JPS60181647A - 磁粉探傷方法 - Google Patents
磁粉探傷方法Info
- Publication number
- JPS60181647A JPS60181647A JP3760084A JP3760084A JPS60181647A JP S60181647 A JPS60181647 A JP S60181647A JP 3760084 A JP3760084 A JP 3760084A JP 3760084 A JP3760084 A JP 3760084A JP S60181647 A JPS60181647 A JP S60181647A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw
- quick
- magnetic powder
- flaw detection
- examined
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/83—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws by investigating stray magnetic fields
- G01N27/84—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws by investigating stray magnetic fields by applying magnetic powder or magnetic ink
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁粉探傷方法に関する。
例えばｌＡ１図に示すよ５ｖｃ、磁粉探傷検査（以下、
ＭＴ検査）Ｋおける検査対象は、例えば試験体ｌのよう
な浴接部２を翁するものが主流となる。このような検査
対象では、溶接部２の境界に欠陥３が発生することが多
い〇一般的に溶接部２の近傍にはアンダーカット４、ス
パッタ５等が加工時に残ることが猟であり、ＭＴ検査で
は上記の欠陥３とア／ターカント４．スパッタ５等との
識別がなされる必要がある。
ＭＴ検査）Ｋおける検査対象は、例えば試験体ｌのよう
な浴接部２を翁するものが主流となる。このような検査
対象では、溶接部２の境界に欠陥３が発生することが多
い〇一般的に溶接部２の近傍にはアンダーカット４、ス
パッタ５等が加工時に残ることが猟であり、ＭＴ検査で
は上記の欠陥３とア／ターカント４．スパッタ５等との
識別がなされる必要がある。
また例えは第２図（５）、β）Ｋ示すように、ＭＴ検査
の自動化を図る要求から、試験体ｌのＭＴ検査において
、磁粉探纒器６による励磁と同時に磁粉散布ｚ全行い、
エアープロア８で不用磁粉除去を行ったのち、残る欠陥
部の磁粉模様をＩ ’１’ Ｖカメラ９と照明１０によ
って観察し、自動識別の可能性が検討されてきた。しか
し、第３図にボすように、試験体ＩにおけるＩＴＶカメ
ラ９の各走査信号１１，１２．１３の各部位では、それ
ぞれ１１’ 、１２’ 、１３’で示す映像信号となり
、アンダーカット４％スパッタ５等と混在した欠陥部３
の磁粉模様は識別困難であり、自動判別化の見込みは極
めて少ないとされてきた０ 本発明は上記の事情に鑑みて提案されたもので、その目
的とするところは、欠陥とアンダーカット、スパッタ等
の擬似欠陥の影Ｗｔ受けることなく欠陥の自動判別全可
能とづるとともに、従来の熟練検査員による肉眼目視検
査の領域を低減し、目視検査による自動化を図り得る磁
粉探傷方法を提供するにある。
の自動化を図る要求から、試験体ｌのＭＴ検査において
、磁粉探纒器６による励磁と同時に磁粉散布ｚ全行い、
エアープロア８で不用磁粉除去を行ったのち、残る欠陥
部の磁粉模様をＩ ’１’ Ｖカメラ９と照明１０によ
って観察し、自動識別の可能性が検討されてきた。しか
し、第３図にボすように、試験体ＩにおけるＩＴＶカメ
ラ９の各走査信号１１，１２．１３の各部位では、それ
ぞれ１１’ 、１２’ 、１３’で示す映像信号となり
、アンダーカット４％スパッタ５等と混在した欠陥部３
の磁粉模様は識別困難であり、自動判別化の見込みは極
めて少ないとされてきた０ 本発明は上記の事情に鑑みて提案されたもので、その目
的とするところは、欠陥とアンダーカット、スパッタ等
の擬似欠陥の影Ｗｔ受けることなく欠陥の自動判別全可
能とづるとともに、従来の熟練検査員による肉眼目視検
査の領域を低減し、目視検査による自動化を図り得る磁
粉探傷方法を提供するにある。
本発明による磁粉探傷方法は、速乾式現像剤を用いて試
