JPS60202302A - 座標測定装置 - Google Patents
座標測定装置Info
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- JPS60202302A JPS60202302A JP6019684A JP6019684A JPS60202302A JP S60202302 A JPS60202302 A JP S60202302A JP 6019684 A JP6019684 A JP 6019684A JP 6019684 A JP6019684 A JP 6019684A JP S60202302 A JPS60202302 A JP S60202302A
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- Japan
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- contact
- probe
- coordinate data
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
- G01B21/045—Correction of measurements
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は座標測定装置の改良に関する。
従来よシ、被測定物体表面にプローブ先端の球状接触子
を接触させ、この接点の座標を計測することによシ、物
体の形状を測定する様にした座標測定装置が知られてい
る。しかしながらこの接触子の中心座標は、実際の物体
表面から接触子の半径ｒに相当する距離だけ離れている
。この為１妾触子中心座標に半径ｒを加算又は減算する
ことにより補正して真の物体表面座標を決定する必要が
ある。この為には、操作者がまず接触子と物体表面との
相対位置関係を確認した上で、接触子半径ｒを加算する
のか減算するのかを決定し、座４亀測定装置の演算部に
この様な補正情報を入力する必要があった。従って操作
が複雑であシ、操作ミスも発生しやすい等の欠点があっ
た。
を接触させ、この接点の座標を計測することによシ、物
体の形状を測定する様にした座標測定装置が知られてい
る。しかしながらこの接触子の中心座標は、実際の物体
表面から接触子の半径ｒに相当する距離だけ離れている
。この為１妾触子中心座標に半径ｒを加算又は減算する
ことにより補正して真の物体表面座標を決定する必要が
ある。この為には、操作者がまず接触子と物体表面との
相対位置関係を確認した上で、接触子半径ｒを加算する
のか減算するのかを決定し、座４亀測定装置の演算部に
この様な補正情報を入力する必要があった。従って操作
が複雑であシ、操作ミスも発生しやすい等の欠点があっ
た。
本発明はこの様な欠点を改良する為になされたもので、
上述の様な接触子半径ｒの補正を自動的に行える様にし
た座標測定装置を提供するものである。
上述の様な接触子半径ｒの補正を自動的に行える様にし
た座標測定装置を提供するものである。
以下実施例に従って本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明の一実施例である。図において１は被測
定物、２はプローブ、３は接触子である。
定物、２はプローブ、３は接触子である。
工／コーダ６は、Ｘ軸スケール６ａを有し、上記プロー
ブ２の基部２ａが上記スケール６ａ上を移動するさいの
、単位移動量毎にその移動方向に応じた形状のパルスを
発生する。該ノくルスはアップダウンカウンタ（以下Ｕ
Ｄカウンタとする）８に加えられ、その移動方向に応じ
て加算又は減算されて、プローブ２の基部２ａのＸ軸上
における位置データとなり、アンドゲート９及び１２に
加えられる。パルス発振器１０の出力は、アンドゲート
１１を介してアンドゲート１２のゲート端子及びファイ
フオメモリ１３のクロック端子に加えられる。又接触子
３に内蔵された接触検出スイッチ４及び手動スイッチ５
