JPS5981503A - 機械的なピ−スの直線的寸法を検査する電子的ゲ−ジ - Google Patents
機械的なピ−スの直線的寸法を検査する電子的ゲ−ジInfo
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- JPS5981503A JPS5981503A JP58166444A JP16644483A JPS5981503A JP S5981503 A JPS5981503 A JP S5981503A JP 58166444 A JP58166444 A JP 58166444A JP 16644483 A JP16644483 A JP 16644483A JP S5981503 A JPS5981503 A JP S5981503A
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
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- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/12—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring diameters
- G01B7/13—Internal diameters
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は機械的なピースの直線的寸法を検査する電子的
ゲージに係り、−特に研削機械による研削の工程におい
て用いられるものに関し、外囲器と、少なくとも１つの
可動アームと、これに連結された触片と、測定方向に可
動アームを付勢するために取り付けられた弾性部材と、
可動アームの位置に応じた信号を発生させるための位置
変換器と、電磁石を有する第１の要素、アーマチーアお
よび引込の総量を設定するための調整手段を有する第λ
の要素を含む電気的引込装置とを備えたものである。
ゲージに係り、−特に研削機械による研削の工程におい
て用いられるものに関し、外囲器と、少なくとも１つの
可動アームと、これに連結された触片と、測定方向に可
動アームを付勢するために取り付けられた弾性部材と、
可動アームの位置に応じた信号を発生させるための位置
変換器と、電磁石を有する第１の要素、アーマチーアお
よび引込の総量を設定するための調整手段を有する第λ
の要素を含む電気的引込装置とを備えたものである。
研削機械に適用される周知の電子的ゲージは、ばねによ
って付勢される／１几は２個の可動アームを含んでおり
、またこれと同様の他の装置は鮎片を持った可動アーム
を連結しており、この鮎片はピースの表面に接触し、他
方ピースが無いときには接触していない。
って付勢される／１几は２個の可動アームを含んでおり
、またこれと同様の他の装置は鮎片を持った可動アーム
を連結しており、この鮎片はピースの表面に接触し、他
方ピースが無いときには接触していない。
内径および外径を検査するための２触片ゲージの場合に
は、非接触状態における一つの鮎片の位置の間の距離は
それぞれλつの鮎片の間の最大および最小距離に一致し
ている。
は、非接触状態における一つの鮎片の位置の間の距離は
それぞれλつの鮎片の間の最大および最小距離に一致し
ている。
これらのゲージは通常は、機械的かつ確実に動きを止め
るストッパによって限定された非接触位置から引込位置
に向かって、可動アームを引っ込めるための「引込」装
置を備えて込る。前記のストッパは、ゲージが油圧滑動
器あるいはそれと同等の装置によって、検査対象のビ〜
スの方向または逆方向に移動させられるときに、鮎片と
ピースが互いに衝突することがないようにしている。
るストッパによって限定された非接触位置から引込位置
に向かって、可動アームを引っ込めるための「引込」装
置を備えて込る。前記のストッパは、ゲージが油圧滑動
器あるいはそれと同等の装置によって、検査対象のビ〜
スの方向または逆方向に移動させられるときに、鮎片と
ピースが互いに衝突することがないようにしている。
引込装置には空気圧式のもの、油圧式のものなど種々の
ものがあるが、より簡単かつ実用的で安全なものとして
、一般には電気式のものが用因られている。例乏ば空ダ
