JPS60175015A - 光軸調整方法 - Google Patents
光軸調整方法Info
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- JPS60175015A JPS60175015A JP3076484A JP3076484A JPS60175015A JP S60175015 A JPS60175015 A JP S60175015A JP 3076484 A JP3076484 A JP 3076484A JP 3076484 A JP3076484 A JP 3076484A JP S60175015 A JPS60175015 A JP S60175015A
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- optical axis
- light
- light receiving
- adjusting
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
- G01B11/27—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
- G01B11/272—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes using photoelectric detection means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、投光手段と受光手段の光軸を調整する方法に
関する。
関する。
背景技術
たとえば投光手段から故１０ｍもしくは数１００ｍ＠し
て受光手段を配（ａするとき、受光手段の光軸の角度が
わずかでもずれたとき投光器からの光の経路の移動距離
は大きなものと々つていた。
て受光手段を配（ａするとき、受光手段の光軸の角度が
わずかでもずれたとき投光器からの光の経路の移動距離
は大きなものと々つていた。
このため受光手段の光軸をｓ、１．＋ 整することがで
きる受光手段が所望されていた。
きる受光手段が所望されていた。
目 的
本発明の目的は、投光手段および受光手段の光軸のｍ整
を容易にかつ正４１ｆｔ’ ＶＣ行なうことができる光
軸調整方法を提供することである。
を容易にかつ正４１ｆｔ’ ＶＣ行なうことができる光
軸調整方法を提供することである。
実施例
第１図は、本発明に従って構成される受光手段ｌの一実
施例を示す図である。投光手段２は、受光手段１に向け
て光ｌｐＨｌ１３および光束４を有する赤外線を照射す
る。投光手段２け、コード化された光信号を送出し、受
光手段１によってその光信号をデコードする。このよう
にして投光手段２からの光信号が受光手段ｌに伝達され
る。
施例を示す図である。投光手段２は、受光手段１に向け
て光ｌｐＨｌ１３および光束４を有する赤外線を照射す
る。投光手段２け、コード化された光信号を送出し、受
光手段１によってその光信号をデコードする。このよう
にして投光手段２からの光信号が受光手段ｌに伝達され
る。
投光手段２は、コード化された光信号を送出する代わり
に普通の光信号を送出し、移動体（図示せず）が通過す
るときの受光状台によって移動体の検出を行なうように
してもよい。
に普通の光信号を送出し、移動体（図示せず）が通過す
るときの受光状台によって移動体の検出を行なうように
してもよい。
第２図は、受光手段ｌの正面図、第３図Ｆｉ＋４２図の
切断面線ａｔ−ｔｕから見た簡略化された断面図である
。支持板５は集束レンズ６を有している。
切断面線ａｔ−ｔｕから見た簡略化された断面図である
。支持板５は集束レンズ６を有している。
集束レンズ６に入射された光は、主受光素子７に照射さ
れる。主受光素子７＃ｉ受光量に対応したレベルを有す
る電気信号を導出する。集束レンズ６および主受光素子
７から成る光学系の光軸は参照符８で示されている。本
発明では、投光手段２の光軸３と集束レンズ６、主受光
