JPS60102517A - 積分形測定法 - Google Patents
積分形測定法Info
- Publication number
- JPS60102517A JPS60102517A JP58211185A JP21118583A JPS60102517A JP S60102517 A JPS60102517 A JP S60102517A JP 58211185 A JP58211185 A JP 58211185A JP 21118583 A JP21118583 A JP 21118583A JP S60102517 A JPS60102517 A JP S60102517A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integral
- measured
- measurement method
- time
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D1/00—Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application
- G01D1/04—Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application giving integrated values
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の背景
この発明は、光、放射線、電子線、電磁波、庄ツバ流量
、加速度、温度、超音波、表面弾性波、その他の物理量
をセンサによって電気信号に変換し、この電気信号を所
定時間帯にゎたって積分することにより上記物３！Ｉ！
Φを測定りる積分形測定法に関りる。
、加速度、温度、超音波、表面弾性波、その他の物理量
をセンサによって電気信号に変換し、この電気信号を所
定時間帯にゎたって積分することにより上記物３！Ｉ！
Φを測定りる積分形測定法に関りる。
この積分形測定法では、一般的に言って、物理量→セン
１ノによる電気信号への変換→増幅→偵分という処理が
行なわれる。第１図にある物理量の時間変化の様子とそ
の積分値とが示されている。積分時間帯Ｔは物理量の立
上りの時点（【ａ）からほぼ零になる時点（【Ｃ）まで
の間に設定され−（いる。積分形測定法はノイズに強い
という特徴をもっている。たとえば物理量またはその電
気変換信号に鎖線Ａで承りようなノイズが生じたとして
も、その積分１ｉｃＩ＆、Ｌ工Ａ で承りように積分途
中で変化するだけぐ、時間帯Ｔが経過した時点における
最終的な積分値ＩＴ集 には変化がない。しかしながら
、セン１）、増幅器等のドリーノドによって物理色信号
のレベルが破線Ｂでポリように上下にシフ１−すると、
その積分値は 工８ で示Ｊように変化してしまうとい
う問題があり、このドリフトにＪこる誤差は無視し得な
い。
１ノによる電気信号への変換→増幅→偵分という処理が
行なわれる。第１図にある物理量の時間変化の様子とそ
の積分値とが示されている。積分時間帯Ｔは物理量の立
上りの時点（【ａ）からほぼ零になる時点（【Ｃ）まで
の間に設定され−（いる。積分形測定法はノイズに強い
という特徴をもっている。たとえば物理量またはその電
気変換信号に鎖線Ａで承りようなノイズが生じたとして
も、その積分１ｉｃＩ＆、Ｌ工Ａ で承りように積分途
中で変化するだけぐ、時間帯Ｔが経過した時点における
最終的な積分値ＩＴ集 には変化がない。しかしながら
、セン１）、増幅器等のドリーノドによって物理色信号
のレベルが破線Ｂでポリように上下にシフ１−すると、
その積分値は 工８ で示Ｊように変化してしまうとい
う問題があり、このドリフトにＪこる誤差は無視し得な
い。
発明の概要
この発明は、積分形測定法において、積分されるべき信
号にドリフトによるレベル変動が生じても高い精度を保
つことができるようにすることを目的とする。
号にドリフトによるレベル変動が生じても高い精度を保
つことができるようにすることを目的とする。
この目的を達成りるためにこの発明は、被測定電気信号
を２つの異なる積分時間帯で積分し、一方の積分値と所
定数倍された他方の積分値との間で減算を行ない、この
減算結果を測定値とすることを特徴とする。
を２つの異なる積分時間帯で積分し、一方の積分値と所
定数倍された他方の積分値との間で減算を行ない、この
減算結果を測定値とすることを特徴とする。
第１図の例に即して具体的にいうと次のようになる。、
積分されるべき物理ｍ（被測定電気信号）をＶ（ｔ）と
すると、上述の積分値ＩＴは次式ひ与えられる。
積分されるべき物理ｍ（被測定電気信号）をＶ（ｔ）と
すると、上述の積分値ＩＴは次式ひ与えられる。
これに対しζ、この発明の方法によると２つの積分時間
