JPS6016246B2 - 断層撮影装置 - Google Patents

断層撮影装置

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JPS6016246B2
JPS6016246B2 JP52085704A JP8570477A JPS6016246B2 JP S6016246 B2 JPS6016246 B2 JP S6016246B2 JP 52085704 A JP52085704 A JP 52085704A JP 8570477 A JP8570477 A JP 8570477A JP S6016246 B2 JPS6016246 B2 JP S6016246B2
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    • A61B6/02Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
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    • A61B6/032Transmission computed tomography [CT]
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
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    • GPHYSICS
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    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2211/00Image generation
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    • G06T2211/421Filtered back projection [FBP]
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Description

【発明の詳細な説明】 <技術分野> 本発明は、断層撮影装置、更に詳細にはファンビームX
線等透過性放射線を放射する放射線源と放射線を検出す
る検出装置と被写体を放射線源及び検出装置に対して相
対的に回転せしめる回転装置と検出装置によって検出さ
れた投影データに基づいて断層像を再構成する断層像再
構成装置とを具備する断層撮影装置に関する。
<断層撮影装置の原理> 最初に、第1図及び第2図を参照して、投影データから
逆投影によって断層像を再構成する原理を説明する。
まず、第1図に示した如く、放射線源、例えばX線源1
0が検出装置の検出面12を照射するようにX線ビーム
14を放射する。
このX線ビーム14は実質的に一平面内に存在し、且つ
相互に平行なX線からなる。検出装置は、例えば検出面
としてX線蟹光スクリーン12を含む。X線源10とX
線蟹光スクリーン12との間に被写体16がX線ビーム
14によって照射されるように配置される。
被写体16は、X線源10及びX線蟹光スクリーン12
に対して回転軸線18の回りに相対的に回転することが
できるようになつている。被写体16を透過したX線ビ
ーム14がX線蟹光スクリーン12を照射し、被写体1
6の透過度に応じた光学像をX線蟹光スクリーン12上
に生成する。
この光学像は、一照射角度位置における投影データを含
んでいる。次いで「被写体16をX線源10及びX線蟹
光スクリーン12に対して順次回転軸線18の回り‘こ
相対的に回転せしめ、このようにして、多数の照射角度
位置における投影データ20を得る。次に、このように
して得られた投影データ20を第2図に示した如く逆投
影する。
即ち「まず、各投影データ20を二次元データに引き延
ばす。第2図に示された二次元データ22は、投影デー
タ20‘こ対して垂直に延びている多数個の線からなる
とみなすことができ、この線の値(例えば輝度、電荷)
はこれと交叉する投影データ20の値に対応している(
第2図)。このようにして得られた多数個の二次元デー
タ22を、それぞれの照射角度を考慮して、重ね合わせ
る。これによって、被写体16の断層像24を得ること
ができる。しかしこの断層像24はぼけた断層像である
。このようにして得られたぼけた断層像24から、数学
的処理、例えば次の通りのコンボリューション処理によ
って、鮮明な断層像を得ることができる。
コンボリューション処理において、ぼけた断層像24を
表わす信号が適当な2次元関数F(x、y)とたたみ込