素子７から成る光学系の光軸８とを一直線上にもたらす
ことを達成する。
れる。主受光素子７＃ｉ受光量に対応したレベルを有す
る電気信号を導出する。集束レンズ６および主受光素子
７から成る光学系の光軸は参照符８で示されている。本
発明では、投光手段２の光軸３と集束レンズ６、主受光
素子７から成る光学系の光軸８とを一直線上にもたらす
ことを達成する。
支持板５には、４つの同一の構成を有する光学系９，１
０，１１．１２が配置されている。光学系、９は、光軸
調整用受光レンズ１３と光軸調整用受光素子１４とを含
んでいる。光軸調整用受光素子１４は、受光量に対応し
たレベルを有する電気信号を４出する。光軸調整用受光
レンズ１３の光軸は参照符１５で示されている。光軸ｍ
整用受光レンズ１３に光軸１５と平行な光線が入射した
ときの結像位置に光軸調整用受光素子１４の受光端面１
６かある。受光端面１６の図心１７は、第４図に示され
るように光軸１５からずれて配置されている。光軸８と
光軸１５は平行である。光軸８を中心として光軸８，１
５を半径とする光軸８に垂直でかつ受光端ｄＪＪ１６を
含む平面内のｇｃ想円によりも半径方向内方側の受光端
面１６の一部分１８は、その仮想円にの外方における受
光端面１６の残余の部分１９よりも大きい。図心１７は
光軸８．１５を含む平面内にある。光軸調整用受光レン
ズ１３の前方には、光軸１５を中心とする比較的小さい
絞りロ２３０ロ径を自在に変化することができるマスク
２４が配置されている。
０，１１．１２が配置されている。光学系、９は、光軸
調整用受光レンズ１３と光軸調整用受光素子１４とを含
んでいる。光軸調整用受光素子１４は、受光量に対応し
たレベルを有する電気信号を４出する。光軸調整用受光
レンズ１３の光軸は参照符１５で示されている。光軸ｍ
整用受光レンズ１３に光軸１５と平行な光線が入射した
ときの結像位置に光軸調整用受光素子１４の受光端面１
６かある。受光端面１６の図心１７は、第４図に示され
るように光軸１５からずれて配置されている。光軸８と
光軸１５は平行である。光軸８を中心として光軸８，１
５を半径とする光軸８に垂直でかつ受光端ｄＪＪ１６を
含む平面内のｇｃ想円によりも半径方向内方側の受光端
面１６の一部分１８は、その仮想円にの外方における受
光端面１６の残余の部分１９よりも大きい。図心１７は
光軸８．１５を含む平面内にある。光軸調整用受光レン
ズ１３の前方には、光軸１５を中心とする比較的小さい
絞りロ２３０ロ径を自在に変化することができるマスク
２４が配置されている。
光学系ｌＯもまた同様に光軸調整用受光レンズ１３ａ、
光軸調整用受光素子１４ａとを含み、光学系９の対応す
る部分には添字ａを付して示す。
光軸調整用受光素子１４ａとを含み、光学系９の対応す
る部分には添字ａを付して示す。
残余の光学系１１．１２も光学系９，１０と同様な構成
を有しており、第２図示のように、マスク２４と同様な
マスク２５．２６とを有しており、光軸調整用受光レン
ズ１３と同様な光軸調整用受光レンズ２７．２８を有し
ている。
を有しており、第２図示のように、マスク２４と同様な
マスク２５．２６とを有しており、光軸調整用受光レン
ズ１３と同様な光軸調整用受光レンズ２７．２８を有し
ている。
光軸調整用受光レンズ１３の光軸１５と光軸調整用受光
レンズ１３ａ、２７．２８の光軸は、光軸８に平行であ
り、光軸８のまわりに９０度の開隔をあけて配置される
。
レンズ１３ａ、２７．２８の光軸は、光軸８に平行であ
り、光軸８のまわりに９０度の開隔をあけて配置される
。
第５図を参照して光軸調整の手順を以下に説明する。投
光手段２の光軸３が理想光軸３０となるように投光手段
２を仮想線３１で示す位置に変位して固定位置に固定す
る。次に受光手段ｌの光軸８が理想光軸３０と一致する
ように、受光手段ｌを仮想線３２に示される位置に固定
する。これによって光軸８，３０が一致される。光軸３
を有する光強度分布は光軸３に垂直な基準線３３上で参
照符３４で示されるように、光軸３に垂１αな平面内で
対称となっている。
光手段２の光軸３が理想光軸３０となるように投光手段
