JPS60171643A - 光デイスクヘツドのフオ−カスずれ検出装置 - Google Patents
光デイスクヘツドのフオ−カスずれ検出装置Info
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- JPS60171643A JPS60171643A JP59027181A JP2718184A JPS60171643A JP S60171643 A JPS60171643 A JP S60171643A JP 59027181 A JP59027181 A JP 59027181A JP 2718184 A JP2718184 A JP 2718184A JP S60171643 A JPS60171643 A JP S60171643A
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
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- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野１
この発明は、光デイスクヘッドのフォーカスずれ検出装
置に関するものであり、とりわけ、デジタルオーディオ
ディスク、ビデオディスク等の光学的情報記録媒体から
非接触で情報を読出し、あるいは書込むための光デイス
クヘッドのフォーカスずれを検出する装置に関するもの
である。
置に関するものであり、とりわけ、デジタルオーディオ
ディスク、ビデオディスク等の光学的情報記録媒体から
非接触で情報を読出し、あるいは書込むための光デイス
クヘッドのフォーカスずれを検出する装置に関するもの
である。
従来のこの種の装置を第１図について説明すると、発光
貯／からのレーザ出射光束−はビームスプリッタ３を通
過し、コリメートレンズψにより平行光束Ｓにされ、四
分の一波長板６を通って対物レンズ７により光ディスク
ｇの面上に微小な集光スポットタを形成する。この集光
スポット９からの反射光束は対物レンズ７に再入射し、
これから四分の一波長板６、コリメートレンズ≠を辿っ
て光路を逆戻りする。この逆戻りした反射光束１０ 。
貯／からのレーザ出射光束−はビームスプリッタ３を通
過し、コリメートレンズψにより平行光束Ｓにされ、四
分の一波長板６を通って対物レンズ７により光ディスク
ｇの面上に微小な集光スポットタを形成する。この集光
スポット９からの反射光束は対物レンズ７に再入射し、
これから四分の一波長板６、コリメートレンズ≠を辿っ
て光路を逆戻りする。この逆戻りした反射光束１０ 。
はビームスプリッタ３によって反射され９σ方向を変え
られる。？σ丈方向変えられた反射光束は光路途中に設
置されたノ・−フミラー／ｌによりΩつの光束に分けら
れる。ここでノ・−フミラー／ｌを透過した第１の光束
／Ｊａは点Ｐｚｉで集光し、ハーフミラ−／／で反射さ
れた第一の光束／、２ｂは点Ｐ、２に集光する。矢印Ｘ
は光ディスクｇのずれ方向を示す。
られる。？σ丈方向変えられた反射光束は光路途中に設
置されたノ・−フミラー／ｌによりΩつの光束に分けら
れる。ここでノ・−フミラー／ｌを透過した第１の光束
／Ｊａは点Ｐｚｉで集光し、ハーフミラ−／／で反射さ
れた第一の光束／、２ｂは点Ｐ、２に集光する。矢印Ｘ
は光ディスクｇのずれ方向を示す。
集光点Ｐｔの手前に第１の光検知器１３、集光点Ｐλの
後方には第２の光検知器／ダが配設されており、これら
の光検知器／ 、３ 、 ／ ｌｌ−は第４図（ａ）。
後方には第２の光検知器／ダが配設されており、これら
の光検知器／ 、３ 、 ／ ｌｌ−は第４図（ａ）。
（ｂ）にそれぞれ示すように、円形の内側有感領域１／
＋１．２ と外側有感領域ＴＩ 、 、■−に２分割さ
れている。
＋１．２ と外側有感領域ＴＩ 、 、■−に２分割さ
れている。
第１の光検知器１３は、光ディスクざが対物レンズ７の
