JPS60230130A - 自動露光調整方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （発明の技術分野） この発明はマイクロフィルムに、光源から光を照射し、
その透過光をＣＣＯ、アモルファス−５４等で成る光電
変換素子で走査する際の露光調整を自動的に行なう自動
露光調整機構に関する。

（発明の技術的背景とその問題点） マイクロフィルムのリーグプリンタ等で光源の露光量を
調整する場合には、マイクロフィルムにはかなりの濃度
バラツキがあることから、マイクロフィルムの透過光量
をフォトダイオード等の光センサで測光してマイクロフ
ィルムの平均画像濃度を測定しなければならない、しか
しながら、光センサは照射光量しに対して出力Ｖがリニ
アに変化する応答部を有し、光センサの種類によってそ
の応答部の範囲が大きく異なる。すなわち、第１図はＳ
ｉ−フォトダイオード及びアモルファス−５４で成るラ
インセンサの応答部の範囲を比較して示すものであり、
Ｓｉ　−フォトダイオードは特性Ｉに示すように約１０
７の範囲の比較的広いダイナミックレンジを有しており
、アモルファス−５ｉのラインセンサは特性■のように
約１０２と比較的狭い応答範囲となっている。したがっ
て、Ｓｉ−フォトダイオードを光源の自動露光の調整の
ための光センサに使用し、アモルファス−３ｉで成るラ
インセンサを画像の走査のために使用するような場合に
は、応答部の狭いラインセンサを有効に利用できないこ
とになる。すなわち、マイクロフィルムの濃度にはかな
りのバラツキがあり、光源やレンズ系の照度ムラを考慮
すると、ラインセンサの感応領域を越えて飽和領域に達
してしまうことがある。したがって、比較的応答部の広
い光センサで画像濃度を平均測光し、光源の露光量を概
略的に調整した後、マイクロフィルムの画像をラインセ
ンサで走査して読取り、画像処理するような場合、マイ
クロフィルムの画像を常にラインセンサのダイナミック
レンジ内で読取れるようにする必要がある。

一方、第２図はラインセンサを用いた画像処理装置の一
つであるマイクロフィルムのリーダプリンタの光学系を
示すものであり、光源ｌからの光はマイクロフィルム２
に照射され、マイクロフィルム２の透過光はレンズ系３
を経た後にプリント用のペーパ４に複写されるようにな
っている。また、レンズ系３の下方には回動可能なミラ
ー５が配設されており、ミラー５を回動して図示の破線
部のように光路中にミラー５を置くことにより、マイク
ロフィルム２の画像情報をたとえばアモルファス−３ｉ
で成るラインセンサ６で光学的に走査して読取り、その
画像情報を電気信号に変換してファクシミリ等で伝送す
るようになっている。そして、マイクロフィルム２から
の透過光路中にたとえばＳｉ−フォｉ・ダイオードで成
る光センサ７を配設し、マイクロ　フィルム２の画像濃
度を平均測光できるように　している。

このような構成において、ミラー５を第２図の実線の位
置に置くことにより、マイクロフィルム２からの透過光
が光センサ７に達し、光センサ７は先ずマイクロフィル
ム２の画像濃度を概略的に平均測光する。そして、図示
しない光量制御装置がこの光センサ７の測光信号に基づ
いて、その透過光量を常に一定とするように光源ｌの光
にを調整する。これにより、ベーパ４には常に同一の濃
度条件でマイクロフィルム２の画像をプリントすること
ができる。この後、マイクロフィルム２の画像をファク
シミリ等で伝送するために、ミラー５を第２図の破線位
置に回動することによりマイクロフィルム２の透過光が
ラインセンサ６に達する。これにより、ラインセンサ６
はマイクロフィルム２の移動に従ってその画像を走査す
ることが可能となる。

