JPS60201270A - Temperature and humidity variation type testing device for noise resistance - Google Patents
Temperature and humidity variation type testing device for noise resistanceInfo
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- JPS60201270A JPS60201270A JP5627684A JP5627684A JPS60201270A JP S60201270 A JPS60201270 A JP S60201270A JP 5627684 A JP5627684 A JP 5627684A JP 5627684 A JP5627684 A JP 5627684A JP S60201270 A JPS60201270 A JP S60201270A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、コンピュータやその他の電子機器類のノイズ
耐性（妨害排除能力）を試験するノイズ耐性試験装置に
係り、より詳しくは、任意の温度および湿度の試験環境
を外乱の影響なく設定できるようにした温湿度可変のノ
イズ耐性試験装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a noise immunity testing device for testing the noise immunity (disturbance rejection ability) of computers and other electronic devices, and more specifically, the present invention relates to a noise immunity testing device for testing the noise immunity (interference rejection ability) of computers and other electronic equipment, and more specifically, This invention relates to a noise resistance test device with variable temperature and humidity that allows settings to be made without being affected by noise.
半導体素子、コンピュータ等は適正なノイズ耐性を持つ
必要がある。一般に、半導体やコンビュ−タのノイズ耐
性（妨害排除能力）は、所定の温度および湿度における
磁界・電界強度環境下で正常に動作するとき、その機器
は所定環境条件の耐性があるという。Semiconductor devices, computers, etc. need to have appropriate noise resistance. In general, the noise immunity (disturbance rejection ability) of semiconductors and computers is said to be resistant to predetermined environmental conditions when they operate normally under a magnetic field/electric field strength environment at a predetermined temperature and humidity.
ノイズは、伝導ノイズと放射ノイズに分類される。放射
ノイズは、高電圧源と大電流源から発生し、一般に前者
からは電界成分の大きな高インピーダンス波、後者から
は磁界成分の大きな低インピーダンス波が発生する。こ
の波は、距離〉〉波長÷２πの範囲では平面波となる。Noise is classified into conducted noise and radiated noise. Radiation noise is generated from a high voltage source and a large current source, and generally the former generates a high impedance wave with a large electric field component, and the latter generates a low impedance wave with a large magnetic field component. This wave becomes a plane wave in the range of distance>>wavelength/2π.
この範囲を遠方界という。一方、距離〈く波長÷２πな
る範囲は近接界と呼ぶ。本発明は主にこの近接界での各
種機器のノイズ耐性を所定環境下で試験する装置に係る
ものである。This range is called the far field. On the other hand, the range where the distance is less than the wavelength divided by 2π is called the near field. The present invention mainly relates to an apparatus for testing the noise resistance of various devices in the near field under a predetermined environment.
かようなノイズ耐性試験は、シールド壁で囲った試験室
を作り、この中に磁界・電界発生源と被試験体をセント
し、試験条件を室外から制御できるようにして外部と遮
断された強磁界・強電界空間（本明細書においてこれを
電磁界空間と呼ぶことにする）を形成しながら実施する
のが実際的であるが、この電磁界空間を形成すると同時
に所定の温湿度条件にこの試験室内を正確に制御しよう
とすると、ここに問題がある。すなわち、試験室内に通
常の電気・電子式の温度・湿度センサーを設置して試験
室の温湿度制御を実施しようとすると、これらの温度・
湿度センサーが強磁界および電界にさらされて娯動作す
る危険を伴う。In such noise immunity tests, a test chamber surrounded by a shield wall is constructed, and the magnetic field/electric field source and the test object are placed inside the chamber, and the test conditions are controlled from the outside so that the test chamber is isolated from the outside. It is practical to conduct this while forming a magnetic field/strong electric field space (hereinafter referred to as an electromagnetic field space), but at the same time as forming this electromagnetic field space, There is a problem here when trying to accurately control the inside of a test room. In other words, if you try to control the temperature and humidity of the test room by installing ordinary electric/electronic temperature/humidity sensors in the test room, these temperature and humidity sensors will
There is a danger that the humidity sensor may be exposed to strong magnetic and electric fields and operate unnecessarily.