合焦点位置にあるとき、第３図（ａｌ Ｋ示すよ５１Ｃ
内側有感領域Ｉ／と外側有感領域ＩＩ ／に入射する光
スポットｉｓの光量が互いに等しくなるように、その位
置および内側有感領域Ｉ／の大きさが設定されている。
合焦点位置にあるとき、第３図（ａｌ Ｋ示すよ５１Ｃ
内側有感領域Ｉ／と外側有感領域ＩＩ ／に入射する光
スポットｉｓの光量が互いに等しくなるように、その位
置および内側有感領域Ｉ／の大きさが設定されている。
従って有感領域１．、Ｈ，の出力差（ＩＩ／Ｔ／）は合
焦点時には零となる。一方、光ディスクｇが合焦点位置
より遠ざかると第１の光束／、２ａの集光点Ｐ／は第１
の光検知器７．７に近づき、第７の光検知器／３面上の
光スポット／Ｓは第３図（ｂ）に示すように小さくなり
、有感領域Ｉ／への入射光量が大きくなり、その出力差
（■／Ｔ／）は負となる。逆に光ディスクｇが合焦点位
置より近づくと、第３図（ｃ）に示すように光スポット
／Ｓは大きくなり、光検知器出力差（ＩＩ／ Ｔ／）は
正となる。したがって横軸に光ディスクｇの合焦点位置
からのずれＸ（遠ざかる方向を正）を、縦軸に光検知器
出力差（ＩＩ／−Ｉ／）をとると第７図に示すような特
性曲線が得られる。特性曲線が第９図のような形になる
ことは実験と理論の両面から確認されている。このよう
に第１の光検知器／３だけから得られる特性は合焦点付
近の検出感度が非線形で、ゼロクロス（Ｘ軸と交わる点
）がコケ所ある等の理由から、これのみではフォーカス
ずれ検出信号としては不適である。第一の光検出器“ｌ
ｑは以上の点を補うものであり、第７の光検出器１３と
同様に光ディスクｇが合焦点位置にあるとき、第Ｓ図（
ａ、）のように内側有感領域■Ｊ、外側有感領域ｆｉｓ
に入射する光スポットｌ乙の光量が等しくなるよう第２
の光検知器／弘の位置、領域Ｉａの大きさが設定されて
いる。従って合焦点時の有感領域Ｉ ｎ ＋ １１２の
出力差（ｔ ５−１１ ｓ、）は零になるが、光ディス
クｇが合°焦点位置より遠ざかると第一の光束／２ｂの
集光点Ｐ２は第一の光検知器／４’より遠ざかり第一の
光検知器７７面上の光スポット／６は第５図（ｂ） Ｋ
示すように大きくなり、その出力差（Ｉｘ−Ｈλ）は負
となる。また逆に光ディスクｇが合焦点位置より近づく
と第５図（ｃ）に示すように光スポラ）／Ａは小さくな
り、光検知器出力差（Ｔａ−１１ｘ）は正となる。した
がって横軸に光ディスクにの合焦点位置からのずれＸ（
遠ざかる方向を正）を、縦軸に光検知器出力差（ｒｐ−
１［ｚ）をとると第６図に示すような特性曲線が得られ
る。この特性は第Ｖ図の特性を原点のまわりに／ｇσ回
転させた形になっている。したがって、第７図のよ５に
光検知器／、３．／’Ｉに接続した減Ｘ器／りの出力を
加算器／ｇで加算すれば第Ｖ図の特性曲線と第６図の特
性曲線を〃口え合わせた第５図に示すような特性曲線を
得ることができる。このようにして得られた特性は合焦
点付近の検出感度が線形であり、ゼロクロスが一ケ所で
あるためフォーカスずれ検出信号として最適なものにな
る。
焦点時には零となる。一方、光ディスクｇが合焦点位置
より遠ざかると第１の光束／、２ａの集光点Ｐ／は第１
の光検知器７．７に近づき、第７の光検知器／３面上の
光スポット／Ｓは第３図（ｂ）に示すように小さくなり
、有感領域Ｉ／への入射光量が大きくなり、その出力差
（■／Ｔ／）は負となる。逆に光ディスクｇが合焦点位
置より近づくと、第３図（ｃ）に示すように光スポット
／Ｓは大きくなり、光検知器出力差（ＩＩ／ Ｔ／）は
正となる。したがって横軸に光ディスクｇの合焦点位置
からのずれＸ（遠ざかる方向を正）を、縦軸に光検知器
出力差（ＩＩ／−Ｉ／）をとると第７図に示すような特
性曲線が得られる。特性曲線が第９図のような形になる
ことは実験と理論の両面から確認されている。このよう
に第１の光検知器／３だけから得られる特性は合焦点付
近の検出感度が非線形で、ゼロクロス（Ｘ軸と交わる点
