JPS60160598A - X線断層撮影装置 - Google Patents

X線断層撮影装置

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Publication number
JPS60160598A
JPS60160598A JP59015809A JP1580984A JPS60160598A JP S60160598 A JPS60160598 A JP S60160598A JP 59015809 A JP59015809 A JP 59015809A JP 1580984 A JP1580984 A JP 1580984A JP S60160598 A JPS60160598 A JP S60160598A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray tube
radiation
distance
circuit
ray
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59015809A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuyoshi Doi
土井 泰敬
Hidefumi Suzuki
英文 鈴木
Katsuhiro Masuo
克裕 増尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP59015809A priority Critical patent/JPS60160598A/ja
Publication of JPS60160598A publication Critical patent/JPS60160598A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/26Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30Controlling
    • H05G1/36Temperature of anode; Brightness of image power
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/26Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30Controlling
    • H05G1/34Anode current, heater current or heater voltage of X-ray tube

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明は、X線管を含む放射線照射手段と2次元放射
線検出手段とを被写体を挟んで対向配置し、これら両者
を被写体中の断層面の上の中心点を中心として対称的に
移動させて断層面以外の部分の陰影をぼかすことによっ
て、透過放射線による任意断層面の陰影画像を得るX線
断り撮影装置の改良に関する。
(ロ)従来技術 通常の平行平面式のX線断層撮影装置は、第1図に示す
ように、X線管lとフィルム2とを、テーブル3上の被
検者4を間に挟んで対向配置し、被検者4の体内の任意
の位置に設定された断層面5に平行な平面6,7上をX
線管1とフィルム2とがそれぞれ移動できるようにして
おいて、これら両者を断層面5の中心点0を中心に対称
的に移動させるようにして構成されている。そして上記
の面6.7上での移動軌跡は直線1円、楕円、ハイボサ
イクロイダルおよびうず巻き軌道などの種々のものが採
用されている。
ところで、このような平行平面式のX線断層撮影装置に
おいては、X線焦点の移動にともなってxla管1とフ
ィルム2との距離が変化する。そして、フィルム2の面
に到達するX線の線量はこの距離の逆2乗の割合で変化
する関係にある。すなわち、到達線量Iは 2 I=に/ ((ar)+L ) 但し、a=L/L。
で表わすことができる。ここで、Kは定数であり、rは
中心点0を通る法線からX線焦点までの距II!II(
つまり半径)、Lは面6.7間の距離、LOは面5.6
間の距離である。したがって、X線条件を一定にして撮
影すると、X線管の移動によるフィルム面到達線量の変
化からフィルム上に生じる陰影像に好ましくない影響が
あられれる、という不都合がある。
ところで、上記式は、K゛を定数、mAをX線管電流、
SをX線曝射時間、KVをX線管電圧とすると、つぎの
ように書き換えることができる。
I =K ’−mA−5−KV/ ((a r)”+L
2)但し、 a = L/ L 。
そこでX線管電流mAをつぎの式に示すように変数rの
2乗に比例して制御する。
mA=K” e ((a r)2+L21但し K I
“:定数 このとき他のX線条件を一定とすればフィルム面到達線
量Iは。
I=に’ −K” −5−KVN となって半径rの変化に無関係となる。
そこで、この原理にしたがって、従来よりX線管の位置
に追従してX線管電流を電子制御することにより上記の
不都合を解消することが考えられている(特公昭58−
20117号公報等参照)。しかし、従来のものは、フ
ィラメント電流を単に半周期毎に位相制御するだけなの
で、管電流のリップルが大きくなり画像に悪影響があら
れれるなどの欠点があった。
(ハ)目的 この発明は、X線管の移動にともなう距離の変化による
フィルム面到達線量の変化を管電流を制御することで補
正し、しかも管電流のリップルを抑え、優れた画質の画
像を得ることができるように改良したX線断層撮影装置
を提供することを目的とする。
(ニ)構成 この発明のX線断層撮影装置では、X線管を含む放射線
照射手段と2次元放射線検出手段とを被写体を挟んで対
向配置し、これら両者を被写体中の断層面の上の中心点
を中心として対称的に移動させる際に、放射線照射手段
または2次元放射線検出手段の位置を検出し、この位置
からこれら両者の間の距離をめ、この距離に関連する信
号で、X線管のフィラメントに加える交流電圧の周波数
より充分に高い周波数で該フィラメント電圧をスイッチ
ングするときのそのスイッチングパルス幅を制御するよ
うにしている。
(ホ)実施例 以下に示す実施例は、この発明を種々の軌道をとること
ができる多軌道X線断層撮影装置に適用したものである
0種々の軌道をとることができるようにするためには回
転運動と直線運動とを組合せなければならないので、模
式的に表現すると、第2図に示すようにX線管1は直線
運動機構9とこの直線運動機構9を回転させる回転運動
機構8とによって保持されていることになる。この第2
図には示していないが、フィルム2は中心点0(第1図
参照)を支点として回動可能に支持された連結し/へ−
を介してX線管lと連結され、X線管lかうす巻き軌道
などの種々の軌道上を運動したときこのX!lv1の運
動に対して点0を中心としてフィルム2が対称的に運動
するようにされている。このような相対運動を実現する
機構はX線断層撮影装置において従来より一般に用いら
れているので説明は省略する。
このようにXtJit管1が運動するとき、第3図に示
すような制御回路で管電流が制御される。すなわち、こ
の第3図で、電源10に接続されたX線管電源装置11
は高電圧回路とフィラメント回路とを含む。X線管はこ
こでは13で表わされている。点線より左側の回路がこ
の発明によって付加された回路である。12はスイッチ
ング回路であり、フィラメント回路において電源lOの
周波数よりも充分に高い周波数でスイッチングを行なう
。ここでスイッチング周波数を高くしたのは管電流のリ
ップルを抑えるためである。X線管の軌道半径rはポテ
ンショメータなどの検出器14で検出され、半径rに比
例する信号(ar)が得られる。この信号(ar)は2
乗回路15で2乗され、(ar) が得られる。他方、
高さしに対応するL の出力が生じるよう高さ設定回路
16の設定があらかじめ行なわれており、(ar) と
L とを加算した((ar)2+L2)の信壮がしベル
発生回路17に入力され、この入力信号に対応したレベ
ルの信号が生しる。発振回路19からは、電源10の周
波数よりも充分に高い周波数のクロック信号が第4図A
のように出力されており、このクロック信号の立上り(
あるいは立下り)エツジにより制御されることによって
、のこぎり波発生回路20から、第4図Bに示すような
のこぎり波21が発生する。矩形波発生回路18では、
こののこぎり波21と、上記のレベル発生回路17から
の出力電圧22とを比較し、第4図Cに示すようなパル
ス幅が制御された矩形波を得る。スイッチング回路12
はこの矩形波(第4図C)に応じたフィラメント電圧を
スイッチングし、電源波形が第5図Aのような正弦波で
あるとすると、その周波数よりはるかに高速のスイッチ
ングが行なわれて第5図Bのような波形のフィラメント
電圧が印加されるときの、その各パルス幅が矩形波(第
4図C)の各幅に対応することになる。
その結果、フィラメント電圧の各パルス幅が第6iff
lA、Hに示すように、((a r)2+L2)つまり
X線管とフィルムとの間の距離の2乗に比例して変化し
、この距離が小さければパルス幅が狭くなり(第6図A
)、大きければ広くなる(f!J6図B)。そのため、
X線管電流が距離の2乗にほぼ比例して制御されること
になり、フィルム面への到達x4量を常に一定に保つこ
とができる。
なお、上記の実施例では、フィルム面への到達線量が常
に一定になるよう管電流を制御しているが、臨床的な面
からその到達線量を一定とせず多少加減した方がよい場
合に対応してパルス幅制御を行なうよう構成してもよい
(へ)効果 この発明によれば、X線管を含む放射線照射手段と2次
元放射線検出手段との間の距離をめ、この距離に関連す
る信号で、X線管のフィラメントに加える交流電圧の周
波数より充分に高い周波数で該フィラメント電圧をスイ
ッチングするときのそのスイッチングパルス幅を制御す
るようにしているため、距離の変化にともなうフィルム
面到達線量の変動を補正することができ、しかもスイ・
ンチング周波数が高いことで管電流のり・ンプルを抑え
ることができ、その結果優れた画質の画像を得ることが
できる。さらに従来のX線電源装置に若干の回路を付加
するだけでよいので実用化が容易である。
【図面の簡単な説明】
第1図はX線断層撮影装置の動作を説明するための模式
図、第2図はこの発明の一実施例にかかるX線断層撮影
装置の運動機構を模式的に示す斜視図、第3図は同実施
例の制御回路を示すブロック図、第4図A、B、C,第
5図A、Bおよび第6図A、Bはそれぞれ動作を説明す
るための波形図である6 1.13・・・X線管 2・・・フィルム3・・・テー
ブル 4・・・被検者 5・・・断層面 8・・・回転運動機構9・・・直線運
動機構 10・・・電源11・・・x!!it管電源装
置 12・・・スイッチング回路工4・・・半径検出器
 15・・・2乗回路16・・・高さ設定回路 17・
・・レベル発生回路18・・・矩形波発生回路 19・
・・発振回路20・・・のこぎり波発生回路 出願人 株式会社島津製作所 算2劇 苓9劇 宴g目 算5后

