JPS601918A - マトリツクス形選択回路 - Google Patents
マトリツクス形選択回路Info
- Publication number
- JPS601918A JPS601918A JP10779183A JP10779183A JPS601918A JP S601918 A JPS601918 A JP S601918A JP 10779183 A JP10779183 A JP 10779183A JP 10779183 A JP10779183 A JP 10779183A JP S601918 A JPS601918 A JP S601918A
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- diode
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- diodes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
この発明は、回り込み防止用ダイオードを有するマトリ
ックス回路、特にダイオード短終の検出が可能なマトリ
ックス形選択回路に関する。
ックス回路、特にダイオード短終の検出が可能なマトリ
ックス形選択回路に関する。
第1図はマトリックス形選択回路を示す回路図であり、
301,802.SIo、820はスイッチ、RYII
〜RY22 、ItY11’〜RY22’&まリレー、
rll 、r21 、rll’、r21’は各リレーの
接点、D11〜D22.Dll’〜D22′は回り込み
防止用ダイオード、 CH1、C)I2はチェック装置
、E、B、は電源、P、Nはそれぞれ正、負の電源線で
ある。なお、チェック装置CHI、CH2はリレーで構
成することができる。
301,802.SIo、820はスイッチ、RYII
〜RY22 、ItY11’〜RY22’&まリレー、
rll 、r21 、rll’、r21’は各リレーの
接点、D11〜D22.Dll’〜D22′は回り込み
防止用ダイオード、 CH1、C)I2はチェック装置
、E、B、は電源、P、Nはそれぞれ正、負の電源線で
ある。なお、チェック装置CHI、CH2はリレーで構
成することができる。
すなわち、リレー:ayii〜RY22およびRYII
’〜RY 22’はスイッチSol、SO2およびS1
0゜820を介して電源Eと接続されており、これによ
って2重化されたマ) IJラックス形択回路が構成さ
れ℃いるので、例えばスイッチSol、810を選択す
ることによって、リレーRYIIを動作させることがで
きる。なお、この場合、回路が2重化されているため、
リレーRYII’も動作することになるが、これらリレ
ーRYII、RYII’の接点rll、rll’により
チェック装置cH1が動作するので、これによって回路
の動作をチェックすることができる。つまり、リレーR
YII〜RY22によって形成される回路と、リレーR
YII’〜RY22′によって形成される回路とにおい
て、全く同じ部分が同時に故障する確率は極めてまれで
あることから、2重化された各回路が同様に動作したら
、少なくともこれらの回路は正常であるとみなすもので
ある。しかしながら、かかる構成によれば、チェックを
行なうに当たって回路が2重化されているものであるた
め、部品点数が多くなって経済的な負担が大きく、また
、物理的なスペースも多く必要になるという欠点がある
。さらに、この種の回路においては、その故障の原因が
回り込み防止用ダイオードの短絡(ショート)によるも
のなのか、他の原因によるものであるか、あるいはダイ
スートの短絡であるならば、どのダイオードであるのか
等を区別して検出することができないという欠点を有し
ている。
’〜RY 22’はスイッチSol、SO2およびS1
0゜820を介して電源Eと接続されており、これによ
って2重化されたマ) IJラックス形択回路が構成さ
れ℃いるので、例えばスイッチSol、810を選択す
ることによって、リレーRYIIを動作させることがで
きる。なお、この場合、回路が2重化されているため、
リレーRYII’も動作することになるが、これらリレ
ーRYII、RYII’の接点rll、rll’により
チェック装置cH1が動作するので、これによって回路
の動作をチェックすることができる。つまり、リレーR
YII〜RY22によって形成される回路と、リレーR
YII’〜RY22′によって形成される回路とにおい
て、全く同じ部分が同時に故障する確率は極めてまれで
あることから、2重化された各回路が同様に動作したら
、少なくともこれらの回路は正常であるとみなすもので
ある。しかしながら、かかる構成によれば、チェックを
行なうに当たって回路が2重化されているものであるた
め、部品点数が多くなって経済的な負担が大きく、また
、物理的なスペースも多く必要になるという欠点がある
。さらに、この種の回路においては、その故障の原因が
回り込み防止用ダイオードの短絡(ショート)によるも
のなのか、他の原因によるものであるか、あるいはダイ
スートの短絡であるならば、どのダイオードであるのか
等を区別して検出することができないという欠点を有し
ている。
この発明はこのような点に鑑みてなされたもので、回り
込み防止用ダイオードをもつマトリックス形選択回路に
おけるダイオードの短絡を、簡単かつ正確に検出すると
ともに、どのダイオードであるかを区別して検出できる
よ5にすることを目的とする。
込み防止用ダイオードをもつマトリックス形選択回路に
おけるダイオードの短絡を、簡単かつ正確に検出すると