の入力側４ａ及び５ａは接地され、出力側４ｂ及び５ｂ
はアントゲ−）１１のゲート端子に接続されると共に、
ワンショットマルチ７及び演算表示部１５に接続される
。アンドゲート９のゲート端子にはワンショットマルチ
７の出力が加えられる。アンドゲート９及び１２の出力
はそれぞれバッファメモリ１４及びファイフオメモリ１
３に加えられ、各メモリ出力は演算表示部１５の引算部
１６に加えられ、その出力は補正符号検出部１７に加え
られる。該補正符号検出部１７及びバッファメモリ１４
の出力は補正演算部１８に加えられ、その出力は表示部
１９に加えられて、演算結果が表示される。
ブ２の基部２ａが上記スケール６ａ上を移動するさいの
、単位移動量毎にその移動方向に応じた形状のパルスを
発生する。該ノくルスはアップダウンカウンタ（以下Ｕ
Ｄカウンタとする）８に加えられ、その移動方向に応じ
て加算又は減算されて、プローブ２の基部２ａのＸ軸上
における位置データとなり、アンドゲート９及び１２に
加えられる。パルス発振器１０の出力は、アンドゲート
１１を介してアンドゲート１２のゲート端子及びファイ
フオメモリ１３のクロック端子に加えられる。又接触子
３に内蔵された接触検出スイッチ４及び手動スイッチ５
の入力側４ａ及び５ａは接地され、出力側４ｂ及び５ｂ
はアントゲ−）１１のゲート端子に接続されると共に、
ワンショットマルチ７及び演算表示部１５に接続される
。アンドゲート９のゲート端子にはワンショットマルチ
７の出力が加えられる。アンドゲート９及び１２の出力
はそれぞれバッファメモリ１４及びファイフオメモリ１
３に加えられ、各メモリ出力は演算表示部１５の引算部
１６に加えられ、その出力は補正符号検出部１７に加え
られる。該補正符号検出部１７及びバッファメモリ１４
の出力は補正演算部１８に加えられ、その出力は表示部
１９に加えられて、演算結果が表示される。
以上の構成による動作を説明する。
今プローグ２の球状接触子３を被測定物１に向けて移動
させるとエンコーダ６が発生するノくルスにより、プロ
ーブ２が下方に移動する場合ＵＤカウンタ８はダウン状
態となり、上方の場合アップ状態となって、単位移動量
毎に上記パルスを積算するので、ＵＤカウンタ８の出力
はプローブ２の基部２ａによって測定された接触子３の
Ｘ軸上における座標データとなる。ここでスイッチ４及
び５は通常開いている為出力側４ｂ及び５ｂは高レベル
であシ、この為アントゲ−）１１は開いている。又アン
ドゲート９は通常開じている。従ってアンドゲート１２
のゲート端子には１０ｍ５ｅＣ毎にパルス発振器ｌＯか
らのパルス出力が加えられる。この結果ファイフオメモ
リ１３はｌＱｍｓｅｃ毎に座標データを取シ込むので、
ファイフオメモリ１３がｎ段構成であれば、ファイフオ
メモリ１３には常時その直前の約１０ｎｍｓｅｃ ０間
の座標データが記憶されていることになる。
させるとエンコーダ６が発生するノくルスにより、プロ
ーブ２が下方に移動する場合ＵＤカウンタ８はダウン状
態となり、上方の場合アップ状態となって、単位移動量
毎に上記パルスを積算するので、ＵＤカウンタ８の出力
はプローブ２の基部２ａによって測定された接触子３の
Ｘ軸上における座標データとなる。ここでスイッチ４及
び５は通常開いている為出力側４ｂ及び５ｂは高レベル
であシ、この為アントゲ−）１１は開いている。又アン
ドゲート９は通常開じている。従ってアンドゲート１２
のゲート端子には１０ｍ５ｅＣ毎にパルス発振器ｌＯか
らのパルス出力が加えられる。この結果ファイフオメモ
リ１３はｌＱｍｓｅｃ毎に座標データを取シ込むので、
ファイフオメモリ１３がｎ段構成であれば、ファイフオ
メモリ１３には常時その直前の約１０ｎｍｓｅｃ ０間
の座標データが記憶されていることになる。
次に接触子３が３′の如く時刻ｔｏにおいて物体ｌの表
面に接触すると直ちに検出スイッチ４が閉じてその出力
側４ｂが接地され、アンドゲート９はマルチ７で定まる
短時間だけ開く。こうしてファイフオメモリ１３は、接
触直前の接触子３の軌Ｂ“を示す１０ ｍ５ｅｃ置きの