２を仮想線３１で示す位置に変位して固定位置に固定す
る。次に受光手段ｌの光軸８が理想光軸３０と一致する
ように、受光手段ｌを仮想線３２に示される位置に固定
する。これによって光軸８，３０が一致される。光軸３
を有する光強度分布は光軸３に垂直な基準線３３上で参
照符３４で示されるように、光軸３に垂１αな平面内で
対称となっている。
第６図を参照して、投光手段２を仮想線３１に示される
位置にもたらすためにマスク２４，２４８の絞り口２３
，２３ａを小さく絞る。絞り口２３．２３ａを賄りた光
を光軸ｍ祭用受光素子１４゜１４ａとによって受光する
。第６図の状鎧における光軸調整用受光素子１４の受光
状層は第７図に示されている。絞り口２３が小さいとき
、入射光束がすべて受光素子１４に入射される。光軸調
整用受光素子１４と光軸調整用受光素子１４．ａの出力
レベルが同一となるように投光手段２をｙ位して仮想線
３１に示される位置にもたらす。
位置にもたらすためにマスク２４，２４８の絞り口２３
，２３ａを小さく絞る。絞り口２３．２３ａを賄りた光
を光軸ｍ祭用受光素子１４゜１４ａとによって受光する
。第６図の状鎧における光軸調整用受光素子１４の受光
状層は第７図に示されている。絞り口２３が小さいとき
、入射光束がすべて受光素子１４に入射される。光軸調
整用受光素子１４と光軸調整用受光素子１４．ａの出力
レベルが同一となるように投光手段２をｙ位して仮想線
３１に示される位置にもたらす。
第８図を参照して受光手段２を仮想！３２で示される位
置にもたらして光軸８を理想光軸３０に一致させるため
にマスク２４．２４ａの絞り口２３．２３ａを全開にす
る。マスク２４．２４ａの絞り口２３．２３ａを大きく
シ、光軸調整用受光レンズ１３．１３ａｉＣ入射される
光束を総て光軸調整用受光素子１４．１４ａに入射させ
る。受光手段ｌか参照符４０で示される方向に傾いてい
るとき、収差の影斡によって光軸調整用受光素子１４に
入射される光束は、第９図に示されるようにはずれるこ
とになる。このとき光軸調整用受光素子１４ａは、光軸
調整用受光素子１４とは逆に上方が長いため光軸調整用
受光レンズ１４ａに入射される光束を総て入射される。
置にもたらして光軸８を理想光軸３０に一致させるため
にマスク２４．２４ａの絞り口２３．２３ａを全開にす
る。マスク２４．２４ａの絞り口２３．２３ａを大きく
シ、光軸調整用受光レンズ１３．１３ａｉＣ入射される
光束を総て光軸調整用受光素子１４．１４ａに入射させ
る。受光手段ｌか参照符４０で示される方向に傾いてい
るとき、収差の影斡によって光軸調整用受光素子１４に
入射される光束は、第９図に示されるようにはずれるこ
とになる。このとき光軸調整用受光素子１４ａは、光軸
調整用受光素子１４とは逆に上方が長いため光軸調整用
受光レンズ１４ａに入射される光束を総て入射される。
このため光軸調整用受光素子１４，１４ａに入射される
光信号の受光量が異なる。光軸調整用受光素子１４．１
４ａによって受光される受光量が１−一になるように受
光手段ｌの角反を変位させることによって受光手段１の
光軸８を理想光軸３０に一致させることができる。
光信号の受光量が異なる。光軸調整用受光素子１４．１
４ａによって受光される受光量が１−一になるように受
光手段ｌの角反を変位させることによって受光手段１の
光軸８を理想光軸３０に一致させることができる。
受光手段１が参照符４１で示される方向に傾いていると
き、光軸調整用受光素子Ｌ４ａＫよって受光される受光
量↓は、光軸調整用受光素子１４によって受光される受
光量より少なくなる。両者の受光量を一致させることに
よって受光手段１の光軸８を理想光軸３０に一致させる
ことができる。
き、光軸調整用受光素子Ｌ４ａＫよって受光される受光
量↓は、光軸調整用受光素子１４によって受光される受
光量より少なくなる。両者の受光量を一致させることに
よって受光手段１の光軸８を理想光軸３０に一致させる
ことができる。
以上のように光学系９，１００出力によって受光手段１
の垂直方向の傾きを調整したが、光学系１１．１２の出
