JPS60185348A - シンクロスキヤンストリ−ク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （技術分野） 本発明はストリーク管、さらに詳しく言え（５，１、微
弱な被計測光の変化か同一周期で同・形１人で繰り返さ
れる場合の４測に適したシンクＩ′１スキャンストリー
ク装置に関する。

（発明の背ｆｆ１） 高速で変化する尤の時間的な強度分４］を、観察するの
にスＩ・リークカメラか知られている。

このストリークカメラで使用されるストＩＪ−り管は光
電面と螢光面との間に偏向電極を配置した電子管である
。

ストリーク管の光電面に光か入射させられると、光電面
が入射光の経時変化にり］応して、順次光電子を放出し
、時間的に変化する光電子ビームが形成される。

ごの光電子ヒートが螢光面方向に移動する過程で（４） 前記偏向電極で電界を作用させると、光電子ビームは螢
光面上で一方向に掃引され、入射光の強さの変化か螢光
面上の光電子ビームの掃引方向く時間軸となる）の輝度
の変化として現れる。

こうして、出力螢光面トに現れた像は、スＩ−リーク像
と呼ばれ、これを写真にとったり、ＴＶカメラで撮像し
た後、この出力像の掃引方向の明るさの分布を定量する
ことにより、被計測光の強度の経時変化を知ることがで
きる。

この種のストリーク管を利用したシンクロスキャンスト
リーク装置は周期性を持って発生させられる微弱発光の
ｄ１測等に利用されている。

周期性を持って発生さ−Ｕられる微弱発光として、シー
９′光パルスにより励起された螢光発光等を挙げること
かできろ。

この被計測光が非常に微弱である時は、ストＩＪ　−り
像も微弱となり、その発光強度分布を正確に得るのは困
難となる。

被ｄ１測光が同一の波形および周期で繰り返されるパル
ス光である時は、この周期に一致した周期の、（５） かつその繰返しパルス光と定まった位（刊関係に（ｂる
電圧を、ストＩＪ−り管の偏向電極に印加するこｙによ
り、掃引方向（時間軸方向）の発光分布か同一であるス
トリーク管を出力螢光面−Ｌの同し位置に重ねることが
できる。

０回重ねれぽストリーク像の山力面にの明？〕さば、実
質的にｎ倍となり、非常に微弱なストリーク像でも良好
なＳＮ比で観測することかできる。

シンクロスキャンストリーク装置は前記原理を実現した
装置である。

本件発明者等は前記シンクロスキャンストリーク装置を
用いて種々の１１１測を行・う過程でストＩＪ−り像が
、ストリーク管内におい゛Ｃ発生するマルチパクタリン
グ（ｍｕｌｔｉｐａｃｔｏｒｉｎｇ）放電に３１、−７
て損なわれることを見いだした。

マルチパクタリング放電ＩＪ高周波電界によって真空の
なかで、電極面の２次電子放出特性に依イｆして放電か
おこる現象である。

次にシンクｌ＝２スギャンストリーク装置の概略の構成
とこの装置におＩＪるマルチパクタリング放電（６） について節単に説明する。

第１ド１ばストリーク管を光軸を含む平面でＱノ断して
示したシンクＩ−ｚスギャンストリーク装置のブロック
図である。

円筒状の真空容器１の一方の端面の内面Ｑこは光電面２
が形成されており、他方の端面の内面には螢光面７が形
成されている。

光電面２には電源Ｅ２から接地電位よりも負の電圧が接
続されている。

前記光電面２に近接シ２゛（、メツシュ電極３が配置さ
れている。ごのメノミ／ユ市極３は、光電面２の発）１
しノご光電子を加速するために電源ｆ３　＋から光電面
２よりも正の電圧の供給を受る１”Ｃいる。

中央に開「１１部を有ずろ陽極１長５と前記メソシュ電
極３の間に集束電極４か配置されている。

前記陽極板５Ｃ３１接地点に接続され、ｉｉｉ記即束電
極４にはｉｉｉ＋記電源１−　、、を分圧し７た電圧が
接続されている。集束電極４は前記電圧か接続されるこ
とにより、光電面２の発生した光電子を螢光面７十にＷ
束させる電Ｔ−１／ンズを形成する。