）がコケ所ある等の理由から、これのみではフォーカス
ずれ検出信号としては不適である。第一の光検出器“ｌ
ｑは以上の点を補うものであり、第７の光検出器１３と
同様に光ディスクｇが合焦点位置にあるとき、第Ｓ図（
ａ、）のように内側有感領域■Ｊ、外側有感領域ｆｉｓ
に入射する光スポットｌ乙の光量が等しくなるよう第２
の光検知器／弘の位置、領域Ｉａの大きさが設定されて
いる。従って合焦点時の有感領域Ｉ ｎ ＋ １１２の
出力差（ｔ ５−１１ ｓ、）は零になるが、光ディス
クｇが合°焦点位置より遠ざかると第一の光束／２ｂの
集光点Ｐ２は第一の光検知器／４’より遠ざかり第一の
光検知器７７面上の光スポット／６は第５図（ｂ） Ｋ
示すように大きくなり、その出力差（Ｉｘ−Ｈλ）は負
となる。また逆に光ディスクｇが合焦点位置より近づく
と第５図（ｃ）に示すように光スポラ）／Ａは小さくな
り、光検知器出力差（Ｔａ−１１ｘ）は正となる。した
がって横軸に光ディスクにの合焦点位置からのずれＸ（
遠ざかる方向を正）を、縦軸に光検知器出力差（ｒｐ−
１［ｚ）をとると第６図に示すような特性曲線が得られ
る。この特性は第Ｖ図の特性を原点のまわりに／ｇσ回
転させた形になっている。したがって、第７図のよ５に
光検知器／、３．／’Ｉに接続した減Ｘ器／りの出力を
加算器／ｇで加算すれば第Ｖ図の特性曲線と第６図の特
性曲線を〃口え合わせた第５図に示すような特性曲線を
得ることができる。このようにして得られた特性は合焦
点付近の検出感度が線形であり、ゼロクロスが一ケ所で
あるためフォーカスずれ検出信号として最適なものにな
る。
このフォーカスずれ検出信号は対物レンズ７または光学
系全体を元軸方向に駆動する機構（図示せず）を制御す
るため罠用いられる。より詳細には、検出信号が常に零
になるよつＩＣ対物レンズ７または光学系全体を駆動す
るための機構（例えばボイスコイル）へ帰還されるので
ある。
系全体を元軸方向に駆動する機構（図示せず）を制御す
るため罠用いられる。より詳細には、検出信号が常に零
になるよつＩＣ対物レンズ７または光学系全体を駆動す
るための機構（例えばボイスコイル）へ帰還されるので
ある。
しかし、以上の構成になる従来装置は、第１゜第一の光
検知器／３，１％の位置をそれぞれ独立して３軸調整し
なければならず、調整が複雑で調整コストが高くなると
いう欠点を有していた。また、ハーフミラ−／／、光検
知器１３．／フカ各別に配置されてるため、経年変化等
圧よるこれら要素の変位の影響をもたらすおそれがあり
、信頼性が低いという欠点も有していた。
検知器／３，１％の位置をそれぞれ独立して３軸調整し
なければならず、調整が複雑で調整コストが高くなると
いう欠点を有していた。また、ハーフミラ−／／、光検
知器１３．／フカ各別に配置されてるため、経年変化等
圧よるこれら要素の変位の影響をもたらすおそれがあり
、信頼性が低いという欠点も有していた。
この発明は、上記のような従来のものの欠点を除去する
ことを目的とするもので、従来のビームスプリッタに加
えて、反射光束を２つの光束に分離する一定の第一のビ
ームスプリッタを設け、第一のビームスプリッタと第１
．第一の光検知器を一体化することにより、ＩＡ整が簡
単で１整コストが安く、かつ、経年変化等に対する信頼
性の高い光デイスクヘッドのフォーカスずれ検出装ホを
提供する。
ことを目的とするもので、従来のビームスプリッタに加
えて、反射光束を２つの光束に分離する一定の第一のビ
ームスプリッタを設け、第一のビームスプリッタと第１
．第一の光検知器を一体化することにより、ＩＡ整が簡
単で１整コストが安く、かつ、経年変化等に対する信頼
性の高い光デイスクヘッドのフォーカスずれ検出装ホを
提供する。
第９図は、この発明の第一の実施例を示し、第１図と同
一符号は同一または相当部分を示−１，図において、／
りは第一のビームスプリッタをなす筒状のハーフプリズ
ムで反射光束１０は反射面／９ａで反射される第１の光