力によって受光手段ｌの水平方向の傾きを調整する動作
は、光学系９，１０のときと同様である。
の垂直方向の傾きを調整したが、光学系１１．１２の出
力によって受光手段ｌの水平方向の傾きを調整する動作
は、光学系９，１０のときと同様である。
第１Ｏ図は、受光手段１の構成を示すブロック図である
。光学系１ａは、支持板５、集束レンズ６、光軸調整用
受光レンズ１３．１３ａ、２７゜２８を有している。葦
た光学系１ａは、光軸Ｉｌｌ＃祭用受光用受光レンズ１
３ａ、２７．２８によってそれぞれ集束される光信号を
電気信号に変換し、それぞれライン１１−１！４を介し
て出力する。差動回路ｌｂは、ライン１１．１２を介し
て入力される光軸調整用受光レンズ１３，１３ａからの
信号の差をめる。差動回路１ｂＫより請求められた結果
は、垂直方向調整回路１ｃ［入力される。
。光学系１ａは、支持板５、集束レンズ６、光軸調整用
受光レンズ１３．１３ａ、２７゜２８を有している。葦
た光学系１ａは、光軸Ｉｌｌ＃祭用受光用受光レンズ１
３ａ、２７．２８によってそれぞれ集束される光信号を
電気信号に変換し、それぞれライン１１−１！４を介し
て出力する。差動回路ｌｂは、ライン１１．１２を介し
て入力される光軸調整用受光レンズ１３，１３ａからの
信号の差をめる。差動回路１ｂＫより請求められた結果
は、垂直方向調整回路１ｃ［入力される。
垂直方向判定回路１ｃは、差動回路１ｂからの出力によ
って受光手段１の垂直方向の傾きを判定する。垂直方向
調整回路１ｄは、垂直方向判定回路１ｃからの出力に応
答し、受光手段１の垂直方向の調整を行なう。垂直方向
判定回路１ｃはまた、表示回路１ｅに判定結果を出力す
る。
って受光手段１の垂直方向の傾きを判定する。垂直方向
調整回路１ｄは、垂直方向判定回路１ｃからの出力に応
答し、受光手段１の垂直方向の調整を行なう。垂直方向
判定回路１ｃはまた、表示回路１ｅに判定結果を出力す
る。
差動回路１ｆは、ラインＩ！３ 、 ／４を介して入力
される光軸調整用受光レンズ２７．２８の信号の差をめ
る。水平方向判定回路１ｇは、差動回路１ｆからの信号
によって受光手段１の水平方向の傾きを判定する。水平
方向調整回路ｌｈＩ″ｉ、水平方向判定回路１ｇからの
出力によって受光手段ｌの水平方向を調整する。水平方
向’ｆｌＪ定回ＩＭ１ｇけまた、判定結果を表示回路１
ｅに出方する。
される光軸調整用受光レンズ２７．２８の信号の差をめ
る。水平方向判定回路１ｇは、差動回路１ｆからの信号
によって受光手段１の水平方向の傾きを判定する。水平
方向調整回路ｌｈＩ″ｉ、水平方向判定回路１ｇからの
出力によって受光手段ｌの水平方向を調整する。水平方
向’ｆｌＪ定回ＩＭ１ｇけまた、判定結果を表示回路１
ｅに出方する。
加算回路１ｉｉｊ、光軸調整用受光レンズ１３゜１３ａ
、２７．２８からの信号を加算する。加算回路１ｉはま
た、加算結果を表示回路１ｅに出方する。
、２７．２８からの信号を加算する。加算回路１ｉはま
た、加算結果を表示回路１ｅに出方する。
以下第１θ図を用いて受光手段１の動作を説明する。光
軸調繁用受光レンズ１３．１３ａによって集束された光
信号によって受光手段１の垂直方向の傾きを検知し、垂
直方向調整回路１ｄによって受光手段ｌの垂直方向の傾
きを補正する。また光＋１１１１１調整用受光レンズ２
７．２８の出方によって受光手段ｌの水平方向の傾きを
判定する。受光手段ｌの水平方向の傾きを検知した後、
水平方向調整回路１ｈによって受光手段ｌの水平方向の
傾きを調整する。また垂直方向および水平方向の傾きは
表示回路１ｅによって表示され、手動で受光手段ｌの傾
きを補正してもよい。加算回路１ｉは光軸調整用受光レ
ンズ１３．１３ａ、２７．２８の信号を加算することに
よって受光手段１に入力される受光量をめるこ七かでき
る。加算回路１１によって加算された後に表示回路１ｅ
によって計算結果を出力する。
軸調繁用受光レンズ１３．１３ａによって集束された光
信号によって受光手段１の垂直方向の傾きを検知し、垂
直方向調整回路１ｄによって受光手段ｌの垂直方向の傾