帯ｒ−１（ｔａ−ｔｂ） 、−ｒ ２ （ｔｂ 〜ｔｃ
）が設定される。そして測定１１ｉ １は次式で！ｊえ
られる。
帯ｒ−１（ｔａ−ｔｂ） 、−ｒ ２ （ｔｂ 〜ｔｃ
）が設定される。そして測定１１ｉ １は次式で！ｊえ
られる。
・・・（２）
・・・（３）
第（３）式は信号Ｖ（ｔ）のドリフト用が積分時間帯Ｔ
（ｔａ−ｔｃ）で一様であると仮定し−（いる。一様
でないときには第（２）式にＪ３いてｎに変えでｎαを
用いるとよい。ここでαはドリフ１〜のばらつきの程度
を表わし、第１図に示す゛ような波形の場合にはαく１
ぐある。
（ｔａ−ｔｃ）で一様であると仮定し−（いる。一様
でないときには第（２）式にＪ３いてｎに変えでｎαを
用いるとよい。ここでαはドリフ１〜のばらつきの程度
を表わし、第１図に示す゛ような波形の場合にはαく１
ぐある。
以上のようにして、この発明ではドリフトによる信号の
レベル変動を積分値相互間の減算によって相殺している
から、レベル変動に影響されることなく精度の高い測定
が可能となる。積分法ぐあるから、ノイズに強いのは言
うまでもない。
レベル変動を積分値相互間の減算によって相殺している
から、レベル変動に影響されることなく精度の高い測定
が可能となる。積分法ぐあるから、ノイズに強いのは言
うまでもない。
積分の方法には多種ある。最も簡単には、信号をアナロ
グ的に直接積分する積分回路を用いればＪ：い。ディジ
タル的に処理りる場合には、信号を適当な時間間隔でサ
ンプリングし、ＡＤ変換したのちサンプリング・データ
をメモリに記憶しておき、ｉｉＬ！憶されＩＳ１ノンブ
リング・データを加ｉ−＋ればよい。これはたとえば中
央処理装ｖ！ｉ（以下ＣＩ） Ｕと言う）、好ましくは
マイクロブロヒツ１ノによって制御される。さらに積分
手段として、信号をその人さきに応じた周波数のパルス
信号に変換づるＶ／Ｆ変挽回路と、Ｖ／１：変換回路の
出ツノパルスを所定時間帯にわたって３１数する計数手
段と１．ｓ ＋う構成されたものを用いることしｉｊｌ
ＩＩＩ：である。上記亮］数手段としてはカウンタま
たはマイクロプロセッサが使用されＪ、う。
グ的に直接積分する積分回路を用いればＪ：い。ディジ
タル的に処理りる場合には、信号を適当な時間間隔でサ
ンプリングし、ＡＤ変換したのちサンプリング・データ
をメモリに記憶しておき、ｉｉＬ！憶されＩＳ１ノンブ
リング・データを加ｉ−＋ればよい。これはたとえば中
央処理装ｖ！ｉ（以下ＣＩ） Ｕと言う）、好ましくは
マイクロブロヒツ１ノによって制御される。さらに積分
手段として、信号をその人さきに応じた周波数のパルス
信号に変換づるＶ／Ｆ変挽回路と、Ｖ／１：変換回路の
出ツノパルスを所定時間帯にわたって３１数する計数手
段と１．ｓ ＋う構成されたものを用いることしｉｊｌ
ＩＩＩ：である。上記亮］数手段としてはカウンタま
たはマイクロプロセッサが使用されＪ、う。
２つの積分１１．１間帯の設定に−しいくつかのやり方
がある。イの１つは、上述のように積分時間ぜｉ）１’
１ （ｔａ 〜ｌｂ） 、１’ ２ （ｔｂ 〜ｔｃ
）をあらかじめ設定しＩおく方法である。これは、第２
図に示ずように、被測定信号が周期的に現われる場合に
イｊ効である。積分＋１．′１間帯−ｒ １、−１’
２は２種類のタイミング・パルスＰ１１、ＰＩ３ににっ
て定めることができ、これらのタイミング・パルスによ
って積分手段を制御することができる。
がある。イの１つは、上述のように積分時間ぜｉ）１’
１ （ｔａ 〜ｌｂ） 、１’ ２ （ｔｂ 〜ｔｃ
）をあらかじめ設定しＩおく方法である。これは、第２
図に示ずように、被測定信号が周期的に現われる場合に
イｊ効である。積分＋１．′１間帯−ｒ １、−１’
２は２種類のタイミング・パルスＰ１１、ＰＩ３ににっ
て定めることができ、これらのタイミング・パルスによ
って積分手段を制御することができる。
タイミング・パルスＩ）２１、Ｐ２２で；３ｚ ”Ｊ’
ように、時間帯１−１とＴ２とを分離して設けてもよい
のはいうまでもない。
ように、時間帯１−１とＴ２とを分離して設けてもよい
のはいうまでもない。
被測定信号は上述のように指数関数的に減少する波形に
限らず、第３図に示づような矩形波であっても、サイン
波形であってもよく、この発明は任意の波形の信号に適
用可能である。
限らず、第３図に示づような矩形波であっても、サイン
波形であってもよく、この発明は任意の波形の信号に適
用可能である。
積分時間セ１）を定めるもう１つの方法は、被測定信号
のレベルを利用するしのであり、この方法は非周期的な
信号に好適である。第４図に示されているように、基準
レベル■ ｒ被測定信号Ｖ（［）をレベル弁別し、 Ｖ
（（）≧Ｉ ｓ ｏ）ｕ、１間帯を−１−Ｉ Ｖ （１
） ＜ ＩＳの時間帯を−１２とづる。各時間帯におけ
る信号４つされる。