ここに、ラインセンサ６の走査出力とマイクロフィルム
２の画像との関係を第３図（Ａ）、（Ｂ）に示して説明
すると、走査線！に対して画像Ｐ７１〜ＰＴ３が第３図
（Ａ）に示すような位置関係となっていると、ラインセ
ンサ６から出力される走査信号はたとえば同図（Ｂ）に
示すようなレベル信号となる。すなわち、マイクロフィ
ルム２の背景レベルが８１のように低くなっており、マ
イクロフィルム２の画像レベルがＰＭのように高くなっ
ている。この例はマイクロフィルム２の画像がポジ画像
となっている場合を示しているが、ネガ画像となってい
る場合も同様であり、この場合には第３図（Ｂ）とは逆
にマイクロフィルム２の黒画像（背景）の時に出力レベ
ルが低くなって、フィルムの透明部分（画像）でレベル
が高くなる。このため、マイクロフィルム画像の走査出
力の全てがラインセンサ６の応答領域のリニア範囲に入
っている必要がある。これと共に、ラインセンサ６はマ
イクロッノルム２のコマ画像のみを走査するのではなく
、コマ慴域を外み出た部分も走査して、余裕をもって広
い領域を画像走査するようにしている。したがって、ラ
インセンサ６の出力からは、画像信号であるか画像領域
外の信号であるかを判別することができない、また、ラ
インセンサ６の走査読取信号には、ラインセンサ６を駆
動する高周波のクロックパルスがキャリアとして乗って
おり、走査読取信号から純粋に画像信号のみを抽出した
い要請がある。

（発明の目的） この発明は先述のような事情からなされたものであり、
マイクロフィルム画像に対するラインセンサの走査読取
信号から画像信号のみを抽出し、抽出された画像信号が
ラインセンサのリニア応答領域から得られるよ）に露光
量を調整する方法を提供することを目的としている。

（発明の概要） この発明は、マイクロフィルムに光源から光を照射し、
その透過光でマイクロフィルムの画像をラインセンサで
走査して読取り、画像処理する装置における光源の自動
露光調整方法に関するもので、ラインセンサの読取信号
の特定周波数範囲を抽出すると共に、当該抽出信号のピ
ーク値を検出して読取信号がラインセンサのリニア応答
領域に入るように光源の光量を調整するようにしたもの
である。

（発明の実施例） たとえば、第４図（Ａ）に示すようにマイクロフィルム
ｌＯに対してラインセンサ２０を配置してコマ１１の画
像を読取った場合、その読取信号ＲＳは同図（Ｂ）のよ
うになり、読取信号Ｒ９にはコマ１１の画像情報ＰＳの
他に、ラインセンサ２０を駆動している高周波のクロッ
クパルス成分ＯＳが含まれていると共に、コマ間のスペ
ースであるスヌケ部分の情報ＳＳも含まれている。この
ため、ラインセンサ２０の読取信号ＲＳのみでは実際の
コマ１１の画像情報であるか否かを判別できず、ライン
センサ２０の読取位置を把握してマイクロフィルム１０
のコマ１１の位置とを対応づけなければならない。しか
しながら、このような処理には複雑な回路を要するので
、この発明ではバンドパスフィルタを用いてエンベロー
プ成分、つまり画像情報ＰＳのみを抽出し、第４図（Ｇ
）に示すような信号ＦＳを得る。すなわち、所定周波数
範囲の信号成分のみを通過させるバンドパスフィルタに
よって、低周波成分であるスヌケ部分の情報ＳＳを遮断
すると共に、高周波成分であるクロックパルス成分ＯＳ
を遮断し、中間の画像情報ＰＳのみを抽出している。こ
のようにして得られた信号ＦＳは画像情報ＰＳと完全に
対応しているので、これにより画像処理を行なうことが
できるつなお、マイクロフィルムｌＯのコマ１１の画像
を読取る場合、ロールマイクロフィルムでは第５図に示
すように搬送方向に対して直角にラインセンサ２０を配
置すると共に、コマ１１の幅よりも長い余裕のあるライ
ンセンサ２０を用いてコマ画像を読取るようにするので
、コマ１１の画像情報のみを簡易に抽出できる意義は大
きい。