−ズ］の平板からなる偏向電極に（５３［偏向電圧完工
Ｊ”手段８から周期的に変化する偏向電圧か印加されて
いる。

第２図ｉ；ｔ：　’＋ｉｉｉ記構成のシンクｌ−ｚスキ
、Ｉ−７スｌリ−り装置の動作を説明ずろためのグ・−
７）である。

ｊｌｒＩ常のシンクｌＩスキャンノ、トリーク装置（は
前記偏向？ｆｆｉ圧発生■三段８（，１第２図（Ｉ３）
に示すよ・）４１部正弦波電圧を発４１−シ″（おり１
、二の！］弦波電月二かｉｌから負に変１にずろ１１’
＋１′ｌｉｉ的Ｚ百（１；分、ｌ’＋　’−（＋＋　、
Ｉ’２へ”］　２　・・・・、ＩＴ　ｌｉ・〜ｑ１１．
が（晶向に使用される。

この正弦波の周波数は被計測光の繰返１−７周波数に適
合し２、位相か観測文・Ｉ象の発生に同期する。１．つ
に選択される。

第２図（△）に示す、１゛つな発光現象を観測するため
に同し１（Ｂ）に示す正弦波を偏向電極ＩＦ）、Ｇａｒ
、こ印加する。

このような正弦波は例えば観測グ・Ｉ象を励起ずろレー
デ先の周波数と位相に同期ずろ正弦波を発生さ・Ｕるこ
とにより容易にｉｌられる。

各掃引ごとに得られる螢光面７ｊ−の時間軸方向の輝度
の分布を同図（Ｃ）に示す。

観測対象の発光の強度が微弱てあろから、ｐ１〜ｑ１の
一＝−回Ｌ１の掃引で螢光面７に現れる輝度分布の変化
は第２図（Ｃ）のｆｌ）に示ずよ・うに極めて小さく殆
ど肉眼°ζ観察できない程度である。この走査を繰２′
ｌ返ずことにより、第２図（Ｃ）の（２１（３）に示す
よ・うに次第に輝度分布が明らかになる。理論的にｉＪ
第２図（ｎ）に示すよ・うに、１１回の掃引により一回
の掃引による場合のｎ倍に近い輝度に拡大することかで
きる。

とこ７）が、実際には信号光の存在しない所、背景部の
Ｌ−＜ルも上昇し７て第２図（ｒ））に示すような、輝
度分布となり、第２図（↑〕）に示すような結果がｉフ
られないことかしばしばある。

ごの主原因は前述したマルチパクタリング放電によるも
のであると思われろ。

被計測光の繰返し周波数が、数百Ｍｌｌｚであれば、当
然掃引に用いられる正弦波電圧の周波数も数百Ｍ　Ｉ（
ｚまで要求されイ〕。

（１〕〉 この、」ンうな高い周波数の電圧が偏向電極に印加され
ると、この電圧が印加される側の偏向電極部イ・」近の
空間や管壁のガラス壁に前述したマルチパクタリング現
象による発光か生じろ。この放電の発生していると思わ
れる空間を第１図において破線Ｓで囲んで示しである。

この空間ｄ前記偏向電ｔ・ＩＪｌｔｆｙ６ａと前記容；
（（置の壁面間および１ｉｉｉ記偏向電１−’ｌｉ　１
反Ｇａ、１ｉｉｉ記偏向電＋・’ｌｉ　、１Ｊｊ６ａを
前記容器１に１・８続する偏向電極付近−１と前記陽極
電極５間に形成される空間てあろとこれえζよい。