のレベルを利用するしのであり、この方法は非周期的な
信号に好適である。第４図に示されているように、基準
レベル■ ｒ被測定信号Ｖ（［）をレベル弁別し、 Ｖ
（（）≧Ｉ ｓ ｏ）ｕ、１間帯を−１−Ｉ Ｖ （１
） ＜ ＩＳの時間帯を−１２とづる。各時間帯におけ
る信号４つされる。
・・・（４）
ただし
時間帯ＴＬの総和
時間帯−「１の総和（総時間）は、タイミング・パルス
Ｉ） ３ ’ｌによってグー１〜を制御し、このパルス
１）３１が１ルベルにあるときに入力づるり（」ツク・
パルスを４数づることによりめることができる。時間？
ｔ） Ｔ ２の総和についても＋ｉ’ｉｌ様である。
Ｉ） ３ ’ｌによってグー１〜を制御し、このパルス
１）３１が１ルベルにあるときに入力づるり（」ツク・
パルスを４数づることによりめることができる。時間？
ｔ） Ｔ ２の総和についても＋ｉ’ｉｌ様である。
第４図に示されているような急峻なピークをもつ信号に
対しては、上述したＶ／Ｆ変換の手法を用い−Ｃ積分す
ることが好ましい。
対しては、上述したＶ／Ｆ変換の手法を用い−Ｃ積分す
ることが好ましい。
実施例の説明
この実施例は螢光体を応用した光温度測定法である。第
５図に示すように、螢光体に・−足先用の励起光を照射
づると螢光体からは螢光および残光が発生ずる。励起さ
れている間に発光される光が螢光で、励起が停止した時
点以降に発光され、時間とともに減衰する光が残光であ
る。
５図に示すように、螢光体に・−足先用の励起光を照射
づると螢光体からは螢光および残光が発生ずる。励起さ
れている間に発光される光が螢光で、励起が停止した時
点以降に発光され、時間とともに減衰する光が残光であ
る。
螢光体の置かれた雰囲気の温度によって、螢光発光強度
と残光時間が変化づる。第５図の波形（Ａ＞においＣ実
線で示されているものが温度１−ｍ１における波形、破
線で示されているもので温度１’ ｍ２１ｊ Ｊｊ Ｃ
ノる波形である。ココ−Ｃ’ｌ’ １１１１ ＜ Ｔｍ
２の関係にある。一般に、発光輝度は温度が低いはと高
くなり、残光時間も長くなる傾向がある。発光か１１度
および／または残光時間を直接に測定づる代わりに、螢
光ａ３ Ｊ：び／または残光信号の積分１＋Ｑ （ハツ
チングで示されている部分の面積、（ｒ１分１１、Ｙ間
借Ｔ−＞（積分光量）を測定することができ、この積分
光ｍもまＩｃ温度の関数となる。第す図（△）は残光時
間の代わりに残光積分光量をめるようにした例であり、
第５図（Ｂ）（よ発光１ｉｌｌすと残光時間の測定に代
えて螢）■おＪ、び残光の積分光（１１をめ−（いる。
と残光時間が変化づる。第５図の波形（Ａ＞においＣ実
線で示されているものが温度１−ｍ１における波形、破
線で示されているもので温度１’ ｍ２１ｊ Ｊｊ Ｃ
ノる波形である。ココ−Ｃ’ｌ’ １１１１ ＜ Ｔｍ
２の関係にある。一般に、発光輝度は温度が低いはと高
くなり、残光時間も長くなる傾向がある。発光か１１度
および／または残光時間を直接に測定づる代わりに、螢
光ａ３ Ｊ：び／または残光信号の積分１＋Ｑ （ハツ
チングで示されている部分の面積、（ｒ１分１１、Ｙ間
借Ｔ−＞（積分光量）を測定することができ、この積分
光ｍもまＩｃ温度の関数となる。第す図（△）は残光時
間の代わりに残光積分光量をめるようにした例であり、
第５図（Ｂ）（よ発光１ｉｌｌすと残光時間の測定に代
えて螢）■おＪ、び残光の積分光（１１をめ−（いる。
これらＣはいずれも積分時間帯Ｔがあらかじめ定められ
Ｃいる。第５図（Ｃ）もまた螢光と残光の積分光量をめ
ているが、積分１１４間−１−Ｌ；Ｌ基準レベル−によ
って定められている。
Ｃいる。第５図（Ｃ）もまた螢光と残光の積分光量をめ
ているが、積分１１４間−１−Ｌ；Ｌ基準レベル−によ
って定められている。
第６図は、螢光Ｊ３ Ｊ：び／または残光の積分光量の
温度特性を示している。使用される螢光体について、梗
々の温１女に対してその積分光ｆｒ１′／Ｊ）あらかじ
め測定され、既知関係として第６図に承りような特性が
あらかじめ設定されている。
温度特性を示している。使用される螢光体について、梗
々の温１女に対してその積分光ｆｒ１′／Ｊ）あらかじ
め測定され、既知関係として第６図に承りような特性が
あらかじめ設定されている。
測定された積分光量がこの温度特性と比較されることに
より温度がめられる。
より温度がめられる。
第７図は上記のような螢光体応用温ｉ測定にお１ノる２
つの１ｈ分詩間帯の設定方法の一例を示している。励起
光の立上りの時点を１０、励起光の立下りの時点をｔｌ
、測定温度範囲内の最も低い温度においＣ残光がほとん
ど消滅する時点をｔ２と覆る。
つの１ｈ分詩間帯の設定方法の一例を示している。励起
光の立上りの時点を１０、励起光の立下りの時点をｔｌ
、測定温度範囲内の最も低い温度においＣ残光がほとん
ど消滅する時点をｔ２と覆る。