田式引込装置にあっては、これを動作させるためには空
気圧システムの如き外的な助けが必要になり、このため
には清浄な空気が供給される必要がある。そのため、付
加的な設備が必要になる。
ものがあるが、より簡単かつ実用的で安全なものとして
、一般には電気式のものが用因られている。例乏ば空ダ
田式引込装置にあっては、これを動作させるためには空
気圧システムの如き外的な助けが必要になり、このため
には清浄な空気が供給される必要がある。そのため、付
加的な設備が必要になる。
油圧式引込みシステムにおいても、実用性あるいは安全
性の欠如のような同様の欠点があることは明らかである
。
性の欠如のような同様の欠点があることは明らかである
。
さらに、例えば検査対象であるピースの幾何学的性格に
依存するアームの引っ込みの総量を調整することが必要
になることがある。
依存するアームの引っ込みの総量を調整することが必要
になることがある。
より明確に言えば、研削機械による研削の工程におりて
ピースの内径を検査するためのゲージの場合には、検査
されるべきホールの内側に位置してこのホールにより限
定される空間のかなりの部分を占める研削盤に対して、
鮎片が偶然に衝突しないようにするために、引っ込みの
総計はあ１り大きくあってはならない。
ピースの内径を検査するためのゲージの場合には、検査
されるべきホールの内側に位置してこのホールにより限
定される空間のかなりの部分を占める研削盤に対して、
鮎片が偶然に衝突しないようにするために、引っ込みの
総計はあ１り大きくあってはならない。
調整可能な電気式引込装置としては、例えば伊国特許第
ＪＡ≠、２．２７号（／りＡ、２年３月、２７日出願）
において開示された内径検査用のゲージに採用さｆｚて
しへるものがある。このゲージにおし）ては、電磁石は
そのコイル中に、一端が円すｂ形をなした芯を引き冒せ
る。このようにして、２つのローラーを介した可動アー
ムの協力した動きにより、λつの結栓が相互接近させら
れている。そして、この動きの幅は、芯の総身動量を限
界づけるストッパを調整することによって（回転っ１み
によって）設定することができる。
ＪＡ≠、２．２７号（／りＡ、２年３月、２７日出願）
において開示された内径検査用のゲージに採用さｆｚて
しへるものがある。このゲージにおし）ては、電磁石は
そのコイル中に、一端が円すｂ形をなした芯を引き冒せ
る。このようにして、２つのローラーを介した可動アー
ムの協力した動きにより、λつの結栓が相互接近させら
れている。そして、この動きの幅は、芯の総身動量を限
界づけるストッパを調整することによって（回転っ１み
によって）設定することができる。
ｆｐ国特許第り乙よ、乙／ｒ号（／り７２年！月Ｊ日出
願）には、内径検食用の他の型式のゲージが示されてお
り、それは、ゲージ容器により保持された、２個の＊磁
石によって引き寄せられる２個の表面が平らなアーマチ
ュアな支持するコっの可動アームを備えている。そして
、引っ込みの総量は、アーマチーアに固定されたλつの
基準要素を収容するＪつの細長い溝を有するディスクを
回転させることにより設定される。
願）には、内径検食用の他の型式のゲージが示されてお
り、それは、ゲージ容器により保持された、２個の＊磁
石によって引き寄せられる２個の表面が平らなアーマチ
ュアな支持するコっの可動アームを備えている。そして
、引っ込みの総量は、アーマチーアに固定されたλつの
基準要素を収容するＪつの細長い溝を有するディスクを
回転させることにより設定される。
一般に、研削機械において利用できる空間は限ろｔｌで
いるので、ゲージの寸法は小さし１ことが望１れる。さ
らに、もし引込装置の電磁石が相対的に高１／−１舵力
を持って因るとすると、ゲージの性能を変動させうる過
度な熱損失を引き起こすことになる。
いるので、ゲージの寸法は小さし１ことが望１れる。さ
らに、もし引込装置の電磁石が相対的に高１／−１舵力
を持って因るとすると、ゲージの性能を変動させうる過
度な熱損失を引き起こすことになる。
しかしながら、電磁石により引き寄せるカが十分に大き
くないときには、研削機械の震動のために、例えば可動
アームが不必要に復元動作するよ５な不都合が生じる。
くないときには、研削機械の震動のために、例えば可動
アームが不必要に復元動作するよ５な不都合が生じる。
上記２つの鎖国特許で示されたゲージの引込装置は、安