このため、室内温湿度制御用の温湿度センサーを使用し
ないで室内に所定の温湿度の空気を供給し、実際の室内
の温湿度は成り行きまかせて試験を実施するといったこ
とも従来行われたが、これではノイズ耐性試験のうちの
熱ストレス環境適合試験ができない。また、換気系統の
還り空気の温湿度を検出して室内の温湿度をこれで代表
させる方式もあるが、これでは被試験体の設置されてい
る実際の環境を測定できないし、より近似させるには換
気回数を多くしなければならず不都合が生じる。試験室
内に作業員が入り込んで温湿度を測定する方式もあるが
、測定者が強磁界１強電界環境に置かれるので人命ある
いは人体機能に障害を生ずるおそれがあって望ましくな
い。For this reason, tests have traditionally been conducted by supplying air at a predetermined temperature and humidity into the room without using a temperature/humidity sensor for indoor temperature/humidity control, and leaving the actual indoor temperature/humidity as it is. This makes it impossible to perform a heat stress environment compatibility test as part of the noise resistance test. There is also a method that detects the temperature and humidity of the return air from the ventilation system and uses this to represent the temperature and humidity in the room, but this method cannot measure the actual environment where the test object is installed, and it is necessary to more closely approximate it. This causes inconvenience as the number of ventilations must be increased. There is also a method in which a worker enters the test chamber to measure the temperature and humidity, but this is not desirable because the measurer is placed in an environment of a strong magnetic field and one strong electric field, which may endanger human life or human body functions.
加えて、このノイズ耐性試験室を建物の内部においてシ
ールド壁で囲って形成したとしても、この試験室の内外
を導通させる電線や制御線を経て伝導ノイズが生じて外
乱を発生させるし、試験室の外の機器に電磁障害を生ず
ることもある。In addition, even if this noise resistance test room is surrounded by a shield wall inside a building, conductive noise will occur through the electric wires and control lines that connect the inside and outside of this test room, causing disturbances. It may also cause electromagnetic interference to equipment outside the equipment.
本発明は、このような伝導ノイズや放射ノイズを極力低
減すると同時に試験室内の温度および湿度を正確に制御
できるようにしたノイズ耐性試験装置を提供するもので
ある。すなわち本発明の温湿度可変式ノイズ耐性試験装
置は２図面の実施例に示したように、磁界・電界発生源
１と被試験体２をその中に収容し且つシールド壁３で囲
われた電磁界空間４と、この電磁界空間４に外部より空
気を供給する給気路５と、この電磁界空間４がら空気を
排出する排気路６と、該給気路５に介装された空気温湿
度調節器７と、電磁界空間４の外部に設置され耐ノイズ
試験の操作並びに該空気温湿度調節器７を制御するため
の制御器８と、電磁界空間４内に設置され且つ制御器８
に光フアイバーケーブル９によって接続される温度検出
器１０と。The present invention provides a noise resistance test device that can reduce such conductive noise and radiated noise as much as possible and at the same time accurately control the temperature and humidity in the test chamber. In other words, the temperature/humidity variable noise resistance testing device of the present invention, as shown in the embodiment in FIG. field space 4, an air supply path 5 that supplies air from the outside to this electromagnetic field space 4, an exhaust path 6 that exhausts air from this electromagnetic field space 4, and an air temperature interposed in the air supply path 5. a humidity controller 7; a controller 8 installed outside the electromagnetic field space 4 for operating the noise resistance test and controlling the air temperature/humidity controller 7; and a controller 8 installed inside the electromagnetic field space 4.
A temperature sensor 10 is connected to the temperature sensor 10 by a fiber optic cable 9.
電磁界空間４内に設置され且つ制御ａ８に光フアイバー
ケーブル１１によって接続される湿度検出器１２と、か
ら基本的に構成されるものである。It basically consists of a humidity detector 12 installed in the electromagnetic field space 4 and connected to the control a8 by an optical fiber cable 11.
