発生剤を用いることにより、ヒートシール強度
及び胴部強度に優れた包装袋が得られることを見出し1
本発明を完成した。
すなわち1本発明の要旨は、メルトインデックスJ t
/10分以下、流動比3!以下の線状低密度ポリエチレ
ン?!〜?/重量部に、メルトインチ22252フフ0
分以下、流動比!θ以下の低密度ポリエチレンをターフ
9重量部及びラジカル発生剤θ、000/〜o、i重量
部を配合し、ラジカル発生剤を分解して、該ポリエチレ
ンと反応させながら、或は反応させた後、ブローアツプ
比0.9〜.2.θ、ドラフト率10〜y o。
冷却速度指数3Q秒以下の条件下にインフレーション成
形し、得られた筒状フィルムを引取方向に対して交差す
る方向を長手方向として、ヒートシール及び切断するこ
とを特徴とする包装袋の製造法に存する。
以下に本発明を更に詳細に説明する。
本発明に用いられる線状低密度ポリエチレンとは、エチ
レンと他のα−オレフィンとの共重合物であり、従来の
高圧法によシ製造され九分鼓状低密度ポリエチレン樹脂
とは異なる。線状低密度ポリエチレンは1例えばエチレ
ンと、他のα−オレフィンとしてブテン、ヘキセン、オ
クテン、テセン、4tメチルペンテンー/等ヲ(<〜/
PItチ程度、好ましくはt〜/!重量−程度共重合し
たものであシ中低圧法高密度ポリエチレン製造に用いら
れるチーブ2−型触媒又はフィリップス型触媒を用いで
製造されたものであシ、従来の高密度ポリエチレンを共
重合成分によシ短い枝分かれ構造とし、密度もとの短鎖
枝分かれを利用して適尚に低下させθ、り/〜θ、9J
′2/cI/を程度としたものであシ、従来の分岐状の
低密度ポリエチレンよシ直鎖性があシ。
高密度ポリエチレンよシ枝分かれが多い構造のポリエチ
レンである。
このような線状低密度ポリエチレンをヒートシールした
際ヒートシール部の収縮が少ないのは線状低密度ポリエ
チレンの分子構造は上述のように短鎖枝分かれであるた
め、ヒートシールの際に分子間に熱弛緩が起こるためと
考えられる。
上記の線状低密度ポリエチレンはメルトインデックスが
、2 f// 0分以下、好ましくは0.2〜八J−t
yio分の範囲、流動比が3!以下。
好ましくは/!〜30の範囲のものが用いられる。メル
トインデックスが上記範囲以上では。
包装袋とした際のヒートシール強度及び胴部強度が低下
するので好ましくない。また、流動比が上記範囲以上で
は、包装袋とした際の胴ff1i度が低下するので好ま
しくない。さらに、上記の線状低密度ポリエチレンは、
密度が0.9 / j〜θ、9J、tkg/cI11の
範囲であるのが包装袋とした際の剛性及び耐衝撃性の点
から望ましい。
本発明方法においてメルトインデックスとはJIBK4
7≦0に準拠し190℃で測定した値であり、流動比と
は、上記メルトインデックス測定器を用い、せん断力/
θ“ダイン/(d(荷重///3t)と10’ダイン/
Cr1(荷重ii/l/?)の押出量(9710分)で
あシ。
で算出される。また、密度はJ工5K4740に準拠し
て測定した値である。
流動比は用しられる樹脂の分子量分布の目安であシ、流
動比の値が小さければ分子量分布は狭く、流動比の値が
大きければ分子量分布は広しことを表わしている。
本発明においては、すなわち2分子量分布の狭い線状低
密度ポリエチレンに高分子i′(すなわち、メルトイン
デックスが小さいこと)で。
且つ1分子量分布の狭い分岐状低密度ポリエチレンを特
定量配合する点に大きな特徴を有するものである。
上記粉状低密度ポリエチレンに配合される分岐状低密度
ポリエチレンとは、エチレンホモポリマー及びエチレン
と他の共重合成分との共重合体を含むものである。 。
共重合成分としては酢酸ビニル、エチルアクリレート、
メチルアクリレート等のビニル化合物、ヘキセン、プロ
ピレン、オクテン、グーメチルペンテン−/等の炭素数
3以上のオレフィン類等が挙けられる。共重合成分の共
重合量としてはθ、!〜/r重量%、好ましくはλ〜1
0重量−程度である。これらの低密度ポリエチレンは通
常の高圧法(7000〜3θθθに9/cd ) Kよ
シ、酸素、有機過酸化物等のラジカル発生剤を用いラジ
カル重合によシ得たものであるのが望ましい。
上記分岐状低密度ポリエチレンはメルトインデックスが
!f//θ分以下、好ましくは一2/10分以下、さら
に好ましくは0.7〜19770分の範囲、流動比が!