ともに、どのダイオードであるかを区別して検出できる
よ5にすることを目的とする。
その要点は、マトリックス形選択回路において回り込み
防止用として設けられる複数のダイオードの各カソード
が接続される共通線に所定の電位を与える電位付与手段
と、該電位変化を検出する電位変化検出手段とを設ける
ことにより、ダイオードのショートによって生じる共通
線の電位変化から、いずれのダイオードであるかを区別
して検出するようにした点にある。
防止用として設けられる複数のダイオードの各カソード
が接続される共通線に所定の電位を与える電位付与手段
と、該電位変化を検出する電位変化検出手段とを設ける
ことにより、ダイオードのショートによって生じる共通
線の電位変化から、いずれのダイオードであるかを区別
して検出するようにした点にある。
第2図はこの発明の実施例を示す回路図である。
同図において、CPO−CF2はコンパレータ、R1−
R6は抵抗であり、その他は第1図に示されるものと同
様である。
R6は抵抗であり、その他は第1図に示されるものと同
様である。
すなわち、ダイオードDll〜D22のカソード側は共
通点A、Bに接続されるとともに、該共・通点A、Bに
は抵抗R1,R2を介して所定の電圧が印加される一方
、該共通点A、Bの電位変化を検出スるコンパレータC
PO〜CP3が設けられる。コンパレータCPO,CP
Iの一方は点P1、すなわち点Aに接続され、コンパレ
ータCP2゜CF2の一方は点P2、すなわち点Bに接
続されており、また、コンパレータCPO,CP、2の
他方は点P3に、同じくコンパレータCP 1.CF2
の他方は点P4にそれぞれ接続されている。ここで、抵
抗R1,R2の値は、ダイオードDIl〜D22の少な
くとも1つがショートしている場合に、スイッチ810
または820をオンにしてもリレーBY11〜RY22
が動作しないような値に選ばれる。
通点A、Bに接続されるとともに、該共・通点A、Bに
は抵抗R1,R2を介して所定の電圧が印加される一方
、該共通点A、Bの電位変化を検出スるコンパレータC
PO〜CP3が設けられる。コンパレータCPO,CP
Iの一方は点P1、すなわち点Aに接続され、コンパレ
ータCP2゜CF2の一方は点P2、すなわち点Bに接
続されており、また、コンパレータCPO,CP、2の
他方は点P3に、同じくコンパレータCP 1.CF2
の他方は点P4にそれぞれ接続されている。ここで、抵
抗R1,R2の値は、ダイオードDIl〜D22の少な
くとも1つがショートしている場合に、スイッチ810
または820をオンにしてもリレーBY11〜RY22
が動作しないような値に選ばれる。
例えば、電源Eの電圧を5ボルトとすると、R1゜R2
の値は約10にΩ(オーム)程度である。したがって、
点A、Bの電位は非選択時(スイッチの非操作時)には
略電源電圧E(5V)となり、選択時(スイッチの操作
時)には接地電位(OV)となる。一方、抵抗R3,R
5の分圧点P3の電位VP3 ハ、3. a < VB
2 < s cv量関係満たす如く、また、抵抗R4,
R6の分圧点P4の電位VP4は、0 (VB2 <
1の関係を満たす如く、各抵抗R3〜R6の値が選ばれ
る。なお、このよう“にする理由については後述する。
の値は約10にΩ(オーム)程度である。したがって、
点A、Bの電位は非選択時(スイッチの非操作時)には
略電源電圧E(5V)となり、選択時(スイッチの操作
時)には接地電位(OV)となる。一方、抵抗R3,R
5の分圧点P3の電位VP3 ハ、3. a < VB
2 < s cv量関係満たす如く、また、抵抗R4,
R6の分圧点P4の電位VP4は、0 (VB2 <
1の関係を満たす如く、各抵抗R3〜R6の値が選ばれ
る。なお、このよう“にする理由については後述する。
また、上記の各位は、電源電圧Eを5vとした場合の例
である。
である。
いま、スイッチ801とSIOとをオンにしたとき、例
えばダイオードD22がショートしているものとすると
、リレーRYIIを通る本来のルートとは別に、第2図
に点線で示される如きルートが本来のルートと並列に形
成されることになる。
えばダイオードD22がショートしているものとすると
、リレーRYIIを通る本来のルートとは別に、第2図
に点線で示される如きルートが本来のルートと並列に形
成されることになる。
つまり、リレーRY12.RY22およびRY21の直
列回路が電源線P、N間に形成されるため、点Bの電位
は、選択時または非選択時の電位とは異なるレベルにな
ることがわかる。なお、このときの点Bの電位は、リレ
ーRY12.RY22 およびRY21の値が互いに略
等しいものとし、電源電圧を5vとすれば、約5Vの2
/3、ツマt)3.3Vとなる。したがって、点P3の
電位を3.3V以上に選んでおけば、コンパレータCP
2の出力からは、′0”なる2値信号が得られるので、
これに′より、点BまたはP2のレベルは”L(ロー)
”レベルであり、ダイオードが短絡していることがわか
る。つまり、コンパレータCP2は、点BまたはP2の
電位がパH(ハイ)″レベル(3,3ボルト以上)であ
るか否かを検出するものである。
列回路が電源線P、N間に形成されるため、点Bの電位
は、選択時または非選択時の電位とは異なるレベルにな
ることがわかる。なお、このときの点Bの電位は、リレ
ーRY12.RY22 およびRY21の値が互いに略
等しいものとし、電源電圧を5vとすれば、約5Vの2
/3、ツマt)3.3Vとなる。したがって、点P3の
電位を3.3V以上に選んでおけば、コンパレータCP
