JPS60128808A - ガス絶縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検出装置 - Google Patents
ガス絶縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検出装置Info
- Publication number
- JPS60128808A JPS60128808A JP58235057A JP23505783A JPS60128808A JP S60128808 A JPS60128808 A JP S60128808A JP 58235057 A JP58235057 A JP 58235057A JP 23505783 A JP23505783 A JP 23505783A JP S60128808 A JPS60128808 A JP S60128808A
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- Japan
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- gas
- vacuum
- flange
- closed switchboard
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- Pending
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- Gas-Insulated Switchgears (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、真空しゃ断器が収納されたガス絶縁閉鎖配電
盤の耐電圧低下検出装置に関する。
盤の耐電圧低下検出装置に関する。
し発明の技術的冑景とその問題点〕
近年、閉鎖配電盤においても、内部に六ふつ化硫黄ガス
（以下８Ｆ、ガスと呼ぶ）などの絶縁ガスを封入して絶
縁特性を上げ、実装密度を高めて閉鎖配電盤の小形孔、
設置床面積の縮小化が図られている。そして、この閉鎖
配電盤は密封構造のため、外部の門埃や湿度などの影響
を受けない特長がある。 ′□ しかし、このガス閉鎖配電盤では次のような問（１）内
部に封入されたＳＦ、ガスは、密封用ガスケット部から
の洩れによる封入圧力・濃度の低下や、内部電気機器の
放電と残存水分などで耐電圧値が低下するが、この結果
もし電気機器の耐電圧特性が劣化しても閉鎖配電盤を開
封しなければ点検することはできない。したがって、も
し定期点検日までに電気ｉ器の耐電圧雑件が低下が進行
すると、事故になる可能性がある。しかし、閉鎖配電盤
の開封はＳＦ、ガスの再封入が必要なため、長い運転停
止時間を伴うので、定期点検の’＆度を上げることはむ
つかしい。
（以下８Ｆ、ガスと呼ぶ）などの絶縁ガスを封入して絶
縁特性を上げ、実装密度を高めて閉鎖配電盤の小形孔、
設置床面積の縮小化が図られている。そして、この閉鎖
配電盤は密封構造のため、外部の門埃や湿度などの影響
を受けない特長がある。 ′□ しかし、このガス閉鎖配電盤では次のような問（１）内
部に封入されたＳＦ、ガスは、密封用ガスケット部から
の洩れによる封入圧力・濃度の低下や、内部電気機器の
放電と残存水分などで耐電圧値が低下するが、この結果
もし電気機器の耐電圧特性が劣化しても閉鎖配電盤を開
封しなければ点検することはできない。したがって、も
し定期点検日までに電気ｉ器の耐電圧雑件が低下が進行
すると、事故になる可能性がある。しかし、閉鎖配電盤
の開封はＳＦ、ガスの再封入が必要なため、長い運転停
止時間を伴うので、定期点検の’＆度を上げることはむ
つかしい。
したがって、このような閉鎖配電盤においては、内部に
密封された８Ｆ、ガスの耐電圧値の低下を閉鎖配電盤を
開封することなく検出して、閉鎖配電盤の定期点検の回
数を減らしても、電気機器の耐電圧特性の低下の進行に
よるガス絶縁閉鎖配電盤の事故を防ぐことのできるガス
絶縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検出装置が望まれており、
このため従来は８Ｆ、ガスの特性低下の要因であるＳＦ