まれ、即ちコンボリューション処理されて、これによっ
て鮮明な断層像を表わす信号を得ることができる。
この2次元関数F(x、y)は次の通りに決定される。
′x=±裏 ノy三土姿 (PSF)F(x、y)d
xdy=6(x、y)PSFは点拡散関数であり、上記
の通りのぼけた断層像24が、本来の断層像に対してど
のようにぼけるかによって決定できる。
6(x、y)はデイラツク関数である。
く従来技術> 上記の通りの原理に基づいて、上記の通りに得られた投
影データから、コンピュータを用いて鮮明な断層像を得
る断層撮影装置が提案されている。
これは一般に、CT(コンピュータ断層撮影装置)と称
されている。このCTにおいては、上記の通りの投影デ
ータをデジタル的に処理して鮮明な断層像を得る。一方
、投影データをアナログ的に処理する断層撮影装置も提
案された。
この断層撮影装置を第3図を参照して説明する。この断
層撮影装置25は、X線10及検出装置(例えば、これ
は、X線蟹光スクリーン12、映像増情管及び撮像管と
から構成される)13を備えている。
X線源10は、検出装置13の検出面12例えば、X線
蜜光スクリーンを照射するようにX線ビーム14を放射
する。この×線ビーム14は実質的に一平面内に存在し
(即ち、第3図の紙面に垂直な方向にてわずかな厚しか
有さない)且つ相互に平行なX線からなる。X線源10
と検出装置13との間に、被写体16がX線ビーム14
によって照射されるように配置される。
更に、被写体16をX線源10及び検出装置13に対し
て、回転軸線18の回りに相対的に回転せしめる回転装
置(図示せず)が設けられている。被写体16を透過し
たX線ビーム14が検出装置13によって検出され、処
理されて、投影データを含む電気信号が生成される。
この投影データは、一照射角度における被写体16の断
面のX線吸収に従っている。上記検出装置13の出力電
気信号が、逆投影装置26に加えられる。
この逆投影装置26は、公知の如く、例えば走査コンバ
ータで構成できる。走査コンバータにおいて、投影デー
タが引き延ばされて、照射角度を考慮して重ね合わされ
る。このようにして、走査コンバータのターゲットには
、電荷によって生成された多数の投影データに従った像
、即ちぼけた断層像が生成される。このぼけた断層像は
、走査コンバータの走査部によって電気信号に変えられ
る。上記の通りに得られたぼけた断層像から、例えばコ
ンボリューション装置28によって鮮明な断層像が生成
される。
このコンボリューション装置は、例えば写真技術分野で
公知な『ぼけ』の修正する技術(特公昭43−1976
7号参照)を利用して構成することができる。このコン
ボリューション装置は、例えば、走査コンバータに接続
され、逆投影することによって形成された二次元デー外
こ従った光学像を生成する持続性スクリーンを備えた陰
極線管と、陰極線管に接続され、持続性スクリーンに生
成された光学像を受け取り、光学像に応じた像を出力に
て全体として移動せしめるための偏向コイルを含む輝度
増幅器と、輝度増幅器の出力像を光学的に分離するため
のスプリッタと、スプリッタによって分けられた光学像
の一方を通すように配置され、コンボリューション関数
の正の部分に従った光透過率分布を有する第1のマスク
と、該スプリッ外こよって分けられた光学像のもう一方
を通すように配置され、コンボリューション関数の負の
部分に従った光透過率分布を有する第2のマスクと、該
第1のマスクに光学的に接続された第1の光電子増倍管
と、第2のマスクに光学的に接続された第2の光電子増
倍管と、第1の光電子増倍管及び第2の光電子増倍管に
接続された差動増幅器とで構成することができる。
上記コンボリューション装置28によって得られた鮮明
な断層像の電気信号に従って、モニター3川こ鮮明な断
層像が表示される。
この断層撮影装置25は次の通りの問題点を有する。
第2図に示した通りに好適な逆投影を行なうためには、
基礎となる投影データが、上記の如く実質的に一平面内
に存在且つ相互に平行放射線(例えばX線)ビームによ
って得られたものでなければならない。
しかしながら、一般にこのような平行な放射線ビームを
得るのは困難であり、通常はファンビームが用いられる
。仮に、ファンビームによって得られた投影データをそ
のまま用いて逆投影を行なうと、適切な断層像を得るの
が困難である。
例えば、上記の通りの平行なX線ビームの投影データに
よるぼけた断層像をコンボリュ−ション処理する場合、
上記2次元関数F(x、y)は断層像全体で一定である
が、フアンピ−ムの投影データによるぼけた断層像は、
その断層像の各部分において上記2次元関数が異なる。
このため、ファンビームを用いた場合、コンポリューシ