この空間Ｓの発光か容器１内−ご複雑４５′反射を行い
、陽極５の１３旧」を介し−で光電面２に到達し、光電
子を放出さ−Ｕている。

この信号成分の光景外による光電子放出か螢光面７の背
景のレー・ルを上貿さＵている。

前記マルチパクタリンクによる放電発光は、偏向電極付
近の前記空間Ｓに、たまたま存在する電子が高周波電圧
の印加されている偏向電極板や、それに接続する偏向電
極板リードの部分と管壁の（１０） カラス部、アノード電極との間で、高周波電界によって
繰り返し往復し、その表面に錘ｉ突する毎に二次電子を
放出することにより、ねずみ券代Ｇこ電子数が増加し、
放電に至るものであると考えられる。

ジャーナルオブアプライドヒシソクス３４巻、１１号の
３２３７−　３２４２頁の工ｌワーＩ・、エフ、ハンス
の論文、−面マルチパクタ放電モード（ＪＯ［ｌｌｌＮ
Ａ１．、ＯＦ　ＡＩ”ＰＬＩＤＩＥ　ＰＩＩＩＳＩＣ５
ＶＯＬ３４　Ｎ０１１Ｏｎｅ−３ｉｃｌｅｄ　Ｍｕｌｔ
ｉｐａｃｔｏｒ　ｌＴｉｓｃｈａｒｇｅ　ＭｏｄｅＥＯ
（りへ１律［ン、　ＶｌｌＮＣｌｊ　）は、相対向ずろ
平行平板間のマルチパクタリンク放電ついてはその周波
数、高周波？ｈ圧の振幅、電極間隔電極表面の二次電子
放出比等に・ついて、制限をすれば、この放電をおさえ
られろことを示している。

実際のシンクロスキャンストリーク装置のストリーク管
の偏向電圧が印加される偏向電極板６ａ（ζ１近の形状
、第１図においてＳの示す領域周辺の形状（、Ｊ、偏向
電極板以り■にその偏向電極板に外部からその高周波電
圧を印加するり−１・かあり、その周辺にはそれをとり
まくガラス壁寸）陽極電極５かあり複雑である。

それらの形状を節〔１１に変更するごとは不可ｆｊＬで
ある。

ジンクに１ヌギトンソ、Ｉ・リーク′！、′装置では、
１ｉｉｉ　ｉホのよ゛うに偏向型（色板に印加する電圧
の周波数し１、観測文・ｌ象の周波数に・致させられ、
乙必要かあり、低周波より数百ＭＩＩＺのｉｔ’ｌ１周
波まで変（ヒさせる必Ｊ７Ｆかある。

掃引速度は電圧波形の顛へに比例し、同一周波数−でム
；１、電圧Ｉ辰幅に１Ｌ例゛４″ろ。したがって、電圧
の１辰幅も掃引電圧の直線１１１と、時間分館゛１１ヒ
を適当に保つために、種々変更Ｊる必要があ？〕。

これ等の理由から、マルチパイｌクランク放電を防１卜
するために、偏向電極板に印加される電圧の周波数と振
幅を制限することし１ｊ−できない。

さらに困ったことにし１、各電極やカラス壁表面には、
光電面製作中に導入されるアルカリ芸気が付着して、そ
の表面は二次電子放出Ｉｔが高い状態となり、マルチパ
クタリング放電を助長しゃずくなっている。

（発明の目的） 本発明の目的は、前述したマルチパクタリング放電に原
因する背景部分のレヘルの上昇を防止することかできる
シンクロスキセンストリーク装置を１是（共することに
ある。

（発明の構成） 前記１」的を達成するために本発明によるシンクロスキ
ャンストリーク装置は、光電面、電子レンズ、開「１を
持つ陽極、偏向電極、螢光面がこの順で真空容器内に配
置されたストリーク管を用い偏向電圧発生ゴ一段により
、前記偏向電極に前記螢光面に入射させられる被測定光
の周波数に対応する周波数の偏向電圧を印加し、入射光
を前記螢光面に重ねて再生するシンク１１スキャンスト
リーク装置において、前記偏向電極板と前記容器の壁面
間および前記偏向電極板、前記偏向電極板を前記容器に
接続する偏向電極板リードと前記陽極電極間の空間に遮
蔽用の金属構造を配置し、この金属構造を基準電位点に
接続して構成されている。