以下２図面に従って２本発明装置の詳細を説明する。The details of the two inventive devices will be explained below with reference to the two drawings.
電磁界空間４は、ノイズ耐性試験を実施する空間であり
、放射ノイズを遮断するためのシールド材を使用したシ
ールド壁３で包囲されている。この中に磁界・電界発生
源１と被試験体２がセントされ、磁界・電界発生源１よ
り発生する磁界・電界環境に被試験体２が置かれる。磁
界・電界発生源１は、電源１４に対して、室外のノイズ
カントトランス１５と室内のノイズカットトランス１６
を介して接続され、室内のノイズカットトランス１６は
。The electromagnetic field space 4 is a space in which a noise resistance test is performed, and is surrounded by a shield wall 3 using a shielding material for blocking radiated noise. A magnetic field/electric field generating source 1 and a test object 2 are placed in this, and the test object 2 is placed in a magnetic field/electric field environment generated by the magnetic field/electric field generating source 1. The magnetic field/electric field generation source 1 includes a power source 14, an outdoor noise cut transformer 15, and an indoor noise cut transformer 16.
The indoor noise cut transformer 16 is connected via.
ノイズフッイルタ−１７を経て接地される。一方。It is grounded through a noise filter 17. on the other hand.
被試験体２も、室内のノイズカットトランス１６と室外
のノイズカットトランス１５を介して電源１８に接続さ
れ、制御器８への制御ランイ並びに接地ラインにはノイ
ズフッイルター１７が介装しである。The test object 2 is also connected to a power source 18 via an indoor noise cut transformer 16 and an outdoor noise cut transformer 15, and a noise filter 17 is interposed in the control line to the controller 8 and the ground line. be.
このようにノイズカットトランス並びにノイズフィルタ
ーは伝導ノイズを除去するもので、室外機器の電磁破壊
の危険を未然に防止すると共に試験機器類の外乱を防止
するものである。室内に設定される機器類に対して、こ
のノイズカットトランスとノイズフィルターを取り付け
るさいには、これらをユニット化して取り付けるのがよ
い。In this way, the noise cut transformer and noise filter remove conducted noise, thereby preventing the danger of electromagnetic destruction of outdoor equipment and preventing disturbance to test equipment. When installing this noise cut transformer and noise filter to equipment set up indoors, it is best to install them as a unit.
電磁界空間４の温湿度を任意の試験条件に設定できるよ
うにするために１本発明装置は電磁界空間４に空気循環
路を設けると共に後述の光ファイバーによる温湿度制御
センサーを取りつける。In order to be able to set the temperature and humidity of the electromagnetic field space 4 to arbitrary test conditions, the apparatus of the present invention provides an air circulation path in the electromagnetic field space 4, and is also equipped with a temperature and humidity control sensor using an optical fiber, which will be described later.
空気循環路は給気路５と排気路６とからなり。The air circulation path consists of an air supply path 5 and an exhaust path 6.
給気路５に給気の温湿度調節器７を設置する。排気路６
には排気ファン２５が取り付けられるが、この排気の一
部または全部が循環できるように、排気路６は排気ファ
ン２５に通ずる途中で温湿度調節器７に接続されている
。A supply air temperature and humidity regulator 7 is installed in the air supply path 5. Exhaust path 6
An exhaust fan 25 is attached to the exhaust passage 6, and the exhaust path 6 is connected to a temperature/humidity regulator 7 on the way to the exhaust fan 25 so that part or all of this exhaust gas can be circulated.
温湿度調節器７は加湿器２０．加熱器２１．冷却器２２
、湿度調節器２３．および給気ファン２４を備えており
、外気取入れ口１９からの外気と排気の一部または全部
、或いは排気だけをこの中に取入れて所定の温湿度の給
気を作る。この温湿度調節器７内の各機器の能力並びに
動作は制御器８によって制御されるようになっている。The temperature/humidity regulator 7 is a humidifier 20. Heater 21. Cooler 22
, humidity regulator 23. and an air supply fan 24, which takes in some or all of the outside air and exhaust air from the outside air intake port 19, or only the exhaust air, to create air supply at a predetermined temperature and humidity. The capabilities and operations of each device within the temperature/humidity regulator 7 are controlled by a controller 8.