全動作を確保するために、むしろ高いカを持つことが朶
蟻なくされて因るため、結果的には過度な熱損失を伴っ
ている。
全動作を確保するために、むしろ高いカを持つことが朶
蟻なくされて因るため、結果的には過度な熱損失を伴っ
ている。
λつの鎖国特許の最初のもの：ておいて開示されている
ゲージについていえば、これは一方では、引込装置がフ
ィルの内部の芯の１吸引」としへりことを基礎に構成さ
れているという事実に依存している。さらに、先に示し
た鎖国特許で開示された一つのゲージ１τおりでは、可
動アームが引っ込み状態にあるときに、電磁石によって
芯とアーマチーアのそれぞれに与えられる引き寄せカは
、調整装置、すなわちストッパと溝を持ったディスクの
位置に依存している。
ゲージについていえば、これは一方では、引込装置がフ
ィルの内部の芯の１吸引」としへりことを基礎に構成さ
れているという事実に依存している。さらに、先に示し
た鎖国特許で開示された一つのゲージ１τおりでは、可
動アームが引っ込み状態にあるときに、電磁石によって
芯とアーマチーアのそれぞれに与えられる引き寄せカは
、調整装置、すなわちストッパと溝を持ったディスクの
位置に依存している。
結局、上記ｄつの従来装置においては、小型、熱士員失
、引込装置の安全性、引っ込み総量の幅の広さなどの対
照的な要求が、十分に折衷されて満されて因るとはいえ
ない。
、引込装置の安全性、引っ込み総量の幅の広さなどの対
照的な要求が、十分に折衷されて満されて因るとはいえ
ない。
本発明が解決しようとする技術的な課題は、下記の通り
である。すなわち、高信頼度の調整可能な引込装置を有
するゲージであって、広い調整範囲を持ち、１だ特別な
設定にはかかわらないので引込からの戻り動作を防止で
き、かつ全体として小型に構成することのできるゲージ
を提供することである。
である。すなわち、高信頼度の調整可能な引込装置を有
するゲージであって、広い調整範囲を持ち、１だ特別な
設定にはかかわらないので引込からの戻り動作を防止で
き、かつ全体として小型に構成することのできるゲージ
を提供することである。
この技術的課題は、この冒頭に５お因で概要を説明した
型のゲージによって解決される。そして、この発明によ
れば、調整手段は引込装置の要素のひとつに固定されて
おり、この要素および調整手段は同時調整ができるもの
である。
型のゲージによって解決される。そして、この発明によ
れば、調整手段は引込装置の要素のひとつに固定されて
おり、この要素および調整手段は同時調整ができるもの
である。
以下、添付図面をか照して本発明の詳細な説明する。ゲ
ージは一枚の側板２（図面におりでは７枚のみが示され
ている）をつなぎ合わせた外囲器／を有しており、略丁
字形の支持要素３はねじグによって外囲器／の片面に固
定されている。
ージは一枚の側板２（図面におりでは７枚のみが示され
ている）をつなぎ合わせた外囲器／を有しており、略丁
字形の支持要素３はねじグによって外囲器／の片面に固
定されている。
一対の鮎片ｊ、５′は、検査されるべ永ワークピース乙
に接触される。鮎片夕、Ｊは穴と、ｒ′を介して外囲器
／から外に突き出た可動アーム７．７′にそれぞれ取り
付けられ、この可動アーム７．７′は外囲・器／に固定
された支持要素３にピン７．り′によって取シ付けられ
ており、図面に垂直な軸の１わりに回転可能なように仕
上げられて因る。
に接触される。鮎片夕、Ｊは穴と、ｒ′を介して外囲器
／から外に突き出た可動アーム７．７′にそれぞれ取り
付けられ、この可動アーム７．７′は外囲・器／に固定
された支持要素３にピン７．り′によって取シ付けられ
ており、図面に垂直な軸の１わりに回転可能なように仕
上げられて因る。
可動アーム７．７′はそれぞれ、戻しバネｉｏ、ｉｏ’
によってピース乙に接触されられており、戻しバネ１０
、 ／’０’はそれぞれ可動アーム７．７′と支持要
素３の間に設けられて−る。
によってピース乙に接触されられており、戻しバネ１０
、 ／’０’はそれぞれ可動アーム７．７′と支持要
素３の間に設けられて−る。
可動アーム７．７′の位置は誘導変換器／／、／／’に
よって検出されるが、これは支持要素３に固定された第
７の部分ｉ：ｌ、／ｓ’（基本的には電気的な巻線によ
り形成される）とステム／４１．／ＩＩ’によって可動
アーム７．７′に取り付けられた芯／、ｊ、／Ｊを有し
ている。