時刻ｔ１、ｔ２・・―・ｔｎにおける座標データＸ１、
Ｘ２・・・Ｘｎを記録し、バッファメモリ１４は接触後
１７Ａｓｅｃ以内に応答して座標データＸｏを記録する
。この様にファイフオメモリ１３の応答は遅くてよいが
、バッファメモリ１４は高速でなくてはならない。
面に接触すると直ちに検出スイッチ４が閉じてその出力
側４ｂが接地され、アンドゲート９はマルチ７で定まる
短時間だけ開く。こうしてファイフオメモリ１３は、接
触直前の接触子３の軌Ｂ“を示す１０ ｍ５ｅｃ置きの
時刻ｔ１、ｔ２・・―・ｔｎにおける座標データＸ１、
Ｘ２・・・Ｘｎを記録し、バッファメモリ１４は接触後
１７Ａｓｅｃ以内に応答して座標データＸｏを記録する
。この様にファイフオメモリ１３の応答は遅くてよいが
、バッファメモリ１４は高速でなくてはならない。
以上の′様にして得られた座標データが演算表示部１５
に加えられて物体表面の真の座標値が決定される。即ち
、引算部１６により、接触子３の軌Ｂ・データＸ’ｉ
（ｉ＝１ 、２ ｍ＊＊ ｎ ）を物体面の測定座標デ
ータＸＯから順次引算する。符号検出部１７では、この
ｎ個のデータＸ１に対する引算結果Ｘ。−Ｘｌのうち最
大の絶対値を与えるものを選び、このときの座標データ
Ｘｉを最初の座標データＸｎとみなす。こうして得られ
たＸｏ−Ｘｎの符号が正であれば正の、又負であれば負
の補正符号を補正演算部１８に加える。補正符号が負で
ある場合は接触子３が物体の上方から近づいて上面に接
触したことを示すので、補正演算部１８では座標データ
Ｘｏから接触子の半径ｒを引算し、こうして得たＸｏ
’ （−Ｘｏ−ｒ’ ）を真の物体表面の座標データと
して表示部１９に表示する。Ｘｏ−Ｘｎが正である場合
は物体の下面に接触したものと判定し、補正演算部１８
では座標データＸｏにｒを加算して得たＸｏ’ （＝Ｘ
ｏ十ｒ ）を真のデータとして表示部１９に表示する。
に加えられて物体表面の真の座標値が決定される。即ち
、引算部１６により、接触子３の軌Ｂ・データＸ’ｉ
（ｉ＝１ 、２ ｍ＊＊ ｎ ）を物体面の測定座標デ
ータＸＯから順次引算する。符号検出部１７では、この
ｎ個のデータＸ１に対する引算結果Ｘ。−Ｘｌのうち最
大の絶対値を与えるものを選び、このときの座標データ
Ｘｉを最初の座標データＸｎとみなす。こうして得られ
たＸｏ−Ｘｎの符号が正であれば正の、又負であれば負
の補正符号を補正演算部１８に加える。補正符号が負で
ある場合は接触子３が物体の上方から近づいて上面に接
触したことを示すので、補正演算部１８では座標データ
Ｘｏから接触子の半径ｒを引算し、こうして得たＸｏ
’ （−Ｘｏ−ｒ’ ）を真の物体表面の座標データと
して表示部１９に表示する。Ｘｏ−Ｘｎが正である場合
は物体の下面に接触したものと判定し、補正演算部１８
では座標データＸｏにｒを加算して得たＸｏ’ （＝Ｘ
ｏ十ｒ ）を真のデータとして表示部１９に表示する。
次に、接触子３にスイッチ４が内蔵されていない場合に
ついて第２図を参照しながら説明する。第２図は、接触
子３が物体１の表面に接触して安定する直前の軌りであ
る。当初時刻ｔｎにおいて接触子３は物体の上方にあり
この最初の座標データはＸｎであったものとし、これが
時間の経過と共に次第に物体に近づき、時刻ｔａにおい
て座標データカＸＯとなり接触子３は物体表面に接触し
て停止する。しかしながら操作者の不慣れ等によるプロ
ーブ２への力のかけ過ぎ等によりプローブ２はたわみ、
基部２ａはさらに下方に移動するので、接触子３の座標
データは見かけ上さらに下降を続け、時刻ｔｂにおいて
最下方位置に到達し、このときの座標データはｘｂとな
る。その後プローブ２への力のかけすぎを修正する等に
より基部２ａは上方へ戻るので、接触子３の座標データ
も又見かけ上戻って時刻ｔ１において座標データＸ１と
なり時刻ｔｏにおいて操作者は、この位置を正しい物体
表面と判断してスイッチ５を閉じるので、前述と同様座
標データＸｏがバッファメモリ１４に記録される。
ついて第２図を参照しながら説明する。第２図は、接触
子３が物体１の表面に接触して安定する直前の軌りであ