験体表面ｒ（薄い均一な塗［を形成して砿粉探賜を行な
うことを特徴とし、速乾式現像剤を用いて試験体表面の
均一化を図ることにより、擬似欠陥の影＃を受けること
な（欠陥の自勉判別ｔ−可能として、前記従来の欠点を
解消し得るよ５．ＶＣしたものである。
験体表面ｒ（薄い均一な塗［を形成して砿粉探賜を行な
うことを特徴とし、速乾式現像剤を用いて試験体表面の
均一化を図ることにより、擬似欠陥の影＃を受けること
な（欠陥の自勉判別ｔ−可能として、前記従来の欠点を
解消し得るよ５．ＶＣしたものである。
本発明方法において、試験体表面条件の均一化を図るた
めに用いられる速乾式現像剤は１例えは浸透探傷法に用
いられる現像液と間挿の白色又は黒色等の塗膜奪形成さ
せるものであり。
めに用いられる速乾式現像剤は１例えは浸透探傷法に用
いられる現像液と間挿の白色又は黒色等の塗膜奪形成さ
せるものであり。
これは酸化マグネシウム、酸化カルシウム、酸化チタン
などの白色微粉末をアルコール類に懸濁させ、分散剤な
どを添加したものであり、揮発性浴剤に懸濁させている
ので、現像剤を試験品に適用すると、直ちに乾燥し、現
像塗膜を形成するものである。また本発明者等は、上記
の塗膜を試験体表面に塗着しても、ＭＴ検査時の検出性
能の低下は殆んど生じないことを実験により確認してい
る。
などの白色微粉末をアルコール類に懸濁させ、分散剤な
どを添加したものであり、揮発性浴剤に懸濁させている
ので、現像剤を試験品に適用すると、直ちに乾燥し、現
像塗膜を形成するものである。また本発明者等は、上記
の塗膜を試験体表面に塗着しても、ＭＴ検査時の検出性
能の低下は殆んど生じないことを実験により確認してい
る。
本発明の一実施例を添伺図面を１照して詳細に説明する
。
。
第４図は本発明方法を実施するために用いられる装置の
一例を示す図、第５図は本発明方法により得られるＩＴ
Ｖカメ２の映像信号金示す図である。
一例を示す図、第５図は本発明方法により得られるＩＴ
Ｖカメ２の映像信号金示す図である。
第４図において、ｌは試験体、２は溶接部、３は欠陥部
、１４は噴霧器、１５は速乾式現像剤である。
、１４は噴霧器、１５は速乾式現像剤である。
本発明の一実施例においては、例えば第２図に示した要
領のＭＴ検査実施前に、第４図に示すように試験体ＩＫ
噴霧器１４ｃ実ライン中では、スプレーノズルを被検体
に合わせた構造とすればよい）により速乾式現像剤１５
を吹き付は試験体ｌの表面に塗膜を設けることにより表
面の均一化を図るようになされている・７、上記本発明
の一実施例の作用について説明する。
領のＭＴ検査実施前に、第４図に示すように試験体ＩＫ
噴霧器１４ｃ実ライン中では、スプレーノズルを被検体
に合わせた構造とすればよい）により速乾式現像剤１５
を吹き付は試験体ｌの表面に塗膜を設けることにより表
面の均一化を図るようになされている・７、上記本発明
の一実施例の作用について説明する。
第４図に示すように速乾式現像剤を噴Ｍ器１４により吹
き付けて試験体ｌの表面に薄い均一な塗膜を設ける。こ
れにより試験体ｌの表面を均一な濃度（ｌｊＬｌるさ）
にすることが可能となる。次に第５図に不１ように、試
験体ｌのＭＴ検査を行うと、欠陥部３０磁粉模嫌のみが
現われることとなり１例えば従来の第３図に下す位置と
同様の位置１１では、１１″ の映像信号が得られ、ま
た位＠１２では、１２″の映像信号を得ることとなる。
き付けて試験体ｌの表面に薄い均一な塗膜を設ける。こ
れにより試験体ｌの表面を均一な濃度（ｌｊＬｌるさ）
にすることが可能となる。次に第５図に不１ように、試
験体ｌのＭＴ検査を行うと、欠陥部３０磁粉模嫌のみが
現われることとなり１例えば従来の第３図に下す位置と
同様の位置１１では、１１″ の映像信号が得られ、ま
た位＠１２では、１２″の映像信号を得ることとなる。
これらの映像４Ｍ号から明らかな如く本発明方法によれ
は欠陥部３の識別が容易となり、その自動判別が５丁能
となる。
は欠陥部３の識別が容易となり、その自動判別が５丁能
となる。
なお上記の如く欠陥部３を識別し抽出し得る条件は、試
験体ｌの表面を均一化したことによる効果である。一般
に、磁粉が黒系統であれば、映像信号ｔ ｚ Ｉｆｆ得
ることになり、この場合には白系統の速乾式現像剤を選
定することが必要となり、また白系統の磁粉であれば映
像信号１２″Ｉが得られるよう％黒系統の速乾式現像剤
を盛装とする。
験体ｌの表面を均一化したことによる効果である。一般
に、磁粉が黒系統であれば、映像信号ｔ ｚ Ｉｆｆ得
ることになり、この場合には白系統の速乾式現像剤を選
定することが必要となり、また白系統の磁粉であれば映