よって検出されるが、これは支持要素３に固定された第
７の部分ｉ：ｌ、／ｓ’（基本的には電気的な巻線によ
り形成される）とステム／４１．／ＩＩ’によって可動
アーム７．７′に取り付けられた芯／、ｊ、／Ｊを有し
ている。
ゲージはスつの引込装置を含んでおり、これらはそれぞ
れ基本的には電磁石１５．／、Ｓ’からなる第１の要素
と、それぞれ基本的にはディスク形のアーマチーア／Ａ
、／Ａ’からなる第２の要素とを有して因る。電磁石／
！；、／！；’は支持要素３の中央に伸びた茎の部分に
固定されたアーマ−を有しており、可動アーム７．７′
に取り付けられたアーマチーア／Ａ。
れ基本的には電磁石１５．／、Ｓ’からなる第１の要素
と、それぞれ基本的にはディスク形のアーマチーア／Ａ
、／Ａ’からなる第２の要素とを有して因る。電磁石／
！；、／！；’は支持要素３の中央に伸びた茎の部分に
固定されたアーマ−を有しており、可動アーム７．７′
に取り付けられたアーマチーア／Ａ。
／Ａ′（ディスク形状で強磁性材料で作られる）に作用
をみえるととＫより可動アーム７．７′を引き寄せるこ
とを目的としている。
をみえるととＫより可動アーム７．７′を引き寄せるこ
とを目的としている。
アーマチーア／Ａ、／ｌ’の中心部には、カーバイド製
で半球状の動きケ確実に止めるストッパｉ”ｔ、ｉゲが
設けられ、電磁石ｉｓ、ｉｓ’のアーマ−に固定された
他のストッパ／も／ｇ′に協力して働く。ストッパ／７
．／ゲは引込調整の手段を形成する。引込の調整は、ね
じ切シされかつアーマチュアｌｔｌ／Ａ′と一体に形成
されたステムｉｔ、ｉｑ’を、これに対応する可動アー
ｊ、７．７’のねじ切りされた穴ｓｏ ｙ、２ｏ’に合
わせ、ねじ回しすることによってストッパ／７．／ゲを
軸方向に移動させることにより行なう。ステム／９゜／
ｑ′は可動アーム７．７′に垂直でかつ垂直に調整でき
、例えば可動アーム７．７′の測定方向に平行な方向に
実質的に治っている。穴２０ 、２０’の壁とステム／
９．／９’の間には、調整の安全性と安定性を確保する
ためのねじ切りされた挿入材ユ／ 、 ：ｌ／’からな
る摩擦材が挿入されている。
で半球状の動きケ確実に止めるストッパｉ”ｔ、ｉゲが
設けられ、電磁石ｉｓ、ｉｓ’のアーマ−に固定された
他のストッパ／も／ｇ′に協力して働く。ストッパ／７
．／ゲは引込調整の手段を形成する。引込の調整は、ね
じ切シされかつアーマチュアｌｔｌ／Ａ′と一体に形成
されたステムｉｔ、ｉｑ’を、これに対応する可動アー
ｊ、７．７’のねじ切りされた穴ｓｏ ｙ、２ｏ’に合
わせ、ねじ回しすることによってストッパ／７．／ゲを
軸方向に移動させることにより行なう。ステム／９゜／
ｑ′は可動アーム７．７′に垂直でかつ垂直に調整でき
、例えば可動アーム７．７′の測定方向に平行な方向に
実質的に治っている。穴２０ 、２０’の壁とステム／
９．／９’の間には、調整の安全性と安定性を確保する
ためのねじ切りされた挿入材ユ／ 、 ：ｌ／’からな
る摩擦材が挿入されている。
この調整は、外部から２つの空間２．２ 、．２．２’
を介して、ステム／９．／９’の端部に設けられた紺長
す溝にねじドライバーを差し込むことによって成し遂げ
られる。なお、空間２コ、ｎ′は外囲器／に形成されて
穴、！０．２０’に連なっており、作動状態においては
キヤ・ｌプ、：ｕ、、ｕ’により密封されて込る。
を介して、ステム／９．／９’の端部に設けられた紺長
す溝にねじドライバーを差し込むことによって成し遂げ
られる。なお、空間２コ、ｎ′は外囲器／に形成されて
穴、！０．２０’に連なっており、作動状態においては
キヤ・ｌプ、：ｕ、、ｕ’により密封されて込る。
このように、引込調整の設定を変えることによっても、
電磁石Ｂ、／！；’とこれに対応するアーマチーア／Ａ
、 ／ｌ、’の間の空隙は、引込み動作時にも、スト
ッパ／７．／ゲの厚みによって定する一定の非常に小さ
いものの１１である。
電磁石Ｂ、／！；’とこれに対応するアーマチーア／Ａ
、 ／ｌ、’の間の空隙は、引込み動作時にも、スト
ッパ／７．／ゲの厚みによって定する一定の非常に小さ
いものの１１である。
確実に動きを止めるストツーζ２／ｌ−，０，’ｌ’は
それぞれねじ切りされた挿入材３，３′を介して、外囲
器／のねじ切りされた穴２７．ニゲの表面にかみ合わさ
れているねじ切りされたステム２６． 、：ＬＡ’に固