束／２ａとそのまま透過する第２の光束／２ｂとに分離
される。まず、第１の光束／２ｆｌはハーフプリズムｌ
？外方の集光点Ｐｔに向かって進み光路ヱ、合焦点時の
集光点Ｐｌ より手前ＶＣ置かれた第１の光検知器／Ｊ
Ｋ入射する。第１の光検知器１３の当て面はハーフプリ
ズム１９の１つの外面／？ｂと一致するようになってお
り、かつ、外面ｌデｂＫ接着などにより固定されている
。また反射面／？ａで反射された第一の光束１２ｂはハ
ーフプリズム／ｆ中を進み、ハーフプリズム／？内の集
光点ＰＪＩＣ集光し。
一符号は同一または相当部分を示−１，図において、／
りは第一のビームスプリッタをなす筒状のハーフプリズ
ムで反射光束１０は反射面／９ａで反射される第１の光
束／２ａとそのまま透過する第２の光束／２ｂとに分離
される。まず、第１の光束／２ｆｌはハーフプリズムｌ
？外方の集光点Ｐｔに向かって進み光路ヱ、合焦点時の
集光点Ｐｌ より手前ＶＣ置かれた第１の光検知器／Ｊ
Ｋ入射する。第１の光検知器１３の当て面はハーフプリ
ズム１９の１つの外面／？ｂと一致するようになってお
り、かつ、外面ｌデｂＫ接着などにより固定されている
。また反射面／？ａで反射された第一の光束１２ｂはハ
ーフプリズム／ｆ中を進み、ハーフプリズム／？内の集
光点ＰＪＩＣ集光し。
合焦点時の集光点ＰＪより後方ＶＣ［かれた第２の光検
知器／ＦＫ入射する。第一の光検知器／Ｆは第１の光検
知器１３同様、当て面がハーフプリズムｌデの他の外面
／９ｃと一致して固定されている。従って、あらかじめ
決められた精度でハーフプリズムｌデを形成し、光検知
器／、３．／’Ｉをそれぞれ適当な精度で外面／９ｂ、
／９ｃに固定すれば、光検知器の調整は光検知器／Ｊ、
／’Ｉとハーフプリズム／？が一体化されたものを３軸
調整するだけで足りる。
知器／ＦＫ入射する。第一の光検知器／Ｆは第１の光検
知器１３同様、当て面がハーフプリズムｌデの他の外面
／９ｃと一致して固定されている。従って、あらかじめ
決められた精度でハーフプリズムｌデを形成し、光検知
器／、３．／’Ｉをそれぞれ適当な精度で外面／９ｂ、
／９ｃに固定すれば、光検知器の調整は光検知器／Ｊ、
／’Ｉとハーフプリズム／？が一体化されたものを３軸
調整するだけで足りる。
以上のように、従来のものと比較して調整箇所が著しく
少なくなり、調整が容易となって調整コストが安くなる
。また、ハーフプリズム／９、光検知器／、？、／Ｇ１
が一体化されているので、これらを各別に配置した従来
のものよりも経年変化等による素子の不所望な変位の影
響が少なく、信頼性も向上する。
少なくなり、調整が容易となって調整コストが安くなる
。また、ハーフプリズム／９、光検知器／、？、／Ｇ１
が一体化されているので、これらを各別に配置した従来
のものよりも経年変化等による素子の不所望な変位の影
響が少なく、信頼性も向上する。
なお、上記におけるフォーカスずれ検出信号は、第７図
と同一の演算回路により得られることはいうまでもない
。
と同一の演算回路により得られることはいうまでもない
。
上記第一の実施例ではハーフプリズム／デの二つの外面
／ ？ｂ 、／ ９ｄＫ第１ 、第一の光検知器／、ｌ
、 ／Ｇ’を固定したが、漉；の実施例として第１Ｏ
図、第１／図に示すような形状のハ〜フプリズムコθ、
すなわちλつの反射面２０ａ、２０ｂをもつものを用い
ればλつの光検知器をハーフプリズム、２０の同一外面
に配設することができる。・・したがって、第１／図に
示すようなパターンをもつｖ分割光検知器、２１を１個
用いれば７つの光検知器、２／をハーフプリズムの一つ
の外面に固定するだけでよく、一層の調整の簡略化が達
成される。
／ ？ｂ 、／ ９ｄＫ第１ 、第一の光検知器／、ｌ
、 ／Ｇ’を固定したが、漉；の実施例として第１Ｏ
図、第１／図に示すような形状のハ〜フプリズムコθ、
すなわちλつの反射面２０ａ、２０ｂをもつものを用い
ればλつの光検知器をハーフプリズム、２０の同一外面
に配設することができる。・・したがって、第１／図に