（Ａ＞の積分時間帯は残光積分光量を測定しようとする
場合であり、時点口と１２との丁度中間に時点ｔ４を設
定し、時間帯−ｒｉ＝ｔｉ〜ｔ４、王２−（４〜１２と
している。両回間（＋） １ ′１ 、１−２の良さは
等しい１．］ノたかつ文、測定値は・・・（６） となる。
場合であり、時点口と１２との丁度中間に時点ｔ４を設
定し、時間帯−ｒｉ＝ｔｉ〜ｔ４、王２−（４〜１２と
している。両回間（＋） １ ′１ 、１−２の良さは
等しい１．］ノたかつ文、測定値は・・・（６） となる。
（１，’３ ） ｔ；Ｌ １１．１間１１−１．２を５
等分し、１１＝ｔｉ〜ｔ６、王２−Ｌ６〜【２、ｌ−１
＝ ４．１−２となるように１１、シ点Ｉ６を設定した
場合である。測定値は次式ひ表わされにう。
等分し、１１＝ｔｉ〜ｔ６、王２−Ｌ６〜【２、ｌ−１
＝ ４．１−２となるように１１、シ点Ｉ６を設定した
場合である。測定値は次式ひ表わされにう。
・・・（７）
（Ｃ）は螢光ｉ１ｊよび残光の積分光量を測定する揚台
の積分１１）間借の設定例０ある。時点１．＜１〜口間
に時点Ｉ３を設定し、王１−し３〜ｔ４、王２−ｔ６〜
ｔ２、Ｔ Ｉ ＝ ４ Ｔ ２とす”ル。８１り定ｂｆ
ｊ ハ・・・ ｌ） となる。測定値としては絶対値を必ずしも必要としない
から（ｔ）らろｌυ第６図に力、り既知関数の測定条件
と同じにすることはいうまでもない）、第（８）式は次
のように変形してもよい。
の積分１１）間借の設定例０ある。時点１．＜１〜口間
に時点Ｉ３を設定し、王１−し３〜ｔ４、王２−ｔ６〜
ｔ２、Ｔ Ｉ ＝ ４ Ｔ ２とす”ル。８１り定ｂｆ
ｊ ハ・・・ ｌ） となる。測定値としては絶対値を必ずしも必要としない
から（ｔ）らろｌυ第６図に力、り既知関数の測定条件
と同じにすることはいうまでもない）、第（８）式は次
のように変形してもよい。
（Ｄ）は−１１＝ ｔ３〜ｔ４、Ｔ’ ２− ｔ５〜（
２，１−１＝ ２１’ ２とした場合である。測定値は
次式で与えられる。
２，１−１＝ ２１’ ２とした場合である。測定値は
次式で与えられる。
・・・ （１０〉
または
・・・（１１）
２
じ（α（１に近い値）イ８にしてもよい。
第８３図は淘麿測定装置の４Ｉ゛４成を、第１０図はそ
の動作をイれ゛どれ示し°（゛いる。光ファイバ（１）
の先端に所定の螢光体（２）が取イ」けられ、’ｔＱ
１５Ｌ ７ ｔ：＋−ブが６４成されている。この温度
プ１」−ブ（よ、その先端が温度測定り゛べき雰囲気中
にまたは物体に接触した状態ぐ間質される。
の動作をイれ゛どれ示し°（゛いる。光ファイバ（１）
の先端に所定の螢光体（２）が取イ」けられ、’ｔＱ
１５Ｌ ７ ｔ：＋−ブが６４成されている。この温度
プ１」−ブ（よ、その先端が温度測定り゛べき雰囲気中
にまたは物体に接触した状態ぐ間質される。
ＣＰＵ（１０）によって制御されるタイミング発生回路
（４）からは３種類のタイミング・パルス信号））１、
Ｐ２、Ｐ３が出力♂れる。パルスＰ１は、発光器（３）
を駆動させるためのものであって、一定周期Ｔａで出力
される（第５図参照）。この周期丁ａは、測定範囲内の
すべての温度において、螢光体（２）から発光された残
光が完全に消失するのに充分な時間に設定されている。
（４）からは３種類のタイミング・パルス信号））１、
Ｐ２、Ｐ３が出力♂れる。パルスＰ１は、発光器（３）
を駆動させるためのものであって、一定周期Ｔａで出力
される（第５図参照）。この周期丁ａは、測定範囲内の
すべての温度において、螢光体（２）から発光された残
光が完全に消失するのに充分な時間に設定されている。
パルスＰ１が入力すると発光器（３）から励起光が出力
され、光ファイバ（１）を通つ゛ＣｆＱ光体（２）に照
射される。この励起によって螢光体（２）から発光され
た螢光おにび残光はノア・イバ（１ンを伝搬し、ビーム
・スプリッタ（９）を介して取出され、受光器（５）に
よって受光される。受光器（５）の検知信号は前置増幅
器（６）ぐ増幅されたのち、リンプル・ホールド回路（
７）に入力ηる。受光器（５）は、螢光おＪ、び残光の
みを検知し、励起光を検知しないように分光感麿１４性
をも゛つしのが使用されるか、または受光器（５）の前
面に励起光を遮断し螢光および残光のみの通過を許Ｊフ
ィルタが設（）られる。
され、光ファイバ（１）を通つ゛ＣｆＱ光体（２）に照
射される。この励起によって螢光体（２）から発光され
た螢光おにび残光はノア・イバ（１ンを伝搬し、ビーム
・スプリッタ（９）を介して取出され、受光器（５）に
よって受光される。受光器（５）の検知信号は前置増幅
器（６）ぐ増幅されたのち、リンプル・ホールド回路（
７）に入力ηる。受光器（５）は、螢光おＪ、び残光の
みを検知し、励起光を検知しないように分光感麿１４性
をも゛つしのが使用されるか、または受光器（５）の前
面に励起光を遮断し螢光および残光のみの通過を許Ｊフ