る。当初時刻ｔｎにおいて接触子３は物体の上方にあり
この最初の座標データはＸｎであったものとし、これが
時間の経過と共に次第に物体に近づき、時刻ｔａにおい
て座標データカＸＯとなり接触子３は物体表面に接触し
て停止する。しかしながら操作者の不慣れ等によるプロ
ーブ２への力のかけ過ぎ等によりプローブ２はたわみ、
基部２ａはさらに下方に移動するので、接触子３の座標
データは見かけ上さらに下降を続け、時刻ｔｂにおいて
最下方位置に到達し、このときの座標データはｘｂとな
る。その後プローブ２への力のかけすぎを修正する等に
より基部２ａは上方へ戻るので、接触子３の座標データ
も又見かけ上戻って時刻ｔ１において座標データＸ１と
なり時刻ｔｏにおいて操作者は、この位置を正しい物体
表面と判断してスイッチ５を閉じるので、前述と同様座
標データＸｏがバッファメモリ１４に記録される。
又ファイフオメモリ１３には、第２図の様なグローブ２
の軌瀞をｌＱｍｓｅｃ毎に測定した座標データが記憶さ
れる。これらの座標データは前述の場合と全く同様に処
理されて真の座標データが算出される。
の軌瀞をｌＱｍｓｅｃ毎に測定した座標データが記憶さ
れる。これらの座標データは前述の場合と全く同様に処
理されて真の座標データが算出される。
なお、座標ＸｏとＸｎとの差よりも、Ｘｏとｘｂとの差
の方が大きい場合は補正符号が正であるものと判定して
しまい、補正が正しく行われない。この様な誤動作をさ
けるには接触子３が物体１の表面から出来るだけ離れた
状態からの軌廊・をファイフオメモリ１３に記録する様
にすればよい。この為にはファイフォメモリ１３の容量
ｎを大きくしたり、パルス発振器１０の周期を長くする
等の方法がある。
の方が大きい場合は補正符号が正であるものと判定して
しまい、補正が正しく行われない。この様な誤動作をさ
けるには接触子３が物体１の表面から出来るだけ離れた
状態からの軌廊・をファイフオメモリ１３に記録する様
にすればよい。この為にはファイフォメモリ１３の容量
ｎを大きくしたり、パルス発振器１０の周期を長くする
等の方法がある。
以上の第１・図の実施例で、手動スイッチ５を用いて測
定する場合、接触子３を物体に接触させたあとスイッチ
５を閉じるまでの時間が長すぎて１゜ｎ ｍ５ｅｃを越
えてしまうと、ファイフォメモリ１３には接触子３が物
体１に接触する前のデータが記録されないことになって
、補正が正しく行われず不都合である。第３図はこの様
な欠点を改良する為になされた本発明の他の実施例であ
る。
定する場合、接触子３を物体に接触させたあとスイッチ
５を閉じるまでの時間が長すぎて１゜ｎ ｍ５ｅｃを越
えてしまうと、ファイフォメモリ１３には接触子３が物
体１に接触する前のデータが記録されないことになって
、補正が正しく行われず不都合である。第３図はこの様
な欠点を改良する為になされた本発明の他の実施例であ
る。
図においてアンド回路１２の出力は第１図の実施例では
ファイフオメモリ１３に加えられるだけであったが、本
実施例では、この他データ変動検出器２１に加えられ、
その出力はアンドゲート２２のゲート端子に加えられる
。アンドゲート１１の出力はアンドゲート１２のゲート
端子に加えられると共にアンドゲート２２の入力端子に
加えられる。アンドゲート２２の出力はファイフオメモ
リ１３のクロック端子に加えられる。他の部分について
は第１図の実施例と同様なので、これらの部分には第１
図と同一符号を付して詳細外説明を省略する。
ファイフオメモリ１３に加えられるだけであったが、本
実施例では、この他データ変動検出器２１に加えられ、
その出力はアンドゲート２２のゲート端子に加えられる
。アンドゲート１１の出力はアンドゲート１２のゲート
端子に加えられると共にアンドゲート２２の入力端子に
加えられる。アンドゲート２２の出力はファイフオメモ
リ１３のクロック端子に加えられる。他の部分について
は第１図の実施例と同様なので、これらの部分には第１
図と同一符号を付して詳細外説明を省略する。
以上の構成による動作を以下説明する。