示すようなパターンをもつｖ分割光検知器、２１を１個
用いれば７つの光検知器、２／をハーフプリズムの一つ
の外面に固定するだけでよく、一層の調整の簡略化が達
成される。
第１コ図は第三の実施例を示し、一端に四分の一波長板
２．２を接合した第二のビームスプリッタ２３を用いれ
ば光学系の一層のコンパクト化がはかれる。この場合、
反射光束ｉｏは反射面Ｊ３ａから外部の集光点Ｐ／に向
かって進み四分の一波長板２．２を通過して第１の光検
知器１３に入射する。ここで四分の一波長板２．２の外
面２３ｂはハーフミラ−コーティングが施されており、
第１の光検知器／、？ｌｌＣ入射した光束の半分は外面
λ３ｂで反射される。この反射光束は四分の一波長板λ
コを再び通過し、ビームスプリッタ２３中を進む。
２．２を接合した第二のビームスプリッタ２３を用いれ
ば光学系の一層のコンパクト化がはかれる。この場合、
反射光束ｉｏは反射面Ｊ３ａから外部の集光点Ｐ／に向
かって進み四分の一波長板２．２を通過して第１の光検
知器１３に入射する。ここで四分の一波長板２．２の外
面２３ｂはハーフミラ−コーティングが施されており、
第１の光検知器／、？ｌｌＣ入射した光束の半分は外面
λ３ｂで反射される。この反射光束は四分の一波長板λ
コを再び通過し、ビームスプリッタ２３中を進む。
この光は四分の一波長板２コをコ度通過しているため直
線偏光の偏光方向が９ダ回転し、ビームスプリンタコ３
の反射面２３ａでは反射されずに透過して内部の集光点
Ｐａで集光し、第二の光検知器ｌｐＫ！する。光検知器
／３．／＃の当て面はそれぞれ外面、２３ｂおよびこれ
に対向する外面２３ｃ゛と一致してる。
線偏光の偏光方向が９ダ回転し、ビームスプリンタコ３
の反射面２３ａでは反射されずに透過して内部の集光点
Ｐａで集光し、第二の光検知器ｌｐＫ！する。光検知器
／３．／＃の当て面はそれぞれ外面、２３ｂおよびこれ
に対向する外面２３ｃ゛と一致してる。
この実施例のものは、調整の簡略化・高信頼性に加えて
光学系のコンパクト化の効果も期待できる。
光学系のコンパクト化の効果も期待できる。
第１．？図は第四の実施例を示し、第二のビームスプリ
ッタ２グの７つの外面、ｌ≠ｂの半分はミラーコーティ
ング、２ｊが施され、残余の部分に第１の光検知器コロ
を配設し、外面２ｅｂに対向する外面２１１ｃに第２の
光検知器２７で配置してなり、第１ダ図（ａ） 、 （
ｂ） Ｋ示すような有声領域を有している。かくして反
射光束１０は一部半内部が光検知器２６に入射し、残り
半円部はミラーコーティング２Ｓで反射されて第２のビ
ームスプリッタ、２弘中を進行し、第二の光検知器Ｊ？
［入射する。
ッタ２グの７つの外面、ｌ≠ｂの半分はミラーコーティ
ング、２ｊが施され、残余の部分に第１の光検知器コロ
を配設し、外面２ｅｂに対向する外面２１１ｃに第２の
光検知器２７で配置してなり、第１ダ図（ａ） 、 （
ｂ） Ｋ示すような有声領域を有している。かくして反
射光束１０は一部半内部が光検知器２６に入射し、残り
半円部はミラーコーティング２Ｓで反射されて第２のビ
ームスプリッタ、２弘中を進行し、第二の光検知器Ｊ？
［入射する。
この実施例の場合も第三の実施例と同様の効果が期待で
きる。こらに、以上の各実施例では円形または半円形の
有感領域をもつλつの二分割光検知器または７つの１分
割光検知器を用いたが、第五の実施例として第ｉｓ図に
示すような２つの３分割光検知器−ｇ、コ９またはこの
２つからなる１つの６分割の短冊型の光検知器を用いて
もよい。
きる。こらに、以上の各実施例では円形または半円形の
有感領域をもつλつの二分割光検知器または７つの１分
割光検知器を用いたが、第五の実施例として第ｉｓ図に
示すような２つの３分割光検知器−ｇ、コ９またはこの
２つからなる１つの６分割の短冊型の光検知器を用いて
もよい。
／７は減算器、／ざは加算器で、この場合のフォーカス
ずれ検出信号Ｅｆは Ｅｆ ＝ （ｉ コ＋ ｍ、＋＋ｎ、） −（Ｉ／ ＋