定されている。カーバイド製の確実に動きを止めるスト
ツバ、）、！；、、）、３’の対は、ストッパ評、〃′
と協働するように可動アーム７．７′に固定され、アー
ムが測定方向に動く間は可動アームの動＠（スレ０−ク
）を制限している。そして、込わゆる残余位置が確立さ
れる。このストロークの実体を調整するためには、ステ
ムユｔ 、 、ｕ’を調整することが必要である。
それぞれねじ切りされた挿入材３，３′を介して、外囲
器／のねじ切りされた穴２７．ニゲの表面にかみ合わさ
れているねじ切りされたステム２６． 、：ＬＡ’に固
定されている。カーバイド製の確実に動きを止めるスト
ツバ、）、！；、、）、３’の対は、ストッパ評、〃′
と協働するように可動アーム７．７′に固定され、アー
ムが測定方向に動く間は可動アームの動＠（スレ０−ク
）を制限している。そして、込わゆる残余位置が確立さ
れる。このストロークの実体を調整するためには、ステ
ムユｔ 、 、ｕ’を調整することが必要である。
図示しな込密封用ガスケットは穴らに′を密封し、可動
アーム７．７′を・同時に動かすことを容易にする。可
動アーム７．７′の動きを弱めるために、ゲージの内部
にはダンパー用のシリコンオイルを満すことができる。
アーム７．７′を・同時に動かすことを容易にする。可
動アーム７．７′の動きを弱めるために、ゲージの内部
にはダンパー用のシリコンオイルを満すことができる。
電磁石／３ 、／！；’の自由端ないし基部に面するア
ーマチーア／Ａ、／Ａ’の円形表面は、それら基部とほ
とんど同一の寸法であり、このため、電磁石／！；、／
！；’からアーマチーア／Ａ ； ／Ａ’に与えられる
引込力としては、全体の引込装置の設計寸法に対して大
きな比率のものを得ることができる。
ーマチーア／Ａ、／Ａ’の円形表面は、それら基部とほ
とんど同一の寸法であり、このため、電磁石／！；、／
！；’からアーマチーア／Ａ ； ／Ａ’に与えられる
引込力としては、全体の引込装置の設計寸法に対して大
きな比率のものを得ることができる。
同時に、引込の総量は更に広い範囲（例えば数ミＩＪメ
ートル）で設定することができる。なぜなら、電磁石／
３．／！；’によってアーマチーア／Ａ 、 ／Ａ’与
えられる引き寄せ力は、可動アーム７．７′が引込萱れ
た状態にあるときは、アーマチーア／Ａ 、 ／Ａ’の
個々の設定によらず、従って可動アーム７．７′に関す
るストッパ／７．／ゲに依存しない。
ートル）で設定することができる。なぜなら、電磁石／
３．／！；’によってアーマチーア／Ａ 、 ／Ａ’与
えられる引き寄せ力は、可動アーム７．７′が引込萱れ
た状態にあるときは、アーマチーア／Ａ 、 ／Ａ’の
個々の設定によらず、従って可動アーム７．７′に関す
るストッパ／７．／ゲに依存しない。
一度引込が働くと、より少ない電流で電磁石に力を与え
ることができ、そのため熱損失を少なくでき、同時に引
込を確実に保持できる。
ることができ、そのため熱損失を少なくでき、同時に引
込を確実に保持できる。
このようなゲージはまた、引込装置の精度の高さを保証
する。というのは、引込筐れた位置は、ストツバｉｇ、
／ｇ’の平面に対するストッパ／７．／ゲの半球面の
接触によって限定され、かつ引込まれた位置はゲージの
内部に侵入しうる外部の物体やホコリの存在によって実
質的には影響を受けたし１がらである。
する。というのは、引込筐れた位置は、ストツバｉｇ、
／ｇ’の平面に対するストッパ／７．／ゲの半球面の
接触によって限定され、かつ引込まれた位置はゲージの
内部に侵入しうる外部の物体やホコリの存在によって実
質的には影響を受けたし１がらである。
図は本発明の一実施例に係る、内径検査用の２つの可動
アームを持ったゲージの部分横断面図である。 ハ・・外囲器、！・・・側板、３・・・支持要素、≠・
・・ねＬ 、’ ｌ ”・・・鮎片、λ・・・ピース、
７，７’・・・可動アーム、ｆ 、 ｆ’ 、 ２０．
２０’ス、第二ｇ′・・・穴、り、り′・・・ビン、１
０，１０’・・・戻しバネ、／／、／／’・・・誘導変
換器、／３゜／３電・芯、／μ、／な’、 ／９． ／
９’、ユＡ 、 ：ｌＡ’・・・ステム、／！；、／３
’・・・電磁石、／Ａ、／ｊ・・・アーマチュア、／７
．／ゲ、７ｇ。 ／ざ′、、７弘２．７ｔ′、馬 ユＳ′ ・・・ス
ト ツ ノぐ、 コ／、ユ／′、２ｇ、２８′・・・挿