ィルタが設（）られる。
受光器（３）からの励起光は光源モニタ（１５）の受光
素子〈図示略）によってＬ）受光される。
素子〈図示略）によってＬ）受光される。
励起光のモニタリングのタイミングはパルスＰ２にＪ、
って定まる。パルス１〕２はパルスＰ１ど１７Ｊ ｌ！
；７に立上り、パルス１〕１の立上りよりし前に立１；
る。パルス１〕２の出力時点における励起光強度が検出
され、この検出信阿にしとづいて励起光強瓜が常に一定
になるよう発光器（３）が制御される（ ＩＩＩ ａ１
１回路は図示略ン。
って定まる。パルス１〕２はパルスＰ１ど１７Ｊ ｌ！
；７に立上り、パルス１〕１の立上りよりし前に立１；
る。パルス１〕２の出力時点における励起光強度が検出
され、この検出信阿にしとづいて励起光強瓜が常に一定
になるよう発光器（３）が制御される（ ＩＩＩ ａ１
１回路は図示略ン。
タイミング発生回路（４）から出力されるタイミング・
パルス（υ−ンプリング・パルス）Ｐ３は、第１０図に
示″ｔＪ’ 、Ｊ：うに、局間’！１）ｔ３〜電２の間
り１１個出力される。各パルス１〕３の出力された時点
をａ（１，ｄ Ｉ Ｎ ” ２ 、”’、ａｉ、・・・
、ａｊ、・・・、ａｎと７る。またパルスＰ３の周期を
△ｔどづる。
パルス（υ−ンプリング・パルス）Ｐ３は、第１０図に
示″ｔＪ’ 、Ｊ：うに、局間’！１）ｔ３〜電２の間
り１１個出力される。各パルス１〕３の出力された時点
をａ（１，ｄ Ｉ Ｎ ” ２ 、”’、ａｉ、・・・
、ａｊ、・・・、ａｎと７る。またパルスＰ３の周期を
△ｔどづる。
この周期Δ［はアナログ・デジタル（ＡＤ）変換器＜１
２）の△Ｄ変換動作０４間より若干長く設定されている
。
２）の△Ｄ変換動作０４間より若干長く設定されている
。
タイミング・パルスｆ〕３は、ザンプ″ル・小−ルド回
路（７）およびＡＤ変換器（１２）に送られる１、受光
器（５）により−Ｃ検知された光信号（Ｊリンプル・小
−ルド回路（７）でそのレベルがパルスＰ３ごとにホー
ルドされる。この回路（７）の出力は増幅回路（８）で
増幅されたのもＡＤ変換器（１２〉に送られ、時間△ｔ
の１ｍにデジタルイ３＠に変換されて、ＲＡＭ （１１
）にストアされる。
路（７）およびＡＤ変換器（１２）に送られる１、受光
器（５）により−Ｃ検知された光信号（Ｊリンプル・小
−ルド回路（７）でそのレベルがパルスＰ３ごとにホー
ルドされる。この回路（７）の出力は増幅回路（８）で
増幅されたのもＡＤ変換器（１２〉に送られ、時間△ｔ
の１ｍにデジタルイ３＠に変換されて、ＲＡＭ （１１
）にストアされる。
１でΔＭ＜１１）には、第９図に示りにうに、ＡＤ変換
されたリンプリング・データを５ｄ憶する」すｌ ｉ’
Ｊ３よびパルスＰ１の繰返し回数ＭをｌｉＬ！憶りる
１１月７が設けられている。この実施例においては、螢
光ＩＡ（２＞の励起がＭ回＃Ｍ返され、各時点の１ノン
プリング・データの梢紳平均にもとづいて測定１「１が
められる。す゛ン１リング・データ・土り１１には、各
サンプリング時点ａＯ〜ａｎごどに、第１回目の励起か
ら第Ｍ回目の励起にお（〕るリーンプリング・データ、
くれらのＭ回の槓綽１ｉｒ＋ によび平均値を記憶りる
場所が段りられている。またｌ’＜ＯＭ（１３）には、
第６図に示り螢光Ｊ３よび残光積分光ｍの温度特性がた
とえばアーブルの形で記憶されている。
されたリンプリング・データを５ｄ憶する」すｌ ｉ’
Ｊ３よびパルスＰ１の繰返し回数ＭをｌｉＬ！憶りる
１１月７が設けられている。この実施例においては、螢
光ＩＡ（２＞の励起がＭ回＃Ｍ返され、各時点の１ノン
プリング・データの梢紳平均にもとづいて測定１「１が
められる。す゛ン１リング・データ・土り１１には、各
サンプリング時点ａＯ〜ａｎごどに、第１回目の励起か
ら第Ｍ回目の励起にお（〕るリーンプリング・データ、
くれらのＭ回の槓綽１ｉｒ＋ によび平均値を記憶りる
場所が段りられている。またｌ’＜ＯＭ（１３）には、
第６図に示り螢光Ｊ３よび残光積分光ｍの温度特性がた
とえばアーブルの形で記憶されている。
第８図に承り温度測定装ｍ＃よｃ ｐ ｔｊ （１ｏ＞
によって制御される。このＣＰＵ（１０）の制御ｌｌ
Ｊｊよび温度演粋処理手順が第１１図に示されている。
によって制御される。このＣＰＵ（１０）の制御ｌｌ
Ｊｊよび温度演粋処理手順が第１１図に示されている。
まずＣＰ（Ｊ（、ＴＯ＞がらパルス１〕１の出力指令が
タイミング発生回路（４）に出力され、がつＣＰＵ（１
０）内のタイマによって周期゛［ａの計時がＵｎ始され
る（ステップ（２１） ）。回路（４）からパルスＩ）
１ 、ｌ） ２が出力され、がっパルスＰ２の立下り
の時点がらパル刈−）３が出力される。ＣＰＵ（１０）
では、時ｎ −ｒ ａが経過づるまで待つ（ステップ（
２２））。
タイミング発生回路（４）に出力され、がつＣＰＵ（１