像信号１２″Ｉが得られるよう％黒系統の速乾式現像剤
を盛装とする。
さらに試験体ｌの表面条件の均一化を図るためには、速
乾式現像剤１５以外にも１例えば一般の並製を行うこと
も考えられるが１例えばＭＴ検査後の塗膜除去の点を考
慮すると速乾式現像剤が最も優れており、その除去に際
しては有機溶剤等の使用も必要な（単にぞうきん一枚で
かるくふきとるだけでよい等の利点がある。
乾式現像剤１５以外にも１例えば一般の並製を行うこと
も考えられるが１例えばＭＴ検査後の塗膜除去の点を考
慮すると速乾式現像剤が最も優れており、その除去に際
しては有機溶剤等の使用も必要な（単にぞうきん一枚で
かるくふきとるだけでよい等の利点がある。
以上により本発明方法によれは、擬似欠陥等の影響を受
けることなく、ＭＴ検査結果より。
けることなく、ＭＴ検査結果より。
欠陥部の磁粉模様を容易に識別し抽出することが可能と
なるとともに、試験体の表面条件に関係なく、目視検査
の自動化が可能となる等の優れた効果が奏せられるもの
である。
なるとともに、試験体の表面条件に関係なく、目視検査
の自動化が可能となる等の優れた効果が奏せられるもの
である。
第１図〜第３図はそれぞれ従来例を説明するための説明
図、第４図は本発明方法を実施するために用いられる装
置の一例を示す図、第５図は本発明方法により得られる
ＩＴＶカメラの映像信号を示す図である。 ｌ・・・試験体、２・・・溶接部、３・・・欠陥部、１
４・・・噴霧器％１５・・・速乾式現像剤。
図、第４図は本発明方法を実施するために用いられる装
置の一例を示す図、第５図は本発明方法により得られる
ＩＴＶカメラの映像信号を示す図である。 ｌ・・・試験体、２・・・溶接部、３・・・欠陥部、１
４・・・噴霧器％１５・・・速乾式現像剤。
Claims (1)
- 速乾式現像剤を用いて試験体表面に薄い均一な塗膜を形
成して磁粉探傷を行なうことを特徴とする磁粉探傷方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3760084A JPS60181647A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 磁粉探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3760084A JPS60181647A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 磁粉探傷方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60181647A true JPS60181647A (ja) | 1985-09-17 |
Family
ID=12502061
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3760084A Pending JPS60181647A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 磁粉探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60181647A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2602871A1 (fr) * | 1986-08-02 | 1988-02-19 | Bruss Polt I | Procede de controle magnetographique de la qualite de materiau et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procede |
-
1984
- 1984-02-29 JP JP3760084A patent/JPS60181647A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2602871A1 (fr) * | 1986-08-02 | 1988-02-19 | Bruss Polt I | Procede de controle magnetographique de la qualite de materiau et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procede |
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