入材１．２ｊ 、 、２ｊ’ ・−キャップ。
アームを持ったゲージの部分横断面図である。 ハ・・外囲器、！・・・側板、３・・・支持要素、≠・
・・ねＬ 、’ ｌ ”・・・鮎片、λ・・・ピース、
７，７’・・・可動アーム、ｆ 、 ｆ’ 、 ２０．
２０’ス、第二ｇ′・・・穴、り、り′・・・ビン、１
０，１０’・・・戻しバネ、／／、／／’・・・誘導変
換器、／３゜／３電・芯、／μ、／な’、 ／９． ／
９’、ユＡ 、 ：ｌＡ’・・・ステム、／！；、／３
’・・・電磁石、／Ａ、／ｊ・・・アーマチュア、／７
．／ゲ、７ｇ。 ／ざ′、、７弘２．７ｔ′、馬 ユＳ′ ・・・ス
ト ツ ノぐ、 コ／、ユ／′、２ｇ、２８′・・・挿
入材１．２ｊ 、 、２ｊ’ ・−キャップ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ／、外囲器と、少なくともひとつのＴＭ’＠アームと、
これに連結された触片と、測定方向に前記可動アームを
付勢するために取シ付けられた弾性部材と、前記可動ア
ームの位置に応じた信号を発生させるための位置変換器
と、電磁石を有する第７の要素、アーマチュアおよび引
込の総量を設定する。ための調整手段を有する第２の要
素を含む電気的引込装置とを備え、前記調整手段は前記
電気的引込装置のひとつの前記、要素に固定され、かつ
その要素と前記調整手段は同時に調整することができ、
特にイυ［耐機械による研削工程に、お・いて用いられ
るようにした機械的なピースの直線的寸法を検査する電
子的ゲージ。 コ 前記調整手段は、前記アーマチーアに固定され機械
的に動きを確実に止める第１のストッパと、前記電磁石
に結合され機械的に動きを確実に止める第２のストッパ
とを含み、この第７、第λのストッパはそれぞれ互いに
接触することにより引込の総量を限定するようにした特
許請求の範囲第１項記載の機械的なピースの直線的寸法
を検査す−る電子的ゲージ。 ３ 前記電磁石は、前記外囲器に固定された支持要素に
結合され、前記アーマチーアは、前記可動アームに調整
可能なように結合されている特許請求の範囲第１項記載
の機械的なピースの直線的寸法を検査する電子的ゲージ
。 弘前記アーマチーアは、実質的にディスク形状寸法を検
査する電子的ゲージ。 ！前記アーマチュアは、その軸とねじ切シされ−スの直
線的寸法を検査する電子的ゲージ。 乙 前記第１のストッパは、前記アーマチュアの中心部
に対応する位置に結合されている特許請求の範囲第５項
記載の機械的なピースの直線的寸法を検査する電子的ゲ
ージ。 ７ 前記ねじ切りされた結合手段は、ねじ切りされ挿入
される摩擦材を含んでいる特許請求の範囲第２項記載の
機械的なピースの直線的寸法を検査する電子的ゲージ。 ｇ前記外囲器は、前記調整手段に外側から接近できるよ
うにするための穴を有して因る特許請求の範囲第２項記
載の機械的なピースの直線的寸法を検査する電子的ゲー
ジ。 Ｚ前記スト・／パの一方は表面が球形をなし、前記スト
ッパの他方は表面が平面をなしている特許請求の範囲第
２項記載の機械的なピースの直線的寸法を検査する電子
的ゲージ。 ＩＯ第２の可動アームと、第スの触片と、第λの位置変
換器と、第λの電気的引込装置と、第λの調整手段とを
備えると共に、前記外囲器は前記可動アームを通すため
の穴を有する前面板および後面板を含み、この後面板に
は前記可動アームと電磁石を保持する前記支持要素が固
定されている特許請求の範囲第３項記載の機械的なピー
スの直線的寸法を検査する電子的ゲージ。 ／ｌ 外囲器と、この外囲器に固定された支持要素と、
ピースに接触する触片を端部に有し、かつ前記支持要素
に可動に取り付けられたλつの可動アームと、この可動
アームに結合され二の可動アームの位置に応じた信号を
出力する変換手段と、測定方向に沿って前記可動アーム
が移動するように作用するバネ手段と、前記支持要素に
固定された電磁石、この電磁石に対面し、かつ前記可動
アームに調整可能に結合されたアーマチーア、前記電磁
石に固定された第１のストッパ要素および前記アーマチ
ーアに固定され前記第１のストッパ要素に対して接する
ことによって前記可動アームの引込位置を限定する第２
のストッパ要素を有するストッパ手段を含み、それぞれ
前記可動アームに結合されてなる調整可能な引込装置と
を備え、前記アーマチーアを調整することによって引込