第１図の場合と同様に、接触子３が物体に接触する直前
まで１０ ｍ５ｅｃ毎に、アンドゲート１２から接触子
３の座標データＸｉが出力される。データ変動検出器２
１ではこの座標データＸｉとＸ１＋１との差を演算し、
その差が所定値よシも小さい場合にはゼロレベル、大き
い場合には高レベルのゲート信号を発生し、アンドゲー
ト２２に加えるので、アンドゲート１１からの１０ 、
ｍ５ｅｃ毎のパルスは上記両データの差が大きい間だけ
ファイフオメモ１Ｊ１３のクロック端子に加えられる。
まで１０ ｍ５ｅｃ毎に、アンドゲート１２から接触子
３の座標データＸｉが出力される。データ変動検出器２
１ではこの座標データＸｉとＸ１＋１との差を演算し、
その差が所定値よシも小さい場合にはゼロレベル、大き
い場合には高レベルのゲート信号を発生し、アンドゲー
ト２２に加えるので、アンドゲート１１からの１０ 、
ｍ５ｅｃ毎のパルスは上記両データの差が大きい間だけ
ファイフオメモ１Ｊ１３のクロック端子に加えられる。
従ってファイフオメモリ１３は順次到来する座標データ
Ｘｉの変化が大きい間だけ記録動作を行いデータを取り
込む。この結果、接触子３を移動させている間だけデー
タが取シ込まれ、接触子３を停止させている間等の無駄
なデータは取シ込まれないので、ファイフオメモリ１３
の容量は小さくても遠方からの座標データを記憶するこ
とが出来る。次に接触子３が物体表面に接触すると、第
１図の場合と同様にファイフオメモリ１３には、その直
前までの接触子３の軌８′を示す座標データＸｉが記録
され、バッファメモリ１４には物体表面の座標データＸ
ｏが記録されるので、演算表示部１５によシ接触子３の
半径ｒの補正が行われて正確な座標データが表示される
。
Ｘｉの変化が大きい間だけ記録動作を行いデータを取り
込む。この結果、接触子３を移動させている間だけデー
タが取シ込まれ、接触子３を停止させている間等の無駄
なデータは取シ込まれないので、ファイフオメモリ１３
の容量は小さくても遠方からの座標データを記憶するこ
とが出来る。次に接触子３が物体表面に接触すると、第
１図の場合と同様にファイフオメモリ１３には、その直
前までの接触子３の軌８′を示す座標データＸｉが記録
され、バッファメモリ１４には物体表面の座標データＸ
ｏが記録されるので、演算表示部１５によシ接触子３の
半径ｒの補正が行われて正確な座標データが表示される
。
以上、−次元測定の場合について述べたが二次元測定に
ついても全く同様である。この場合は上述のＹ軸に関す
るデータと同様にＹ軸についても接触子の軌題データを
とる。例えば円の座標をめる場合、被測定円に３点ａ、
ｂ及びＣについて＃触ヘセ、これら接触点における接触
子の座標（Ｘａ。
ついても全く同様である。この場合は上述のＹ軸に関す
るデータと同様にＹ軸についても接触子の軌題データを
とる。例えば円の座標をめる場合、被測定円に３点ａ、
ｂ及びＣについて＃触ヘセ、これら接触点における接触
子の座標（Ｘａ。
Ｙａ ）、（ｘｂ、ｙｂ）及び（Ｘｃ、 Ｙｃ ）から
周知の手段により、その円の中心座標（Ｘｏ 、 Ｙｏ
）をめ、下式によって半径Ｒｏをめる。
周知の手段により、その円の中心座標（Ｘｏ 、 Ｙｏ
）をめ、下式によって半径Ｒｏをめる。
こうしてめた半径Ｒｏについては、接触子が円に内接し
ている場合は接触子半径ｒを加算し、外接している場合
は減算する必要がある。この為には、前述と同様に、被
測定円に接触子が接触する直前の軌９ （Ｘｉ 、 Ｙ
ｉ ）を、上記３点のうちの１点ａについてめる。次に
この軌８・上の各点（Ｘｉ。
ている場合は接触子半径ｒを加算し、外接している場合
は減算する必要がある。この為には、前述と同様に、被
測定円に接触子が接触する直前の軌９ （Ｘｉ 、 Ｙ
ｉ ）を、上記３点のうちの１点ａについてめる。次に
この軌８・上の各点（Ｘｉ。
Ｙｉ）と中心座標（Ｘｏ、 Ｙｏ ）との間の距離Ｒｉ
を下式によってめる。
を下式によってめる。
これら各距離のうちの最大値（通常は最先データ１１、
ｍ ）を上記半径Ｒｏから差引いだ値Ｒ８−Ｒ，の符号