2の出力からは、′0”なる2値信号が得られるので、
これに′より、点BまたはP2のレベルは”L(ロー)
”レベルであり、ダイオードが短絡していることがわか
る。つまり、コンパレータCP2は、点BまたはP2の
電位がパH(ハイ)″レベル(3,3ボルト以上)であ
るか否かを検出するものである。
一方、コンパレータCP3は、点BまたはP2がLレベ
ルであるか否かを検出するものであり、したがって、ダ
イオードが短絡しているときは′0”になる2値信号を
出力する。なお、コンパレータCP2は、点Bのレベル
がHのとき′1#を出力し、コンパレータCP3は点B
のレベルがLのとき′1#を出力し、それ以外は0”を
出力するタイプのものとし、この関係は、点AまたはP
lがHレベルであることを検出するコンパレータCPO
,同様にLレベルであることを検出するコンパレータC
P1についても同様とする。したがって、スイッチ50
1,810が動作したとき、ダイオードD22がショー
トしている場合は、コンパレータCPO,CPIの出力
は、それぞれ0”。
ルであるか否かを検出するものであり、したがって、ダ
イオードが短絡しているときは′0”になる2値信号を
出力する。なお、コンパレータCP2は、点Bのレベル
がHのとき′1#を出力し、コンパレータCP3は点B
のレベルがLのとき′1#を出力し、それ以外は0”を
出力するタイプのものとし、この関係は、点AまたはP
lがHレベルであることを検出するコンパレータCPO
,同様にLレベルであることを検出するコンパレータC
P1についても同様とする。したがって、スイッチ50
1,810が動作したとき、ダイオードD22がショー
トしている場合は、コンパレータCPO,CPIの出力
は、それぞれ0”。
1#になることがわかる。また、上記の関係は、スイッ
チ802,310が操作されたとき、ダイオードD12
がショートしている場合にも成立する。
チ802,310が操作されたとき、ダイオードD12
がショートしている場合にも成立する。
したがって、コンパレータCPO〜3の出力態様だけで
は、どのダイオードがショートしているか不明であるが
、スイッチSQL〜S20の状態を合わせて考慮するこ
とにより、ショートしているダイオードはどれであるか
を区別して検出することができる。なお、このようにし
なければならないのは、スイッチ801を操作したとき
は、本来のルートに含iれるリレーRYII、RY12
に対応するダイオードDll、DI2のショートを検出
することができず、同様にスイッチSO2を操作したと
きは、ダイオードD21.D22のショート を検出す
ることができないためである。こうして、他のダイオー
ドDIl〜D21についても、スイッチsoi、sao
の操作態様とコンパレータ出力80−83の態様とから
、その短絡を検出することができる。なお、スイッチS
olオβ20の動作状態と、出力信号SO〜S3のパタ
ーンと、そのとき検出されるダイオードとの関係を示す
と、下表の如くなる。 表 〔発明の効果〕 以上のように、この発明によれば、回り込み防止用ダイ
オードのカソードが所定個数ずつ並列に接続される共通
線のそれぞれに所定の電圧を印加する手段と、該共通綜
各々の電位変化を検出する検出手段とを設けるだけで、
ダイオードのショートを個別に検出することができるの
で、故障に対する処置が容易になるばかりでなく、ダイ
オードを含む回路の信頼性を向上させることができる利
点を有するものである。
は、どのダイオードがショートしているか不明であるが
、スイッチSQL〜S20の状態を合わせて考慮するこ
とにより、ショートしているダイオードはどれであるか
を区別して検出することができる。なお、このようにし
なければならないのは、スイッチ801を操作したとき
は、本来のルートに含iれるリレーRYII、RY12
に対応するダイオードDll、DI2のショートを検出
することができず、同様にスイッチSO2を操作したと
きは、ダイオードD21.D22のショート を検出す
ることができないためである。こうして、他のダイオー
ドDIl〜D21についても、スイッチsoi、sao
の操作態様とコンパレータ出力80−83の態様とから
、その短絡を検出することができる。なお、スイッチS
olオβ20の動作状態と、出力信号SO〜S3のパタ
ーンと、そのとき検出されるダイオードとの関係を示す
と、下表の如くなる。 表 〔発明の効果〕 以上のように、この発明によれば、回り込み防止用ダイ
オードのカソードが所定個数ずつ並列に接続される共通
線のそれぞれに所定の電圧を印加する手段と、該共通綜
各々の電位変化を検出する検出手段とを設けるだけで、
ダイオードのショートを個別に検出することができるの
で、故障に対する処置が容易になるばかりでなく、ダイ
オードを含む回路の信頼性を向上させることができる利
点を有するものである。
第1図はマトリックス形選択回路の従来例を示す構成図
、第2図はこの発明の実施例を示す構成図である。 符号説明 Sol、SO2,810,820・・・・・・スイッチ
、RYII〜RY22.RYII’〜RY22’・・・
・・−リレー、rll、rll’、r12.r12’−
=リレー接点、DIl〜D22.Dll’〜D22′・
・・・・・ダイオード、CHI。 CH2・・・・・・チェック回路、1(1〜R6・・・
・・・抵抗、CPO〜CP3・・・・・・コンパレータ
代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清
、第2図はこの発明の実施例を示す構成図である。 符号説明 Sol、SO2,810,820・・・・・・スイッチ