、ガスの濃度、含有水分、圧力をそれぞれ検出して間接
的に耐電圧特性を検知する方法もとられているが、この
方法は、検出器の数・種類が増えるので信頼性が劣るだ
けでなく、直接耐電圧特性を検出しないので精度が落ち
る欠点もある。
密封された８Ｆ、ガスの耐電圧値の低下を閉鎖配電盤を
開封することなく検出して、閉鎖配電盤の定期点検の回
数を減らしても、電気機器の耐電圧特性の低下の進行に
よるガス絶縁閉鎖配電盤の事故を防ぐことのできるガス
絶縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検出装置が望まれており、
このため従来は８Ｆ、ガスの特性低下の要因であるＳＦ
、ガスの濃度、含有水分、圧力をそれぞれ検出して間接
的に耐電圧特性を検知する方法もとられているが、この
方法は、検出器の数・種類が増えるので信頼性が劣るだ
けでなく、直接耐電圧特性を検出しないので精度が落ち
る欠点もある。
（２）又、この閉鎖配電盤の主機である真空しゃ断器の
真空パルプは、万一、内部の真空度が落ちるとしゃ断性
能が落ちるので、これによる閉鎖配電盤の事故を未然に
防ぐため、従来から真空バルブの真空度の低下による真
空バルブの耐電圧の低下を検出する装置が試みられてお
り、例へば真空パルプ内の真空度の低下を検出する方法
も考えられているが、この方法も直接耐電圧特性を検出
しないので精度が落ちる。
真空パルプは、万一、内部の真空度が落ちるとしゃ断性
能が落ちるので、これによる閉鎖配電盤の事故を未然に
防ぐため、従来から真空バルブの真空度の低下による真
空バルブの耐電圧の低下を検出する装置が試みられてお
り、例へば真空パルプ内の真空度の低下を検出する方法
も考えられているが、この方法も直接耐電圧特性を検出
しないので精度が落ちる。
し発明の目的〕
本発明は、内部に封入されたＳＰ６ガスの耐電圧の低下
と、真空しゃ断器の真空バルブの真空度低下による耐電
圧の低下を高精度に検出することのできるガス絶縁閉鎖
配電盤の耐電圧低下検出装置を得ることにある。
と、真空しゃ断器の真空バルブの真空度低下による耐電
圧の低下を高精度に検出することのできるガス絶縁閉鎖
配電盤の耐電圧低下検出装置を得ることにある。
本発明は、真空しゃ断器の主回路と大地間に分圧要素を
設け、真空しゃ断器の真空バルブのフランジに絶縁ブッ
シングを設けるとともに、この絶縁ブッシング内には導
線を貫通させてその一端を真空バルブ内に突出してフラ
ンジ内面と間隙を介して対向させ、他の一端は分圧要素
に接続し、分 。
設け、真空しゃ断器の真空バルブのフランジに絶縁ブッ
シングを設けるとともに、この絶縁ブッシング内には導
線を貫通させてその一端を真空バルブ内に突出してフラ
ンジ内面と間隙を介して対向させ、他の一端は分圧要素
に接続し、分 。
圧要素と大地間には検出抵抗を接続することにより真空
バルブ内の耐電圧低下はフランジ内面と真空バルブ内の
導線間の放電電流を検出抵抗に接続した検出器で検出し
、閉鎖配電盤内の８Ｆ６ガスの耐電圧低下はフランジ外
面と導線間の絶縁ブッシング沿面での放電電流を検出器
で検出するガス絶縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検出装置で
ある。
バルブ内の耐電圧低下はフランジ内面と真空バルブ内の
導線間の放電電流を検出抵抗に接続した検出器で検出し
、閉鎖配電盤内の８Ｆ６ガスの耐電圧低下はフランジ外
面と導線間の絶縁ブッシング沿面での放電電流を検出器
で検出するガス絶縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検出装置で
ある。
以下、本発明の一実施例を第１図から第４図を参照して
説明する。
説明する。
第１図は、本発明の耐電圧低下検出装置が装着されるガ
ス絶縁閉鎖配電盤１の側面図で、図示しない負荷側に接
続された主回路母線２には負荷側断路部３を介して真空
しゃ断器４が接続され、この真空しゃ断器４には変流器
５、電源側断路部６及び電源側導体７、シールドリンク
８を介して電源側ケーブルヘッド９＃ζ接続されている
。
ス絶縁閉鎖配電盤１の側面図で、図示しない負荷側に接
続された主回路母線２には負荷側断路部３を介して真空