この温湿度調節器７の給気ファン２４によって電磁界空
間４に給気が供給されるが、実際の電磁界空間４内の試
験温度を検出して温湿度調節器７を制御するための制御
信号を、電磁界空間４内に設置された温度検出器１゜と
湿度検出器１２によって取り出す。Air supply is supplied to the electromagnetic field space 4 by the air supply fan 24 of the temperature/humidity regulator 7, and a control is performed to detect the actual test temperature in the electromagnetic field space 4 and control the temperature/humidity regulator 7. Signals are taken out by a temperature detector 1° and a humidity detector 12 installed in the electromagnetic field space 4.
温度検出器１０並びに湿度検出器１２は、それぞれ温度
と湿度の変化を力学的な伸縮量に変換し、この伸縮量の
変化を光ファイバーの屈折変化に変換してこの屈折によ
る光の伝送損失として捕える光ファイバー温度・湿度セ
ンサーを使用する。第２図はこの光フアイバー湿度セン
サーの一例を示して°いる。第２図において、 １１は
光フアイバーケーブル、２６は湿度検出部、２７はガイ
ドリング、２８はガイド、２９はベースであり、湿度検
出部２６で湿度変化を伸縮量として検出し、この伸縮量
はガイドリング内の光ファイバーの屈折量に変換され、
この光ファイバーの屈折による光の伝送損失が湿度変化
として取り出される。The temperature detector 10 and the humidity detector 12 each convert changes in temperature and humidity into mechanical expansion/contraction amounts, convert the changes in the expansion/contraction amounts into changes in the refraction of the optical fiber, and capture them as optical transmission losses due to this refraction. Using fiber optic temperature and humidity sensors. FIG. 2 shows an example of this optical fiber humidity sensor. In FIG. 2, 11 is an optical fiber cable, 26 is a humidity detection section, 27 is a guide ring, 28 is a guide, and 29 is a base.The humidity detection section 26 detects changes in humidity as an amount of expansion and contraction, and this amount of expansion and contraction is It is converted to the amount of refraction of the optical fiber inside the guide ring,
The transmission loss of light due to the refraction of this optical fiber is extracted as a change in humidity.
コノ光ファイバー温度・湿度センサーからの光検出信号
は、制御器８で電気信号に変えられて温湿度調節器７を
制御する。各温度検出器１ｏ並びに湿度検出器１２と制
御器８とを結ぶ光フアイバー制御ライン１１および１２
は、シールド壁３を貫通して配線されるが、そのさい、
このシールド壁３を貫通する付近において、導電性のシ
ールドコイル３゜で被覆される。第３図はこの部分を拡
大して示したもので、シールド壁３の室内側に導電性コ
イル３０を取り付け、この導電性コイル３０の中を光フ
アイバーケーブル１１が貫通するようにした例を示して
いる。これによって、光フアイバーケーブルがコノシー
ルド壁３を貫通するさいに、そのケーブルの被覆材が試
験室内の磁界を拾って外乱となるのを防止することがで
きる。The light detection signal from the optical fiber temperature/humidity sensor is converted into an electrical signal by the controller 8 to control the temperature/humidity regulator 7. Optical fiber control lines 11 and 12 connecting each temperature detector 1o and humidity detector 12 to the controller 8
is wired through the shield wall 3, but at that time,
The vicinity where the shield wall 3 is penetrated is covered with a conductive shield coil 3°. FIG. 3 is an enlarged view of this part, showing an example in which a conductive coil 30 is attached to the indoor side of the shield wall 3, and the optical fiber cable 11 is passed through the conductive coil 30. ing. Thereby, when the optical fiber cable passes through the cono-shield wall 3, it is possible to prevent the covering material of the cable from picking up the magnetic field in the test chamber and causing a disturbance.