ョン処理が複雑となる。<本発明の目的>本発明は、上
記の通りの状況を鑑みてなされたものであり、その目的
は、フアンビ−ムによって得られた投影データを、平行
なビームによって得られる投影データと同一の投影デー
外こ変換するための変手製機能を備えた断層撮影装置を
提供することである。このような変換機能を備えている
ことにより、上記の通りの断層撮影装置において、ファ
ンビームを好適に用いることができ、あるいはコンボリ
ューション装置を簡単なものにすることができる。
<第1の具体例〉 本発明の第1の具体例に従う断層撮影装置を、第4図乃
至第7図を参照して説明する。
−X線照射一 まず、第4図を参照して、この断層撮影装置の被写体へ
のX線照射形態を説明する。
この装置は、放射線源、例えばX線源32からX線が実
質状平坦なファンビーム形態で放射される。
即ち、第4図に示した如く、X線のこのファンビームは
、広がり方向の一方の境界側辺42ともう一方の境界側
辺44との間で、且つほぼ平坦な上辺と下辺(第4図の
紙面とほぼ平行な平面)との間を進むことになる。被写
体34と放射線源32及び検出装置36を含む組立体と
は、回転軸線18の回りに相対的に回転するようになっ
ている。
そして、ファンビームの広がり方向の一方の境界側辺4
2がこの回転軸線18と交差して延びている。この一方
の境界側辺42が、この回転軸線18に隣接して延びる
ように構成してもよい。更に、ファンビームの広がり方
向のもう一方の境界側辺44が全ての回転位置において
被写体34の内部を貫かないように位置付けられている
。従って、例えば、被写体34と上記組量体とが相対的
に回転すると、被写体34の部分A(第4図)は、境界
側辺42の回転軸線18の下側(第4図)からファンビ
ームの中に入り、1800回転して、境界側辺42の回
転軸線18の上側(第4図)からファンビームの外に出
る。
部分Aはファンビーム内で180o回転するので、検出
装置36で適切な情報を得ることができる。しかし、フ
ァンビームの広がりが狭く、ファンビームの広がり方向
のもう一方の境界側辺44がある回転位置において、被
写体の内部を貫くと、適切な情報を得ることができない
例えば、被写体の部分Aが、一方の境界側辺42の回転
軸線18の下側(第4図)からファンビームの中に入り
、回転して、もう一方の境界側辺44と交差し(従って
、もう一方の境界側辺44が被写体34の内部を貫く)
、更にまた、部分Aがもう一方の境界側辺44からファ
ンビームの外に出て、そして、ファンビーム内に戻り、
そして、一方の境界側辺42の回転軸線18の上側(第
4図)からファンビームの外に出ると、検出装置36で
は、部分Aのある角度範囲内の情報を検出することはで
きず、適切な断層像を再構成することはできない。また
、被写体の各部分がファンビーム内で180o回転させ
るためには、被写体を360o回転せしめる必要がある
第4図に示す被写体34の配置は、利点と欠点の双方を
もっている。
その欠点は、X線のファンビームの広がり方向の一方の
境界側辺42が、回転軸線18と交差して乃至は回転軸
線18に隣接して延びているので、回転軸線18に対応
する(所望の被写体の横断面の)の領域が、周囲と明確
な対照をなす“点状”領域(通常これを“ピップ”と称
する。)として最終断層像に再構成される。即ち、望ま
しくない“ピツプ”が最終断層像に形成される。しかし
ながら、この“ピップ”は回転軸線がビームの平面と交
差する位置を表わすものであるので、この“ピップ”を
、治療計画にあるいは必要な手術の領域の決定の際に断
層像における、位置の基準点として好都合に用いること
ができる。また、回転軸線が断層像を得るべき物体の横
断面との交差する点を適切に選択することによって“ピ
ップ”の位置を被写体の横断面の任意の好都合な位置に
選択的に配置することができる。このため、この欠点は
、検出装置を小型にできるという利点によって、充分補
うことができる。この検出装置36は、上記の通りのフ
ァンビームの被写体34のX線吸収に従う投射データ、
即ち一次投影データを検出して、これに従った出力電気
信号を生成する。
以下に説明する如く、この一次投影データが、第1図及
び第3図に示した如き平行なビームによって得られた投
影データと同様なデータ、即ち二次投影データに変換さ
れる。−装置の概要−次に、第5図を参照して、説明す
る。
第5図には、上記の通りの一次投影データを検出装置3
6から得て、二次投影データを生成し、これを逆投影装
置26に供給するための、断層撮影装置の一部分が示さ
れている。この断層撮影装置は、ファンビーム形態でX
線を放射するX線源32を具備する。