Q以下、好ましくは30〜!Oの範囲のものが用いられ
る。メルトインデックスが上記範囲以上では、包装袋と
した際に袋の胴部強度が低下するので好ましくない。ま
た、流動比が上記範囲以上では、包装袋とした際に袋の
胴部強度が低下するので好ましくない。さらに上記の分
岐状低密度ポリエチレンは密度がθ、り3θ以下、特に
0.り/!〜θ、り、2!の範囲であるのが、包装袋と
した際の袋の胴部強度及びヒートシール強度の向上の点
から望ましい。
上記線状低密度ポリエチレンと分岐状低密度ポリエチレ
ンとの配合量は、線状低密度ポリエチレン9!〜//重
量部、好ましくはり!〜/!重量部に対し1分岐状低密
度ポリエチレン!〜/り重量部、好ましくは!〜/!重
量部の範囲内で用いられる。分岐状低密度ポリエチレン
が上記範囲以下では、インフレーション成形する際のフ
ィルム成形性が低下し、また、上記範囲以上では、包装
袋とした際の袋の胴部強度が低下するので好ましくない
本発明方法は上記した線状低密度ポリエチレンと分岐状
低密度ポリエチレンとの混合物にさらにラジカル発生剤
を添加して、ラジカル発生剤を分解させ、該ポリエチレ
ンと反応せしめた後インフレーション成形する。
該線状低密度ポリエチレンと分岐状低、密度ボリエチレ
ンとの混合物に添加するラジカル発生剤としては、半減
期7分となる分M湛度が/30℃〜300℃の範囲のも
のが好ましく1例えばジクミルパーオキサイド、λ、!
−ジメチルーコ、!ジ(1−ブチルパーオキシ)ヘキサ
ン、、2.!−ジメチルー2.!ジ(t−ブチルパーオ
キシ)ヘキシン−3,α、α′−ビス(1−ブチルパー
オキシイソプロビル)ベンゼン、ジベンゾイルパーオキ
サイド、ジ−t−ブチルパーオキサイド等が挙げられる
ラジカル発生剤の添加量は、上記線状低密度ポリエチレ
ンと分岐状低密度ポリエチレンとの合計量に対し0.0
00 /〜θ、/重量部の範囲内から選ばれるが、この
添加量が0.0001重量部よシ少ない場合には、得ら
れる包装袋のヒートシール部の強度が無添加のものと殆
んど変らず。
また、θ、/重景部よシ多い場合には、メルトインデッ
クスが低くなシすぎてフィルム成形時に膜切れが起シ易
く、且つ該フィルムの表面に肌あれを生起するので好ま
しくない。
しかるにこの添加量が0.θ02〜θ、02重量部の範
囲では、フィルム成形性及びヒートシール部の強度が著
しく向上するので好ましい。
本発明におりて、上記線状低密度ポリエチレン及び分岐
状低密度ポリエチレンにラジカル発生剤を添加して、ラ
ジカル発生剤を分解させ該ポリエチレンと反応せしめる
方法としては、特に制限を設けるものではなく1例えば
以下の方法で実施することができる。
(1) インフレーション成形時に、上記線状低密度ポ
リエチレン、分岐状低密度ポリエチレン及びラジカル発
生剤を同時に、または順次にフィードして溶融押出する
(2)押出機、バンバリーミキサ−等の混練機を使用し
て、上記線状低密度ポリエチレン、分岐状低密板ポリエ
チレン及び2ジ力ル発生剤を混練して反応せしめた後、
ペラレット化し。
該ペレットを使用してインフレーション成形する。
(3) ラジカル発生剤を多量に含んだマスターバッチ
(高密度ポリエチレン、分岐状低密度ポリエチレンまた
は線状低密度ポリエチレン等のポリエチレンに多量のラ
ジカル発生剤を該ポリエチレンの融点以上の温度で、且
つ該ポリエチレンがラジカル発生剤と反応を起さない湿
度下。
例えば/3θ〜/ごO℃の温度下で溶融混練した高濃度
(通常200〜20θO0ppm程度)のラジカル発生
剤を含有するポリエチレンのマスターポリエチレンをブ
レンドし、インフレーション成形する。
また、ラジカル発生剤そのものはそのまま。
或は溶剤に溶かして使用される。
上記線状低密度ポリエチレン及び分岐状低密度ポリエチ
レンをラジカル発生剤と反応させることによシ、該ポリ