の正負を判定する。符号が正であれば接触子は円の内側
から円に内接したものであることが判定出来るので、真
の半径Ｒｏ’は Ｒｏ” ＝ Ｒｏ＋ ｒ として計算出来る。又符号が負であれば接触子は円の外
側から円に外接したものであることがわかるので、真の
半径Ｒｏ’は Ｒ□ ’ ＝ Ｒ□ −ｒ として計算出来る。
ｍ ）を上記半径Ｒｏから差引いだ値Ｒ８−Ｒ，の符号
の正負を判定する。符号が正であれば接触子は円の内側
から円に内接したものであることが判定出来るので、真
の半径Ｒｏ’は Ｒｏ” ＝ Ｒｏ＋ ｒ として計算出来る。又符号が負であれば接触子は円の外
側から円に外接したものであることがわかるので、真の
半径Ｒｏ’は Ｒ□ ’ ＝ Ｒ□ −ｒ として計算出来る。
３次元測定の場合も同様で、例えば平面測定の場合、与
えられた平面の平面方程式を決定するには、周知の様に
、平面上の３点ａ、 ｂ及びＣの各々について座標（Ｘ
ａ、 Ｙａ、 Ｚａ ） （Ｘｂ、 Ｙｂ、 Ｚｂ ）
及び（Ｘｃ 、 Ｙｃ、 Ｚｃ ）をめ、下式に代入し
て、各係数に、ｌ、ｒｎ及びｄをめる。
えられた平面の平面方程式を決定するには、周知の様に
、平面上の３点ａ、 ｂ及びＣの各々について座標（Ｘ
ａ、 Ｙａ、 Ｚａ ） （Ｘｂ、 Ｙｂ、 Ｚｂ ）
及び（Ｘｃ 、 Ｙｃ、 Ｚｃ ）をめ、下式に代入し
て、各係数に、ｌ、ｒｎ及びｄをめる。
ｋＸａ＋ｌＹａ＋ｍＺａ＋ｄ−Ｏ
ｋ Ｘｂ＋ ｌ Ｙｂ＋ ｍ Ｚｂ＋ ｄ ＝ ０ｋＸ
ｏ＋ＩＹ（＋ｍＺｏ＋ｄ＝Ｏ Ｆ）］１「石評−１ この様にしてめる平面を決定出来るが、この場合におい
ても、係数ｄに接触子の半径ｒの誤差が生ずる。この誤
差を補正する為前述と同様に上記３点のうち１点ａにつ
いて、直前の軌８・データ（Ｘａｉ、Ｙａｉ、ＺａＩ）
をめ、ｉ ＝１．２＋＋＊ｅｎ（７）各データについて ｈｉ＝ｋＸａｉ＋ＩＹａｉ十ｍＺａｉ十ｄを算出し、１
ｈｉｌ が最大値をとるときのｈｉの符号ｇ（ｇ：＋１
又は−１）をめれば、上記係数ｄの真の値ｄ′は ｄ’ ＝ ｄ ＋ ｇｒ としてめることが出来る。
ｏ＋ＩＹ（＋ｍＺｏ＋ｄ＝Ｏ Ｆ）］１「石評−１ この様にしてめる平面を決定出来るが、この場合におい
ても、係数ｄに接触子の半径ｒの誤差が生ずる。この誤
差を補正する為前述と同様に上記３点のうち１点ａにつ
いて、直前の軌８・データ（Ｘａｉ、Ｙａｉ、ＺａＩ）
をめ、ｉ ＝１．２＋＋＊ｅｎ（７）各データについて ｈｉ＝ｋＸａｉ＋ＩＹａｉ十ｍＺａｉ十ｄを算出し、１
ｈｉｌ が最大値をとるときのｈｉの符号ｇ（ｇ：＋１
又は−１）をめれば、上記係数ｄの真の値ｄ′は ｄ’ ＝ ｄ ＋ ｇｒ としてめることが出来る。
以上の様に本発明によれば、接触子が物体に接触する直
前の軌匙・から接触子が物体のいずれの側に接触したか
を自動的に判定することが出来、操作の簡単な座標測定
装置を得ることが出来る。
前の軌匙・から接触子が物体のいずれの側に接触したか
を自動的に判定することが出来、操作の簡単な座標測定
装置を得ることが出来る。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
その動作を説明する図、第３図は本発明の他の実施例を
示すブロック図である。 図中、■は物体、３は接触子、１３はファイフオメモリ
、１５は演算及び表示部である。 特許出願人 ユニーデータシステム株式会社 ↓ 第２図
その動作を説明する図、第３図は本発明の他の実施例を
示すブロック図である。 図中、■は物体、３は接触子、１３はファイフオメモリ
、１５は演算及び表示部である。 特許出願人 ユニーデータシステム株式会社 ↓ 第２図
Claims (1)
- 接触子と、被測定物体に接触した上記接触子の座標デー
タを得る手段と、上記接触子を上−記物体に接近させた
方向に応じて上記座標データに上記接触子の寸法を加算
又は減算することによυ上記接触点の真の座標データを
算出する手段とを有する座標測定装置において、上記接
触子が上記物体に接触する直前の上記接触子の軌１語デ
ータ列を記憶する手段と、上記軌υデータ列のうち上記