このファンビームは、仮に、ファンの広がり方向平面、
即ち第5図の紙面に平行な平面に垂直な方向にて薄い厚
さを有する。このファンビームの広がり方向の一方の境
界側辺42が回転軸線18と交差して乃至は回転軸線1
8に隣接して延びており、X線のファンビームの広がり
方向のもう一方の境界側辺44が、全ての回転位置にお
いて該被写体34の内部を貫かないように位置付けられ
ている。更に、被写体34を透過したファンビームが照
射されて、且つ被写体のX線吸収に従った一次投影デー
タを検出する一次投影データ検出装置36が設けられて
いる。
この一次投影データ検出装置36は、例えば、X線蟹光
スクリ−ン、映像倍増管及び撮像管で構成することがで
きる。この検出装置36は、一次投影データをファンビ
ームの広がり方向に沿って連続的に検出する。一次投影
データ検出装置36によって検出された一次投影データ
に従う出力電気信号が、陰極線管46に供給される。
陰極線管46に送られた電気信号に従って、その持続性
受光スクリーン47上に光学像が生成される。また、被
写体34を、X線源32及び一次投影データ検出装置3
6を含む組立体に対して相対的に回転せしめる回転装置
が設けられている。
この相対的回転位置は、回転位置検出装置によって検出
される。陰極線管46の後光スクリーン47上の光学像
が、光学システム、例えばレンズ48を介して撮Z像管
50‘こよって検出され、この撮像管50の出力電気信
号が逆投影装置26に供給される。
陰極線管46の持続性蟹光スクリーン47への光学像形
成は次の通りに行なわれる。まず、回転位置検出装置3
8によって、被写体34のX線源Z32及び一次投影デ
ータ検出装置36を含む組立体に対する相対的位置が検
出され、相対的位置に関するデータを含む出力電気信号
が生成される。この電気信号が、書き込み制御装置52
に送られ、この書き込み制御装置52の出力電気信号が
2偏向コイル54に送られる。書き込み制御装置52は
、回転位置検出装置38から必要な情報を得ているので
、各一次投影データに従って持続性蟹光スクリーン47
に所望の位置の所望の形状の光学像を生成することがで
きる。 2陰極線管46の持続性蟹光スク
リーン47に生成された光学像は、撮像管50によって
下記の如き検出路に沿って読み取られる。即ち、回転位
置検出装置38の出力電気信号は、読み取り制御装置5
6にも送られ、この読み取り制御装置56の3出力電気
信号が偏向コイル58に送られる。読み取り制御装置5
6は、回転位置検出装置38から必要な情報を得ている
ので、この読み取り制御装置56によって、下記に詳述
する通りの二次投影データを検出するための検出路に沿
って、上記一3次投影データに基づく光学像を検出する
ことができる。この光学像の検出は光学像の生成後行な
う必要があるので、読み取り制御装置58は遅延装置を
含んでいる。この具体例においては、記憶装置として、
陰極線管11の持続性蟹光スクリーン47を用いたが、
他の記憶装置、例えば連続二次元磁気シートメモリ等も
使用できる。
この記憶装置は、二次元分解能を有する面状アナログ記
憶装置であればよし、。−書き込み及び読出し− 次に、第1の具体例に従って、第6図を参照して、記憶
装置、例えば陰極線管11の持続性燐光スクリーン47
に書き込む、即ち記録する態様及び走査して読み出す態
様を説明する。
第6図に示す配置においてファンビームを生成するX線
源を32で示す。
一次投影データ検出装置のX線蟹光スクリーンを37で
示す。このスクリーン37とX線源32との間に被写体
34が位置付けられる。本発明は以下に限定されるもの
ではないが、第6図の配置において簡単のために次のよ
うに仮定する。すなわち、X線源32と検出装置とを含
む組立体は被写体を通って延びている回転軸線18(第
6図の紙面に垂直)のまわりを回転することができ、X
線源32は半径Rの円形路に沿って移動するものとする
。被写体は半径Rの円形路上の一連の位置のX線源32
からX線の照射を受ける。一方、図示のrを半径とする
円形路は、必要ならばコリメータを含む上記組立体を検
査される被写体のまわりに、障害なく回転させるために
必要な最4・距離によって決定される。X線源32は、
広がりの一方の境界側辺42ともう一方の境界側辺44
との間を進む上記の通りのファンビーム形態でX線を放
射する。この具体例では、X線蟹光スクリーン37の形
状を弧状にし、その曲率中心をX線源の位置と一致させ
曲率半径をR+rとする。X線蟹光スクリーン37が被
写体の複数個の層像を同時に受け入れる場合には、この
X線蟹光スクリーンの表面を球面にする。上述の配置に
おいて、被写体34がこれに対して所定の位置角度をな