エチレンが架橋反応を生起して高分子量成分が増加し、
且つメルトインデックスが低下した変性ポリエチレンが
得られる。
該変性ポリエチレンは未変性の線状低密度ポリエチレン
と低密度ポリエチレンとの配合物に比べ、フィルム成形
性が向上し、且つインフレーション成形時に縦方向の配
向がかかりやすく。
このようにして得たフィルム1はヒートシール時に配向
を受けた方向に収縮し、フィルムの元のhさよシ厚くな
り、ヒートシール部の強度が向上するので好ましい。
上記のラジカル発生剤による架橋反応におりては、架橋
反応によって得られる変性ポリエチレンのメルトインデ
ックスが0.7〜19710分、特にOl、2〜0,7
9//θ分の範囲眞なるようにラジカル発生剤の配合量
等を調節するのが望ましす。
また、上述の吻状低密度ポリエチレンと分岐状低密度ポ
リエチレンの配合物にラジカル発生剤を添加して変性し
た上記変性ポリエチレンをただ単にインフレーション成
形しても、ヒートシール部強度及び胴部強度の良好なも
のは得られず、成形に当っては特定の成形条件を必要と
する。
その特定の成形条件とは、ブローアツプ比を0.9〜−
2とし、ドラフト率を7θ〜グθとし。
冷却速度指45 j 0秒以下としてインフレーション
成形することである。
ここでドラフト率とは下記式によって得られる。
式中、記号は下記の通り。
G :ダイスリットの幅 t :得られたフィルムの厚み ρm =グイスリットから押出される樹脂の密度ρf 
:フイルムの密度 BURニブローアツブ比 また、冷却速度指数とは浴融樹脂がダイから押出されフ
ロストラインに達するまでの時間(秒)でアシ、下記式
によって得られる。
τ :冷却速度指数1秒) FLHニフロストライン高さく cm )■o:溶融樹
脂がリップ部を通】1i4−する時の線速度(tyn/
θθC) ■1:引取速度(α/BθC) ブローアツプ比を2.0以上とするとヒートシール時に
ヒートシールの長手方向の収縮が生起し袋胴部の配向と
逆方向の歪が発生するため得られた袋のヒートシール端
部の強度が低下し。
破袋の原因となる。
ドラフト率は10以下ではヒートシール時良好な収縮が
生起せず70以上とすれは袋の胴部自体の分子配向が一
方向に大きくなシすぎ胴部自体の引裂けの生起する原因
となる。
冷却速度指数が3θ秒以上となるとフィルム成形時にド
ラ7)Kよりフィルム中に生起した分子配向が熱弛緩に
、よシ緩和してしまいヒートシール時に収縮が起らずヒ
ートシール部の強度がでない。
なお、ヒートシールに尚ってはヒートノく−やヒートベ
ルト等を用いるが、これらの加熱機によシヒートシール
部を長時間に渡って押圧すると熱弛緩を起しヒートシー
ル部の強度が出ないので、230−.2Fθ℃程度の温
度でなるべくヒートシール部に押圧力を加えないように
して迅速に加熱した後、ヒートシール部を自由状態とす
ることによシヒートシール部に収縮を起させるようなヒ
ートシール方法を用いるのが望ましい。
〔作 用〕
本発明方法においては、特定のメルトインデックスを有
し、且つ1分子量分布の狭い線状低密度ポリエチレンに
特定のメルトインデックスを有し、且つ分子量分布の狭
い分岐状低密度ポリエチレンを特定量配合し、さらにラ
ジカル発生剤を用いることによって、包装袋とした際の
胴部強度を低下させることなく、ヒートシール部強度を
著しく向上させることができる。
実施例/ 線状低密度ポリエチレン(メルトインデックス(M工)
:0..3−9710分、流動比:20.密度: o、
9.xoy/crd、共重合成分ニブテン−/。
共重合量:70重量%)20重綾部及び高圧法分岐状低
密度ポリエチレン(メルトインデックス:0.41f/
10分、流動比:411.密度:Q、タコダf/7)/
 ON置部に2.オージメチル−,2,J−ジ(1−ブ