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被写体に対して放射線を照射する谷線管を含む放
    射線照射手段と、被写体を透過した放射線が入射するよ
    う被写体を挟んで上記放射線照射手段に対して対向配置
    される2次元放射線検出手段と、」二記放射線照射手段
    と2次元放射線検出手段とを被写体中に設定された断層
    面上の中心点を中心として対称的に移動させる移動手段
    と、上記放射線照射手段または2次元放射線検出手段の
    位置を検出する手段と、検出された位置から上記放射線
    照射手段と2次元放射線検出手段との距離をめる手段と
    、上記X線管のフィラメントに加える交流電圧の周波数
    より充分に高い周波数で該フィラメント電圧をスイッチ
    ングするX線管電源装置と、上記求めた距離に関連する
    信号で上記フィラメント電圧のスイッチングパルス幅を
    制御する制御手段とからなるX線断層撮影装置。
JP59015809A 1984-01-31 1984-01-31 X線断層撮影装置 Pending JPS60160598A (ja)

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JP59015809A JPS60160598A (ja) 1984-01-31 1984-01-31 X線断層撮影装置

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JPS60160598A true JPS60160598A (ja) 1985-08-22

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JP59015809A Pending JPS60160598A (ja) 1984-01-31 1984-01-31 X線断層撮影装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105319225A (zh) * 2014-08-05 2016-02-10 中国科学院高能物理研究所 一种实现板状样品高分辨率大视野cl成像的扫描方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105319225A (zh) * 2014-08-05 2016-02-10 中国科学院高能物理研究所 一种实现板状样品高分辨率大视野cl成像的扫描方法

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