すX線源32からファンビームを照射されたとき、X線
蜜光スクリーン37上に透過像が投射され、その像は被
写体の断面(slice)のX線吸収に対応する。この
層の厚さは放射線のファンビームの厚さ(第6図の紙面
に垂直な方向の厚さ)によって決定され、透過像の長さ
はファンビームの角度幅(図示の角度少)によって決ま
る。一次投影データ検出装置36(第5図)のX線蟹光
スクリーン37上に形成されたX線透過像を、これに対
応する出力電気信号に変換する。
一次投影データ検出装置36(第5図)の出力電気信号
は、例えば、第7図に示した通りの電気信号であり、こ
れは、第6図のX線蟹光スクリーン37において、その
a,b,cの方向に一定速度で連続的にX線吸収を検出
して電流に変換して得られた電気信号である。従って、
第7図のa,b,cは、第6図のX線蜜光スクリーン3
7のa,b,cにおいて検出されたX線吸収度に対応し
ている。こうして得られた出力電気信号を対数化増倍器
に通すと、各角度位置Qに対応する被写体断層に関する
密度パタ−ンを表わす電気信号が得られる。
図示のQ,,Q2,Q3,Q4の一連の位置角度のこ関
して、これに対応する一連の電気信号が得られることは
明らかであろう。第6図は、このようにして得られた出
力電気信号を、記憶装置則ち、持続性蟹光スクリーン4
7にどのように表示し、即ち、書き込み、しかる後どの
ように検出する則ち読み出すかを示したものである。
第6図には、X線源32、の回転軸線18、X線蟹光ス
クリーン37の位置が相似寸法で描かれており、これに
基づき、陰極線管46のスクリーン47における書き込
み経路及び読み出し経路が決定される。上記書き込み経
路の一例が第6図に経路部分0,1,2,3及び4で示
されており、これらの記録された一次信号データnはX
線源の各位層角度Qnに対応している。
第6図に示された配置では、これらの一次信号データは
、半径Rの円上に曲率中心を有する弧状経路に沿って記
録され、記録された各信号輪郭は上記円の中心○から始
まる。従って、位置角度ば,の対応する一次投影データ
1は、曲率中心をQ,として半径Rの円を中心○から描
くことによって形成される。他の一次投影データも同じ
方法で記録され、その結果中心○を始点とする一束の記
録された一次投影データに基づく光学像が形成されて、
翼状の光学像の集合が得られる。これらの記録された一
次投影データの集合をもつ一つの経路則ち読み出し経路
の集合に沿って走査し、この走査によって二次投影デー
タを含む電気信号の集合を得ることができる。
その場合、これらの二次投影データの各々は、平行な入
射線の仮想ビームから得られたものとみなすことができ
る。これは、第6図をより詳細に考察することによって
第6図に示された一次投影デー外こ関して認識されよう
。このため、第6図は位置角度Q4に対応する平行な入
射角ビームを示す。これらの平行な入射線に対応する二
次投影データは、各入射線とこれに対応する一次投影デ
ータの線分との交点として描かれる。換言すれば、Q,
から発生した入射線と一次投影データの線分1との交点
、Q2から発生した入射線と一次投影データの線分2と
の交点、Q3から発生した入射線と一次投影データの線
分3との交点、及びQ4から発生した入射線と一次投影
データの線分4との交点である。こうして得られた交点
は、中心○を通りRを曲率半径とし且つQ4に対して直
径方向反対側のQ4′を曲率中心とする弧状径路■上に
あり、平行な入射ビームの各々の入射方向を決定する。
そして、曲率中心Q4′はQ4 十汀で表わされる。か
くして、上述のような弧状走査により得られる二次投影
データは、平行な入射線のビームから形成された投影デ
ータとみなすことができる。走査される一次投影データ
の全てが実際に記録されなければならないので、読み出
しのための走査は、一次投影データの記録を所定の角度
だけ、例えば300遅らせて行なわなければならない。
一次投影データの各群を走査した後は、この群を消去し
て記憶装置(陰極線管46のスクリーン47)のその消
去部分に別の情報を記録することができる。原則として
、第6図に示した角度幅の2倍の角度幅を有する放射線
ビームを使用することも可能である。
その場合には、一次投影データの後半分は一点鎖線の弧
4で示すように記録される。このように記録された一次
投影データから経路■に沿って読み出せば二次投影デー
タを得ることができる。尚、これは、検査中の被写体が
放射線に対して等方一性であるときに可能であり、1つ
の線に沿った被写体の吸収度がこの線の方向にのみ依存
しその長さには依存しないことを意味する。以上第6図
を参照して説明した、中心0を通る円弧形状の半分の一