ｌＩコ ＋■コ）となる。この光検知器２１．１９の分
割線方向をトラッキングに伴って光検知器面上の光スポ
ットが動く方向（図中ｒ方向）と平行になるように設定
すれば、トラッキングに伴うフォーカスずれ検出エラー
を生じさせない利点を有する。
ずれ検出信号Ｅｆは Ｅｆ ＝ （ｉ コ＋ ｍ、＋＋ｎ、） −（Ｉ／ ＋
ｌＩコ ＋■コ）となる。この光検知器２１．１９の分
割線方向をトラッキングに伴って光検知器面上の光スポ
ットが動く方向（図中ｒ方向）と平行になるように設定
すれば、トラッキングに伴うフォーカスずれ検出エラー
を生じさせない利点を有する。
以上の説明によって明らかＫしたようＫ、この発明は、
特性のよいフォーカスずれ検出が簡単な調整で行なうこ
とができ、調整コストが安く装置全体が安価にできると
いう優れた効果を有している。また、光学部品を一体化
してるため、経年変化等による素子の変位の影響も極小
となり、信頼性が向上するという効果も有している。
特性のよいフォーカスずれ検出が簡単な調整で行なうこ
とができ、調整コストが安く装置全体が安価にできると
いう優れた効果を有している。また、光学部品を一体化
してるため、経年変化等による素子の変位の影響も極小
となり、信頼性が向上するという効果も有している。
第７図〜第を図は従来装置を示し、第１図は光学配置側
面図、第一図（ａ） 、 （ｂ）はそれぞれ光検知器の
平面図、第３図（ａ） 、 ｆｂ） 、 （ｃ）は第１
の光検知器の動作説明平面図、第弘図は第１の光検知器
の特性線図、第５図（ａ） 、 （ｂ） 、 （Ｃ）は
第二の光検知器の動作説明平面図、第６図は第二の光検
知器の特性線図、第７図は光検知器の結線図、第に図は
第７図による特性線図である。 第デ図〜第１左図はこの発明の実施例を示し、第り図は
第一の実施例の光学配置側面図、第７０図および第１／
図は第二の実施例の一部側断面図および一部正面図、第
１−図は第三の実施例の光学配置側面図、第７３図は第
四の実施例の一部側断面図、第１ダ図（ａ） 、 （ｂ
）はそれぞれ第１３図におげろ光検知器の平面図、第１
ｊ−図は第五の実施［ｕＪの光検知器とその結線図であ
る。 ／・・発光源、コ・・出射光束、３・・第１のビームス
プリッタ、ダ・・コリメートレンズ、５・・平行光束、
６・・四分の一波長板、７・・対物レンズ、ざφ・光デ
ィスク、？・拳集光スポット、ｉｏ−・反射光束、ｌコ
ａ、／２ｂ・・第八第一の光束、／３．／≠ｅ＋＋第１
．第コの光検知器、／？・・減算器、１ｇ・・加算器、
ｔ９．−〇・ｅハーフプリズム（第一のビームスプリッ
タ）、−２７−−光検知！、ココ、コ弘−・第一のビー
ムスプリッタ、２よ・・ミラーコーティング、２６゜２
７＃・第１１第２の光検出器、ユ１ｇ、２デ・・第１．
第一の梯検知器。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 ｖ）５図 ６ 第１２図 ）ｊｆ）１３図 幣１４図 殆１５図
面図、第一図（ａ） 、 （ｂ）はそれぞれ光検知器の
平面図、第３図（ａ） 、 ｆｂ） 、 （ｃ）は第１
の光検知器の動作説明平面図、第弘図は第１の光検知器
の特性線図、第５図（ａ） 、 （ｂ） 、 （Ｃ）は
第二の光検知器の動作説明平面図、第６図は第二の光検
知器の特性線図、第７図は光検知器の結線図、第に図は
第７図による特性線図である。 第デ図〜第１左図はこの発明の実施例を示し、第り図は
第一の実施例の光学配置側面図、第７０図および第１／
図は第二の実施例の一部側断面図および一部正面図、第
１−図は第三の実施例の光学配置側面図、第７３図は第
四の実施例の一部側断面図、第１ダ図（ａ） 、 （ｂ
）はそれぞれ第１３図におげろ光検知器の平面図、第１
ｊ−図は第五の実施［ｕＪの光検知器とその結線図であ
る。 ／・・発光源、コ・・出射光束、３・・第１のビームス
プリッタ、ダ・・コリメートレンズ、５・・平行光束、