０）内のタイマによって周期゛［ａの計時がＵｎ始され
る（ステップ（２１） ）。回路（４）からパルスＩ）
１ 、ｌ） ２が出力され、がっパルスＰ２の立下り
の時点がらパル刈−）３が出力される。ＣＰＵ（１０）
では、時ｎ −ｒ ａが経過づるまで待つ（ステップ（
２２））。
この間に上）ホしたＪ：うに、螢光体（２）が励起され
、その後螢光体（２）から発光された螢光Ｊ５よび残光
がパルスＰ３ごとにサンプリングされ、かつＡＤ変換さ
れたのち、このデータが各１ノ一ンプリング時点ごとに
ＲＡＭ（１１）内のそのＪ！ｉ！返し回数に応じた記憶
場所にス１へアされる。
、その後螢光体（２）から発光された螢光Ｊ５よび残光
がパルスＰ３ごとにサンプリングされ、かつＡＤ変換さ
れたのち、このデータが各１ノ一ンプリング時点ごとに
ＲＡＭ（１１）内のそのＪ！ｉ！返し回数に応じた記憶
場所にス１へアされる。
１− ａを１ｉｌ−１１，１ｉシー（いるタイマがタイ
ム・アップ４ると、ＩくΔ１νＩ（１１）内の繰返し回
数Ｍが−１され（ステップ（２３） ） 、この結果が
Ｏになったかどうかが検査される（ステップ（２４））
、Ｍ＝０でなけれ（３工、再びステップ（２１）に戻り
、同様に螢光体（２）の励起と発光信号のリンプリング
が繰返される。
ム・アップ４ると、ＩくΔ１νＩ（１１）内の繰返し回
数Ｍが−１され（ステップ（２３） ） 、この結果が
Ｏになったかどうかが検査される（ステップ（２４））
、Ｍ＝０でなけれ（３工、再びステップ（２１）に戻り
、同様に螢光体（２）の励起と発光信号のリンプリング
が繰返される。
Ｍ回の発光の測定が終了りると、ＲＡＭ（１１）内のＭ
回分のサンプリング・データが、各サンプリングＩ１．
ｙ１７．′ｉごとに梢樟され（ステップ（２！＋） ）
、そのＭ回の平均が算出される（ステップ（２６））。
回分のサンプリング・データが、各サンプリングＩ１．
ｙ１７．′ｉごとに梢樟され（ステップ（２！＋） ）
、そのＭ回の平均が算出される（ステップ（２６））。
そしく、第１の積分１．ｌＩ間帯゛１１に属Ｊるリベて
のリンブリング時点の平均値が加算されて（？１力１１
．）間イｉ） −ｌ’ １におＧ）る積分１１１′Ｊが
算出されるｋ（ステップ（２７＞ ）。同じにうに第２
の積分時間帯−１２に１１３りる１ノ一ンシリング哨点
の平均１ｉｆＪが加算されｃ ｒｔ、”ｒ間？Ｉ） １
−２にｄ）＋ノる積分値が算出される（ステップ（２８
） ）。たとえば、第７図に（Ｃ）で承されるやり力が
（ス（用された場合には、Ｔ″１＝Ｌ３〜ｔ４のサンプ
リング・データの平均値（す゛ンプリング０．１点ａｏ
〜ａｔ）が加算され（ＩＩ；’ｊ間れる（ステップ（２
７） ）。また−１”２＝ｌ（ｉ〜Ｅ２のサンプリング
・データの平均値（リンブリング時点８ｊ〜ａ１１）が
加算されて時間帯１−２にｄ月ノる（２８） ）。その
後、第（８）式または第（９）式にもとづいて測定値Ｉ
が算出される（ステップ（２９） ）。最後に算出され
た測定１１１１が、螢光Ｊ３よび残光積分光最の温度関
数と比較され、渇瓜が算出される（ステップ（３０））
。
のリンブリング時点の平均値が加算されて（？１力１１
．）間イｉ） −ｌ’ １におＧ）る積分１１１′Ｊが
算出されるｋ（ステップ（２７＞ ）。同じにうに第２
の積分時間帯−１２に１１３りる１ノ一ンシリング哨点
の平均１ｉｆＪが加算されｃ ｒｔ、”ｒ間？Ｉ） １
−２にｄ）＋ノる積分値が算出される（ステップ（２８
） ）。たとえば、第７図に（Ｃ）で承されるやり力が
（ス（用された場合には、Ｔ″１＝Ｌ３〜ｔ４のサンプ
リング・データの平均値（す゛ンプリング０．１点ａｏ
〜ａｔ）が加算され（ＩＩ；’ｊ間れる（ステップ（２
７） ）。また−１”２＝ｌ（ｉ〜Ｅ２のサンプリング
・データの平均値（リンブリング時点８ｊ〜ａ１１）が
加算されて時間帯１−２にｄ月ノる（２８） ）。その
後、第（８）式または第（９）式にもとづいて測定値Ｉ
が算出される（ステップ（２９） ）。最後に算出され
た測定１１１１が、螢光Ｊ３よび残光積分光最の温度関
数と比較され、渇瓜が算出される（ステップ（３０））
。
螢光体として赤外−可視変換螢光体ＹＦ３：Ｙｌｌ、Ｅ
ｌ’・を、発光器として赤外発光ダイオード（３ｉ ：
ＱａＡｓ 、ピーク波長９４０ ｎｍ）を２でれぞれ用
いて第８図に示づにうな装置で、第７図（△）のやり方
で温度測定を行なった結果、単に積分値をめる方法に比
べて、この発明にｊ、るｂ ｒＬにＪ、るど誤差は約１
／３以下に減少し、測定のばらつきは±０．１〜０，２
％であった。
ｌ’・を、発光器として赤外発光ダイオード（３ｉ ：
ＱａＡｓ 、ピーク波長９４０ ｎｍ）を２でれぞれ用
いて第８図に示づにうな装置で、第７図（△）のやり方
で温度測定を行なった結果、単に積分値をめる方法に比
べて、この発明にｊ、るｂ ｒＬにＪ、るど誤差は約１