次投影データの記録は、次のような欠点を有する。
すなわち、中心○のまわりのパターンの線分は分離する
ことが困難であり、その結果二次投影データを得るため
の走査方法に応じて中心○のまわりに不正確さが生じ得
ることである。実際、平行な入射線ビームに対応する二
次投影データの再生の際には、上述のように、走査は特
に中心○の近傍で各一次投影デー外こ対し接線方向に行
われるので、これにより許容できないほど大きな不正確
さが生じる。<第2の具体例> 次に、本発明の第2具体例を第8図を参照して説明する
第2の具体例は、第1の具体例とは、書き込み即ち記録
及び読み出し形態のみが異なり、他は同じである。第2
の具体例は、上記した通りの第1の具体例の欠点は有さ
ない。−書き込み及び読み出し一 第8図において、半径R,の円は回転中心0に関するX
線源の相対運動に対応する経路である。
また、半径rの円は、第6図の場合と同様に、被写体の
まわりを障害なく回転するために必要な最小半径によっ
て決定される。距離R3は、位置角度Qiの点から半径
R,の円の接線に沿って移動して、半分の一次投影デー
タの経路pi′を決定する半径R2の円上の位置角度Q
i′の点に至るまでの距離であり、各一次投影データの
経路pi′は半径R3の円から延びた弧状スポークとし
て記録される。従って、第6図に示された配置に用いた
形態と同様の形態で、Qo〜Q4′等の一連の位置角度
を示す点により、po〜p4′等の一次投影データの集
合が記録される。本発明の範囲を制限することなく、距
離R3は、当初半径rの円上にあった一次投影データの
経路の端の位置が半径R4の円上に釆るように選定され
る。換言すれば、初めの一次投影データ−の経路poの
点oは一次投影データの経路po′の点o′となる。第
8図において、半径R2の円は距離R3にわたって接線
に沿って移動せしめられるX線源の点の経路を示す。こ
の半径R2はR2=ノR亭+R室として表わされる。第
8図に示された配置によって達成される記録の場合には
、平行な入射線ビームに対応する二次投影データの3再
生は、R2を曲率半径とする弧状走査経路によって達成
され、そして各再生ごとに○を中心とする半径R,の円
と点を通る平行なビー−ムとの交点Mを同一の曲率中心
として描かれる。このような配置において、一次投影デ
ータの経路と二次投影4データのための走査経路との交
点は、より良い方法で規定される。これは、第8図で位
置角度の点Q4 十汀及びこれによって決定されR2を
曲率半径とする円弧に関して示されている。各交点を0
′,1′,2′,3′及び4′で示す。これらの交点は
、角度Q4 にて入射する平行な入射線のビームに対応
している。以上の説明から、R3が0に近づくにつれて
第8図の配置は第6図の配置の変形であることが明らか
であろう。第8図に示された配置においても、走査動作
は一次投影データの記録に対して遅らされる。
半径R3内の表面積は、第2図に示された配置における
記録のために当初は使用されない。半径R,とOR3の
円の間の環状表面積の幅は十分小さく選ぶことができ、
これに関連して選択された記憶装置の解像度は限界があ
り、一次投影データの集合は複数個の同時断層写真に関
して相互に同0環状面積内に記録できる。一連の別々の
位置角度の値Qタiに対して一次投影データの集合を描
く代わりに、被写体のまわりにX線源を連続的に、好ま
しくは一様に相対回転させる(実際上はこれが好ましい
)ときに、これらの一次投影データを連続的に描くなら
ば、描かれる一次投影データの経路0は、円弧Pa,P
b,……,Peではなくインポリュート曲線A,B,・
・・・・・,E)によって決定されることが容易に理解
されよう(この点!こついては第8図の左側部分を参照
)。また、平行なビームに対応する二次投影データは、
弧状経路J,日,・・・夕・・・,E)に従って上述の
ように走査することにより得られることも容易に理解さ
れよう。<第3の具体例> 本発明の第3の具体例に従う断層撮影装置を、第9図乃
至第12図を参照して説明する。
0−X線照射− この具体例においては、第9図に示した通り×線源32
は被断体34の検討すべき横断面の全てを照射する。
即ち、被写体34は、円60内に配置され、厚夕さの薄
いファンビームによって照射される。
−装置の概要−第9図に示した如く、第3の具体例の断
層撮影装置は、上記した通りのX線ビームを生成するX
線源32と、被写体34を支持する装置(図示せ0ず)
と、一次投影データ検出装置と、被写体34をX線源3
2及び一次投影データ検出装置36を含む組立体に対し
て相対的に180o回転せしめる回転装置(図示せず)
とを具備する。
一次投影データ検出装置は、X線源32を中心とする弧