位置を調整できるようにした機械的なピースの直線的寸
法を検査する電子的ゲー′）。 ７．２ 外囲器と、この外囲器に固定された支持要素と
、ピースに接触するように自由端に触片を設け、かつ、
旋回移動するように前記支持要素に取り付けられた可動
アームと、この可動アームに結合されこの可動アームの
位置に応じた信号を出力する変換手段と、前記触片がお
のおの接近するように前記可動アームを旋回移動させる
バネ手段と、前記支持要素に固定された電磁石、測定方
向に略平行な方向に治って調整可能な前記可動アームに
回転可能に結合されたステム、前記電磁石に対面すると
共に前記ステムに固定され、回転ディスク形状をなすア
ーマチュア、このアーマチーアの側面の中ノし部に前記
電磁石に対面して固定された第１のスト・ノー＜要素、
前記電磁石に固定され、前記第１のスト・７−シ要素と
接触する第λのストソーく要素を含み、それぞれ前記可
動アームに結合されてなる調整可能な引込装置とを備え
る機械的なピースの直線的寸法を検査する電子的ゲージ
。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT03529/82A IT1156661B (it) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | Comparatore elettronico per il controllo di dimensioni lineari di pezzi meccanici |
| IT3529A/82 | 1982-09-09 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5981503A true JPS5981503A (ja) | 1984-05-11 |
Family
ID=11109101
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58166444A Pending JPS5981503A (ja) | 1982-09-09 | 1983-09-09 | 機械的なピ−スの直線的寸法を検査する電子的ゲ−ジ |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4555855A (ja) |
| JP (1) | JPS5981503A (ja) |
| CH (1) | CH663465A5 (ja) |
| DE (1) | DE3330058A1 (ja) |
| IT (1) | IT1156661B (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3540649A1 (de) * | 1984-11-15 | 1986-09-04 | ELGEMA GmbH, 8057 Eching | Vorrichtung zum messen der profilform von zylindrischen werkstueckflaechen |
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| US5214379A (en) * | 1992-06-25 | 1993-05-25 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method and apparatus for deflection measurements using eddy current effects |
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| IT1298976B1 (it) * | 1998-03-31 | 2000-02-07 | Balance Systems Spa | Apparato di misura di pezzi in lavorazione, particolarmente per macchine rettificatrici |
| IT1303955B1 (it) * | 1998-10-12 | 2001-03-01 | Marposs Spa | Testa per il controllo di dimensioni lineari di un pezzo meccanico . |