／３以下に減少し、測定のばらつきは±０．１〜０，２
％であった。
第１図は積分形測定法を示づための説明図、第２図から
第４図はこの発明におりる積分時間？ｌ）の決定方法を
示り−ための波形図、第５図は励起光と、螢光体から発
光した螢光おにび残光とを承り波形図、第６図は螢光お
よび残光積分光量の温度特性を示タグラフ、第７図は積
分時間帯の例を小り図、第８図はこの弁明の実施例を示
づブ１コック図、第９図はＲＡＭおよびＲＯＭの内容を
承り図、第１０図は、第８図に示１回路の動イ′１を示
づタイム・ヂト−１−１第１１図はＣＰＵの動作を示づ
フロー・チャー１へである。 （１）・・・光ファイバ、（２）・・・螢光体、（３）
・・・発光器、（４）・・・タイミング発生回路、（５
）・・・受光器、（７）・・・サンプル・ホールド回路
、（１０）・・・ＣＩ）Ｕ、（１１）・・・Ｉ（△Ｍ、
（１３）・・・ｌでＯＭ、（１２）・・・Ａ Ｄ変換器
。 以 上 外４名 第１図 第２図 第３図 第Ｃ図 温＊ （’Ｃ） 第７図 ｔｏ ｔｌ ｔ２
第４図はこの発明におりる積分時間？ｌ）の決定方法を
示り−ための波形図、第５図は励起光と、螢光体から発
光した螢光おにび残光とを承り波形図、第６図は螢光お
よび残光積分光量の温度特性を示タグラフ、第７図は積
分時間帯の例を小り図、第８図はこの弁明の実施例を示
づブ１コック図、第９図はＲＡＭおよびＲＯＭの内容を
承り図、第１０図は、第８図に示１回路の動イ′１を示
づタイム・ヂト−１−１第１１図はＣＰＵの動作を示づ
フロー・チャー１へである。 （１）・・・光ファイバ、（２）・・・螢光体、（３）
・・・発光器、（４）・・・タイミング発生回路、（５
）・・・受光器、（７）・・・サンプル・ホールド回路
、（１０）・・・ＣＩ）Ｕ、（１１）・・・Ｉ（△Ｍ、
（１３）・・・ｌでＯＭ、（１２）・・・Ａ Ｄ変換器
。 以 上 外４名 第１図 第２図 第３図 第Ｃ図 温＊ （’Ｃ） 第７図 ｔｏ ｔｌ ｔ２
Claims (6)
- （１） 被測定電気信号を２つの異なる積分時間帯で積
分し、一方の積分値と所定数倍された他方の積分値との
間で減算を行ない、この減算結果を測定饋とりる積分形
測定法。 - （２） 被測定電気１５号を所定時間間隔でサンプリン
グし、このサンプリング・データをメモリに記憶し−Ｃ
おき、記憶された瞥ナンプリング・データを加締りるこ
とにより積分値をめる、特Ω′［請求の範囲第（１）項
記載の積分形測定法。 - （３） 被測定電気信号を積分回路を用いて積分４る、
特許請求の範囲？Ａ（１）項記載の積分形測定法。 - （４） 被測定電気信号をその人きざに応じた周波数の
パルス信号にＶ’／Ｆ変換し、Ｖ／Ｆ変換後のパルスを
計数づることにより積分値をめる、特許請求の範囲第（
１）項記載の積分形測定法。 - （５） ２つの積分時間帯を基準時点から定める、特許
請求の範囲第（１）項記載の積分形測定法。 - （６） 被測定電気信号を基準レベルで弁別して２つの
積分時間帯を定める、特許請求の範囲第（１）項記載の
積分形測定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58211185A JPS60102517A (ja) | 1983-11-09 | 1983-11-09 | 積分形測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58211185A JPS60102517A (ja) | 1983-11-09 | 1983-11-09 | 積分形測定法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60102517A true JPS60102517A (ja) | 1985-06-06 |
| JPH0365844B2 JPH0365844B2 (ja) | 1991-10-15 |
Family
ID=16601815
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58211185A Granted JPS60102517A (ja) | 1983-11-09 | 1983-11-09 | 積分形測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60102517A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62223644A (ja) * | 1986-02-21 | 1987-10-01 | タカン・コーポレーション | けい光体のけい光減衰時間の測定方法と装置 |
| JPH02234050A (ja) * | 1989-03-08 | 1990-09-17 | Hamamatsu Photonics Kk | 光波形測定装置 |