状面の一部よりなる検出面37を有する。検出装置は、
例えば、検出面37の各点において検出されたX線吸収
に応じた電流値を、検出面37上の点a,b,cの方向
で一定速度で連続的な検出に基づいてに生成する。従っ
て、検出装置の出力電気信号は、例えば、第10図に示
した通りになる。これは、一相対的角度位置における、
被写体のX線吸収分布に対応している一次投影データで
ある。−書き込み及び読み出し一 第9図において、A,G及びPは、X線源32の位置を
示す。
X線源32がAの位置にある場合、検出面36の各位直
はa,b,cで示されている。G及びPの位置にある場
合も同様に、g,h,i及びp,q,rで示されている
。ファンビームの広がり角度ばは、例えば<gGiで表
わされる。仮に、一次投影データから、第9図の左右方
向即ち、線分舷,Gh,Pr方向にて平行化された二次
投影データを得る場合を考えてみる。
この二次投影データは、X線源32がAとPとの間にあ
る場合にのみ得られる。
<aAOとくAOGととが等しいので、くAOPはファ
ンビームの広がり角Q‘こ等しい。仮に、GOを基準線
として、X線源32の角度位置に関して、A方向の角度
を正とし、P方向の角度を負とすると、くのA‘ま十肴
で狐、<■P‘ま−肴である。Aa,Gg及びPpの長
は等しく、これを1とする。更に、第11図を参照して
説明すると、X線源32が、基準線GOから角度Bの位
置即ち×の位置にあるとする。XuとGhとは平行であ
るので、<GOXとくOXuは等しく、8である。X線
源32がXの位置にある場合、検出面の基準点yからの
点uまでの距離は1×8で表わされる。他方、検出面3
7によって検出された一次投影データが、第12図に示
した如く、直線的に書き込まれる。
即ち、基準線bhq(第12図)に対して垂直に各位層
において検出された一次投影データが、基準線bhqに
垂直な線、abc,鱗i,pqr等(第12図)として
書き込まれる。即ち、abc等の横方向位置(第12図
)は、×線源32の基準線GOに対する角度8(第1
3図)によって決まる。
第11図のabc等上の縦方向の各点の値は、検出面3
7の各点a比(第10図)等の検出値に対応している。
上記の通りに一次投影データを書き込むと、二次投影デ
ー外ま関数f(8)=6に従った経路62(第12図)
に沿って、読み出せば得られる。
経路62は、第9図の左右方向(Aa方向)に関する二
次投影データである。この方向と角度を有する他の二次
投影データは、経路62(第12図)と平行な対応する
経路に沿って読み出せば得られる。従って、第12図の
左右方向に連続的に一次投影データを書き込んでおけば
各角度における二次投影データを得ることができる。
<第4の具体例> 本発明の第4の具体例に従う断層撮影装置を、第13図
及び第14図を参照して説明する。
第4の具体例は、第3の具体と検出面の形状及び読み出
し形態が異なる。−装置の概要− 第4の具体例に従う装置の検出装置は、中心線GOに垂
直な検出面37を有する(第13図)。
−書き込み及び読み出し−第13図に示した如く、この
具体例においては、X線源32が×の位置にある場合、
検出面の基準点yからuは1′xPで表わされる。
ここで1′‘ま、Xyの長さである。上記の通りの検出
装置を用いて、第3の具体例の通りに一次投影データを
検出して、第11図と同様に記録すると、第14図に示
した如く、関数ナ(8):ねn8に従った経路に従って
読み出せば、二次投影データを得られる。
<第5の具体例> 本発明の第5の具体例に従う断層撮影装置を、第15図
乃至第17図を参照して説明する。
第5の具体例は、第3の具体例及び第4の具体例とは、
検出面の形成された一次投影データの検出形態等が異な
る。−装置の概要一 第5の具体例の検出面37は、第3の具体例と同様に弧
の一部として形成されている。
この検出面37に形成された光学像を光学系、例えばレ
ンズ72を介して撮像管74で検出し、電気信号に変換
する場合、第15図のh′vの長さ、lxsinyとし
て検出される。ここで、1はGhの長さ、ッ‘まくOG
vの角度である。従って、第16図で示した如く、基準
線GOから角度8にX線32がある場合、yvの長さは
、lxsjn8で表わされる。−書き込み及び読み出し
−従って、第17図に示した通り、上記具体例と同様に
書き込み、関数ナ(8)=sin8に従って読み出せば
、二次投影データを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は、断層像を再構成する原理Zの説明
図。 第3図は、上記原理に従って構成された一型式の断層撮
影装置。第4図は、本発明の第1の具体例に従った断層