このようにして得られた信号ＦＳに対して、この発明で
は信号ＦＳのピーク値をめて、信号ＦＳがラインセンサ
２０のリニア応答領域に入るように光源の光源を調整す
る。第６図のＡに示す如く信号ＦＳの背景レベル聞がラ
インセンサ２０の応答部の立上り部ｐｔにほぼ一致する
ように光源の露光量を調整する。これは、背景レベルＢ
Ｍはマイクロフィルムの走査全体において最も多い領を
占めることに基づく、その後、ラインセンサ２０からの
信号ＦＳを構成素子のビット単位にチェックし、又は予
めめられているピーク値、すなわち信号ＦＳの最も高い
部分ＰＭを第６図のＢのようにラインセンサ２０の応答
部の飽和部Ｐ２の直前とするように光源の露光量を調整
する。このように、ラインセンサ２０（バンドパスフィ
ルタ）からの信Ｐｆ１’；をその応答部Ｐ２とｐｔの間
に移動することにより、マイクロフィルムの画像信号が
ラインセンサ２０の応答範囲を外れることはなくなる。

これにより、常に高質の画像をラインセンサ２０から伝
送することが可能となる。また、マイクロフィルムの背
景がネガ画像で黒くなっている場合、読の背景部分（高
濃度）にごみ等が付着した場合にはその透過光量の（８
号レベルが第６図のＢの■のように更に低下するが、レ
ベル信号のピークＰＭが飽和部Ｐ２の近傍に持上げられ
ていることにより、その底部■の領域が応答部Ｐ１から
外れる危険も少なくなる。

第７図はこの発明方法を適用した装置の一列を示す図で
あり、ＣＣＤ成るラインセンサ３０は駆動回路３１によ
って駆動され、マイクロフィルム３２の画像情報は光源
３３からの透過光がレンズ系３４を経てラインセンサ３
０に入力されることによって、第５図に示すような位置
関係で読取られる。ラインセンサ３０の読取信号Ｒ９は
バンドパスフィルタ３５に人力され、第４図（８）及び
（Ｃ）で示すような関係で画像情報のみを抽出した信号
ＦＳが得られる。信号ＦＳはピーク検出回路３Ｂに入力
されてそのピーク値が検出され、Ｃ２０等の演算回路３
７で予めめられているラインセンサ３０の応答特性から
、第６図にて説明したような手法でリニア応答領域に入
る露光１１ＥＸを計算し、光源制御回路３８を介して光
＄３３の輝度を調整する。これにより、マイクロフィル
ム３２のコマ画像を全てラインセンサ３０のリニア応答
領域で読取ることが可能となる。

なお、この発明に用いたピーク検出回路の出力信号は、
たとえば特開昭５７−７１１１１０７号公報で示される
ような自動焦点調節装置に応用でき、この場合には自動
焦点の調節回路と回路を共通化することが可能である。

（発明の効果） 以上のようにこの発明方法によれば、ラインセンサの読
取信号から画像情報のみを抽出し。

しかもラインセンサのリニア応答領域を使用できるよう
に露光調整しているので、常に高品質画像を得ることが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は光センサ及びラインセンサの応答範囲を説明す
るための図、第２図はこの発明を適用することができる
マイクロフィルムのリーグプリンタの光学系図、第３図
（Ａ）　、（Ｂ）はラインセフす出力と画像との走査関
係を説明するための図、第４図（Ａ）〜（Ｃ）及び第５
図はこの発明における画像信号の抽出を説明するための
図、第６図はこの発明の露光調整方法を説明するための
図、第７図はこの発明による装置の一例を示すブロック
図である。 ｌ・・・光源、２　、１０．３２・・・マイクロフィル
ム、３・・・レンズ系、４・・・ペーパ、５・・・ミラ
ー、６，２０．３０・・・ラインセンサ、７，７＾・・
・光センサ、３５・・・バンドパスフィルタ、３６・・
・ピーク検出回路、３７・・・演算回路。 第　３　図 ＣＢ）五石汎−ロー 弗　４　図 羊　５　図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. マイクロフィルムに光源から光を照射し、その透過光で
   前記マイクロフィルムの画像をライ／センサで走査して
   読取り１画像処理する装置における前記光源の自動露光
   調整方法において、前記ラインセンサの読取信号の特定
   周波数範囲を抽出すると共に、当該抽出信号のピーク値
   を検出して前記読取信号が前記ラインセンサのリニア応
   答領域に入るように前記光源の光量を調整するようにし
   たことを特徴とする自動露光調整方法。