| JP2019511728A (ja) * | 2016-01-19 | 2019-04-25 | サウジ アラビアン オイル カンパニー | 蛍光立上がり時間を用いた油の劣化判定 |
-
1983
- 1983-11-09 JP JP58211185A patent/JPS60102517A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62223644A (ja) * | 1986-02-21 | 1987-10-01 | タカン・コーポレーション | けい光体のけい光減衰時間の測定方法と装置 |
| JPH02234050A (ja) * | 1989-03-08 | 1990-09-17 | Hamamatsu Photonics Kk | 光波形測定装置 |
| JP2019511728A (ja) * | 2016-01-19 | 2019-04-25 | サウジ アラビアン オイル カンパニー | 蛍光立上がり時間を用いた油の劣化判定 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0365844B2 (ja) | 1991-10-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4652143A (en) | Optical temperature measurement techniques | |
| US4789992A (en) | Optical temperature measurement techniques | |
| TWI384209B (zh) | Temperature sensor, and temperature measurement method | |
| US6515284B1 (en) | Processes and devices for the photothermal inspection of a test body | |
| US5600147A (en) | Temperature measuring system having improved signal processing and multiple optical sensors | |
| JPH11508352A (ja) | ルミネッセンスを高速にディジタル信号処理するモジュール化された計測システム | |
| JPS6061634A (ja) | 温度測定装置 | |
| JPS60102517A (ja) | 積分形測定法 | |
| JPH03102284A (ja) | ガラス線量測定方法およびその測定装置 | |
| EP0329297A2 (en) | Method and apparatus for measuring partial pressure of oxygen in a fluid | |
| JPS58137723A (ja) | 温度測定装置 | |
| US7002163B2 (en) | Optically stimulated luminescence radiation dosimetry method to determine integrated doses and dose rates and a method to extend the upper limit of measureable absorbed radiation doses during irradiation | |
| JPS59190681A (ja) | ガラス線量測定方法とその測定装置 | |
| JPS58180922A (ja) | 温度測定装置 | |
| JPS6035230A (ja) | 温度測定装置 | |
| JPH0410574B2 (ja) | ||
| JPH0650286B2 (ja) | 発光体の残光特性測定装置 | |
| JPH023892A (ja) | 火災警報装置の汚れ補正方法とその装置 | |
| JP2636099B2 (ja) | 赤外線量測定方法および赤外線量計 | |
| JP2857296B2 (ja) | ガラス線量測定装置 | |
| JP3203829B2 (ja) | センサー回路 | |
| RU2368921C1 (ru) | Устройство для регистрации импульсного ионизирующего излучения | |
| JPH05142351A (ja) | 蛍光ガラス線量計読取装置 | |
| JPH03291592A (ja) | ガラス線量測定方法およびその測定装置 | |
| JPS62116214A (ja) | 光フアイバセンサ |