（１３） 前記構成によれば、その偏向電極に低周波から数百Ｍ　
Ｉｌ　ｚの高周波まで、任意の電圧厖幅の電圧を印加し
ても、螢光面」二にマルチパクタリング放電によるハッ
クグラウンド上昇のないシンクロスキャンストリーク装
置を提供することかできる。

（実施例の説明） 以下、図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明する
。

第３図ＡおよびＢば本発明によるシンクロスキセンスト
リーク装置のストリーク管の偏向電極Ｃ３二関連する部
分の第１の実施例を示す図である。その他の部分の構造
は前述しノこ従来のストリーク管の構成と異ならない。

第３図Δば管軸に平行な平面で一部破断して示した図、
第３図Ｂは管軸に垂直な平面で破断して示した断面図で
ある。

真空容器１ば、主として、内径は約４０ｍｍのガラス筒
から形成されている。

偏向電極板６ａおよび６１）は、その管軸方向の長さが
約］５ｍｍ、幅約１５ｍｍのステンレス金属（Ｉ４） の平板である。

この偏向電極板６ａおよび６ｂはその間隔が５ｍｍとな
るように偏向電極板リード６ｃおよび６ｄにより真空容
器１に固定されている。

この実力１０例では偏向電極板リードとして幅５　ｍ　
ｒｎの鉄ニッケルコバルト合金板を用いている。

偏向電極板’ＪＦ６ｃば前述した偏向電圧発生手段８に
接続され、他方の偏向電極板り−１−６ｄば接地電位点
に接続される。

この実施例において、前記遮蔽用の金属構造は陽極電極
側の第１のフランジ３１と、前記第１のフランジ３１の
反対側で前記容器に固定された第２のフランジ３２と、
前記第１および第２のフランジに固定された遮蔽板３３
．３４から構成されている。

第１のフランジ３１は皿状であって、底の部分の中心に
開ｌ］部が設けられている。第２のフランジ３２も略同
−・の形状で前記偏向電極板リード６ｃに対して前記第
１のフランジ３１と略対象な位置に設けられている。

それぞれのフランジ３１および３２には、円板を切断し
た遮蔽板３３．３４が偏向電極板り−１・６Ｃを（央む
ようにン容接されている。

この遮蔽板３３．３４の偏向型１φ板リー１′６Ｃから
の距！１ｌ１１は、略３　ｍ　ｍ程度で遮蔽板３３．３
４の下端辺と偏向電極板６ｄとの距！；ｊｊｊを略２ｍ
ｍ程度とする。

フランジ３１および３２をそれぞれ接地点に接続するこ
とにより、遮蔽板３３．３４は接地電位に１呆たれる。

第４凹入およびＢは本発明によるシンクロスキャンスト
リーク装置のストリーク管の偏向電極に関連する部分の
第２の実施例を示す図である。

第４図Ａば管軸に平行な平面で一部破断し２で示した図
、第４図Ｂは管軸に垂直な平面で破断して示した断面図
である。

真空容器１を形成するカラス管、偏向電極板６ａ。

６ｂ、偏向電極板り−Ｆ６ｃ、６ｄ、フランジ３３．３
４は先に第３図Ａ、Ｂで説明した所と変わらない。

こ゛の実施例において、前記遮蔽用の金属構造は陽極電
極側の第１のフランジ３１と、前記第１のフランジ３１
の反対側で前記容器に固定された第２のフランジ３２と
、前記第１および第２のフランジに固定された遮蔽格子
から構成されている。