座標データから最遠点にあるものを選択する手段とを有
し、上記座標データと上記選択された軌刈・データとか
ら上記沃触子が上記物体に接近した方向を定める様にし
たことを特徴とする座標測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6019684A JPS60202302A (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | 座標測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6019684A JPS60202302A (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | 座標測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60202302A true JPS60202302A (ja) | 1985-10-12 |
Family
ID=13135156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6019684A Pending JPS60202302A (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | 座標測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60202302A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000070298A1 (en) * | 1999-05-13 | 2000-11-23 | Marposs Societa Per Azioni | System for detecting linear dimensions of mechanical workpieces, with wireless signal transmission units |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5943308A (ja) * | 1982-09-03 | 1984-03-10 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 三次元形状の検出方法と装置 |
-
1984
- 1984-03-28 JP JP6019684A patent/JPS60202302A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5943308A (ja) * | 1982-09-03 | 1984-03-10 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 三次元形状の検出方法と装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000070298A1 (en) * | 1999-05-13 | 2000-11-23 | Marposs Societa Per Azioni | System for detecting linear dimensions of mechanical workpieces, with wireless signal transmission units |
| US6526670B1 (en) | 1999-05-13 | 2003-03-04 | Marposs Societa' Per Azioni | System for detecting linear dimensions of mechanical workpieces, with wireless signal transmission units |
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