また、電磁界空間４内に設置される照明器具１３として
は、第４図に示したように、螢光灯３１を導電性の樹脂
からなるカバー３２で覆うことによってこの螢光灯３１
から発生するグロー放電による外乱を防止する。Furthermore, as a lighting fixture 13 installed in the electromagnetic field space 4, as shown in FIG. 4, the fluorescent lamp 31 is covered with a cover 32 made of conductive resin.
This prevents disturbances caused by glow discharge generated from the
以上のようにして１本発明のノイズ耐性試験装置におい
ては、ノイズ耐性試験を任意の温湿度の制御環境下で実
施できるようになり１強電磁界空間であってもその空間
内の温湿度制御を外乱なく正確に実施できる。そして、
試験室外で発生する周期性ノイズ（例えばリップル、ス
パイク、サイリスクノイズ等）や、ランダムノイズ（コ
ロナ。As described above, with the noise resistance test device of the present invention, noise resistance tests can be conducted in any temperature and humidity controlled environment, and even in a space with a strong electromagnetic field, temperature and humidity control within the space is possible. Can be carried out accurately without disturbance. and,
Periodic noise (e.g. ripple, spike, silisk noise, etc.) and random noise (corona, etc.) generated outside the test room.
クロウ放電等）、さらにはインパルスノイズ（雷サージ
、電磁開閉サージ等）がこの電磁界空間内に侵入するの
を防止できると共に、電磁界空間から外部に伝播するの
も効果的に防止できるので。Crow discharge, etc.), as well as impulse noise (lightning surge, electromagnetic switching surge, etc.) can be prevented from entering this electromagnetic field space, and it can also be effectively prevented from propagating from the electromagnetic field space to the outside.
強電磁界空間内での被試験体のノイズ耐性試験を各種の
温湿度環境のもとで試験する装置として非常に有益であ
る。It is very useful as a device for testing the noise resistance of a test object in a strong electromagnetic field under various temperature and humidity environments.
第１図は本発明の温湿度可変ノイズ耐性試験装置の全体
を示すｔｉ器配置系統図、第２図は光フアイバー湿度セ
ンサーの例を示す平価図、第３図は光フアイバーケーブ
ルのシールド構造を示す略断面図、第４図は照明器具の
シールド構造を示す略断面図である。
１・・磁界・電界発生源、２・・被試験体。
３・・シールド壁、４・・電磁界空間。
５・・給気路、６・・排気路、７・・温湿度調節器、８
・・制御器、９．１１・・光フアイバーケーブル、１０
・・温度検出器、１２・・湿度検出器、１３・・照明器
具、１５．１６ ・・ノイズカットトランス、１７・・
ノイズフィルター。
２５・・排気ファン、３０・・導電性コイル。
３１・・導電性樹脂カバー。Fig. 1 is a system diagram of the TI instrument arrangement showing the entirety of the temperature/humidity variable noise resistance test device of the present invention, Fig. 2 is an equivalent diagram showing an example of an optical fiber humidity sensor, and Fig. 3 is a diagram showing the shield structure of the optical fiber cable. FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing the shield structure of the lighting equipment. 1. Magnetic field/electric field generation source, 2. Test object. 3. Shield wall, 4. Electromagnetic field space. 5. Air supply path, 6. Exhaust path, 7. Temperature and humidity controller, 8
・・Controller, 9.11・・Optical fiber cable, 10
・・Temperature detector, 12・・Humidity detector, 13・・Lighting equipment, 15.16 ・・Noise cut transformer, 17・・
noise filter. 25... Exhaust fan, 30... Conductive coil. 31... Conductive resin cover.