、RYII〜RY22.RYII’〜RY22’・・・
・・−リレー、rll、rll’、r12.r12’−
=リレー接点、DIl〜D22.Dll’〜D22′・
・・・・・ダイオード、CHI。 CH2・・・・・・チェック回路、1(1〜R6・・・
・・・抵抗、CPO〜CP3・・・・・・コンパレータ
代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清
Claims (1)
- 複数の横線および縦線の各交点に所定の素子または装置
(装置等)と回り込み防止用ダイオードとからなる直列
回路を接続し、所定の横線および縦線にそれぞれ所定の
信号を与えることにより前記装置等を選択するマトリッ
クス形選択回路において、前記各ダイオードのカソード
側が並列に接続される共通線の各々に所定の電圧を印加
する電圧印加手段と、該共通線それぞれに・ダイオード
短絡による電位変化を検出する電位検出手段とを設け、
前記横線または縦線に印加される信号の態様と該電位検
出手段からの出力態様とにもとづいていずれのダイオー
ドが短絡しているかを区別して検出することを特徴とす
るマトリックス形選択回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10779183A JPS601918A (ja) | 1983-06-17 | 1983-06-17 | マトリツクス形選択回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10779183A JPS601918A (ja) | 1983-06-17 | 1983-06-17 | マトリツクス形選択回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS601918A true JPS601918A (ja) | 1985-01-08 |
Family
ID=14468116
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10779183A Pending JPS601918A (ja) | 1983-06-17 | 1983-06-17 | マトリツクス形選択回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS601918A (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4691149A (en) * | 1985-10-11 | 1987-09-01 | Caterpillar Industrial Inc. | Apparatus and method for protecting a motor control circuit |
JP2007253754A (ja) * | 2006-03-22 | 2007-10-04 | Toyota Motor Corp | 車両用冷却装置 |
US7918194B2 (en) | 2006-02-08 | 2011-04-05 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Cooling device for vehicle |
US9646861B2 (en) | 2009-10-21 | 2017-05-09 | Lam Research Corporation | Heating plate with heating zones for substrate processing and method of use thereof |
US9713200B2 (en) | 2011-08-17 | 2017-07-18 | Lam Research Corporation | System and method for monitoring temperatures of and controlling multiplexed heater array |
US9775194B2 (en) | 2012-02-28 | 2017-09-26 | Lam Research Corporation | Multiplexed heater array using AC drive for semiconductor processing |
US10049948B2 (en) | 2012-11-30 | 2018-08-14 | Lam Research Corporation | Power switching system for ESC with array of thermal control elements |
US10056225B2 (en) | 2009-12-15 | 2018-08-21 | Lam Research Corporation | Adjusting substrate temperature to improve CD uniformity |
US10217615B2 (en) | 2013-12-16 | 2019-02-26 | Lam Research Corporation | Plasma processing apparatus and component thereof including an optical fiber for determining a temperature thereof |