きを補正する。また光＋１１１１１調整用受光レンズ２
７．２８の出方によって受光手段ｌの水平方向の傾きを
判定する。受光手段ｌの水平方向の傾きを検知した後、
水平方向調整回路１ｈによって受光手段ｌの水平方向の
傾きを調整する。また垂直方向および水平方向の傾きは
表示回路１ｅによって表示され、手動で受光手段ｌの傾
きを補正してもよい。加算回路１ｉは光軸調整用受光レ
ンズ１３．１３ａ、２７．２８の信号を加算することに
よって受光手段１に入力される受光量をめるこ七かでき
る。加算回路１１によって加算された後に表示回路１ｅ
によって計算結果を出力する。
以上のように絞り口を小さく調整し、投光手段の光軸を
設定した後に、絞り口を大きくし、受光手段の光軸を設
定するので、正確に光軸を設定することができる。
設定した後に、絞り口を大きくし、受光手段の光軸を設
定するので、正確に光軸を設定することができる。
上述の実施例では光軸１５，１５ａと距ｆＭ８との距１
４６ Ｐ Ｑ （第３図参照）が同一値であったけれど
も他の実施例として異ったｆ直であってもよい。
４６ Ｐ Ｑ （第３図参照）が同一値であったけれど
も他の実施例として異ったｆ直であってもよい。
距離ＰＱを異った値とするとき光軸調整用受光素子１４
．１４ａはあらがじめ定めた値となるように受光手段１
、投光手段２を調整する。
．１４ａはあらがじめ定めた値となるように受光手段１
、投光手段２を調整する。
ｔｊｆＪ述の実施例では、投光手段２がら赤外線を照射
すると述べたが、自然光と異なる波長であるならば他の
光線でもよい。
すると述べたが、自然光と異なる波長であるならば他の
光線でもよい。
効果
以上のように本発明によれば、光１ｌＩｌＩＩ調整用受
光素子を主受光素子の周囲に収り付け、光軸調整用受光
素子からの出力によって主受光素子の傾きをｔｌｉＪ整
するので、′８易かつ正（１１〔に光軸の調整を行なう
ことができる。
光素子を主受光素子の周囲に収り付け、光軸調整用受光
素子からの出力によって主受光素子の傾きをｔｌｉＪ整
するので、′８易かつ正（１１〔に光軸の調整を行なう
ことができる。
第１図は本発明にしたがって構成される受光手段１の一
実施例を示す図、第２図は受光手段ｌの正面図、第３図
は第２図の切断曲線１１１− ＩＩからみた簡略化され
た断面図、第４図は光軸調整用受光素子１４の正面図、
第５図は受光手段１および投光手段２の動作を示す図、
第６図は投光手段２を調整するときの動作を示す図、第
７図は光軸調整用受光レンズ１３と光軸調整用受光素子
１４の簡略化した側面図、第８図は受光手段１を調整す
るときの動作を示す図、第９図は光軸調整用受光レンズ
１３と光軸調整用受光素子１４との（資）略化した側面
図、第１θ図は受光手段１の構成を示すブロック図であ
る。 ｌ・・・受光手段、２・・・投光手段、１３，１３ａ。 ２７．２８ ・光袖調祭用受光レンズ、１４，１４ａ・
・・光軸調整用受光素子 第２図 第３図 第４図 第６図 第７図 第８図 、／４ 第１０図 手続補正書 昭和５９年 ９月２５日 特願昭５９−３０７６４ ２、発明の名称 光軸調整方法 ３、補正をする者 事件との関係 出願人 住所 名称（５８３）松下電工株式会社 代表渚 ４、代理人 住 所 大阪市西区西本町１丁目１３＠３８号 新入産
ビル国装置ＥＸ ０５２５−５９８５ ＩＮｉ’ＡＰＴ
Ｊ国際ＦＡＸ ＧＩＩｌ＆ＧＩＩ （０６）５３８−
０２４７６、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 ７、補正の内容 明細書第ｉｏ＊ｆｊＳ２打目〜３行目におり１てｔ計算
結果」とあるを 「計昇結果」に訂正する。 以上
実施例を示す図、第２図は受光手段ｌの正面図、第３図
は第２図の切断曲線１１１− ＩＩからみた簡略化され
た断面図、第４図は光軸調整用受光素子１４の正面図、
第５図は受光手段１および投光手段２の動作を示す図、
第６図は投光手段２を調整するときの動作を示す図、第
７図は光軸調整用受光レンズ１３と光軸調整用受光素子
１４の簡略化した側面図、第８図は受光手段１を調整す