しゃ断器４が接続され、この真空しゃ断器４には変流器
５、電源側断路部６及び電源側導体７、シールドリンク
８を介して電源側ケーブルヘッド９＃ζ接続されている
。
第２図は、第１図の真空しゃ断器４の真空バルブ１１に
本発明の耐電圧低下検出装置が取付られた図で、真空バ
ルブ１１の可動側フランジ１２には絶縁ブッシング１３
が貫通し、可動接点１４に接続された（５） ２Ｑ 導体１５には分圧要素としてコンデンサＣ，，Ｃ，が直
列に接続され、このコンデンサＣ３の一端は閉鎖配電盤
の外壁１ａの外部に設けられた検出抵抗器几を介して大
地に接地され、この検出抵抗器Ｒの両端には第５図に示
す検出表示装置が接続されている。又、コンデンサＣＩ
、Ｃ，間には導線１６の一端が接続されこの導線１６の
他の一端は絶縁ブッシング１３内を貫通し真空パルプ１
１内に突出て可動側フランジ１２の内部に設けられたＬ
形電極板１７の一面と間隔をもって対向している。
本発明の耐電圧低下検出装置が取付られた図で、真空バ
ルブ１１の可動側フランジ１２には絶縁ブッシング１３
が貫通し、可動接点１４に接続された（５） ２Ｑ 導体１５には分圧要素としてコンデンサＣ，，Ｃ，が直
列に接続され、このコンデンサＣ３の一端は閉鎖配電盤
の外壁１ａの外部に設けられた検出抵抗器几を介して大
地に接地され、この検出抵抗器Ｒの両端には第５図に示
す検出表示装置が接続されている。又、コンデンサＣＩ
、Ｃ，間には導線１６の一端が接続されこの導線１６の
他の一端は絶縁ブッシング１３内を貫通し真空パルプ１
１内に突出て可動側フランジ１２の内部に設けられたＬ
形電極板１７の一面と間隔をもって対向している。
ここで、一般に真空バルブの真空圧力は１０（Ｔｏｒｒ
） 近傍に設定されており、又、真空機器内の真空圧力
と放電開始電圧との関係は、パッシェンの法則により真
空圧力が１０ （Ｔｏｒｒ）以下の範囲即ち第３図人の
領域では放電開始電圧がほぼ一定で、真空圧力が１０
（Ｔｏｒｒ）をとえるＢ領域では急激に低下する範囲が
あるので、本発明の第２図の要部を示す第４図において
は真空パルプ１１内に突出した導線１６の先端とＬ形電
極板１７との間隔Ｇは真空バルブの真空圧力が第３図の
１０〜１０ （Ｔｏｒｒ）−（６） の中間部の２点以上になるとコンデンサＣ１の分圧電圧
で放電するように設定されている。一方、ＳＦ６ガス中
におかれた絶縁ブッシング１３の沿面部りは、閉鎖配電
盤の８Ｆ、ガスの耐電圧管理値以下になると放電する長
さに設定されている。
） 近傍に設定されており、又、真空機器内の真空圧力
と放電開始電圧との関係は、パッシェンの法則により真
空圧力が１０ （Ｔｏｒｒ）以下の範囲即ち第３図人の
領域では放電開始電圧がほぼ一定で、真空圧力が１０
（Ｔｏｒｒ）をとえるＢ領域では急激に低下する範囲が
あるので、本発明の第２図の要部を示す第４図において
は真空パルプ１１内に突出した導線１６の先端とＬ形電
極板１７との間隔Ｇは真空バルブの真空圧力が第３図の
１０〜１０ （Ｔｏｒｒ）−（６） の中間部の２点以上になるとコンデンサＣ１の分圧電圧
で放電するように設定されている。一方、ＳＦ６ガス中
におかれた絶縁ブッシング１３の沿面部りは、閉鎖配電
盤の８Ｆ、ガスの耐電圧管理値以下になると放電する長
さに設定されている。
このように構成されたガス絶縁閉鎖配電盤の耐電圧低下
検出装置においては、真空パルプ１１の真空度が低下し
真空圧力が第３図のＰ点以下になると、コンデンサＣ８
の分圧電圧により間隙Ｇで放電し、この放電電流は一種
の部分放電のパルス電流で検出抵抗器Ｒを経て大地に流
れる。したがって、この検出抵抗器の両端に第５図に示
す帯域ろ波器２１、波形整形器２２を通してオシロスコ
ープ２３又は乞 図示しない警報器等電接続することにより、真空バルブ
１１内の真空度低下などによる耐電圧低下を知ることが
できる。
検出装置においては、真空パルプ１１の真空度が低下し
真空圧力が第３図のＰ点以下になると、コンデンサＣ８
の分圧電圧により間隙Ｇで放電し、この放電電流は一種
の部分放電のパルス電流で検出抵抗器Ｒを経て大地に流
れる。したがって、この検出抵抗器の両端に第５図に示
す帯域ろ波器２１、波形整形器２２を通してオシロスコ
ープ２３又は乞 図示しない警報器等電接続することにより、真空バルブ