US10388493B2 (en) | 2011-09-16 | 2019-08-20 | Lam Research Corporation | Component of a substrate support assembly producing localized magnetic fields |
US10568163B2 (en) | 2010-10-22 | 2020-02-18 | Lam Research Corporation | Methods of fault detection for multiplexed heater array |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS433929Y1 (ja) * | 1965-01-14 | 1968-02-20 |
-
1983
- 1983-06-17 JP JP10779183A patent/JPS601918A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS433929Y1 (ja) * | 1965-01-14 | 1968-02-20 |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0620348B2 (ja) * | 1985-10-11 | 1994-03-16 | キヤタピラ− インダストリアル インコ−ポレ−テツド | モータ制御回路の短絡を感知するための方法及び装置 |
US4691149A (en) * | 1985-10-11 | 1987-09-01 | Caterpillar Industrial Inc. | Apparatus and method for protecting a motor control circuit |
US7918194B2 (en) | 2006-02-08 | 2011-04-05 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Cooling device for vehicle |
JP2007253754A (ja) * | 2006-03-22 | 2007-10-04 | Toyota Motor Corp | 車両用冷却装置 |
US10236193B2 (en) | 2009-10-21 | 2019-03-19 | Lam Research Corporation | Substrate supports with multi-layer structure including independent operated heater zones |
US9646861B2 (en) | 2009-10-21 | 2017-05-09 | Lam Research Corporation | Heating plate with heating zones for substrate processing and method of use thereof |
US10056225B2 (en) | 2009-12-15 | 2018-08-21 | Lam Research Corporation | Adjusting substrate temperature to improve CD uniformity |
US10568163B2 (en) | 2010-10-22 | 2020-02-18 | Lam Research Corporation | Methods of fault detection for multiplexed heater array |
US9713200B2 (en) | 2011-08-17 | 2017-07-18 | Lam Research Corporation | System and method for monitoring temperatures of and controlling multiplexed heater array |
US10388493B2 (en) | 2011-09-16 | 2019-08-20 | Lam Research Corporation | Component of a substrate support assembly producing localized magnetic fields |
US9775194B2 (en) | 2012-02-28 | 2017-09-26 | Lam Research Corporation | Multiplexed heater array using AC drive for semiconductor processing |
US10049948B2 (en) | 2012-11-30 | 2018-08-14 | Lam Research Corporation | Power switching system for ESC with array of thermal control elements |
US10217615B2 (en) | 2013-12-16 | 2019-02-26 | Lam Research Corporation | Plasma processing apparatus and component thereof including an optical fiber for determining a temperature thereof |
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