チルパーオキシ)ヘキシン−30、O0!重量部を混合
し1次いで押出機で2!θ℃で3分間溶融混練して押出
しベレット化した。
得られた変性ポリエチレンはM工: 0,39710分
、流動比:27の物性を有するものであった。
これをモダンマシナリー社製デルサtteg押出機に環
状スリット径2オo rnrtrΩのインフレーション
ダイ及び冷却用エアーリングを取付けたインフレーショ
ン成形機を用い、押出i−+θ榴/hr、ブローアツプ
比(B、U、R,) /、/ 、トt 7 ト率/4t
ノ条件下にエアーリングからの空気吹出量を変化させ、
冷却速度指数、2ざとして/!θμノインフレーション
フイルムヲ得り。
得うれたインフレーションフィルムを長さd 70ey
n、 幅ゲタ0譚の筒状フィルムに切断り、。
ニューロング社fJJHF322B−2型ヒートシーラ
ー(加熱部長さ100mm、加熱部クリアランス0.3
關、冷却部長さ:/タo ttrm、冷却部クリアラン
ス/1lLIIりを用すてヒートシール温度(加熱部表
面温度)2!O℃、冷却部温度30℃、フィルム送シ速
度/jfn/秒の条件下に筒状フィルムの開口部の一方
を端部からへ!儒の位置でヒートシールした。ヒートシ
ール部はフィルムの引取方向(縦方向)に収縮を起して
1元のフィルム厚さより厚くなっていた。
得られた袋に一θ〜の肥料を充填し、開口部を前記と同
様の条件でヒートシールした後/l〜、24を時間堆積
して放直し、落袋試験用の包装袋を得た。
(ロ) 包装袋の性能試験 上記0)で得られた包装袋について、横落袋試験及び縦
落袋試験を下記方法によって行なった。
落下条件は室温を横落袋試験は−IO℃とし、また縦落
袋試験は一!℃とし落下高さへ!m、/袋当勺落下回数
!回とした。
破袋率は試験に用いた包装袋の破袋した袋の百分率でめ
た。その結果を表/に示す。
(a) 横落袋試験 包装袋の胴部が床面と平行でヒートシ ール部が床面と略垂直となるようにして20袋を落下さ
せる(横落下)ことによシ試験を行な込、破袋率をめた
。なお。
横落袋試験は袋のヒートシール部の強度測定のために行
なったものである。
(b)縦落袋試験 包装袋のヒートシール部が床面と平行 で胴部が床面と略垂直となるよう圧して20袋を落下さ
せる(縦落下)ことによシ試験を行ない破袋率をめた。
なお。
縦落袋試験は袋の胴部の強度測定のために行なったもの
である。
(ハ) フィルム成形安定性 上記H)のインフレーション成形において、押出量を増
加させた際、溶融状態にある管状フィルムが安定なバブ
ル状態で製膜が可能な安定成形限界押出量を測定した。
該安定成形限界押出量が多い程、フィルム成形安定性が
良好であることを示す。
実施例コ 実施例/にお込て、線状低密度ポリエチレンと分岐状低
密度ポリエチレンとの配合量を表コのように変えたこと
以外は実施例/と同様に行なった。その結果を表/に示
す 実施例3.41 実施例/において1分岐状ポリエチレンとして表JK示
す物性を有するものを用いたこと以外は実施例/と同様
に行なった。その結果を表/に示す。
比教例/ 実施例/において、&!状低密度ポリエチレンと分岐状
低密度ポリエチレンとの配合量を表2のように変えたこ
と以外は実施例/と同様に行なった。その結果を表7に
示す。
比較例コ曇舟娃3 実施例/において分岐状低密度ポリエチレンまたは線状
低密度ポリエチレンとして表7に示す物性を有するもの
を用いたこと以外は実施例/と同様に行なった。その結
果を表/に示す。
比較例ダ 実施例/において、実施例/で用いた線状低密度ポリエ
チレン単独物を用い、ラジカル発生剤を全く添加しなか
ったこと以外は実施例/と同様に行なった。その結果を
表/に示す。
C発明の効果′〕 本発明方法によれば、特定の吻状低密度ポリエチレンに
特定の分岐状低密度ポリエチレンを特定量配合したもの