第１のフランジ３３の開口部の偏向電極板６ａの」二側
にステンレス金属条、１５．４６が間隔１ｍｍを保って
固定されており、遮蔽格子を形成している。

またフランジ３４の開口部の偏向電極板６ａの上側に同
様にステンレス金属条４７．４８が固定されており、遮
蔽格子を形成している。

前記各遮蔽格子は前記第１および第２のフランジが接地
電位点に接続されることにより、接地電位に保持される
。

第５図ＡおよびＢは本発明によるシンクロスキャンスＩ
・リーク装置のストリーク管の偏向電極に関連する部分
の第３の実施例を示す図である。

第５図Ａは管軸に平行な平面で一部破断して示した図、
第５図Ｂは管軸に垂直な平面で破断して示（１７） した１折面図である。

真空容器１を形成するガラス管、偏向電極板６ａ。

６ｂの形状、容器内の位置等は先に説明した実施１夕１
１と累ならない。

偏向電極板り一１’５１５２は直径１ｒｎｒｎのりにソ
ケルコハルト合金棒である。

偏向電極板リード５１は前述した偏向電圧発４１−丁段
８に接続され、他方の偏向電極板’Ｊ　−１”　５２は
接地電位点に接続される。

この偏向電圧発生手段８に接続される側の偏向電極板リ
ード５１を包囲するように遮蔽筒５３を容器１に固定す
る。

遮蔽筒５３の内径は１０ｍｍ程度で底面には前記偏向電
極板リード５１に貫通される直径３ｍｍ程度の孔が設け
られている。

この遮蔽筒５３は接地電位点に接続される。

第６図ＡおよびＢは本発明によるシンクロスキャンスト
リーク装置のストリーク管の偏向電極に関連する部分の
第４の実施例を示す図である。

第６図Ａは管軸に平行な平面で一部破断して示しく１８
） た図、第６図Ｂは管軸に垂直な平面で破断して示した断
面図である。

真空容器１を形成するガラス管、偏向電極板６ａ。

６［）の形状、容器内の位置、偏向電極板リーＩ“５１
．５２等は先に説明した実施例と異ならない。

偏向電極板リード５１ば前述した偏向電圧発生手段８に
接続され、他方の偏向電極板’）　Ｆ　５２４Ｊ接地電
位点に接続される。

この偏向電圧発生手段８に接続される側の偏向電極板リ
ート５１を包囲するよ・うに下側にフランジ部６１ａを
持つ遮蔽筒６１を容器１に固定する。

遮蔽筒６１の内径は５ｒｎｍ程度で底面のフランジ部の
形状を偏向電極板６ａの形状と略同−の形状にして、偏
向電極板６ａとの距離を略１ｍｍ程度にする。

この遮蔽筒６１ば前記実施例と同様に接地点に接続する
。

前記各実施例装置について各部の電極に次の電圧を接続
し、光電面に繰返し入射される微弱光（繰返し周波数２
００　Ｍ　Ｉ−（ｚ　）の測定を行った。

光電面２　（−５Ｋ　Ｖ） メソシュ電極３（−４，ＫＶ） フォーカス電極４　（−４，４ＫＶ） 陽極電極５　（接地点電圧） 螢光面７　（接地点電圧） 金属遮蔽構造（接地点電圧） 偏向電極に印加される正弦波 周波数（２００ＭｔＴｚ） 振幅（１，５Ｋ　Ｖ　ｐ−ｐ　） ストリーク像を重ねた回数（２Ｘ１０”回−１秒間）そ
の結果、螢光面７に第７図Ｂに示すよ・うな強度分布の
映像を得た。

前記各実施例装置で、最大の輝度を示す部分に対して、
バンクグラウンドノイズのピークは１％以下でほとんど
無田できる程度に除去されているということができる。

本発明によるシンクロスキャンストリーク装置で、スト
リーク管の金属遮蔽構造を除去したものと同し構成のも
のである従来の装置を用いて前記と全く同し条件で実験
を行った場合の螢光面の６１１度分布を第７凹入に示す
。