６・・四分の一波長板、７・・対物レンズ、ざφ・光デ
ィスク、？・拳集光スポット、ｉｏ−・反射光束、ｌコ
ａ、／２ｂ・・第八第一の光束、／３．／≠ｅ＋＋第１
．第コの光検知器、／？・・減算器、１ｇ・・加算器、
ｔ９．−〇・ｅハーフプリズム（第一のビームスプリッ
タ）、−２７−−光検知！、ココ、コ弘−・第一のビー
ムスプリッタ、２よ・・ミラーコーティング、２６゜２
７＃・第１１第２の光検出器、ユ１ｇ、２デ・・第１．
第一の梯検知器。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 ｖ）５図 ６ 第１２図 ）ｊｆ）１３図 幣１４図 殆１５図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１） 発光源からの出射光束を光デイスク上に集光さ
せる対物レンズと、前記光デイスク上の集光スポットか
らの前記対物レンズを経た反射光束と前記出射光束を分
離するビームスプリッタと、分離された前記反射光束を
２分した第１．第２の光束のそれぞれの集光点に対して
光軸方向にそれぞれ前方、後方に配置された少な（とも
２つの有感領域をもつ第１．第２の光検知器を備えた光
デイスクヘッドのフォーカスずれ検出装置において、第
１の前記ビームスプリッタと、前記反射光束を前記第１
．第一の光束に分離し前記第１．第２の光束の前記集光
点がそれぞれ外部と内部に位置する第一のビームスグリ
ツタと、この第一のビームスプリッタの外面に一体に装
着された前記第１゜第２の光検出器を備えてなることを
特徴とする光デイスクヘッドのフォーカスずれ検出装置
。 （Ｕ） 第２のビームスプリッタがハーフプリズムであ
る特許請求の範囲第１項記載の光デイスクヘッドのフォ
ーカスずれ検出装置。 （３）反射光束を第１．第２の光束に分離する第１の反
射面と前記第λの光束を前記第１の光束に平行な方向に
反射する第２の反射面が形成された第２のビームスプリ
ッタと、この第２のビームスプリッタの７つの外面に装
着され互いに一体の第１、第一の光検出器を備えた豹許
請求の範囲第１項記載の光デイスクヘッドのフォーカス
ずれ検出装置。 （φ）外面にハーフミラ−コーティングを施した四分の
一波長板が一端面に装着された第２のビームスプリッタ
と、前記外面に装着された第１の光検知器と、前記第一
のビームスプリッタの前記一端面に対向する端面に装着
された第一の光検知器を備えた特許請求の範囲第１項記
載の光デイスクヘッドのフォーカスずれ検出装置。 （５）一端面の半分にミラーコーティングが施された第
一のビームスプリッタと、前記一端面の残余のや分に装
着された第１の光検知器と、前記第λのビームスプリン
タの前記一端面に対向する端面に装着された第一の光検
知器を備えた特許請求の範囲第１項記載の光デイスクヘ
ッドのフォーカスずれ検出装置。 （６）有感領域が矩形状に、７分割されてなる第ハ第コ
の光検知器を備えた特許請求の範囲第１項記載の光デイ
スクヘッドのフォーカスずれ検出装置。 （７）第１．第一の光検知器が互いに一体に形成された
特許請求の範囲第６項記依の光ティスフヘッドのフォー
カスずれ検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59027181A JPH07107742B2 (ja) | 1984-02-17 | 1984-02-17 | 光デイスクヘツドのフオーカスずれ検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59027181A JPH07107742B2 (ja) | 1984-02-17 | 1984-02-17 | 光デイスクヘツドのフオーカスずれ検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60171643A true JPS60171643A (ja) | 1985-09-05 |