るときの動作を示す図、第９図は光軸調整用受光レンズ
１３と光軸調整用受光素子１４との（資）略化した側面
図、第１θ図は受光手段１の構成を示すブロック図であ
る。 ｌ・・・受光手段、２・・・投光手段、１３，１３ａ。 ２７．２８ ・光袖調祭用受光レンズ、１４，１４ａ・
・・光軸調整用受光素子 第２図 第３図 第４図 第６図 第７図 第８図 、／４ 第１０図 手続補正書 昭和５９年 ９月２５日 特願昭５９−３０７６４ ２、発明の名称 光軸調整方法 ３、補正をする者 事件との関係 出願人 住所 名称（５８３）松下電工株式会社 代表渚 ４、代理人 住 所 大阪市西区西本町１丁目１３＠３８号 新入産
ビル国装置ＥＸ ０５２５−５９８５ ＩＮｉ’ＡＰＴ
Ｊ国際ＦＡＸ ＧＩＩｌ＆ＧＩＩ （０６）５３８−
０２４７６、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 ７、補正の内容 明細書第ｉｏ＊ｆｊＳ２打目〜３行目におり１てｔ計算
結果」とあるを 「計昇結果」に訂正する。 以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光軸からの光を受光する光軸が調整されるべき主受光素
子の外周に、光源からの光を受光することができる複数
の光軸調整用受光素子を、主受光素子と一体的に取り付
け、 前記光軸調整用受光素子は、受光量に対応した出力レベ
ルを有する電気信号を導出し、光軸調整用受光素子から
の出力レベルの相互の関係が予め定めた状態になるよう
に、主受光素子および光軸調整用受光素子を変位させる
ことを特徴とする光軸調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3076484A JPS60175015A (ja) | 1984-02-20 | 1984-02-20 | 光軸調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3076484A JPS60175015A (ja) | 1984-02-20 | 1984-02-20 | 光軸調整方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60175015A true JPS60175015A (ja) | 1985-09-09 |
Family
ID=12312745
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3076484A Pending JPS60175015A (ja) | 1984-02-20 | 1984-02-20 | 光軸調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60175015A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007260147A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Tadayuki Tange | 多用途湯たんぽ |
| US8561821B2 (en) | 2010-01-14 | 2013-10-22 | Amcor Limited | Heat set container |
| CN104501745A (zh) * | 2015-01-19 | 2015-04-08 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 一种光电成像***光轴偏差的快速检测方法及装置 |
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1984
- 1984-02-20 JP JP3076484A patent/JPS60175015A/ja active Pending
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