（変形例） 以上群り、　＜説明した実施例について、本発明の範囲
内で種々の変形を施すことができる。

偏向板の一方を基準電位にすることなく、両方に高周波
掃引電圧を印加するときは、両側に遮蔽用の電極を設け
る必要がある。

遮蔽用の金属をフランジや筒で支持する例を示したが、
真空容器に固定されたピンで支持することも可能である
。

（効果の説明） 以］−説明したように、本発明によるシンクロスキャン
ストリーク装置は、シンクロスキャンストリーク装置に
おいてマルチパクタリングの発生ずる可能性のある空間
、つまり前記偏向電極板と前記容器の壁面間および前記
偏向電極板、前記偏向電極板を前記容器に接続する偏向
電極板リードと前記陽極電極間の空間に遮蔽用の金属構
造を配置し、この金属構造を基準電位点に接続しである
から、マルチパクタリングの発生または有害と認め（２
１） られるマルチパクタリングの発生を完全に抑ＩＬするこ
とができる。

従来の装置では１、マルチパクタリングの発２．１を完
全に抑止することができないのでマルチパクタリングの
発生があ−２たときは、第７図への３１ンうに、ピーク
の輝度に＆・Ｉ　Ｌハッククラ・：２ントノイズである
谷部の輝度は９０％にも達している。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のスＩ・リーク管を用いたシンクロスキャ
ンストリーク装置のブロック図であ−って、ストリーク
管を光軸を含む平面で切断して示しである。 第２図は前記シンクロスキャンストリーク装置の動作を
説明するための波形図である。 第３凹入およびＢは本発明によるシンク１−１スキャン
ストリーク装置のスミ−リーク管の偏向電極に関連する
部分の第１の実施例を示す図であって、第３図Ａは管軸
に平行な平面で一部破断して示した図、第３図１３は管
軸に垂直な平面で破断して示した断面図である。 （２２） 第４図Ａおよび１１３　Ｉｔ本発明によるシンクし２ス
キャンソトリーク装置のストリーク管の偏向電極に関連
する部分の第２の実施例を示す図であって、第４凹入（
」管軸にｉＦ行なＩＦ面で一部破断して示した図、第４
図１３は管軸に垂直な平面で破Ｉ析して示した断面図で
ある。 第５図八およびＢは本発明によるシンクロスキャンスト
リーク装置のストリーク管の１扁向電極に関連する部分
の第３の実施例を示す図であって、第５図Ａは管軸にモ
行な平面で一部破断して示した図、第５図Ｂは管軸に垂
直な平面で破断して示したＩｕｉ面図である。 第〔ｊ図ＡおよびＢは本発明によるシンクロスキャンス
トリーク装置のストリーク管の偏向電極に関連する部分
の第４の実施例を示す図であって、第６図Ａは管軸に平
行な平面で一部破断して示した図、第６図Ｂは管軸に垂
直なｉＴ７面で破断して示したｌｌｉ而図面ある。 第７図Ａは従来のシンクロスキャンストリーク装置の螢
光面の輝度分布の例を示すグラフ、同図Ｂは本発明によ
るシンク１：ｌス４−ヤンスＩ・リーク装置の螢光面の
輝度分布の例を示゛ｌグラフである。 ■・・・真空容器　２・・・光電面 ３・・・ノソシュ電極　４・・・集束ｔ１１極５・・・
陽極 ６・・・偏向型１うｊ ６ａ、６ｂ・・・偏向電極板 ６ｃ、６ｄ・・・偏向電極板リード ７・・・螢光面　８・・・偏向電圧発ｌＩＳ丁段３１・
・・第１のフランジ ３２・・・第２のフランジ ３３．３４・・・遮蔽板 ４５．４６．４１．４８・・・遮蔽格子を形成する金属
条 ５１．５２・・・偏向電極板り−１ ５３・・・遮蔽筒　（ｉ　Ｉ・・・遮蔽筒特許出願人　
爪松ポトニクス株式会に１代理人　弁理士　井　〕　［
−Ｉ　壽 図 （Ｉ３） →１ 図　゛ ＣＢ） 、ダ７ ／Ａ） ノ ■ 手続ネ１１ｒ　Ｊ−ＩＥ書 昭和５９年４　月２７日 □　特許庁長官　若　杉　和　夫　殿　怖１、事件の表