| JPH07107742B2 JPH07107742B2 (ja) | 1995-11-15 |
Family
ID=12213904
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59027181A Expired - Fee Related JPH07107742B2 (ja) | 1984-02-17 | 1984-02-17 | 光デイスクヘツドのフオーカスずれ検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07107742B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60217535A (ja) * | 1984-04-11 | 1985-10-31 | Sony Corp | フオ−カス検出装置 |
| JPS61258339A (ja) * | 1985-05-13 | 1986-11-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的記録再生装置 |
| JPH0278025A (ja) * | 1988-09-14 | 1990-03-19 | Copal Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
| JPH0268318U (ja) * | 1988-11-15 | 1990-05-23 | ||
| JPH03232121A (ja) * | 1990-02-08 | 1991-10-16 | Pioneer Electron Corp | 位置検出器 |
| JPH06349082A (ja) * | 1993-03-30 | 1994-12-22 | Gold Star Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
| JP2010127668A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-06-10 | Fuji Xerox Co Ltd | 光線測定装置、焦点調整装置及び画像形成装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5687241A (en) * | 1979-11-21 | 1981-07-15 | Thomson Csf | Nonnastigmatism optical device for sending and receiving interferable light* and optical recording and reading head having same device |
| JPS58128032A (ja) * | 1982-01-27 | 1983-07-30 | Asahi Optical Co Ltd | 光学式情報再生装置の合焦位置検出方法 |
-
1984
- 1984-02-17 JP JP59027181A patent/JPH07107742B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
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| JP2010127668A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-06-10 | Fuji Xerox Co Ltd | 光線測定装置、焦点調整装置及び画像形成装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07107742B2 (ja) | 1995-11-15 |
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