をラジカル発生剤と反応せしめたものを用いることによ
シ、ヒートシール強度及び胸部強度に著しく優れた包装
袋を得ることができる。また本願発明方法で用いる上記
変性ポリエチレン配合物は線状低密度ポリエチレン単独
物を用する場合よりもインフレーション成形する除の成
形安定性に優れているので。
インフレーション成形の生並性を向上させることができ
る。
出 願 人 三菱化成工業株式会社 代 理 人 弁理士 長谷用 − (嫌か7名) 第1頁の続き Qlnt、C1,’ 識別記号 庁内整理番号三丁わ■
ネ山j丁8シ (自発) 2 発明の名称 包装袋の製造方法 (596)玉受化成T@株式会椙 (はか 1名〉 5 補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) メルトインデックス2t//、0分以下、流動
    比3j以下の線状低密度ポリエチレン9j〜?/重量部
    に、メルトインデックス69//θ分以下、流動比!θ
    以下の分岐状低密度ポリエチレン!−〜/?重量部及び
    ラジカル発生剤0.0007〜0.7重量部を配合し、
    ラジカル発生剤を分解して、該ポリエチレンと反応させ
    ながら、或は反応させた後、ブローアツプ比O0り〜コ
    、θ、ドラフト率1o−4to、冷却速度指数30秒以
    下の条件下にインフレーション成形し、得られた筒状フ
    ィルムを引取方向に対して交差する方向を長手方向とし
    てヒートシール及び切断することを特徴とする包装袋の
    製造方法。
  2. (2) 線状低密度ポリエチレンは密度O0り/!〜O
    ,ワ!jt/crdのものであることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項に記載の方法。
  3. (3)分岐状低密度ポリエチレンは密度θ、9/!〜θ
    、り3θt/cdのものであることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項又は第、2項のいずれかに記載の方法。
  4. (4) ヒートシールはヒートシール部をλ30〜2r
    O℃の温度でフィルム同志が融着するまで加熱し、その
    後ヒートシール部を自由状態とすることによ)、ヒート
    シール部に収縮を生起させることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項〜第3項のいずれかに記載の方法。
JP59114331A 1984-06-04 1984-06-04 包装袋の製造方法 Granted JPS60257232A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5091228A (en) * 1987-07-13 1992-02-25 Mitsubishi Kasei Corporation Linear polyethylene film and process for producing the same
US5110870A (en) * 1989-01-06 1992-05-05 Mitsubishi Kasei Corporation Extensible film or sheet and process for producing the same
US5904964A (en) * 1989-12-18 1999-05-18 E. I. Du Pont De Nemours And Company Process for manufacturing heat-shrinkable polyethylene film

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