示 ■％１１５９年特　許　願第３９７７０号２、発明の名
称 シンクロスキャンストリーク装置 ３、補正をする者 事件との関係　特許出願人 ４、代　理　人 補正の内容（特願昭５９　−３９７７０　’）（１）　
特許請求の範囲を以下のとおり補正する。 「２、特許請求の範囲 （］）光電而面電子１／ンズ１開［］を持つ陽極、偏向
電極、螢光面がこの順で真空容器内に配置されたストリ
ーク管を用い偏向電圧発生・１段により、前記偏向電極
に前記入電）］（ｉに入射させられる被測定光の周波数
にりｊ応する周波数の偏向電圧を印加し、入射光を前記
螢光面に重ねて再／−１”するシンクにＩスキャンス１
リーク装置において、前記偏向電極機と前記容器の壁面
間および前記偏向電極板、前記偏向電極板を前記容器に
接続する偏向電極板リードと前記陽極電極間の空間に遮
蔽用の金属構造を配置し、この金属構造を基準電位点に
接続して構成したことを特徴とするシンクロスキャンス
トリーク装置。 （２）前記偏向電極の一方の偏向電極板は前記偏向電極
板リードを介して前記偏向電圧発生手段に接続されてお
り、他方の偏向電極板は前記他の偏向極板り−１・′を
介してｌ妾地点に接続されている特許（１） ８？？求の範囲第１項記載のシンクロスキャンストリー
ク装置。 （３）前記遮蔽用の金属構造は前記偏向電圧発生手段に
接続されている偏向電極板と前記容器の壁面間および前
記偏向電圧発生手段に接続されている偏向電極板、前記
偏向電極板を前記容器に接続する偏向電極板リードと前
記陽極電極間の空間に配置され接地電位点に接続されて
いる特許請求の範囲第２項記載のジンクロノ、キャンス
トリーク装置。 （４）前記遮蔽用の金属構造は前記偏向電圧発生手段に
接続されている偏向電極板の偏向電極板り−トと前記陽
極電極間で前記容器に固定された開口部を持つ第１のフ
ランジと、前記偏向電極板の偏向電極板リードに対し７
”で前記第１のフランジの反対側で前記容器に固定され
た開口部を持つ第２のフランジとを含み各フランジは接
地電位点に接続されている特許請求の範囲第３項記載の
シンクロスキャンストリーク装置。 （５）前記第１および第２のフランジの開口部の前記偏
向電圧発４１′手段に接続されζいるり・−ド側に（２
） 金属製の遮蔽板がさらに固定されている特許請求の範囲
第４項記載のジンタロスキ（・ンストリーク装置。 （６）　前記第１および第２のフランジの開「１部の前
記偏向電圧発生手段に接続されでいろり一１側に金属製
の遮蔽格子がさらに固定されている特許請求のＥｌ］第
４項記載のジンクロス；トヤンストリーク装置。 （７）前記遮蔽用の金属構造は前記偏向電圧発生手段に
接続されている偏向電極機の偏向電極板リードを方位す
る金属円筒を含み、前記金属円筒は接地電位点に接続さ
れている特許請求の範囲第２項記載のシンクＩ：Ｉスー
トヤンストリーク装置。 （８）前記遮蔽用の金属円筒は開］１を持つ底面をもち
、前記間］−１は前記偏向電圧発生手段に接続されてい
る偏向電極板の偏向電極板り−１に貫通されている特許
請求の範囲第７項記載のシンクロスキャンストリーク装
置。 （９）前記遮蔽用の金属円筒の底面には、前記偏向電極
板の形状に略等しいフランジを持つ特許請求の範囲 の範囲第７項記載のシンクｌ−１スギヤンストリーク装
置。」 （２）　明細書第１３頁第１２行から同第１３行の［−
前記螢光面に入射させられる１を「前記光電面に入射さ
−ｌられる１に補正する。 （３）　明細書第２１頁第５行の［−基ト（東電位にす
ることなく、」を１基準電位あるいは接地電位にするこ
となく、−１に補正する。 以　」− （４） −７４７−