Claims (1)
容し且つシールド壁３で囲われた電磁界空間４と、この
電磁界空間４に外部より空気を供給する給気路５と、こ
の電磁界空間４がら空気を排出する排気路６と、該給気
路５に介装された空気温湿度調節器７と、電磁界空間４
の外部に設置され耐ノイズ試験の操作並びに該空気温湿
度調節器７を制御するための制御器８と、電磁界空間４
内に設置され且つ制御器８に光フアイバーケーブル９に
よって接続される温度検出器１０と、電磁界空間４内に
設置され且つ制御器８に光フアイバーケーブル１１によ
って接続される湿度検出器１２と、電磁界空間４内に設
置された照明器具１３と、からなる温湿度可変式ノイズ
耐性試験装置。 （２）、光フアイバーケーブル９および光フアイバーケ
ーブル１１は、シールド壁３を貫通する付近で導電性コ
イルで電磁界からシールドされている特許請求の範囲第
１項記載の温湿度可変式ノイズ耐性試験装置。 （３）、湿度検出器１２は、湿度変化を光ファイバーの
屈折の伝送損失の変化として検出するものである特許請
求の範囲第１項または第２項記載の温湿度可変式ノイズ
耐性試験装置。 （４）、照明器具１３は、螢光灯の外側に導電性のカバ
ーを被せたものである特許請求の範囲第１項、第２項ま
たは第３項記載の温湿度可変式ノイズ耐性試験装置。[Claims] (l) An electromagnetic field space 4 in which a magnetic field/electric field generation source 1 and a test object 2 are housed and surrounded by a shield wall 3; an air supply path 5 for supplying air, an exhaust path 6 for discharging air from the electromagnetic field space 4, an air temperature/humidity controller 7 installed in the air supply path 5, and an air temperature/humidity controller 7 for discharging air from the electromagnetic field space 4.
A controller 8 installed outside of the noise resistance test and controlling the air temperature/humidity regulator 7, and an electromagnetic field space 4.
a temperature detector 10 installed in the electromagnetic field space 4 and connected to the controller 8 by a fiber optic cable 9; a humidity detector 12 installed in the electromagnetic field space 4 and connected to the controller 8 by a fiber optic cable 11; A temperature/humidity variable noise resistance test device comprising a lighting fixture 13 installed in an electromagnetic field space 4. (2) The temperature and humidity variable noise resistance test according to claim 1, wherein the optical fiber cable 9 and the optical fiber cable 11 are shielded from electromagnetic fields by conductive coils in the vicinity of penetrating the shield wall 3. Device. (3) The temperature/humidity variable noise resistance test device according to claim 1 or 2, wherein the humidity detector 12 detects a change in humidity as a change in transmission loss due to refraction of an optical fiber. (4) The lighting fixture 13 is a temperature/humidity variable noise resistance test device according to claim 1, 2, or 3, in which the outside of a fluorescent lamp is covered with a conductive cover. .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5627684A JPS60201270A (en) | 1984-03-26 | 1984-03-26 | Temperature and humidity variation type testing device for noise resistance |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5627684A JPS60201270A (en) | 1984-03-26 | 1984-03-26 | Temperature and humidity variation type testing device for noise resistance |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60201270A true JPS60201270A (en) | 1985-10-11 |
| JPH0452903B2 JPH0452903B2 (en) | 1992-08-25 |
Family
ID=13022556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5627684A Granted JPS60201270A (en) | 1984-03-26 | 1984-03-26 | Temperature and humidity variation type testing device for noise resistance |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60201270A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100390559C (en) * | 2004-11-11 | 2008-05-28 | 英业达股份有限公司 | Apparatus for testing electronic instrument |
| CN102339655A (en) * | 2011-08-30 | 2012-02-01 | 中国科学院微电子研究所 | Temperature-controlled inflatable vacuum radiation equipment |
| JP2016201390A (en) * | 2015-04-07 | 2016-12-01 | 三菱電機株式会社 | Electric filter |
-
1984
- 1984-03-26 JP JP5627684A patent/JPS60201270A/en active Granted
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| CN102339655A (en) * | 2011-08-30 | 2012-02-01 | 中国科学院微电子研究所 | Temperature-controlled inflatable vacuum radiation equipment |
| JP2016201390A (en) * | 2015-04-07 | 2016-12-01 | 三菱電機株式会社 | Electric filter |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0452903B2 (en) | 1992-08-25 |
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