１１内の真空度低下などによる耐電圧低下を知ることが
できる。
一方、８Ｆ、ガスが劣化した場合には、絶縁ブッシング
１３の沿面りで放電するので同様にして検知できる。そ
して真空パルプの真空圧力の低下による放電は全相同時
に発生することはないが、絶縁ガスの劣化による場合は
全相合前後して発生するので、動作相の数によりそのい
づれかを判断することができる。
１３の沿面りで放電するので同様にして検知できる。そ
して真空パルプの真空圧力の低下による放電は全相同時
に発生することはないが、絶縁ガスの劣化による場合は
全相合前後して発生するので、動作相の数によりそのい
づれかを判断することができる。
更にこれを確認するためには、真空パルプ内の放電は、
ギャップＧの両極が非対称電極のため放電パルスが正負
で非対称となるので、この波形を見ることによりギャッ
プＧでの放電が沿面りでの放電かを識別することができ
る。
ギャップＧの両極が非対称電極のため放電パルスが正負
で非対称となるので、この波形を見ることによりギャッ
プＧでの放電が沿面りでの放電かを識別することができ
る。
以上の方法は、他の方法例えば真空度の低下や８Ｆ、ガ
ス濃度の低下を検出する方法に比べて、直接耐電圧を検
出できるため測定の精度が高く、又、検出部の構成も簡
単であるので信頼性も高い。
ス濃度の低下を検出する方法に比べて、直接耐電圧を検
出できるため測定の精度が高く、又、検出部の構成も簡
単であるので信頼性も高い。
なお、上記説明ではコンデンサＣ，，Ｃ，は固定となっ
ているが、可変にしてもよく、これにより真空バルブ１
１内の耐電圧値や８Ｆ、ガスの耐電圧値の許容値を真空
パルプ１１の組立後でも調整できるので警報器の動作か
ら処置時間迄の長さを調整できる利点がある。 １ 又、第２図において、導線１６は真空バルブ１１内で直
線状であり、この導線１６の先端にＬ形電極１７が対向
設置されているが、導線１６の先端を延長して釣針状に
曲げその先端をフランジ１２の内面と間隙Ｇをもって対
向させてもよく、この場合はＬ形電極板１７は要らなく
なるので構造が簡単になる利点がある。
ているが、可変にしてもよく、これにより真空バルブ１
１内の耐電圧値や８Ｆ、ガスの耐電圧値の許容値を真空
パルプ１１の組立後でも調整できるので警報器の動作か
ら処置時間迄の長さを調整できる利点がある。 １ 又、第２図において、導線１６は真空バルブ１１内で直
線状であり、この導線１６の先端にＬ形電極１７が対向
設置されているが、導線１６の先端を延長して釣針状に
曲げその先端をフランジ１２の内面と間隙Ｇをもって対
向させてもよく、この場合はＬ形電極板１７は要らなく
なるので構造が簡単になる利点がある。
［発明の効果〕
以上のように本発明は、ガス絶縁閉鎖配電盤内の真空し
ゃ断器の真空パルプのフランジに設けた絶縁ブッシング
内を主回路と大地間の分圧電圧を印加した導線を貫通さ
せ、フランジ内面と導線間の非対称電極間での放電と、
フランジ外面と導線間の絶縁ブッシング沿面での放電を
大地に流し↓検出することにより真空バルブ内の耐電圧
の低下と絶縁ガスの耐電圧の低下を直接識別検出できる
ので従来の間接的検出方法（例えば真空度低下の検出や
ガス濃度低下の検出）に比べて精度の高いガス絶縁閉鎖
配電盤の耐電圧低下検出装置を得ることができる。
ゃ断器の真空パルプのフランジに設けた絶縁ブッシング
内を主回路と大地間の分圧電圧を印加した導線を貫通さ
せ、フランジ内面と導線間の非対称電極間での放電と、
フランジ外面と導線間の絶縁ブッシング沿面での放電を
大地に流し↓検出することにより真空バルブ内の耐電圧
の低下と絶縁ガスの耐電圧の低下を直接識別検出できる
ので従来の間接的検出方法（例えば真空度低下の検出や
ガス濃度低下の検出）に比べて精度の高いガス絶縁閉鎖
配電盤の耐電圧低下検出装置を得ることができる。
更に本発明の検出素子は絶縁ブッシングと導線だけで構
成しであるので信頼性の高いガス絶縁閉鎖配電盤の耐電
圧低下検出装置を得ることができる。
成しであるので信頼性の高いガス絶縁閉鎖配電盤の耐電
圧低下検出装置を得ることができる。
第１図は本発明の耐電圧低下検出装置が装着されるガス
絶縁閉鎖配電盤の側面断面図、第２図は本発明のガス絶
縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検出装置の一実施例を示す側
面図、第３図は真空圧力と放電電圧の関係を示す特性図
、第４図は本発明の要部を示す断面図、第５図は本発明
のガス絶縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検出装置の検出表示
装置のブロック図である。 １・・・閉鎖配電盤 １２・・・フランジ１１・・・真
空パルプ １３・・・絶縁ブッシング１６・・・導線
ＣｌＩＣ！・・・コンデンサＲ・・・検出抵抗器
絶縁閉鎖配電盤の側面断面図、第２図は本発明のガス絶
縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検出装置の一実施例を示す側
面図、第３図は真空圧力と放電電圧の関係を示す特性図
、第４図は本発明の要部を示す断面図、第５図は本発明
のガス絶縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検出装置の検出表示
装置のブロック図である。 １・・・閉鎖配電盤 １２・・・フランジ１１・・・真
空パルプ １３・・・絶縁ブッシング１６・・・導線
ＣｌＩＣ！・・・コンデンサＲ・・・検出抵抗器
Claims (1)
- 真空しゃ断器が収納されたガス絶縁閉鎖配電盤において
、前記真空しゃ断器の真空バルブのフランジに貫設され
た絶縁ブッシングと、前記真空しゃ断器の主回路と大地
間に設けられた分圧要素と、この分圧要素に一端が接続
され他の一端が前記絶縁ブッシングを貫通して前記真空
バルブ内に突出し前記フランジの内面と間隙をもって対
向設置された導線と、前記分圧要素と大地間に接続され
前記真空バルブ内の耐電圧の低下により前記フランジの
内面と前記導線端の間隙で放電する第１の放電電流と前
記閉鎖配電盤内の絶縁ガスの耐電圧の低下により前記フ
ランジの外面と前記導線間の前記絶縁ブッシングの沿面
で放電する第２の放電電流を検出する検出装置とよりな
ることを特徴とするガス絶縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検
出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58235057A JPS60128808A (ja) | 1983-12-15 | 1983-12-15 | ガス絶縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58235057A JPS60128808A (ja) | 1983-12-15 | 1983-12-15 | ガス絶縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60128808A true JPS60128808A (ja) | 1985-07-09 |
Family
ID=16980439
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58235057A Pending JPS60128808A (ja) | 1983-12-15 | 1983-12-15 | ガス絶縁閉鎖配電盤の耐電圧低下検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60128808A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012157134A1 (ja) * | 2011-05-13 | 2012-11-22 | 三菱電機株式会社 | 密閉型開閉装置の真空度劣化検出装置 |
-
1983
- 1983-12-15 JP JP58235057A patent/JPS60128808A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012157134A1 (ja) * | 2011-05-13 | 2012-11-22 | 三菱電機株式会社 | 密閉型開閉装置の真空度劣化検出装置 |
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