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. （１）光電面、電子しンス、開口を持つ陽極、偏向電極
   、螢光面がこのＭＲで真空容２））内に配置されたスト
   リーク管を用い偏向電圧発生手段により、前記偏向電極
   に前記螢光面に入射さ−Ｕられる被測定光の周波数にり
   ・ｊ応する周波数の偏向電圧を印加し２、入射光を前記
   螢光面に重ねて百仕するシンクじ］スキャンストリーク
   装置におい一ζ、Ｏ１ｉ記偏向電極板と前記容器の壁面
   間および前記偏向電極板、　１ｉｉｉ記偏向電極板を前
   記容器に接続する偏向電極板り一１・とｎｉ１記陽極電
   極間の空間に遮蔽用の金属構造を配置し、この金属構造
   を基準電位点に接続し゛Ｃ構成したことを特徴とするシ
   ンクロスキャンスＩ−リーク装置。
2. （２）前記偏向電極の一方の偏１’ｉ］電極１及ｔＪ、
   前記偏向電極板リードを介し、て前記偏向電圧発生手段
   に接続されており、他方の偏向電極板は前記他の偏向電
   極板り−１・を介し、て接地点に接続さ１＋ている特許
   請求の範囲第１項記載のシンク１：ｊスキトンストリ−
   ク
3. （３）前記遮蔽用の金属構造はｉｉＩ記偏向電圧光４１
   一手段に接続されている偏向電極１反と前記容器の壁面
   間および前記偏向電圧発生手段に接続されてい？〕偏偏
   向電極板前前記偏向電極及を＋ｊｉｉ記容旨に接続する
   偏向電極板りーＩ・と前記陽極電極間の空間に配置され
   接地電位点に接続されζいる４１゛許請求の範囲第２項
   記載のシンクし１スキヤンスＩ・リーク装置。
4. （４）前記遮蔽用の金属構造は前記偏向電圧発生手段に
   接続されている偏向電極板の偏向電極機りーＩ−と前記
   陽極電極間で前記容器に固定さ相た開１］一部を持つ第
   １のフランジと、前記偏向電極機の偏向電極板りートに
   対して前記第１のフランジの反対（１１１で前記容器に
   固定された開口部を持つ第２のフランジとを含み各フラ
   ンジは接地電位点に接続されている特許請求の範囲第１
   ３項記載のシンクロスキャンストリーク装置。
5. （５）前記第１および第２のフランジのｆｓｔｊＤ部の
   前記偏向電圧発生下段に接続されているり一１側に金属
   製の遮１１１に扱がさらに固定されている特許請求の範
   囲第４項記載のシンクにｌスス；：ヤンスＩ・リーク装
   置。
6. （６）　前記第１および第２のフランジの開Ｉ」部の前
   記偏向電床発生ニ丁段に接続されているり一１側に金属
   製の遮仕格了がさらに固定されている特８’を請求の範
   囲第４項記載のシンクロスキャンストリーク装置。
7. （７）前記遮蔽用の金属構造は１ｉｉｉ記偏向電圧発生
   手段に接続されている偏向電極板の偏向電則扱り−トを
   包囲する金属円筒を含め１、前記金属円筒は接地電位点
   に接続されている特許請求の範囲第２狂ｉ記載のシンク
   ロスキャンスＩ・リーク装置。
8. （８）前記ｍ　ｉｌ＋Ｖ用の金属円筒は開１−’−］を
   持つ底面をもぢ、前記間「１は前記偏向電圧発生１段に
   接続されている偏向電極）反の偏向電極板リードに６通
   されている特許請求の範囲第７項記載のシンクＩ：１ス
   キャンストリーク装置。
9. （９）前記遮蔽用の金属円筒の底面には、前記偏向（３
   ） 電極板の形状に略等しいフランジを１＋ｆつ特許請求の
   範囲第７項記載のシンクｒ１スキャンストリーク装置。