JPS5987743A - 四重極質量分析計 - Google Patents

四重極質量分析計

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JPS5987743A
JPS5987743A JP57197571A JP19757182A JPS5987743A JP S5987743 A JPS5987743 A JP S5987743A JP 57197571 A JP57197571 A JP 57197571A JP 19757182 A JP19757182 A JP 19757182A JP S5987743 A JPS5987743 A JP S5987743A
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JP
Japan
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electrode
electrodes
flat
pairs
hyperbolic
Prior art date
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Pending
Application number
JP57197571A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Chitoku
千徳 一夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS5987743A publication Critical patent/JPS5987743A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/4205Device types
    • H01J49/421Mass filters, i.e. deviating unwanted ions without trapping
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/06Electron- or ion-optical arrangements
    • H01J49/068Mounting, supporting, spacing, or insulating electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/4205Device types
    • H01J49/4255Device types with particular constructional features

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は四重物質量分析計に係り、特に、イオン伝搬路
に沿って2対の電極が互いに対向して配置され、対向す
る各列の表面が双極線状に形成されている四重物質量分
析計に関する。
〔従来技術〕
四重物質量分析計としては、第1図にその断面が示され
るように、円柱状の2対の電極m10がイオン伝搬路に
沿って配ばされたもの、あるいは第2図にその断面が示
されるように、2対の車極衣面が双@!、線状に形成さ
れている電極棒12がイオン屯搬路に沿って配置されて
いるものが従来から用いられていた。
第1図に示される分析計の場@は、各電極棒】0の製作
精度と支持リング140′製作精度が充分公差内に入る
ならば、組立精度の同上を図ることカモできる。しかし
、質量数が100ぐらいから増加すると、第3図の実線
Aで示されるようにイオンの四重極部の透過率trが低
下し、感度が低くなるという欠点があった。そのため、
正しい質11[スペクトルゲ得るには補正を行なう必快
があった。
一方、εA2図に示されるように分析G1の場合は、1
°93図の実線Bで示されるように、質hi:数が50
0ぐらいまで増加しても四重極部のイオン透過率trが
減少しないので1.正しい質量スペクトルを得ることが
できる。しかし第2図に示される分析計の場合は、電極
棒12の双極面に対する反対(t!+1の而が支持リン
グ16に接触して固尾されているが、このような固定方
法では、電極棒12の製作時に双極線面の軸と支持リン
グ16に接触する面の軸とを一致させることが困tIG
であった。又さらに2対の’t1T、極棒12金棒12
れ双極線の原点に対して白変するような位置決めが困難
であった。又2対の電極棒12の相対距離の精度が悪い
と四重極質量分析の分解能も低下する。一般に四重極質
量分析の分解能は電極間の相対距離の精度で定まり分解
能#1i!を保つためには電極間の距離が12mのとき
電極の組立精度は”3μmでなければならない。
即ち分解能は次式の関係を有する。
分解能S7石な このように第2図に示される質量分析計の場合2谷、°
電極棒12の表面を双極線状に切削することは容易に行
なえるが、電極棒12間の距離f、精度よく固定するこ
とが困難であった。
〔発明の目的〕
本発明は、MiJ記従来の課題に鑑みて為されたもので
あ・す、その目的は、双極線面を有する2刈の電極の相
対用+f+lrを高精度に保って各電極を固定すること
ができる四電極質量分析計を提供することにある。
〔発明の概要〕
前記目的を41戊するために、本発明は、双4枳線面を
有する2対の電極の双極線面と反対側となる面を平面状
に形成し、かつ各電極を保持する保持部材の各電極との
接触面を平面状に形成し、各電極の表面形状によって形
成される双極線の焦点の延長線が双極線の点と直交する
ように、各電極の平面部と保持部材の平面部と全固着す
るようにしたことを特徴とする。
し発明の実施例〕 以下、図面に基づいて本発明の好適な実施例を説明する
第4図には、本発明の好適な実施例の四重僕質州分析計
の外観が示されており、第5図には四重極質量分析計の
断面が示されている。
本実施例における四重極質量分析計は、第5図に示され
るように、イオン伝搬路2oに沿って2対の電極棒22
が互いに対向して配置され、対向する各列の′i4!極
棒22の表面が双&線状に形成されている。そして各電
極棒22の双極線面と反対側となる面24が平面状に形
成され、各電極棒22を保持する保持部材を構成する支
持リング26の各電極棒22との接触面が平面状に形成
され、各電極棒22の表面形状によって形成される双極
線の焦点の延長線が双極線の原点0と直交するように、
各電極棒22の平面部と支持リング26の平面部とがボ
ルトナツト28によって固着されている。
電イ返棒22と支持リング26との固着は、第41図に
示されるように、電極棒22の表面形状によって形成さ
れる双極線の焦点の延長線が双極線の原点Oと直交する
ように、ジグポーラによって電極棒22の裏面(平面部
)と支持リング26に穴をあけ、ビン3oによって形置
決めが行なわれる。
そのため、本実施例における質量分析計は、双極線面の
軸が正確に直交し、かつ電極[22間の相対距離?、2
r6を高精度に保つことができ、さらに電極棒22の組
立も一義的に行なえる。
又本実施例においては、第5図に示されるように、支持
リング26が内接する外枠体32と同電位の補助′it
t、極34が電極棒22に沿って支持リング26と電極
棒22間の4隅に挿入されている。
各補助電極34は、隣接する電極棒22の表面形状によ
って形成される双4!i、線の延長線と交わるように形
成されて発散イオンを吸収4ることかできる。即ち、補
助電極34は接地電位の支持リング26に接続されてい
るので、発散イオンが補助電極30によって接地され、
発散イオンを吸収することができる。そのため発散イオ
ンが支持リング26に衝突しないので、チャージアップ
による四重極亀界の乱れがなく、分析計の性能向上と長
寿命化を図ることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、双極線面を有す
る2対の電極な一硫的に正確に直交させて固定すること
ができると共に、各電極間の相対距離を高硝度に医つこ
とができるので、高分子量まで感度の高い四重極質j:
分析計を容易に製作できるという優れた効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は円柱状の電極を有する従来の分析計の断面図、
第2図は双也線面0電極を有する従来の分析計の断面図
、第3図は質量数と透過率との関係を示す線図、第4図
は本発明の好適な実施例を示す構成図、第5図は第4図
に示す四重極質凪分析計の断面図である。 22・・・電qi<棒、26・・・支持リング、32・
・・外枠体、34・・・補助電極。 ゛噸゛、+−1”:・− 第 I閉 O 某2m 茅3m 筑(質量数)−

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 イオン伝搬路に沿って2対の電極が互いに対向し
    て配ji4jされ、対向する各列の」↓L極表面が双極
    線状に形成されている四重極質量分析削において、谷’
    EIL4ii+<の双極線面と反対側となる而を平面状
    に形成し、かつ各電極′f:ti持する保持部材の各電
    極との接触面を平面状に形成し、各電極の表面形状によ
    って形成される双極線の焦点の延長11曲が双極線の原
    点と直交するように、各電極の平面部と保持部利の平(
    01部とを固層することを特徴とする四基()ソ質h[
    分析計。 2 萌NLJ保持部材が内接する外枠体と同電位の補助
    屯4勿が2対の電極に沿って前記保持部相とも幅間の四
    隅に挿入され、各補助電極は、隣接する電極の表面形状
    によって形成される双極線の延長線と交わるように形成
    されて発散イオンを吸収すること全特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載の四N極tli武分析計。
JP57197571A 1982-11-12 1982-11-12 四重極質量分析計 Pending JPS5987743A (ja)

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