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| DE202008016501U1 (de) * | 2008-12-12 | 2009-03-05 | Knäbel, Horst, Dipl.-Ing. | Vorrichtung zur Überprüfung der Maße eines mechanischen Werkstückes |
| WO2011003944A1 (en) | 2009-07-10 | 2011-01-13 | Marposs Societa' Per Azioni | Checking device, modular system and relative fulcrum device |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS514354B1 (ja) * | 1971-05-06 | 1976-02-10 |
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|---|---|---|---|---|
| IT997161B (it) * | 1973-10-25 | 1975-12-30 | Finike Italiana Marposs | Comparatore a tastaggio diretto per la misura delle dimensioni di pezzi in movimento particolarmen te per misure con contatto inter mittente tra gli elementi di tastag gio ed il pezzo |
| IT1106714B (it) * | 1978-12-21 | 1985-11-18 | Finike Italiana Marposs | Apparecchio per il rilevamento di caratteristiche geometriche di pezzi meccanici |
| IT1133315B (it) * | 1980-06-02 | 1986-07-09 | Finike Italiana Marposs | Comparatore a tampone per il controllo del diametro di fori |
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-
1982
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-
1983
- 1983-08-19 DE DE19833330058 patent/DE3330058A1/de not_active Withdrawn
- 1983-08-22 US US06/525,409 patent/US4555855A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-09-08 CH CH4915/83A patent/CH663465A5/de not_active IP Right Cessation
- 1983-09-09 JP JP58166444A patent/JPS5981503A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS514354B1 (ja) * | 1971-05-06 | 1976-02-10 |
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|---|---|
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| IT1156661B (it) | 1987-02-04 |
| CH663465A5 (de) | 1987-12-15 |
| IT8203529A0 (it) | 1982-09-09 |
| DE3330058A1 (de) | 1984-03-15 |
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