撮影装置のX線照射形態の説明図。第5図は、本発明の
第1の具体例に従った断層撮影装置の部分簡略図。第6
図は、本発明の第1の具体例の書き込み及び読み出し形
態の説明図。第7図は、本発明の第1の具体例の検出装
置の出力電気信号を示す図。第8図は、本発明の第2の
具体例の書き込み及び読み出し形態の説明図。第9図及
び第11図は、本発明の第3の具体例の被写体、X線源
及び検出装置の位置関係説明図。第10図は、本発明の
第3図の具体例の検出装置の出力電気信号を示す図。第
12図は、本発明の第3の具体例の書き込み及び読み出
し形態の説明図。第13図は、本発明の第4の具体例の
、被写体、X線源及び検出装置の位置関係説明図。第1
4図は、本発明の第4の具体例の書き込み及び読み出し
形態の説明図。第15図及び第16図は、本発明の第5
の具体例の被写体、X線源及び検出装置の位置関係説明
図。第17図は、本発明の第5の具体例の書き込み及び
読み出し形態の説明図。10…・・・X線源、12・・
・・・・検出面(X線蟹光スクリーン)、13・・…・
検出装置、14……X線ビーム、16・…・・被写体、
18・・・…回転軸線、20・・・・・・投射データ、
22・・・・・・二次元データ、24…・・・ぼけた断
層像、26・・…・逆投影装置、28・・・・・・コン
ボリューション装置、30・・・・・・モニター、32
・・・・・・X線源(放射線源)、34・・・・・・被
写体、36・・・・・・一次投影データ検出装置、37
・・・・・・検出面(X線蟹光スクリーン)、38・・
・・・・回転位置検出装置、46…・・・陰極線管、4
7・・・・・・陰極線管のスクリーン(面状アナログ記
憶装置)、50・・…・撮像管(52,54等・・・・
・・書き込み装置)、52……書き込み制御装置、54
・・・・・・偏向コイル(56,58等……読み出し装
置)、56・・…・読み取り制御装置、58・・・・・
・偏向コイル。 FIG.l FIG.2 FIG.3 FIG.4 FIG.5 FIG.6 FIG.7 FIG.8 FIG.9 FIG.l○ FIG.ll FIG.l2 FIG.l3 FIGl4 FIG.l5 FIG.l6 FIG.l7

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 フアンの広がり方向平面に垂直な方向の厚さが薄い
    フアンビームで透過性放射線を放射する放射線源と、
    該フアンビームで照射されるように被写体を支持する支
    持装置と、 上記被写体を透過した放射状の上記被写体
    における放射線吸収に従つた一次投影データをフアンビ
    ームの広がり方向に連続的に検出する一次投影データ検
    出装置と、 上記被写体を、該放射線源及び該一次投影
    データ検出装置に対して相対的に回転する回転装置と、
    上記被写体の、該放射線源及び該一次投影データ検出
    装置に対する相対的回転位置を検出する回転位置検出装
    置と、 二次元分解能を有する面状アナログ記憶装置と
    、 該一次投影データ検出装置及び該回転位置検出装置
    に接続され、上記被写体と該放射線源及び該一次投影デ
    ータ検出装置との一相対的回転位置における一次投影デ
    ータを一本の線分として且つ隣接する相対的回転位置に
    おける一次投影データを、上記線分の長さ方向を横切る
    方向にて上記線分に隣接した線分として、多数の相対的
    回転位置における上記の通りに検出された一次投影デー
    タを該面状アナログ記憶装置に書き込む書き込み装置と
    、 該回転位置検出装置に接続されて、一相対的回転位
    置におけるフアンビームによつて生成された一次投影デ
    ータの該面状アナログ記憶装置上の線分の、このフアン
    ビーム中の一本の直線に沿つた放射線の被写体の放射線
    吸収に対応する一点と、これに隣接する相対的回転位置
    におけるフアンビームによつて生成された一次投影デー
    タの該面状アナログ記憶装置上の線分の、このフアンビ
    ーム中の上記直線に平行な直線に沿つた放射線の被写体
    の放射線吸収に対応する一点とを次々と連結することに
    よつて形成される線分に沿つて該面状アナログ記憶装置
    を読み出して、平行化された二次投影データを生成する
    読み出し装置と、 該読み出し装置に接続されて、該平
    行化された二次投影データに基づいて、断層像を再構成
    する断層像再構成装置とを具備することを特徴とする断
    層撮影装置。
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